KR100336018B1 - 접촉아일랜드와도선경로를가진인쇄회로기판의테스트디바이스내의정확한위치테스트시스템및방법 - Google Patents

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Abstract

접촉 아일랜드(95a)와의 접촉을 위한 또는 전기 인쇄회로기판(2)과 평행하게 뻗어 있는 방향에서 정확한 위치로부터의 이탈을 결정하기 위한 특정 접촉 소자(95b)를 가지고 있는 테스트 디바이스에서, 접촉 아일랜드(95a)와 접촉 경로를 가지고 있는 전기 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치를 테스트하는 시스템에서, 상기 접촉 아일랜드(95a)와 해당접촉 소자(95b)는 정확한 위치에서 서로 중심을 향해 일열로 배열되어 있고, 이들 접촉아일랜드(95a)와 해당 접촉 소자(95b)에는, 접촉 아일랜드(95a)와 접촉 소자(95b)와의 사이의 접촉범위가 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치에서 여전히 존재하지만 접촉 아일랜드(95a)의 에지를 향해 변위될 수 있도록, 서로 상대적으로 오프셋(d)이 설정되어 있다.

Description

접촉 아일랜드와 컨덕터 경로를 가진 인쇄회로기판의 테스트 디바이스내의 정확한 위치 테스트 시스템 및 방법
[도면의 간단한 설명]
도 1은 전기 인쇄회로기판을 조절 및 테스트하는 장치의 개략적인 정면도,
도 2는 상기 장치와 일체로 된 조절 및 테스트절차용 디바이스의 도 1의 II-II부분 측면도,
도 3은 테스트될 인쇄회로기판의 평면도,
도 4는 본 발명에 따른 디바이스용의 조절수단의 평면도,
도 5는 본 발명에 따른 디바이스용의 조절수단의 수정된 구성을 나타낸 도면,
도 6은 또 다른 수정된 조절 디바이스의 평면도,
도 7은 도 6의 VII-VII 부분을 나타낸 도면,
도 8은 도 7에 X로 나타낸 부분에 대한 상세 확대도,
도 9는 또 다른 수정된 조절 디바이스의 평면도,
도 10은 테스트될 인쇄회로기판과 해당 테스트 어댑터간의 위치 이탈을 결정하는 결정 또는 측정 디바이스 시스템의 상세도,
도 11은 도 10과 대응되는 수정된 구성의 상세도,
도 12는 도 10과 대응되는 또 다른 수정된 구성의 상세도,
도 13은 도 12와 대응되는 수정된 구성의 상세도,
도 14는 도 12와 대응되는 또 다른 수정된 구성의 상세도,
도 15는 인쇄회로기판의 수정된 구성을 나타낸 도면,
도 16은 전자 구성요소를 인쇄회로기판에 장착하는 장치 디바이스의 평면도로서, 인쇄회로기판의 정확한 위치를 테스트하기 위한 또는 이 정확한 위치로부터의 이탈을 결정하기 위한 본 발명에 따른 시스템이 상기 장착 디바이스에 일체화됨을 보인 평면도,
도 17은 장착 디바이스의 수정된 구성을 나타낸 도면.
[발명의 상세한 설명]
기술의 발전으로 인쇄회로기판의 크기가 우표 크기나 그 이하의 크기로 점진적으로 감소함에 따라, 바늘형이 바람직한 테스트 핀(test pin)이 100㎛의 범위내에서 타겟(target)에 접촉되어야 하는 문제점이 발생되고 있다.
그러나, 테스트 어댑터용 및/또는 인쇄회로기판용의 고정 소자(fixing element)들이 항상 상기 인쇄회로기판의 테스트 지점 패턴에 대해서 특정한 재현가능 정렬을 가진다는 것은 보장할 수 없는 일이다. 심지어 약간의 이탈만으로도 테스트 핀 패턴 또는 테스트 핀 팁 패턴이 상기 테스트 지점 패턴과 정확하게 일치되지 않게 되는 결과를 가져 올 수 있다. 상기 이탈의 원인으로는 허용오차가 필요하다는 점, 고정이 부정확하다는 점, 및/또는 상기 테스트 지점 패턴과 상기 고정소자들이 별개의 절차로 제조되는 점을 들 수 있다.
본 명세서의 앞부분에서 설명되는 종류의 방법은 독일 특허 43 02 509 Al에 설명되어 있다. 정확한 위치에서 모든 접촉 아일랜드(contact islands)들이 해당 접촉 소자(contact elements)들과 동심을 이루어 정렬된 테스트 배열을 이용하고 있는 상기 종래 방법의 경우에서는, 인쇄회로기판과 해당 테스트 핀들간의 상대적인 위치가 서로 다른 두 방향에서 달라지며, 이에따라 이들 각각의 방향에서 상기 테스트 핀들과 상기 테스트 지점들과의 사이에서서 전도상태에 대한 반복적인 측정이, 양호한 전도상태를 가진 한 위치와 불충분한 전도상태를 가진 두 위치의 검출을 위해 행해진다. 이 방법으로 얻어진 정보로부터, 테스트핀들이 일측 방향으로 또는 양측 방향으로 상기 테스트 지점들에 대해 가장 양호한 전도상태로 배치되게 되는 원하는 연결 위치가 결정된다. 이때, 상기 테스트 핀들은 이들 테스트 핀들이 상기 원하는 연결위치에 배열되도록 상기 인쇄회로기판에 대해 상대적으로 이동한다.
이 종래의 방법은 복잡하고 난해하고 장황한데, 이는 인쇄회로기판 또는 이 인쇄회로기판의 테스트 지점과 상기 테스트 핀과의 사이에서 위치 이탈이, 즉 정확한 위치로부터의 이탈이, 존재하는지를 결정하기 위해서는 다수의 이동 단계들 및 다수의 측정들이 행해져야만 하기 때문이며, 이때 상기 위치 이탈이 적으면 "양호"의 상태가 제공되고 그 위치 이탈이 크면 "불량"의 상태가 제공되며, 따라서 상기원하는 연결위치로의 정확한 이동이 행해져야만 하며, 이때 상기 인쇄회로기판의 또 다른 테스트가 행해질 수 있다. 상기 종래 방법을 수행하는 디바이스에 대해서는 본 명세서에서 설명하지 않는다.
본 출원인의 종래 특허 출원 P 44 17 811.5 에는, 테스트 어댑터의 테스트 핀들에 대한 인쇄회로기판 또는 이 인쇄회로기판의 테스트 지점 또는 접촉 아일랜드의 상대적인 위치를 대상으로 상기 인쇄회로기판을 테스트하는 방법이 설명되어 있다. 이 방법의 경우에, 상기 인쇄회로기판의 위치에 대한 체크가 특정 워크 스테이션에서 행해지며, 이에따라 상기 인쇄회로기판은 광학적으로 측정이 되며, 이 인쇄회로기판의 테스트 지점들을 테스트하는 테스트 장치에서, 정확한 위치로부터의 인쇄회로기판의 위치 이탈이 조절 디바이스에 의해 조절된다. 상기 테스트 장치는 특정한 워크 스테이션과 접속되어 있으며, 상기 인쇄회로기판은 측정 후에 상기 워크 스테이션측으로 공급되게 된다. 이에따라 원하는 위치로의 조절은, 상기 테스트 핀들의 테스트 단부들이 상기 조절 디바이스에 의해 변위되도록, 행해진다. 이 종래 방법은 바람직한 방법으로 판명되었지만, 두가지 이유 때문에 개선이 필요하다. 즉, 한편으로는 광학적 측정에 의해, 장치 및 방법기술의 비용이 많이 들면, 다른 한편으로는 측정 후, 테스트 장치로의 인쇄회로기판의 반송시에 그리고 그 테스트 장치에서의 위치결정시에, 간신히 피할 수 있는 위치 이탈이 예상되며, 이에따라 측정 스테이션에서 결정된 측정 데이타가 상기 테스트 장치내의 인쇄회로기판의 위치와는 정확하게 일치하지 않게 되며, 결국에는 또 다른 위치 이탈의 가능성이 제공될 수 있다.
공보 IBM TECHN. DISCL. BULLETIN 에는, 센서 위치 이탈의 자동 검출을 위한 개략적인 구성들에 대해서 설명되어 있으며, 이들 구성은 인쇄회로기판상에서 테스트디바이스를 안내하는 동안에 보정을 행할 수 있다. 이러한 구성의 경우에, 테스트 지점은 접촉 아일랜드에 의해 포위되어 있으며, 정확한 센서 배열로부터의 이탈은 전기 접촉에의해 지시될 수 있다.
(발명의 상세한 설명)
본 발명의 목적은, 테스트 디바이스에 대한 인쇄회로기판 또는 이 인쇄회로기판의 접촉 아일랜드의 상대적인 위치에 대한 테스트 또는 결정이 보다 간단하게 행해질 수 있도록, 이하의 설명의 앞부분에서 언급되는 종류의 시스템 및 방법을 더 개선하는데 있다.
상기 목적은 청구의 범위 제1항 또는 제35항의 특징부에 의해서 달성된다.
발명에 따른 시스템의 경우에 그리고 본 발명에 따른 방법의 경우에, 상기 위치의 테스트는 상기 접촉 아일랜드의 관련 치수의 절반보다 작은 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍의 두 접촉 소자들사이애 오프셋을 두고 행해진다. 본 발명에 따라 상기 오프셋을 두고 테스트를 할 때, 핀형 접촉 소자가 단지 상기 접촉 아일랜드의 에지영역에만 접촉하는 상기 위치 이탈은 사실상 억제될 수 있는데, 이는 테스트시의 오프셋 때문에, 앞서 언급한 특허 DE 43 02 509 A1 에 따른 기술의 상태를 가진 경우에서와 같이 상기 접촉 소자에 오프셋이 설정되어 있지 않은 경우보다도 휠씬 더, 불충분한 전도접촉 또는 비접촉이 달성될 수 있기 때문이다. 상기 특허 DE 43 43 509 Al에 따른 기술의 경우와 같이 접촉 소자의 상대적인 이동 없이도, 불충분한 접촉 또는 비접촉을 일으킬 수 있을 정도로 큰 위치 이탈을, 본 발명에 따른 오프셋으로 인해, 결정할 수가 있다. 이와같이, 상기 오프셋으로 인해 오프셋 이동없이도 위치 이탈의 기준을 본 발명으로 결정할 수 있다. 이러한 수단에 의해 상기 방법은 사실상 간단해진다. 검출을 위해, 전자 평가 디바이스, 예컨대 전자 회로가 제공될 수 있다. 본 발명의 범위내에서, 상기 특허 DE 43 02 509 A1 에 따른 기술과 대응되는 적어도 하나의 또는 복수의 오프셋 이동으로 복수의 측정을 행할 수도 있지만, 본 발명은 그러한 이동없이 단지 단일의 측정만으로 원하는 목적을 달성하는데, 이 원하는 목적은, 위치이탈이 "양호"인 범위내에 있는지 "불량"의 범위내에 있는지에 의해서 상기 디바이스에 대한 인쇄회로기판의 상대적인 위치를 결정하는데 있다. 본 발명에 따라 "양호" 결정이 있는 경우에는, 상기 인쇄회로기판의 접촉 아일랜드에 대한 또 다른 전기적인 테스트가 상기 인쇄회로기판에 대해 동일하게 예컨대 현재의 위치에서 직접 행해질 수 있다. "불량" 결정이 있는 경우에는 상기 인쇄 회로기판이 제거될 수 있다. 그러나, 후술되는 해당 보정 이동에 의한 상기 인쇄회로기판의 보정 또는 상기 접촉 소자의 보정이 본 발명의 또 다른 개발의 특징에 따라 영향을 받으면 바람직하다.
본 발명이 관심사로 하는 문제점, 즉 상기 인쇄회로기판의 접촉 지점 즉 접촉아일랜드와 연결될 수 있는 적어도 하나의 소자에 대한 상기 인쇄회로기판의 충분히 정확한 상대적인 위치 결정은, 인쇄회로기판상에 장착 디바이스에 의해 전자 구성요소들을 장착할 때에도 존재한다. 따라서, 본 발명에 따른 시스템과 본 발명에 따른 방법은 인쇄회로기판을 위한 테스트 디바이스의 경우에서 뿐만 아니라 인쇄회로기판을 위한 장착 디바이스의 경우에도 유리하게 이용될 수 있다. 인쇄회로기판이 작게 구성될수록 복수의 접촉 아일랜드 및 이들 접촉 아일랜드간의의 간격도 작아진다. 그러므로, 인쇄회로기판상에의 구성요소의 부정확한 장착에 의해, 예컨대 IC의 부정확한 장착에 의해, 불량접촉 및 단락이 일어날 수 있다는 위험이 존재한다.
이러한 결함을 제거하기 위해, 인쇄회로기판이 정확한 위치에 있는지를, 광학 테스트 또는 결정 디바이스에 의해 시각적으로 체크 및 결정할 수 있는 구성요소 장착 디바이스가 이미 제어되어 왔다. 위치 보정이 필요한 경우에는, 수동조절가능한 설정 디바이스에 의한 인쇄회로기판과 구성요소 장착 디바이스간의 상대적인 변위를 통해, 수동 변위 디바이스에 의해 보정이 행해질 수 있다. 그러나, 이들 조치는 제조비용이 많이 들고 시간도 많이 소요되며, 또한 조작자의 특별한 주의가 있어야만 행해질 수가 있다.
또한, 본 발명은, 상기 구성요소 장착 디바이스에 대한 인쇄회로기판 또는 이 인쇄회로기판의 접촉 아일랜드의 상대적인 위치의 테스트 또는 결정이 보다 간단하게 행해질 수 있도록, 청구의 범위 제46항의 전제부에 설명된 종류의 구성요소 장착 디바이스를 구성하는데 그 목적이 있다. 이 목적은 청구의 범위 제46항의 특징부에 의해 달성된다.
이 해결책에 의해 달성될 수 있는 이점에 관해서는 이미 주어진 이점의 설명부분을 주목하면 된다.
인쇄회로기판에 대한 특별한 제조법, 반송법 및 위치결정법의 경우에, 현재의 위치이탈이 항상 동일한 방향으로만 나타나도록 미리 결정될 수 있다. 이 방향에서의 테스트를 위해, 본 발행의 의미에서 오프셋이 설정된 단지 하나의 접촉 아일랜드/접촉소자 쌍만을 체크하는 것만으로도 위치 이탈을 정확하게 결정하기에는 충분하다. 위치이탈의 테스트를 서로 다른 여러 방향에서 행하고자 할 때에는 여러 접촉 아일랜드/접촉소자 쌍들이 필요하다. 특히 바람직한 조합은, 본 발명의 의미에서 3개의 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍들이 가상의 삼각형의 코너에 배열되어 있을 때, 또는 본 발명의 의미에서 4개의 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍들이 사각형, 직사각형 또는 정사각형의 코너에 배열되어 있을 때 제공되며, 이들 쌍의 오프셋 방향은 서로 다른 방향을 향하고 있음과 아울러, 서로 반대이며, 따라서 4개의 쌍으로 된 한 그룹의 경우에는 오프셋 방향의 교차배열, 바람직하게는 직각 교차배열이 제공될 수 있다.
이에따라, 본 발명의 경우에는 병진 위치 이탈 및 회전 위치 이탈을 간단한 방법으로 검출할 수 있다.
또한, 본 발명에 의해서, 위치이탈이 존재하는 방향에서 간단하고 보다 정확한 결정이 가능해진다. 이에 대한 기준은 해당 접촉 소자에 미리결정된 오프셋이며, 그 오프셋 방향은 테스트 디바이스의 평가 수단에 저장되어 있으며, 그리고 이들 오프셋 방향은 간단히 검출될 수 있을 뿐만 아니라 한 신호로서 직접 처리될 수도 있다.
또한, 접촉 아일랜드의 만족스럽지 않은 접촉이 존재할 때 또는 비접촉이 존재할때, 인쇄회로기판의 접촉 아일랜드에 대해 후속되는 테스트가 행해지는 경우에는 상기 접촉 소자의 신뢰성있는 접촉이 달성될 수 있고, 접촉 아일랜드의 후속되는 장착이 행해지는 경우에는 정확한 장착이 달성될 수 있는 위치쪽으로의 조절에 의해 위치이탈(들)이 보정되므로, 본 발명에 의해 설정 또는 조절은 간단하고 신뢰성있게 행해진다.
또한, 청구의 범위 제33항 및 제34항에 따른 본 발명도 또한 본 발명에 따른 특징부를 가지고 있는 테스트 어댑터 및 인쇄회로기판에 관한 것이다.
상기 종속항들은 위치이탈의 결정 및 인쇄회로기판의 접촉 아일랜드의 테스트를 개선하고, 안정되고 신뢰성있는 기능을 제공하며, 그리고 또한 컴팩트한 구조를 제공하는 특징부를 포함하고 있으며, 이에따라 위치이탈의 결정 및 인쇄회로기판의 접촉 아일랜드의 테스트가 신뢰성있게 그리고 혼란없이 행해질 수 있다.
이하에서는 본 발명, 및 이 본 발명에 의해 달성될 수 있는 다른 이점에 대하여, 바람직한 실시예 및 도면을 참조하여 보다 상세히 설명한다.
[실시예]
전자 인쇄회로기판(2)을 테스트하기 위한 장치(1)의 주요부로는 그 인쇄회로기판(2)들을 위한 테스트 디바이스(3), 디스택킹(destacking) 또는 분리 디바이스(4), 상기 인쇄회로기판(2)을 위한 결정 또는 측정 디바이스(5), 상기 분리 디바이스(4)로부터 상기 테스트 디바이스(3)쪽으로 상기 인쇄회로기판(2)들을 공급하는 공급 디바이스(6), 상기 테스트 디바이스(3)로부터 상기 인쇄회로기판들을 배출하는 배출 디바이스(7a,7b)를 들수 있으며, 이에 의해 상기 배출 디바이스(7a,7b)에는 특성부여 디바이스(8), 분류 디바이스(9) 및 예컨대 양호 및불량으로 분류된 인쇄회로기판(2)들을 위한 각각의 스태킹(stacking) 디바이스(11,12)가 연결되어 있다.
장치 하부(14) 및 장치 상부(15)를 가지고 있는 테스트 장치(13)에 배열되어 있는 상기 테스트 디바이스(3)의 주요부로는, 서로 미러 이미지(mirror image) 배열로 장착 디바이스(16a,16b)에 의해 해당 상기 장치 하부(14) 또는 장치 상부(15)에 부착되어 있는, 한 어댑터상에 다른 어댑터가 배열되어 있는 두 테스트 어댑터(16,17); 본 실시예에서는 이들 두 테스트 어댑터(16,17)사이에서 수평적인 배열로 테스트될 인쇄회로기판(2)을 위한 위치결정 디바이스(19), 및 상기 인쇄회로기판(2)과 상기 테스트 어댑터(16,17)와의 사이의 원하는 위치로 각각 조절하는 두 조절 디바이스(21a,21b)를 들 수 있으며(도2 참조), 이때 접촉은 보장된다.
본 발명의 범위내에서, 상기 테스트 디바이스(3)는 수평이외의 위치에서, 예컨대 수직위치에서 상기 인쇄회로기판(2)을 테스트하기 위해 설치될 수도 있다. 인쇄회로기판(2)의 양측에 테스트 지점(22a,22b)이 제공되어 있는 본 구성과는 대조적으로, 상기 테스트 디바이스(3)는 상기 인쇄회로기판(2)의 단지 일측에서만의 테스트를 위해 설치될 수도 있다. 또한 이 기술분야의 언어를 이용하여 기술적인 명칭, 즉 접촉 아일랜드 또는 패드(pad)를 가지고 상기와 같은 테스트 지점(22a,22b)에 대해서도 설명한다.
테스트 디바이스(3)에서 상기 인쇄회로기판(2)의 공급 또는 배출, 및 위치결정 그리고 또한 기능하다면 상기 인쇄회로기판(2)의 측정을 보다 용이하게 하기 위해, 상기 테스트 어댑터는 인쇄회로기판(2)을 가로질러 간격을 두고 있을 수 있다.또는 상기 인쇄회로기판(2)이 테스트 어댑터(16)와 테스트 어댑터(17)와의 사이에 삽입될 수 있도록 또는 이들 사이에서 제거될 수 있도록 상기 테스트 어댑터(16,17)들은 서로 간격을 두고있을 수 있다. 이는 장치 하부(14) 및/또는 장치 상부(15)가 간격을 두고 장착됨으로써 달성될 수 있다. 본 구성의 경우에, 상기 장치 상부(15)는 이 기능을 충족해 주며, 이때 이 장치 상부의 단부 영역은 도 2에 도시된 작업위치와 상측으로 변위되는 해제위치(도시되지 않음)와의 사이에서 피보팅되도록, 수평의 가로질러 뻗어 있는 조인트 축(24)의 주위에서 동작측 또는 전방측(23)으로부터 떨어진 단부영역에, 즉 후방의 단부영역에, 피보팅적으로 장착되어 있음과 아울러, 드라이브(26)에 의해, 여기에서는 피스톤 및 실린더 드라이브에 의해 이리저리로 변위가능하며, 그리고 조절된 각각의 위치에서 고정될 수 있다.
이때, 각각의 경우에 해당 테스트 디바이스부(3a,3b)와, 독립적인 고정 및 측정디바이스(5a,5b)는 상기 장치 하부(14)와 장치 상부(15)에 연결되어 있다. 상기 상부테스트 디바이스부(3b)는 앞서 언급한 방법으로 상하로 이동가능하게 배열되어 있다. 또한, 특정 이유들로 인해, 하부 테스트 디바이스부(3a)도 후술되는 방법으로 각각의 위치에서 수직으로 조절 및 고정될 수 있다. 이를 위해서는, 스트로크(stroke) 디바이스(28)에 의해, 예컨대 기압식 또는 수압식 피스톤/실린더 유닛에 의해, 수직으로 조절가능한, 바람직하게는 테이블형인 캐리어(27)가 이용된다.
상기 장치 하부(14) 또는 캐리어(27) 및 상기 장치 상부(15)는 하부측 또는 상부측에 평면형 또는 테이블형일 수 있는 배치면(placement surface)(31,32)을 가지고 있고, 이 배치면에서 상기 테스트 어댑터(16,17)는 체결 디바이스(16a,17a)에의해 단단하게 하지만 해제가능하게 본 구성에 체결되어 있다.
각각의 경우에 해당 테스트 핀(33)들을 가진 해당 테스트 어댑터(16,17)는 테스트 디바이스부(3a,3b)에 속해 있고, 상기 테스트 핀들은 관통구멍(34)을 통해 상기 테스트 어댑터(16,17)를 통과하며, 이에따라 헤드의 두꺼운 부분, 특히 볼 헤드(ball head)(35)가 인쇄회로기판(2)로부터 떨어진 테스트 핀의 단부에 제공되는 것이 바람직한 상기 테스트핀은 테스트 어댑터(16,17)의 두께보다도 약간 더 길다. 상기 테스트 핀(33)의 헤드단부와 접촉되는, 챙이 없는 모자 형태이면 바람직한 테스트 접촉부(38,39)를 가지고 있는 테스트 모듈(36,37)은 각각의 테스트 디바이스부(3a,3b)와 연결되어 있다. 상기 상부 테스트 모듈(37)은 피보팅가능한 장치 상부(15)에 위치되어 있고, 하부 테스트 모듈(36)은 상기 장치 하부(14)상에, 이 경우에서는 캐리어(27)상에 또는 이 캐리어(27)내에 위치하고 있다. 상기 테스트모듈(36,37)은 신호 라인과 제어 라인(도시되지 않음)을 통해 해당 전자 제어 디바이스(36a,37a)와 각각 연결되어 있고, 이들 전자 제어 디바이스는 테스트디바이스(3)의 제어 디바이스 전체에 일체화되어 있으며, 이 제어 디바이스는 인쇄회로기판(2)의 테스트를 가능하도록 해 주며 그리고 인쇄회로기판(2)의 결함을 지시해 주는 지시기(indicator) 소자를 가질 수 있다.
테스트시, 전류는 종래의 방법으로 테스트 핀(33)을 통과한다.
인쇄회로기판(2)의 양측을 테스트하는 경우에는, 이들 각각의 양측에 각각의 테스트 디바이스(3a,3b)와 결정 또는 측정 디바이스(5a,5b)가 제공된다.
테스트 디바이스부(3a,3b) 및/또는 테스트 모듈(36,37) 및/또는 상기 결정또는 측정 디바이스(5a,5b)는 원칙적으로 동일하고 그리고 미러 이미지적으로 서로 대향되도록 형성 및 배열되어 있지만, 인쇄회로기판(2)과 접촉되는 특정의 구성은 서로 다름을 주목해야 하며, 이에 대해서 이하 설명한다.
테스트중에, 테스트 핀(33)들은 이 테스트 핀들의 원뿔형 포인팅 단부를 통해 상기 인쇄회로기판(2)의 테스트 지점(22a,22b)과 접촉하게 되며, 이들 테스트 지점은 적어도 일부가 "오프 그리드(off grid)"로 배열될 수 있다. 테스트 모듈(36,37)의 상기 테스트 접촉부(38,39)는 "인 그리드(in grid)"로 위치되어 있으므로, 테스트 핀(33)의 적어도 일부분과 해당 관통구멍(34)에 대해서 수직 연장부로부터 이탈한, 경사진 연장부를 필요로 한다.
테스트 디바이스(3)내의 위치결정 디바이스(19)를 이용하여 상기 인쇄회로기판(2)의 위치를 결정하기 위해, 인쇄회로기판(2)과 테스트 디바이스(3)와의 사이에는 영향을 받기 쉬운 위치결정 소자가 제공되어 있다. 본 구성에서, 상기 위치결정 소자는 인쇄회로기판(2)과 장치 하부(14)와의 사이에서, 바람직하게는 하부 테스트 어댑터(16)와 인쇄회로기판(2)과의 사이에서 동작을 행하며, 상기 위치결정 소자는 특히 장치 하부(14)의 편평한 상부측 또는 캐리어(27)의 편평한 상부측상에 배열되어 있다. 이를 위해 본 실시예에서는 서로 간격을 두고 있고 단면이 원형인 두 센터링 핀(41)을 이용하는 것이 바람직하며, 인쇄회로기판(2)은 해당 정합용 구멍(42)을 통해 상기 두 센터링 핀에 배치될 수 있다. 본 실시예에서, 상기 센터링 핀(41)들은 상기 하부 테스트 어댑터(16)에 고정배열되어 있으며, 이에따라 상기 센터링 핀들은 인쇄회로기판(2)의 두께와 대략적으로 대응되는 양만큼 상기 테스트 어댑터상에서 돌출되어 있음과 아울러, 인쇄회로기판(2)이 상기 센터링 핀(41)(자기정렬 핀)상에 신속하게 배치될 수 있도록 포인트로 되어 있고 그 자유단부가 둥글게 되어 있다.
테스트 지점의 치수가 작고 바람직하게는 일정하며 테스트 지점(22a,22b)의 상호 간격이 비교적 좁기 때문에, 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과 해당 테스트 지점 패턴(43a,43b)(패드 패턴)과의 사이에는 높은 정확성 또는 일치성이 필요로 되며, 이는 높은 정확성 또는 일치성이 없으면 접촉 불량의 위험이 존재하기 때문이다.
그러나, 테스트 디바이스(3)에서는, 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과 테스트 지점패턴(43a,43b)간의 차이 또는 그 위치이탈이 생기는 많은 원인들이 있다. 이들 차이는 존재하는 제조 허용오차 및/또는 장착의 정확도에서 그 원인을 찾을 수 있다.
인쇄회로기판(2)이 이 인쇄회로기판(2)의 정합용 구멍(42)에 의해 위치되어 있는 본 구성의 경우에, 상기 정합용 구멍(42)이 두 테스트 지점 패턴(43a,43b)중 한 테스트지점 패턴에 대해 또는 두 테스트 지점 패턴 모두에 대해, 원하는 위치가 아닌 이탈한 실제 위치에서 상기 인쇄회로기판(2)의 일측상에 및/또는 다른 일측상에 위치되어 있으므로, 앞서 언급한 위치 이탈이 발생할 수 있다.
이 결합을 제거하기 위해, 본 발명에 따른 적어도 하나의 조절 디바이스가 제공되어 있으며, 이 조절 디바이스에 의해서 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과 서로 연결된 테스트 지점 패턴(43a,43b)과의 사이에 원하는 위치가 결정될 수 있다. 이는 상기 인쇄회로기판(2)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b) 또는 테스트 핀 팁 및/또는 해당 테스트 어댑터(16,17)와의 사이에서의 상대적인 변위 및 위치결정에 의해 달성되며, 이러한 위치결정은 본 구성의 경우에는 인쇄회로기판(2)의 양측에서 행해진다. 이는 테스트 어댑터(들)(16,17)의 조절, 테스트 핀 팁 패턴(들)(40a,40b)의 조절, 및/또는 테스트 지점 패턴(들)(43a,43b)의 조절에 의해 영향을 받을 수 있으며, 이러한 조절은 손에 의해 기계적으로 또는 전자기에 의해 자동적으로 해당 조절 디바이스(들)(21a,21b)에 의해 행해질 수 있다.
상기 조절 디바이스(21a,21b)에 의해 해당 테스트 지점 패턴(43a,43b)에 대해 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)의 조절을 행하는 것이 바람직하며, 이에따라 테스트 핀 팁들은 해당 테스트 지점 패턴(43a,43b)과 일치하는 위치로 변의되어 그 변위된 위치에 고정되게 된다. 이 방법으로, 인쇄회로기판(2)의 일측상에서 또는 인쇄회로기판(2)의 양측상에서 서로 무관한 조절을 행할 수 있다. 인식가능한 차이를 보상할 수 있도록 하기위해서는, 조절될 대상은, 본 구성의 경우에는 테스트 핀 팁 또는 테스트 지점 패턴(43a,43b)은, 병진운동 및/또는 회전운동을 할 수 있어야 한다. 이를 위해, 조절 판(44,45)이 사용되며, 이때 이 조절 판을 통해 테스트 핀 팁들은 적절한 구멍에 뻗어 있게되고 그리고 상기 조절 판들은 병진운동 및 회전운동에 의해 조절가능하고 각각의 조절된 위치에 고정가능하다. 상기 조절은 테스트 핀 팁 패턴(40a 또는 40b)의 실제위치와 테스트 지점 패턴(43a,43b)과의 사이에 존재하는 차이를 고려함으로써 행해지며, 이에따라 상기 테스트 핀 팁 패턴은 각각의 경우에 조절판(44,45)에 의해 테스트 지점 패턴과 사실상 일치하는 원하는 위치로 조절되게 된다.
조절 디바이스(21a,21b)의 제어는 결정 또는 측정 디바이스(5a,5b)와 연결되어 있는 전기회로에 의해 행해지며, 이 전기회로는 제어 디바이스(36a,36b)에 일체로 되어있고 그리고 도 2에만 도시된 제어라인(S1,S2)을 통해 해당 결정 또는 측정 디바이스(5a,5b)에 의해 검출된 위치이탈을 고려한다. 상기 제어라인(S1,S2)은 조절 디바이스(21a,21b)의 해당 조절 모터와 연결되어 있다.
조절 디바이스(21a,21b)는 각각 3개의 변위 디바이스(46a,46b,46c)와 연결되어 있으며, 이들 변위 디바이스에 의해 변위될 부분, 이 경우에는 해당 조절 판(44,45)은 병진운동 및 회전운동하도록 조절가능한데, 즉 해당 조절판의 평면의 모든 방향으로 조절가능하고, 그리고 각각의 조절된 위치에 고정가능하다.
도 4에 따른 구성의 경우에, 상기 변위 디바이스(46a,46b,46c)들은, 길이가 조절될 수 있고 그리고 선택적으로 연장 및 수축될 수 있는 푸시풀 막대(rod)(47)에 의해 각각 형성되어 있음과 아울러, 조인트 축을 가지고 있는 조인트(48a,48b,48c,48d,48e)을 통해 테스트 디바이스(3)의 일부분상에서, 여기서는 해당 테스트 어댑터(16,17)상에서, 피보팅될 수 있으며, 상기 조인트 축은 상기 조절판에 수직으로 뻗어 있고 변위될 부분상에, 여기서는 조절판(44 또는 45)상에, 피보팅적으로 결합되어 있다. 이에따라, 제3푸시풀막대(47c)는 공통 조인트(이중 조인트)에서 푸시풀 막대(47b)와 결합될 수 있고, 또는 이 공통 조인트와 간격을 두고 한 조인트에서 상기 변위될 부분상에 또한 결합될 수 있다. 각각의 변위된 위치에서, 푸시풀 막대(47a,47b,47c)는 길이조절이 각각 차단된다. 이들 수단에 의해, 상기 변위될 부분은 각각의 변위된 위치에 고정되어 있다.
도 5에 따른 구성의 경우에는, 가변길이의 푸시풀 막대 대신에, 엘보우 조인트(52a,52b,52c)를 가지고 있는 3개의 엘보우 레버 막대(51a,51b,51c)가 제공되어 있으며, 이에따라 상기 조인트(48a,48b,48c)는 제1엘보우 레버 아암(51d,51e,51f)을 이리저리 피보팅시키기 위한 피봇 드라이브(53a,53b,53c)와 연결되어 있으며, 이 퍼봇 드라이브들은 원으로 강조되어 도시되어 있고 이들 드라이브의 비구동 배치부분은 고정되어 있다. 이들수단에 의해, 상기 변위될 부분은 각각의 변위된 위치에 고정된다. 상기 변위될 부분은 테스트 어댑터(16,17)중 한 테스트 어댑터 또는 조절판(44,45)중의 한 조절판 또는 인쇄회로기판(2)일 수 있으므로, 이 부분들의 참조부호는 도 4 및 도 5에 표시되어 있다.
도 6 및 도7에 따른 구성의 경우에, 변위 디바이스(46a,46b,46c)들은, 상기 변위될 부분에서 그리고 이 변위될 부분을 반송하는 부분, 특히 편형하게 인접하고 있는 부분에서, 여기서는 조절판(44)에서 그리고 해당 테스트 어댑터(16,17)에서 서로 경사지게 형성되어 있고 서로 위에 배열되어 있는 두 안내홈(54,55)에 의해, 각각 배열되어 있다. 상기 안내홈(54,55)내에서, 공통 슬라이드(56)는 상기 두 안내홈중 한 안내홈의 길이방향으로, 본 구성의 경우에는 해당 테스트 어댑터의 안내홈(54)의 길이방향으로, 변위 드라이브에의해 예컨대 상기 슬라이드(56)상의 하부측 부착부(56a)를 통과하는 나사산이 형성된 스핀들(50)에 의해 변위가능하다. 상기 변위 드라이브는 수동적으로, 예컨대 핸드 나사(57)에 의해서 또는 모터(58)에 의해 기계적으로 조작될 수 있다. 안내홈(54,55)의 길이는 원하는 병진운동 및 회전운동이 조절 범위내에서 행해질 수 있도록 설정되어 있다. 이에따라, 안내홈(55)에서 슬라이드(56)의 회전가능성이 필요해진다. 이 회전가능성은 상기 슬라이드(56)가 변위가능한 부분의 안내홈(55)에 결합된 부분에서 둥근 핀으로 형성되면 보장되게 된다. 안내홈(54)내에서, 상기 슬라이드(56)는 바람직하게는 슬라이드 표면상에 편평하게 지지되어 있는, 따라서 라인형의 저마모성 베어링을 제공하는 직사각형 부분이다. 이는, 단면이 둥근 상기 핀(59)의 직경이 안내홈(55)의 폭보다 짧고 특히 안내홈(55)에 고정되어 있는 직사각형 슬라이드(56a)에 그리고 핀(59)을 수납하는 장착보어(bore)(61)에 회전가능하게 장착되어 있을 때, 안내홈(55)을 위해 구현될 수 있다. 상기 변위 스핀들(57)은 테스트 디바이스(3)의 고정부분상에, 이 경우에는 해당 테스트 어댑터(16)상에, 축방향으로 두 슬라이드 쇼울더(shoulder) 등에 의해 지지되어 있으며, 이에따라 필요한 축 변위력이 제공될 수 있다.
안내홈(54)과 안내홈(55)과의 사이에 포함되어 있는 각(W)은 단지 자체적인 차단이 방지될 정도의 크기, 하지만 상기 변위될 부분(조절판(44,45))이 가로질러 변위될 수 있을 정도의 크기로서, 예컨대 대략 10° 정도이어야 한다.
이런 종류의 다른 두 변위 디바이스(46b,46c)는 앞서 언급한 구성과 대응되도록 형성되어 있으며, 따라서 이에 대해서는 특별히 설명할 필요가 없다. 상기 변위 디바이스(46b)는, 상기 변위 스핀들(50)이 테스트 어댑터의 다른 일측을 향하고 있어 이 다른 일측으로부터 특히 수동적인 변위를 위해 접근할 수 있다는 점에 대해서만, 앞서 언급한 변위 디바이스(46a)와는 다르다.
상기 조절 디바이스(46a,46b,46c)는 각각 서로 간격을 두고 있고 특히 변위될 부분의 에지영역에서, 여기서는 해당 조절판(44,45)의 에지영역에서, 바람직하게 삼각형의 형태로 배열되어 있다.
제3변위 디바이스(46c)는 가로질러, 바람직하게는 앞서 언급한 두 변위디바이스(46a,46b)의 작동방향(화살표 참조)에 직각으로, 배열되어 있으며, 이에따라 상기 변위 스핀들(50)은 수동적으로 액세스가능한 또 다른 일측, 예컨대 조작자쪽으로 조작된다.
수동적인 변위 및 조절을 위해, 판독 계량기, 예컨대 마이크로미터 나사를, 미세한 설정을 가능하게 하는 변위 디바이스(46a,46b,46c)에 연결해 두는 것이 바람직하다.
도 7에 도시된 부분단면도로부터 알 수 있는 바와같이, 상부 조절판(45)을 위한 변위 디바이스(46a,46b,46c)는 수평 인쇄회로기판(2)에 대해 미러 이미지적으로 배열되어 있다. 이들 변위 디바이스중에서 간단화를 위해 도 7에는 상부 변위 디바이스(46a)만이 도시되어 있다. 다른 상부 변위 디바이스들은 미러 이미지적인 배열인 앞서 언급한 구성과 대응될 수 있다. 인쇄회로기판(2)과 상부 조절판(45)과의 사이에 간격이 있음을 도시되어 있는 도 2의 경우와는 대조적으로, 도 7에 따른 구성의 경우에는 상부 조절판(45)이 테스트될 인쇄회로기판(2)상에 배치되어 있다. 여기에서는, 테스트시의 변위 구성이 포함되어 있으며, 이에 대해서는 후술된다. 정렬 핀(41)들은 한 곳에, 이 경우에는 하부 테스트 어댑터(16)에서, 구멍(41a)내에 고정배치되어 있으며, 이에따라 이들의 상부 원통형 단부 영역의 단면에 테이퍼가 형성될 수 있고 그리고 그 상부 원통형 단부 영역은 상부 센터링부(41b)의 단면보다 단면적이 약간 더 넓고 바람직하게는 둥근 구멍(65)을 통해 하부 조절판(44)을 통과한다. 이들 수단에 의해, 하부 조절판(44)의 선택적인 변위(조절)가 가능한데, 이는 존재하는 운동의 수행 때문이다. 상부 조절판(45) 및 상부 테스트 어댑터(17)에는 자유구멍(66)이 제공되어 있으며, 이 자유구멍을 통해 상기 센터링부(41b)의 바람직하게는 원뿔형 또는 둥근형인 자유단부들이 측방향 운동 수행으로 돌출되어 있으며, 이에따라 상부 조절판(45)의 선택적인 변위 및 조절도 상기 하부 조절판(44)의 조절과는 무관하게 가능해진다.
이들 테스트 어댑터(16,17)는 바람직하게는 소위 다중 판 어댑터들이며, 이들 어댑터는 간격을 두고 서로 평행하게 배열되어 있는 복수의 안내판으로, 본 실시예에서는 3개(도시되어 있음), 4개 또는 5개의 안내판으로, 구성되어 있으며, 이때 이들 안내판은 서로 간격을 두고 있음과 아울러, 간격을 둔 프레임 또는 간격을 둔 스트립(strip)(67)과 같은, 주변에 배열되어 있는, 간격을 둔 부분들에 의해 고정되어 있다. 상기 안내판들은 서로 다른 간격을 두고 배열될 수 있는데, 이때 상기 안내판들 중에서, 해당 조절판(44,45)에 가장 가깝고 이 조절판상에 지지되어 있는 안내판은 68로 나타내어져 있고, 상기 안내판들중에서 중간측 안내판은 69로 나타내어져 있으며, 상기 안내판들중에서 외부측 안내판은 71로 나타내어져 있다. 도 7 및 도 8로부터 알 수 있는 바와같이, 테스트 핀들에는, 서로 원뿔형으로 변형된 원통형 부분(33a,33b)을 가지고 인쇄회로기판(2)을 향해 그 단부쪽으로 테이퍼가 형성되어 있다.
본 구성의 경우에, 서로 다른 직경의 두 원통형 부분이 제공되어 있으며, 이에따라 보다 큰 직경의 상기 원통형 부분(33a)은 관통 또는 안내 구멍(34)을 통해 두 안내판(69,71)을 통과하고 있는 반면에, 보다 작은 직경의 상기 원통형부분(33b)은 보다 작은 대응 안내구멍(34)을 통해 안내판(68)을 통과하고 있다. 상기 안내구멍(34)은 상기 안내판(68,69,71)과 직각으로 테스트 어댑터(16,17)를 조립 또는 장착하기전에 제조되는, 특히 구멍이 뚫린 원통형 보어이다. 경사지게 뻗어 있는 상기 테스트 핀(33)의 경우에는, 대응하는 큰 직경의 해당 안내구멍(34)을 제공하여야 하며, 따라서 상기 테스트 핀(33)은 약간의 운동 수행으로 각각의 구멍(34)의 서로 대향하고 있는 구멍 벽상에서 안내된다.
상기 조절판(44,45)의 안내구멍(72)들은 대응되게 형성되어 있다. 즉 이들 구멍들은, 해당 테스트 핀(33)의 경사진 배열의 경우에, 대응하는 큰 직경을 가져야 하는 해당 조절판(44,45)에 수직으로 마련된, 특히 구멍이 뚫린 안내구멍(72)이며, 이에따라 테스트 핀(33)들은 경사지게 뻗게 됨과 아울러, 상부 및 하부 구멍에지로 안내될 수 있다. 해당 안내구멍(72)내의 테스트 핀(33)의 센터링의 경우에, 그 센터링을 개선하기 위해서 직경 차를 가능한 한 작게 유지하는 것이 바람직하다. 그러므로, 안내 구멍(72)의 길이를 유효 안내영역(2)까지 줄이는 것이 바람직하다. 상기 조절판(44,45)의 앞서 언급한 두께의 경우에, 이 테이퍼 형성된 안내영역(a)은 바람직하게는 상기 조절판(44,45)의 내측상에 배열되어 있는 구멍의 넓은 부분(72a)에 의해 형성될 수 있으며, 이에따라 상기 안내영역(2)은 인쇄회로기판(2)에 인접배열될 수 있다. 또한, 상기 구멍의 넓은 부분(72a)은, 상부 구멍 에지(72b)가 테스트 핀(33)의 외부면상에 지지되어 약간의 운동 수행으로상기 넓은 부분을 안내할 수 있을 정도로 상기 직경이 충분히 클 때, 상기 테스트 핀(33)의 센터링에 포함될 수 있다.
도 8의 좌측에 나타낸 바와같이, 안내구멍(72)의 대응하는 넓은 부분(72c)은 상기 테스트 핀(33)이 상기 조절판(44,45)에 대략 직각으로 뻗어 있는 경우에도 제공될 수 있다.
상기 테스트 핀들은 두께가 얇고 이에따따 탄성적으로 만곡가능하므로, 적어도 안내 판(68)의 안내 구멍(34)에서 테스트 핀(33)의 반경방향 운동수행이 필요없다. 또한, 적어도 인접한 안내판의 안내구멍(34)을, 테스트 핀(33)의 테스트 단부들이 조절판(44,45)에 의해 조절될 수 있을 정도로 치수화하는 것이 바람직하다.
테스트 핀(33)외 길이(1)는 조절판(44,45)의 두께(c)를 포함해서 테스트 어댑터(16,17)의 대응 치수(b)보다도 약간 더 크다. 결과적으로, 테스트 핀(33)의 바람직하게는 포인팅된 단부들이 인쇄회로기판(2) 또는 테스트 지점(22a,22b)상에 지지되어 있을 때, 헤드(35)는 상기 테스트 어댑터(16,17)로부터 간격을 가지고 있다.
동일한 부분 또는 유사한 부분에 동일한 도면 부호가 부여되어 있는 도 9에 따른 조절 디바이스(21a,21b)의 실시예의 경우에는, 특정 구조 및 기능을 가진 조절판(44,45)이 제공되어 있다. 이 구성의 경우에, 상기 변위 디바이스(46a,46b,46c)들은 조절판(44,45)의 일부분 또는 부분(75,76,77)과 결합되어 있고, 이들 부분은 각각 유연하게 또는 만곡가능하게 또는 이동가능하게 해당 변위 디바이스(46a,46b,46c)의 변위방향(78,79,81)을 가로질러 배열되어 있다. 이방법으로, 변위 방향(78,79,81)을 가로지르는 드라이브 운동을 사실상 피할 수 있으면, 이에따라 한편으로는 이들 가로지르는 방향의 드라이브 운동은 예기치 않는 만곡 모멘트를 일으키지 않으며 다른 한편으로는 해당 변위방향으로의 변위운동을 사실상 변경시키지 않는다.
이는 상기 부분(75,76,77)들이 진자(pendulum) 처럼 배열되어 이동될 부분과, 여기서는 조절판(44,45)과, 조인트에 의해 연결됨에 따라 달성될 수 있으며, 이때 이들 조인트에 의해 각각의 변위 방향(78,79,81)을 가로지르는 상기 부분들의 운동이 가능해지지만, 상기 변위 방향에서 변위될 부분과는 길이불변하게 연결되어 있다. 이들 부분(75,76,77)들은 길이가 긴 푸시풀막대에 의해 형성될 수 있으며, 이때 이 푸시풀막대는 만곡가능하고 각각 조인트(82a,82b,82c)에서 상기 이동될 부분과 연결되어 있다. 본 구성에서, 상기 부분(75,76,77)들은 특히 스탬핑된(stamped) 금속 또는 플라스틱 판(85)의 일부분에서 작동되는 텅(tongue)에 의해 형성되어 있으며, 이에따라 상기 부분들의 단부중 어느 한 단부는 비교적 좁은 웨브(86a,86b,86c)에 의해 상기 판(85)과 연결되게 된다. 각자의 상기 텅을 둘러싸고 있는 C 형의 자유영역(85a,85b,,85c)에 의해, 상기 텅은 길이방향을 가로질러 만곡 또는 휨이 가능하다. 상기 변위 디바이스(46a,46b,46c)들은 상기 조인트(82a,82b,82c)로부터 간격을 두고 바람직하게는 조인트로부터 떨어진 상기 텅들의 단부영역에서 상기 텅들과 결합되어 있다. 상기 변위 디바이스(46a,46b,46c)들은 스핀들 드라이브에 의해 각각 형성될 수 있으며, 이때 그 스핀들 너트(nut)는 약간 피보팅될 수 있도록 해당 텅과 연결되어 있다. 본 구성의 경우에, 상기 변위 디바이스들은 편심 드라이브를 가지고 있으며, 이 편심 드라이브는 상기 판(85)에 직각으로 뻗어 있고 테스트 장치(13) 및/또는 테스트 어댑터(16,17)에서 테스트 디바이스(3b)에 회전가능하게 장착되어 있는 구동 샤프트(87)를 가지고 있고, 그 구동 샤프트는 해당 텅의 대응되는 크기의 구멍(89)에서 둥근 편심 드라이브 핀(88)과 결합되어 있다. 예컨대, 구동 스핀들(91)을 가지고 있는 웜(worm) 드라이브에 의한 상기 구동 샤프트(87)의 회전을 통해, 상기 편심 드라이브 핀(88)은 구동 샤프트(87)의 중심축을 중심으로 회전할 수 있으며, 이에따라 상기 판(85)은 변위 방향(78)으로 변위되고 동시에 그 변위 방향(78)으로의 운동에 사실상 영향을 미치지 않고 해당 텅을 끌어들이는 바우(bow) 운동을 수행한다. 상기 구동 스핀들(91)은 핸드 휠(57)의 형태로 수동적으로 구동될 수 있고, 또는 모터에 의해 즉 구동모터(58)에 의해 구동될 수 있다.
특히 수동적인 구동의 경우에는, 상기 구동 스핀들(91)은 해당 테스트 어댑터(16,17)의 주변으로 뻗어 있으며, 이때 이 테스트 어댑터 상에서 상기 판(85)이, 여기서는 조절판(44,45)을 형성하고 있는 판이, 임의의 지점의 주위에서 원하는 측방향운동 및 회전운동으로 한정적으로 변위 및 조절될 수 있다.
3개의 변위 디바이스중 서로 평행한 두 변위 디바이스(78,79) 및 이들을 가로지른, 특히 직각인 제3변위 디바이스를 배열하면 바람직하다. 정방형 또는 직사각형의 판(85)의 경우에는, 상기 판 또는 조절판(44,45)의 에지영역에 또는 해당 테스트 어댑터(16,17)의 에지영역에, 그리고 이를 위해 도 6에 따른 실시예에서 이미 설명된 필적하는 위치에, 상기 텅들을 해당 변위 디바이스(46a, 46b, 46c)와 함께 배열하는 것이 타당하다.
서로 대항되도록 상기 인쇄회로기판(2)의 양측에 배열되어 있는 측정 디바이스(5a, 5b)는 원칙적으로 동일한 방법으로 기능함과 아울러, 대응되도록 유사하게 형성되거나 미러 이미지로서 형성되는 것이 바람직하며, 이에따라 측정 디바이스(5b)에 대해서만 행해지는 다음의 설명으로부터 배열, 구성 및 기능을 이해하고 구현하기에 충분하다. 상기 측정 디바이스(5a,5b)는 접촉소자(95a,95b)를 가진 접촉소자 쌍(95)(도10)을 각각 가지고 있으며, 이중 상기 접촉소자(95a)는 인쇄회로기판(2)상에 배열되어 있고, 상기 접촉소자(95b)는 해당 테스트 어댑터(17)상에 배열되어 있으며, 이에따라 상기 접촉소자(95a)는 접촉지점 또는 테스트지점(22a, 22b)의 크기의 접촉 아일랜드를 형성하는 사변형 또는 둥근(도시되어 있음) 접촉면이고, 상기 접촉소자(95b)는 상기 접촉소자(95a)의 접촉면보다는 사실상 크지 않은 접촉면을 가진 핀의 형식으로 형성되어 있다. 테스트 지점 패턴(43a, 43b)과 테스트 패턴(40a, 40b)과의 일치로, 상기 접촉 소자(95a,95b)의 중심지점(Ma,Mb)은 특정방향(화살표 96)으로 서로 오프셋을 두고 배열되어 있고, 이에따라 오프셋의 크기(d)가 접촉 소자(95a)의 접촉면의 해당 치수(e)보다는 작으며, 바람직하게는 대략 1/4보다 작다는 점이 중요하다. 상기 치수(e)는 예컨대 대략 0.1 mm 내지 0.5 mm 이다. 이 실시예에서는 대략 0.025 mm 내지 0.125 mm의 오프셋 양(d)이 제공되어 있다. 시험에 의해, 0.1 mm의 오프셋 양이 바람직한 것으로 판명되었다.
핀형 접촉 소자(95b)는, 접촉 소자(95a,95b)의 접촉이 테스트 핀(33)의 접촉과 더불어 동시에 발생할 수 있도록 테스트 핀(33)의 길이만큼 길게 또는 그 길이로 채택되어 있다.
상기 오프셋 방향(96)은 테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과의 사이에서 주요 위치이탈이 나타나는 방향이다. 이는 제조절차에서 미리 결정될 수 있다.
테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과의 사이에 존재하는 위치이탈이 여전히 인쇄회로기판(2)의 테스트가 행해질 수 있는 범위내에 있는지에 대해서, 또는 테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)이 대략 대응하고 있는 원하는 위치로의 조절이 행해져야만 할 정도로 상기 위치이탈이 큰 지에 대해서, 간단하고 고속으로 행해질 수 있는 결정 또는 측정이 앞서 언급한 중심 오프셋에 의해 가능해진다. 앞서 언급한 제1의 경우에는, 즉 비교적 작은 위치이탈이 존재하는 경우에는, 상기 접촉 소자(95a,95b)는 접촉동작시에 접촉을 달성한다. 이 접촉을 통해, 제어 디바이스(36a,37a)는 상태가 양호하여 인쇄회로기판 테스트가 바람직하게는 자동적으로 행해질 수 있음을 나타내는 신호를 발생할 수 있는데, 이는 테스트 핀(33)을 통한 그리고 해당 전기회로에 의한 전류 전도 때문이다. 제2의 경우에는, 즉 테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과의 사이에서 위치이탈이 비교적 큰 경우에는, 즉 접촉동작시 접촉 소자(95a,95b)들이 접촉을 달성하지 못할 정도로 큰 경우(전류차단됨)에는, 제어 디바이스(36a,37a)는 원하는 위치로의 조절이 행해져야 함을 알리는 신호를 발생하며, 이때 테스트 지점 패턴(43a,43b)와 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)은 가능한 한정확하게 접촉될 수 있고 서로 대응되면 바람직하다. 상기 조절은 수동적으로 또는 바람직하게는 자동적으로 행해질 수 있다. 오프셋(d)을 줄이기 위한 상기 조절 운동(97)은 오프셋 방향(96)과는 반대 방향으로 행해진다. 기존의 오프셋 방향(96) 때문에, 상기 오프셋(d)의 양을 줄이는 상기 조절운동(97)의 방향과 크기를 검출 및 결정할 수 있다. 이에따라, 상기 조절의 정도는 예컨대 중심(Ma,Mb)의 일치를 달성하기 위해 상기 오프셋(d)의 양과 일치될 수 있고 또는 약간 더 많이 행해질 수 있다. 상기 조절운동(97)의 정도는 예컨대 상기 치수(e)의 절반(e/2)에 해당할 수 있다.
하나의 접촉 소자 쌍(95)만을 가지고 있는 상기 구성(도 10)은, 테스트 지점 패턴(43a,43b) 및 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과 일치하는 원하는 위치로부터의 위치이탈이 오프셋 방향(96)과 평행하게 또는 특히 그 오프셋 방향에 존재하는 경우에, 적합하다. 이에따라, 위치이탈이 존재하는지의 여부에 대한 결정, 및 적합하다면 조절운동이 후속해서 수행되어야 하는지에 대한 결정은 접촉 소자(95a,95b)의 단일의 접촉동작의 영향을 받을 수 있다.
동일한 부분 또는 유사한 부분에는 동일한 도면부호가 부여되어 있는 도 11에 따른 구성의 경우에, 상기 접촉 소자 쌍(95.1)에 부가적으로 제2접촉 소자 쌍(95.2)이 배열되어 있고, 이 제2접촉 소자 쌍은 바람직하게는 대략 오프셋 방향(96)의 라인(G1)을 따라 대략적으로 뻗어 서로 간격(f)을 두고 배열되어 있으며, 이에따라 제2접촉 소자 쌍(95.2) 및 적합하다면 존재하는 또 다른 접촉 소자 쌍들은 동일한 접촉 소자(95a,95b)를 가지게 되지만, 결국 접촉 소자(95b)에는 서로 반대인 방향(96.1,96.2)으로 오프셋이 설정된다. 이러한 구성의 경우에, 위치이탈이 반대방향으로 즉 오프셋방향(96.2)으로 행해질 때에도, 소정의 범위(양호/불량)내에서 또는 그 범위 밖에서, 존재하는 위치이탈의 결정 및 적합하다면 그 조절이 가능해진다. 접촉동작의 경우에, 접촉 소자 쌍(95.1) 또는 상기 제2접촉 소자 쌍(95.2)이 접촉 및 접촉해제된다는 사실로부터, 해당 제어 디바이스(36a,37a)는 허용가능한 범위(양호/불량) 내에서 또는 그 범위 밖에서 해당 오프셋 방향(96.1,96.2)을 따라 향하고 있는 위치이탈이 존재하는지를 전자 평가수단(Ca,Cb)에 의해 인식할 수 있으며, 그리고 적합하다면 대응 신호를 발생하여 조절 디바이스(21a,21b)로 전송해 줄 수 있으며, 이에따라, 각각의 적절한 조절 디바이스(96.1,96.2)에서의 변위 및 조절이 달성된다. 이는 상기 제어 디바이스가 해당 접촉 소자 쌍(95.1,95.2)의 접촉 또는 비접촉을 기초로 각각의 오프셋방향(96.1,96,2)을 인식하기 때문에 가능하다. 대응하는 인식 및 제어 구성들은 상기 제어 디바이스의 전기회로에 일체화되어 있다. 또한, 위치 이탈의 상기 결정은 상기 접촉 소자 쌍(95.1,95.2)의 단지 하나의 접촉동작만에 의해서 행해질 수 있다.
동일한 부분에는 동일한 참조부호가 부여되어 있는 도 12에 따른 구성의 경우에, 4개의 접촉 소자 쌍(95.1, 95.2, 95.3, 95.4)들이 사변형 또는 직사각형 또는 정사각형의 코너 지점에 배열되어 있으며, 이에따라 서로 반대로 배열되어 있는 접촉 소자쌍(95.1, 95.2 또는 95.3, 95.4)의 오프셋 방향(96.1,96.2,96.3,96.4)은 서로 반대로 설정되어 있으며, 바람직하게는 외부측을 향하고 있다. 상기 언급한구성의 경우와 마찬가지로, 접촉 소자 쌍(95.1,95.2,95.3,95.4)들의 하나의 접촉동작을 가진 상기 구성에 의해, 테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과의 사이에서의 위치이탈이 허용 범위(양호/불량) 내에 또는 이 범위 밖에 있는지가 결정될 수 있으며, 상기 범위의 밖에 있는 경우에는, 조절, 따라서 보정이 행해질 수 있다. 또한, 이 구성의 경우에, 존재하는 4개의 접촉 소자 쌍중 1개, 2개 또는 3개의 접촉 소자 쌍이 접촉동작시에 접촉 또는 접촉해제된다는 사실로부터, 상기 제어 디바이스(36a,37a)는 오프셋 방향(96.1,96.2,96.3,96.4)을 따라 대략적으로 검출된 위치이탈이 허용 범위(양호/불량)내에 또는 그 허용범위 밖에 있는지를 인식할 수 있고, 그리고 적합하다면 대응 신호를 발생하여 이 신호를, 각각의 경우의 보정방향으로 즉 두 방향으로 변위 및 조절을 달성하는 해당 조절 디바이스(21a,21b)쪽으로 전송해 줄 수 있다. 이는 여기서 상기 제어 디바이스가 해당 접촉 소자 쌍의 접촉 또는 비접촉을 기초로 각각의 오프셋 방향(96.1,96.2,96.3,96.4)을 인식하기 때문에 가능하다. 이때 또한, 대응하는 인식 및 제어구성들은 제어 디바이스의 전기회로에 일체화되어 있다.
본 발명의 범위내에서, 2개 이상의 접촉 소자 쌍이 존재하는 경우에는, 상기 오프셋 방향은 도 11 및 도 12에서와 같이 서로 멀어지는 방향이 아니고 도 13에 일예로서 도시된 경우와 같이 서로를 향하는 방향일 수 있다. 이에따라, 본 발명의 범위내에서 접촉 소자 쌍들이 복수의 서로 반대로 배열되어 있는 경우에, 두 접촉 소자쌍의 오프셋(d)은 서로로부터 멀어지도록 향할 수 있다.
테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과의 사이에서의위치이탈은 앞서 언급한 행진 위치이탈일 뿐만 아니라, 인쇄회로기판의 내부에 또는 그 외부에 위치할 수 있는 가상의 중간 지점의 주위에서 상기 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)에 대해 테스트 핀 팁 패턴(43a,43b)이 회전한 때 야기하는 회전 위치이탈일 수도 있다. 본 발명의 의미에서, 그러한 회전 위치이탈을 또한 결정하기 위해, 그리고 적합하다면 조절을 할 수 있도록 하기 위해 따라서 보정을 행하기 위해, 적어도 1개 이상의 접촉 소자 쌍, 바람직하게는 4개의 접촉 소자 쌍(95.1, 95.2, 95.3, 95.4), 2개의 또 다른 접촉 소자 쌍(95.5,95.6) 및 회전 위치이탈이 회전하는 가상의 중간지점(Mr)을 제공하는 것이 바람직하며, 이때 상기 접촉 소자 쌍(95.5, 95.6)의 중간지점(Ma,Mb)에는 각각 가로질러 향하고 있는, 바람직하게는 상기 접촉 소자 쌍 (95.5,95.6)을 통해 뻗어 있는 직선(G2)에 대략 직각을 향하고 있고 서로 반대인 오프셋 방향(96.5,96.6)으로 오프셋이 설정되어 있다. 이러한 구성은 도 14에 일예로서 도시되어 있으며, 이 구성의 경우에, 상기 접촉 소자 쌍(95.5,95.6)들은 상기 회전 중간지점(Mr)에 대해 서로 대향하도록 배열되어 있다. 그러나, 이들 접촉 소자 쌍(95.5,95.6)은 상기 중간 지점(Mr)에 대해 예각 또는 빗각을 두고 배열될 수도 있다. 상기 오프셋 방향(96.5,96.6)들은 서로 반대이며, 이에따라 회전 위치이탈의 경우에 상기 접촉 소자 쌍(95.5,95.6)중 한 접촉 소자 또는 다른 접촉 소자(95b)는 해당 접촉소자(95a)와 접촉 또는 접촉해제되며, 이에따라 해당 제어 디바이스(36a,37a)는 앞서언급한 의미에서, 상기 회전 위치이탈이 허용범위(양호/불량) 내에 있는지 아니면 그 허용범위 밖에 있는지를 결정할 수 있으며, 허용범위의 밖에 있는 경우에는 위치이탈의 조절 및 보정이 앞서 언급한의미에서, 즉 예컨대 지점(Ma,Mr)을 중심으로 한 회전에 의해서 오프셋 방향(96.5,96.6)과는 대략 반대인 화살표(97.5 및/또는 97.6)의 방향으로 행해져야 한다는 점이 중요하다.
상기 각각의 결정 및/또는 조절은 접촉 소자 쌍이 많을수록 보다 정확하게 행해질 수 있다. 또한, 가능한 한 넓은 상호 간격에, 따라서 인쇄회로기판(2)의 에지영역에 또는 테스트 지점 패턴(43a,43b)의 에지영역에, 접촉 소자 쌍을 배열하는 것이 바람직하다. 접촉 소자 쌍들의 수와 위치는 이들 접촉 소자 쌍의 오프셋 방향이 서로로부터 이탈할 수 있도록 정해져야 하며, 이때 그 이탈은 바람직하게는 서로를 가로질러 반대로 향한다. 상기 제어 디바이스(36a,36b)들이 오프셋(d)의 방향을 인식하고 해당 접촉 소자를 식별한다는 점이 중요하다. 이것은 대응하는 컴퓨터 프로그램을 기초로 해당 제어 디바이스(36a,37a)에 의해 인식되며, 이에따라, 오프셋 지점(Mb)은 보조 프로그램에 의해서 발생될 수 있다. 통계적인 절차에 의해, 상기 방향이 유도될 수 있고, 이때 위치 이탈의 보정을 위한 조절운동은 테스트 핀(33)과 테스트 지점(22a,22b)과의 접촉을 보장하기 위해 그리고 있을 수 있는 가장 양호한 테스트 결과를 얻기 위해, 복수의 부분적인 운동으로 또는 결과적인 운동으로 결정된다.
앞서 언급한 실시예들에서, 핀형 접촉 소자(들)(95b)에는 오프셋 양(d)만큼 오프셋이 설정되어 있다. 그러나, 본 발명의 범위내에서, 인쇄회로기판(2)의 테스트를 위한 본 디바이스의 구성의 여러 가지 특징들을 고려하면, 바람직하게는 패드에 의해 접촉소자가 형성되어 있는 인쇄회로기판(2)에서 핀형 접촉 소자(95b)가 아닌 접촉소자(95a)에, 각각의 경우에서 각각의 오프셋 방향으로 오프셋 양(d)만큼 오프셋을 설정할 수 있으며 또 이렇게 오프셋을 설정하면 바람직하다. 앞서 언급한 제1의 경우에는 종래 인쇄회로기판(2)이 이용될 수 있으며, 이에따라 어댑터(들)(16 또는 17)는 상기 오프셋 양(d)만큼 오프셋이 설정되거나 변경된 적어도 1개의 접촉 소자(95b)로 구성되어야 한다. 제2의 경우에서는, 잘 알려진 어댑터를 이용할 수 있지만, 접촉소자 쌍을 위해 제공된 인쇄회로기판(2)상의 테스트 지점(22a,22b)에는, 인쇄회로기판의 특별한 구성이 필요로 되므로 상기 오프셋 양(d)만큼 오프셋이 설정되어 있어야만 한다.
앞서 언급한 구성의 경우에, 본 발명의 범위내에서 자체적으로 잘 알려진 또는 이유가능한 테스트 핀(33)에 의해 핀형 접촉 소자(들)(95b)를 형성할 수 있고 또 이렇게 형성하는 것이 바람직하며, 이에따라 접촉 소자(95b)에는 특정 핀을 제조 및 제공한 필요가 없다. 이는 핀형 접촉 소자(25b) 또는 이들 접촉 소자를 형성하고 있는 테스트 핀(33)에 오프셋이 설정되어 있는 경우에, 그리고 또한 접촉 소자(95a) 또는 인쇄회로기판(2)의 관련 패드들에 오프셋이 설정되어 있는 경우에도 적용될 수 있다.
본 구성의 경우에, 핀형 접촉 소자(95b)들 또는 이들 접촉 소자를 형성하고 있는 테스트 핀(33)에는 오프셋이 설정되어 있다. 이는 핀형 접촉 소자(95b)들 또는 이들 접촉 소자를 형성하고 있는 테스트 핀(33)들이 전체적으로 측방향으로 오프셋이 설정되어 있음에 따라 행해질 수 있다. 이는 수직배열(인 그리드) 또는 경사진 배열(오프 그리드)의 경우에도 적용된다(도 8참조). 상기 오프셋(d)은 적은양이므로, 여기서는 상기 핀들을 측방향으로 제한하고 있는 상기 인쇄회로기판의 에지들이 오프셋 위치에서 상기 핀들을 조정시킬 수 있을 정도의 대응 구멍에 오프셋을 설정하기 위해 또는 그 구멍을 형성하기 위해, 상기 인쇄회로기판(2)에 인접해 있는 어댑터 판에서만, 해당 핀(들)의 수직의 또는 경사진 배열로, 다중 판 어댑터의 경우에 오프셋(d)을 배열할 수 있으며, 또한 이렇게 배열하는 것이 바람직하다. 1개 또는 2개의 조절 디바이스(21a,21b)를 가지고 있는 테스트 디바이스의 본 실시예의 경우에는, 해당 조절판(44,45)의 구멍(72)에는 상기 오프셋 양(d)만큼 오프셋이 설명되어 있으며, 이에따라 인접하는 어댑터 판(68)의 구멍(34) 또는 구멍에지에도 마찬가지로 대응하는 오프셋이 설정될 수 있다.
앞서 언급한 모든 구성의 경우에, 인쇄회로기판(2)이 "양호"의 범위에 즉 원하는 범위에 위치되어 있을 때, 각각의 해당 접촉 소자 쌍의 접촉 소자(95a,95b)는 위치결정의 과정에서 접촉되게 된다. 이에따라 상기 접촉 소자(95a,95b) 및 나머지 테스트 핀(33)에는 테스트 지점 또는 패드의 크기에 의해 결정되는 양만큼, 둥근형 또는 사변형 또는 기타 영역 형태인 경우에에는 치수(e)의 절반보다 작은 양만큼, 오프셋이 설정될 수 있다.
이와는 대조적으로, 적어도 하나의 접촉 소자 쌍이 접촉동작시에 접촉이 해제될 정도로 상기 위치이탈이 크면, 이는 해당 접촉 소자(95b)중 어느 접촉 소자가 접촉해제되었는지를 인식해야됨을 알리는 표시이고, 그리고 또한 인쇄회로기판(2)이 상기 접촉 소자(95b)의 오프셋 방향과는 반대로 앞서 언급한 방법으로 조절 및 보정되어야 함을 알리는 표시이며, 이에따라 인쇄회로기판(2)의 접촉지점의 후속되는 테스트의 경우에, 테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)과의 사이에 실질적인 일치가 존재한다. 위치이탈이 있고 둘 이상의 접촉 소자 쌍이 있는 경우에는, 접촉동작시에 두 접촉 소자 쌍이, 예컨대 도 12의 접촉 소자 쌍(95.1,95.3)이 접촉해제되면, 해당 오프셋 방향, 여기서는 96.1, 96.2과 반대방향으로, 여기서는 97.1,97.2과 반대방향으로, 두 조절운동에 의해 조절이 행해질 수 있으며, 이 두 조절운동은 번갈아 또는 결과적으로 얻어진 공통의 운동에 의해 행해질 수 있고 그리고 원하는 조절 또는 보정이 제공될 수 있다.
본 발명에 따른 구성의 경우에, 오프셋(d)은 테스트 핀(33) 또는 테스트 지점(22a,22b)의 "인 그리드" 또는 "오프 그리드" 배열에 관여하지 않지만, "인 그리드" 및 "오프 그리드" 배열 또는 테스트 핀(33) 및 테스트 지점(22a,22b)의 기타 배열이 제공될 수 있도록 해 주는 특수 오프셋(d)이다.
도 3에는 병진 위치이탈 및 회전 위치이탈의 결정 및 조절 및 보정에 유리한 복수의 접촉 소자 쌍들의 바람직한 구성이 도시되어 있다. 이 구성의 경우에, 상기 접촉 소자 쌍들은 존재하는 테스트 핀(33)에 의해 형성되어 있으며, 이에따라 4개의 쌍으로 된 두 그룹이 에지영역에, 특히 존재하는 테스트 지점 패턴의 코너 영역에 배열되어 있다. 이에따라, 테스트 지점(22a,22b) 또는 패드들은 사변형의 형태를 가지고 있다. 상기 두 그룹 또는 존재하는 오프셋 방향(96.1, 96.2, 96.3, 96.4)은 도 12 또는 도 13에서 서로 다르게 대략 45 ° 정도만큼 회전될 수 있도록 배열되어 있으며, 이에따라 이들은 인쇄회로기판(2)의 대각선과 대략 평행하게 뻗어 있다.
동일한 부분 또는 유사한 부분에는 동일한 참조부호가 부여되어 있는 도 15에 따른 구성의 경우에, 테스트 핀(33) 및 테스트 지점(22a,22b)(패드)에 의해 형성된 두 그룹의 접촉 소자 쌍이 마찬가지로 제공되어 있지만, 이 경우에는 3개, 예컨대 인쇄회로기판의 중심에 대해 미러 이미지적으로 배열되어 있는 도 12 또는 도 13의 접촉소자 쌍(95.1,95.3,95.4)들로 된 두 그룹이 포함되어 있다. 또한 이 구성은 병진 위치이탈 및 회전 위치이탈을 결정 및 보정하는데 적합하다.
이하에서는 테스트 디바이스(3)의 기능에 대해 설명한다.
테스트될 인쇄회로기판(2)은 테스트 장치(13)와 장치 하부(14)의 위치와 장치 상부(15)의 위치로 공급되며, 이 위치에는, 인쇄회로기판(2)이 배치되어 센터링 핀(41)쪽으로 밀릴 수 있을 정도의 조절판(44,45)들 사이의 간격이 존재하고 있다. 상기 장치 상부(15)가 미리 어느 정도 상승되어 있으면, 이제 상기 장치 상부는 그 작업위치로 피보팅적으로 다운될 수 있다. 이 위치에서, 테스트 핀(33)은 위에 헤드(35)를 가지고 있는 상부 테스트 어댑터에 배열되어 있으며, 이에따라 테스트 핀(33)의 포인팅 테스트 단부들은 상부 조절판(45)으로부터 약간 아래쪽으로 돌출되어 있다. 그 후, 인쇄회로기판(2)이 해당 조절 판(45)의 하부측에 대해 배치될 수 있도록 캐리어(27)가 밀리게 되며, 이에따라 상부 테스트 핀(33)이 도 8에 도시된 위치로 약간 상승되고 테스트 모듈(37)의 테스트 접촉부(39)에 대해 헤드(35)를 가진 테스트핀이 눌리게 되며, 이때 테스트 핀은 바람직하게는 스프링 수축가능하다. 캐리어(27)의 상기 상향 운동의 경우에, 하부 테스트 어댑터(16)의 테스트 핀(33)도 또한 하부 테스트 모듈(36)의 테스트 접촉부(38)에 대해 눌릴 수 있고 그팁이 상기 조절판(44)보다도 약간 도출될 때 약간 튀어 오르게 된다. 다음에, 테스트 지점 패턴(43a,43b)과 테스트 핀 팁 패턴(40a,40b)의 상대적인 위치가 "양호" 범위에 있는지에 대한 결정, 또는 "양호" 범위를 달성하는데 조절이 필요한 큰 위치이탈이 존재하는지에 대한 결정이 행해질 수 있다.
위치의 "결정" 절차를 위해, 전류는 접촉 소자 쌍(들), 또는 이들 쌍들을 형성하고 있는 테스트 핀(33) 및 측정된 각각의 접촉부 또는 비접촉부를 통과한다. "양호"상태의 경우에는, 인쇄회로기판(2)의 테스트가 즉시 뒤따르며, 이에따라 전류는 상기 테스트 핀(33)을 통과하게 된다. "불량"상태가 검출되면, 먼저 "양호" 범위로의 조절이 행해진 다음에, 상기 인쇄회로기판(2)의 앞서 언급한 테스트가 행해질 수 있다. 그 후, 장치 상부(15)와 장치 하부는 서로 간격을 두게 되는데, 이에따라 인쇄회로기판(2)은 위치결정 디바이스(19)로부터 제거될 수 있고, 그리고 예컨대 특성 부여 디바이스(8) 및 분류 디바이스(9)쪽으로 배출될 수 있다.
본 발명의 범위내에서, 상기 평가 회로(Ca,Cb)는 접촉 소자(95a,95b)의 접촉시의 측정전류(불충분한 전도 상태)가, 오프셋(d)(양호한 전도상태)으로 인해 원하는 위치에서 접촉 소자(95a,95)의 접촉시에 제공되는 전류값으로부터 특정량만큼 이탈할때, 상기 상태를 "불량"으로 결정하고 다른 경우에는 "양호"로 결정할 수 있도록 구성될 수 있다.
도 16에 도시된 구성요소 장착 디바이스(10)의 주요부로는 판형이 바람직한 베이스 부(102); 이 베이스 부(102)상에 배열되어 있는 인쇄회로기판(2)을 위한 위치결정 디바이스(103); 구성요소들이 배열될 인쇄회로기판(2)의 일측에 대향배치되어 있음과 아울러, 인쇄회로기판(2)에 직각으로 장착 캐리지(105)로부터 뻗어 있는 장착핀(106)의 형태가 바람직한 장착소자와 상기 장착 캐리지(105)를 가지고 있는 구성요소장착 시스템(104); 상기 장착 캐리지(105)를 위한 안내 시스템(106)으로서, 장착핀(107)을 가지고 있는 상기 장착 캐리지(105)가 드라이브(도시되지 않음)에 의해 각각의 원하는 접촉 아일랜드(패드)쪽으로 선택적으로 이동할 수 있고 각각의 이동한 위치에 고정될 수 있는 안내 시스템(106); 테스트 지점 또는 접촉 아일랜드(22a)를 가진 인쇄회로기판(2)이 상기 안내시스템(106) 및 장착핀(107)의 각각의 장착 지점에 대해 해당 정렬위치에 있는지, 또는 특정 양 이상으로 정확한 위치로부터 이탈해 있는지를 테스트 또는 결정하기 위한 결정 및 측정 디바이스(108); 및 접촉 아일랜드(22a)가 상기 안내 시스템(106)에 의해 결정된 장착핀(107)의 장착위치에 대해, 상기 정렬 위치에 또는 상기 이탈이 손상시키지 않고 있는 위치에 위치할 정도로 상기 이탈을 보정하는 조절 디바이스(109)를 들 수 있다.
상기 결정 또는 측정 디바이스(108)는 앞서 언급한 실시예에 따른 하나의 접촉소자, 바람직하게는 복수의 접촉 소자(95,95.1 - 95.6)를 가지고 있으며, 이에따라, 상기인쇄회로기판(2)과 연결되어 있는 접촉 소자(들)은 특정의 접촉 아일랜드(22a)에 의해 또는 구성요소 장착 시스템에 속해 있는 그러한 접촉 아일랜드(22a)에 의해 형성될 수 있지만, 이 경우에서는 장착될 필요가 없다. 오프셋 양(들)(d) 및 오프셋 방향(96.1-96.6)을 가진 앞서 언급한 접촉 소자 쌍과, 인쇄회로기판(2)상의 해당 접촉 아일랜드(22a)의 배열이 전적으로 참조되므로(도 3 및 도15참조), 반복설명은 필요없다. 본 구성의 경우에, 핀형 접촉 소자(95b)는 안내 시스템(106)을 포함하고 있는 안내부(111)에서, 특히 판형 안내부에서, 예컨대 이 판형 안내부(111)의 정합용 수납구멍(112)에 유지되어 있으며, 이에따라 접촉 소자(95b)는 인쇄회로기판(2)쪽으로 직각으로 돌출되어 있음과 아울러, 인쇄회로기판(2)으로부터 약간의 간격을 두고 있다. 도 16에서 설명된 접촉 소자(95b)의 경우에는, 3개의 접촉 소자 쌍으로 된 두 그룹 또는 4개의 접촉 소자 쌍으로 된 두 그룹이 대응 구성의, 여기서는 오프셋 양(d)만큼 오프셋이 설정되어 있는 도 3 및 도 15에 따른 3개로 된 그룹 또는 4개로 된 그룹의, 접촉 소자(95a)가 서 있는 것과는 반대로 포함되어 있을 수도 있다.
또한, 상기 구성요소 장착 디바이스(101)는 접촉 디바이스(113)를 가지고 있고, 이 접촉 디바이스에 의해 상기 접촉 소자 쌍(95)들은 서로 접촉된 다음에, 접촉해제될 수 있다. 도 16에 따른 구성의 경우에, 상기 접촉 소자(95b)는 인쇄회로기판(2)에 직각으로 조절될 수 있으며, 따라서 이 조절 운동은 가이드(114)내에서 그리고 구동모터(115)를 가진 드라이브에 의해 행해진다.
조절 디바이스(109)는 도 2 내지 도 6 및 도 9에 따른 상기 언급한 실시예에 따라 그러한 조절 디바이스를 포함할 수 있다. 여기서는 해당 설명이 전적으로 참조되므로, 반복설명은 생략될 수 있다. 상기 조절 디바이스(109)가 수평방향으로, 따라서 접촉 소자(95a)와 장착 핀(107)의 가능한 구성요소 장착 지점과의 사이에서 원하는 위치로 접촉소자(95b)의 병진 및/또는 회전 운동을 일으킬 수 있으며, 이때 충분히 정확한 장착이 가능하다는 점이 중요하다.
상기 장착핀(107)은 드라이브(도시되지 않음)에 의해서 길이방향으로, 즉 인쇄회로기판(2)을 가로질러 조절가능함과 아울러, 도 16에 개략적으로 도시되어 있는 적어도 1개의 전자 구성요소(117)를 잡을 수 있도록 하기 위해 그리고 인쇄회로기판(2)상의 각각의 장착 위치에 상기 전자 구성요소를 배치하기 위해 각각의 조절된 위치에서 조절가능하다.
본 구성의 경우에, 인쇄회로기판(2)이 위에 위치되어 있는 베어스 부(102)가 수평적으로 배열되어 있다. 본 발명의 범위내에서, 합리성 때문에, 인쇄회로기판(2)이 이 인쇄회로기판(2)의 양측에 장착된 전자 구성요소(117)를 가질 수 있도록, 여기에서는 수평인 인쇄회로기판(2)에 대해 미러 이미지적으로 장착 디바이스(101)를 완성할 수 있으며, 또 이렇게 완성하는 것이 바람직하다.
인쇄회로기판(2)에 대해서 측면에 위치하고 있는 매거진(magazine)(118)이 장착디바이스(101)와 바람직하게 연결되어 있으며, 매거진 전자구성요소(117)는 스토크(stock)로서 이용가능해질 수 있다. 이에따라 상기 매거진 구성요소(117)의 높이위치는 구성요소들이 장착될 인쇄회로기판(2)의 측면의 높이위치와 대략적으로 대응되게 된다. 상기 안내 시스템(105)은 대응하는 크기로 제공되며, 이에따라 작동하고 있는 캐리지(105)는 상기 매거진(118)에서 서로 다른 픽업위치에 도달할 수도 있다.
본 구성의 경우에, 안내 시스템(105)을 포함하고 있는 안내부(111)는 인쇄회로기판(2)과 상기 매거진(118)을 연결하는 위치에 있는 베이스 부(102)상에 고정되어 있는 브리지(bridge)형 캐리어(119)상에 장착되어 있다. 또한, 도 16에 따른 구성의 경우에, 상기 접촉 소자(95b)는 상기 조절 디바이스(109)에 의해, 원하는 위치로부터의 이탈이 보정되도록 조절된다. 이는 상기 안내부(111)가 상기 조절 디바이스(109)와 일체로 되어 있고 그리고 조절 디바이스(46a,46b,47c)들이 안내부(111)상에서 작용하여 이 안내부를 접촉소자(95b)로 조절함에 따라 행해질 수 있다. 상기 가이드(114)는, 베이스 부(102)에 접촉되어 있고 양측으로 배열되어 있는 두 수직 안내 막대(114a)들에 의해 형성되어 있고, 이들 안내막대는 캐리어(119)의 안내보어(114b)를 통과한다.
본 발명의 구성에서, 위치결정 디바이스(103)는 상기 베이스부(102)상의 두 장착조(jaw)(121,122)에 의해 형성되어 있고, 이들 두 장착 조 각각은 인쇄회로기판(2)을 지지하기 위한 지지면(123)과, 인쇄회로기판(2)을 이 인쇄회로기판(2)의 주변에서 고정시키기 위한 조 면(jaw surface)(124)을 가지고 있다. 상기 조 부(jaw part)(122)는 인쇄회로기판(2)에 대해 평행하게 향하고 있는 가이드(125)에서 이리저리 변위가능하게 장착되어 있다. 조절 디바이스(126)에 의해, 예컨대 구동모터(127)를 가지고 있는 스핀들 드라이브에 의해, 상기 조 부(122)는 인쇄회로기판(2)에 대해 선택적으로 팽창될 수 있고 그리고 해제될 수 있다.
또한, 전자평가회로(Cal)를 가지고 있는 전자 제어 디바이스(128)가 상기 장착 디바이스(101)와 연결되어 있으며, 상기 전자 평가회로는 전자제어라인을 통해 접촉 소자(95b)와 조절 디바이스(109)의 구동모터 및 접촉 디바이스(113)와 연결되어 있고 그리고 응용가능하다면 장착 디바이스(126)의 구동모터(127)와 연결되어 있으며, 그리고 적합하다면 인쇄회로기판(2)과도 연결된다.
이하에서는 장착 디바이스(101)의 기능에 대해서 설명한다.
위치결정 디바이스(103)에서 인쇄회로기판(2)의 배치 및 위치결정을 행한 후, 인쇄회로기판이 만족스러운 위치 이탈의 범위내에, 즉 "양호"의 위치 범위내에 있는지 아니면 만족스럽지 않은 위치 이탈의 범위내에, 즉 "불량"의 위치 범위내에 있는지에 대한 테스트 및 결정이 행해진다. 이를 위해, 상기 접촉 디바이스(113)가 사용되며, 이에따라 안내부(111)와 접촉 소자(95b)를 가지고 있는 캐리어(119)의 현재 구성이 가이드(114)의 드라이브(115)에 의해 하강되며, 이에따라 접촉 소자(95b)는 접촉 소자(95a)와 접촉되게 된다. 상기 평가 회로(Cal)에 의해, 접촉 소자 쌍(95) 등의 접촉 지점들의 전류값이 측정되고, 인쇄회로기판(2)이 원하는 범위에, 즉 "양호"의 범위에 위치하고 있는 지의 여부가 결정된다. 제1경우에는, 적합하다면 접촉 소자(95b)의 상승 후에 구성요소의 장착이 행해질 수 있다. 제2경우에는, 적합하다면 상승 후에 인쇄회로기판(2)과 접촉 소자(95b)간의 상대적인 위치의 보정이 여기에서는 접촉소자(95b)의 조절에 의해 그리고 앞서 언급한 방법으로 조절 디바이스(109)에 의해서 행해진다. 그 후, 인쇄회로기판(2)상에의 구성요소(117)들의 장착이 기존의 방법으로 행해질 수 있다.
동일한 부분 또는 유사한 부분에는 동일한 참조부호가 부여되어 있는 도 17에 따른 실시예는, 위치결정 디바이스(109)가 위치결정 디바이스(103)에 연결되어 있거나 이 위치결정 디바이스(103)에 일체화되어 있다는 점에서 그리고 다른 한편으로는 접촉 디바이스(113)가 베이스 부(102)와 캐리어(119)와의 사이에서 유효하지 않고 캐리어(119)와 안내부(111)와의 사이에서 유효하다는 점에서만 실질적으로앞서 언급한 구성과는 다르다. 상기 캐리어(119)는 베이스 부(102)의 직립 지지부상에 단단히 배열되어 있다. 또한, 상기 접촉 디바이스(113)의 이러한 구성의 경우에는, 안내 보어 및 이 안내보어에 배열되어 있는 안내 막대에 의해 그리고 푸시풀막대에 의해 접촉소자(95b)의 정확한 하강이 보장된다. 이 구성의 경우에, 상기 조절 디바이스(46a,46b,46c)는 상기 인쇄회로기판(2)를 운반하는 조절판(116)상에서 결합될 수 있다.
테스트 및 결정, 그리고 적합하다면 인쇄회로기판(2)의 조절, 여기서는 인쇄회로기판(2)의 직접적인 조절을 위한 상기 방법의 단계들은 앞서 언급한 절차에 따라 수행되게 된다.
본 발명은 청구의 범위 제1항 또는 제35항의 전제부에 따른 시스템 및 방법에 관한 것이다.

Claims (47)

  1. 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)와 접촉되기 위한 특정의 접촉 소자(95b)를 가지고 있는 테스트 디바이스(Ca,Cb)에서, 상기 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)와 컨덕터 경로를 가지고 있는 전기적 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치를 테스트하고, 상기 인쇄회로기판(2)과 평행하게 뻗어 있는 방향에서 상기 정확한 위치로부터의 이탈을 결정하는 상기 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치 테스트 시스템으로서,
    상기 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)와 해당 접촉 소자(95b)는 상기 정확한 위치에서 서로 동심을 이루어 정렬되어 있고,
    적어도 하나의 접촉 아일랜드(95a)와 해당 접촉 소자(95b)는, 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍과는 상이하게, 접촉 아일랜드(95a)와 접촉 소자(95b)간의 접촉 범위가 상기 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치로 여전히 존재하지만, 상기 접촉 아일랜드(95a)의 에지측으로 변위될 수 있도록 서로 상대적으로 오프셋(d)이 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 오프셋(d)의 방향은 상기 정확한 위치로부터의 이탈이 결정되어져야 할 방향과 대응되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트시스템.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 인쇄회로기판(2)의 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)의 인그리드 및/또는 오프 그리드 배열에 관해서는, 위치 테스트에 이용되는 접촉 아일랜드(95a)는 상기 배열에 따라 배열되어 있고 해당 접촉 소자(95b)에는 오프셋이 설정되어 있거나, 해당 접촉 소자(95b)는 인 그리드 및/또는 오프 그리드 배열에 따라 배열되어 있고 접촉 아일랜드(95a)에 오프셋이 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  4. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 접촉 아일랜드(95a)와 접촉 소자(95b)와의 사이에 오프셋(d)을 가지고 있는 또 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.3 또는 95.4)이 제공되어 있고, 오프셋 방향(96.1,96.3 또는 96.4)은 서로 직접 가로지른, 특히 서로 대략 직각인 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  5. 제1항 내지 제4힝중 어느 한 항에 있어서, 한 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍 및/또는 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.1, 95.3 또는 95.4)의 경우에는, 각각의 해당 접촉 아일랜드(95a)와 접촉 소자(95b)와의 사이에 오프셋(d)을 두고 있는 경우와 마찬가지로 또 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.2 및/또는 95.3 또는 95.4)이 각각의 경우에 제공되어 있고, 상호 대향하도록 배치되어 있는 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.1, 95.2, 95.3, 95.4)의 오프셋 방향(96.1, 96.2, 96.3, 96.4)은 서로 반대로 및/또는 서로 가로질러, 특히 서로 대략 직각으로, 향하고 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치테스트 시스템.
  6. 제1항 내지 제5항중 어느 한 항에 있어서, 접촉 소자(95a,95b)들 사이에 각각 오프셋(d)을 두고 있는 1개 또는 2개의 또 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.5, 95.6)이 제공되어 있고, 이들 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.5, 95.6)의 오프셋 방향(96.5, 96.6)은 서로 반대로 설정되어 있음과 아울러, 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.1, 95.2, 95.3, 95.4)들이 또한 분포되어 있는 중앙 지점(Mr)의 주위에 있는 가상의 원의 원주방향을 향하고 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  7. 제1항 내지 제6항중 어느 한 항에 있어서, 상기 접촉 아일랜드(들)(95a)와 해당접촉 소자(들)(95b)와의 사이의 오프셋(d)은 대략 0.05 내지 0.3 mm 정도, 특히 대략 0.1mm 정도인 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  8. 제1항 내지 제7항중 어느 한 항에 있어서, 핀형 접촉 소자(95b)들은 이들의 접촉단부에서 포인팅이 되도록 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  9. 제1항 내지 제8항중 어느 한 항에 있어서, 정확한 전류흐름을 위해 인쇄회로기판(2)의 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)를 테스트하기 위한 테스트 디바이스(3a,3b)에 일체로 되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  10. 제1항 내지 제9항중 어느 한 항에 있어서, 핀형 접촉 소자(95b)들은 인쇄회로기판(2)의 접촉 아일랜드(21a,22b,95a)를 테스트하기 위한 테스트 어댑터(16,17)에 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  11. 제9항 또는 제10항에 있어서, 핀형 접촉 소자(들)(95b)은 테스트 디바이스(3a,3b)의 테스트 핀(33)에 의해 구성되어 있고, 및/또는 상기 접촉 아일랜드(95a)들은 인쇄회로기판(2)의 종래 접촉 아일랜드에 의해 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  12. 제1항 내지 제11항중 어느 한 항에 있어서, 핀형 접촉 소자에 가로질러 행해지는 접촉 소자(95a)또는 테스트 핀(33)및/또는 테스트 어댑터(16,17) 및/또는 인쇄회로기판(2)의 조절 또는 미세한 설정을 위한, 그리고 설정 위치에의 고정을 위한 조절 디바이스(21a,21b)가 제공되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  13. 제12항에 있어서, 상기 조절 디바이스(21a,21b)는 하나의 평면내에서 3개의 자유도, 즉 2개의 병진 자유도와 1개의 회전 자유도를 가지고 있는 것을 특징으로하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  14. 제12항 또는 제13항에 있어서, 조절 디바이스(21a,21b)는 서로 간격을 두고 변위될 부분에서 결합되어 이 변위될 부분과 이동가능하게, 특히 피보팅적으로, 연결되어 있는 3개의 변위 디바이스(46a,46b,46c)를 가지고 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  15. 제1항 내지 제14항중 어느 한 항에 있어서, 두 변위 디바이스(46a,46b)의 변위방향(78,79)은 서호 대략 평행하게 향하고 있거나 서로 약간 경사져 있으며, 제3변위 디바이스(46c)의 변위방향(81)은 상기 변위방향(78,79)을 가로질러서 향하고 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  16. 제1항 내지 제15항중 어느 한 항에 있어서, 상기 변위디바이스(46a,46b,46c)는 길이가 가변가능한 푸시풀 막대(27a,27b,27c)를 각각의 경우에 가지고 있고, 이들 막대의 두 단부는 변위평면에서 피보팅적으로 조인팅되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  17. 제1항 내지 제16항중 어느 한 항에 있어서, 상기 변위 디바이스(46a,46b,46c)는 변위평면에서 두 단부에 피보팅적으로 장착되어 있고 조인트(48a,48b,48c,48d,48e,48f)에서 피보팅가능한 엘보우 레버형 변위아암(51a,51b,51c)을 각각 가지고 있고, 각각의 경우에 이들 조인트중에서 1개의 조인트(48a,48b,48c)가 이 조인트에 각각 연결되어 있는 드라이브(53a,53b,53c)를 가지고 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  18. 제1항 내지 제17항중 어느 한항에 있어서, 상기 변위 디바이스(46a,46b,46c)는 변위가능가능하게 구동되는 슬라이더(56a)를 각각 가지고 있고, 이 슬라이더는 예각(W)으로 서로 교차하는 두 홈(54,55)에서 변위가능하며, 이들 홈은 조절 디바이스(21a,21b)의 일부분에 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  19. 제1항 내지 제18항중 어느 한 항에 있어서, 상기 변위디바이스(46a,46b,46c)는 연장된 푸시풀소자(75,76,77)를 각각 가지고 있고, 이 푸시풀소자는 자신의 단부영역들중 한 단부영역에서 변위평면에서 피보팅가능하게 변위될 부분과 연결되어 있고 그리고 간격을 두고 드라이브 소자(87)와 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  20. 제19항에 있어서, 상기 변위될 부분은 판이고, 막대형 푸시풀 소자(75,76,77)들은 C 자형 자유영역(85a,85b,85c)내에서 상기 판으로부터 일체적으로로 형성되어 있고 특히 스탬핑되어 있으며, 그리고 만곡가능한 연결 웨브(86a,86b,86c)에 의해 판(85)과 일부분이 연결되어 있는 것을 특징으로 하는인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  21. 제1항 내지 제20항중 어느 한 항에 있어서, 인쇄회로기판(2)의 양측상에서 테스트 지점(22a,22b)의 상호 독립적인 테스트를 위해, 상기 인쇄회로기판(2)의 양측에는, 해당 테스트 어댑터(16,17)의 조절 또는 해당 테스트 핀(33)의 조절을 위한 조절 디바이스(21a,21b)들이 제공되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  22. 제1항 내지 제21항중 어느 한 항에 있어서, 상기 어댑터 핀(33)의 조절을 위한 상기 조절 디바이스(21a,21b)는 변위 디바이스(46a,46b,46c)와 연결된 조절판(44,45)이며, 테스트에 이용되는 테스트 핀(33)들이 상기 조절판을 통해 정합용 조절구멍(72)에 뻗어있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  23. 제22항에 있어서, 상기 조절판은 테스트 어댑터(16,17)의 일부인 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  24. 제22항 또는 23항에 있어서, 상기 조절판(44,45)은 상기 인쇄회로기판(2)을 향해 상기 테스트 어댑터(16,17)의 단부영역에 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  25. 제1항 내지 제24항중 어느 한 항에 있어서, 상기 조절판(44,45)은 상기 인쇄회로기판(2)을 향해 상기 테스트 어댑터(16,17)의 일측을 바람직하게 지지하도록 배열되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  26. 제25항에 있어서, 적어도 테스트절차중에, 상기 조절판(44,45)은 테스트 어댑터(16,17)와 인쇄회로기판(2)과의 사이에 배열되어 있음과 아울러, 인쇄회로기판(2)상에 지지되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  27. 제1항 내지 제26항중 어느 한 항에 있어서, 상기 오프셋(d)은 적어도 1개의 접촉소자(95a) 또는 테스트 핀(33)을 위한, 대응되도록 경사진 1개 이상의 수납구멍(34)에 의해 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  28. 제1항 내지 제27항중 어느 한 항에 있어서, 상기 오프셋(d)은 조절 디바이스 또는 조절판(44,45)에서 대응되도록 오프셋이 설정된 관통구멍(72,72a)에 의해 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  29. 제1항 내지 제28항중 어느 한 항에 있어서, 두 테스트 어댑터(16,17)중 적어도 한 테스트 어댑터, 바람직하게는 두 테스트 어댑터(16,17) 모두는 상기 인쇄회로기판(2)을 가로질러 변위가능하고, 특히 수직으로 변위가능한 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  30. 제1항 내지 제29항중 어느 한 항에 있어서, 테스트 어댑터(들)(16,17)은 각각 다중 판 어댑터에 의해 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  31. 제1항 내지 제30항중 어느 한 항에 있어서, 테스트 어댑터(16,17)의 테스트 핀(33), 특히 인쇄회로기판(2)측의 테스트 어댑터의 단부영역의 테스트 핀(33), 또는 인쇄회로기판(2)측의 테스트 어댑터의 판(68)의 테스트 핀(33)은, 약간의 반경방향 운동수행으로 상기 테스트 어댑터의 안내구멍(34)내에 수납되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  32. 제1항 내지 제31항중 어느 한 항에 있어서, 조절판(44,45)의 조절구멍(72)의 유효길이는 상기 조절판(44,45)의 두께(C)보다는 짧은 길이(a)까지 구멍의 넓은 부분(72a)에 의해서 감소되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 시스템.
  33. 복수의 관통 수납구멍(34)과, "인 그리드"배열 및/또는 "오프 그리드"배열로및/또는 곧은 또는 경사진 배열로 상기 수납구멍에 배열되어 있는 테스트 핀(33)들을 가지고 있는, 제1항 내지 제32항중 어느 한 항에 따른 디바이스용의 테스트 어댑터(16,17)에 있어서,
    상기 테스트 핀(33)의 길이와 대응되는 길이를 가지고 있는 적어도 1개의 핀형 접촉 소자(95b) 또는 적어도 1개의 테스트 핀(33)에는 특정량(d)만큼 "인 그리드" 배열 또는 "오프 그리드" 배열로 자유접촉단부에 오프셋이 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터.
  34. "인 그리드" 배열 또는 "오프 그리드" 배열로 일측상에 및/또는 양측상에 배열되어 있는 접촉 아일랜드들을 가지고 있는 인쇄회로기판에 있어서,
    적어도 1개의 접촉 아일랜드(95a)에는 "인 그리드" 배열 또는 "오프 그리드" 배열로 오프셋이 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판.
  35. 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)와 접촉되기 위한 특정의 접촉 소자(95b)를 가지고 있는 테스트 디바이스(Ca,Cb)에서, 상기 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)와 컨덕터 경로를 가지고 있는 전기 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치를 테스트하고, 또는 이 인쇄회로기판(2)과 평행하게 뻗어 있는 방향에서 상기 정확한 위치로부터의 이탈을 테스트하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법으로서,
    제1항 내지 제32항중 어느 한 항에 따른 시스템을 특히 이용하여, 접촉동작시의 전류흐름의 측정에 의해 상기 인쇄회로기판(2)의 위치 이탈이 존재하는지를결정하는 상기 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법에 있어서,
    적어도 1개의 접촉 아일랜드(95a)가 이 접촉 아일랜드와 접촉 소자(95b)와의 사이에서 소정의 오프셋(d)을 두고 접촉되어 있고, 이 오프셋은 상기 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치에 존재하며, 그리고 상기 접촉동작에서 양호한 전도 접촉의 경우에는, 상기 인쇄회로기판(2)의 위치 또는 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)의 위치를 "양호"로 결정하며, 불충분한 전도 접촉 또는 비접촉의 경우에는 "불량"으로 결정하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  36. 제35항에 있어서, 제2접촉 아일랜드(95a)는 이 제2접촉 아일랜드와 해당 접촉 소자(95b)와의 사이에서 대략적으로 반대로 향하고 있는 제2상대 오프셋(d)을 두고 사실상 동시에 접촉되어 있으며, 상기 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.2)의 양호한 전도 접촉의 경우에는 상기 인쇄회로기판(2)의 위치를 "양호"로 결정하고 불충분한 전도 접촉 또는 비접촉의 경우에는 "불량"으로 결정하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  37. 제35항 또는 제36항에 있어서, 해당 접촉 소자(95b)와의 사이에 제1 및/또는 제2오프셋을 가로질러 향하고 있는 제3상대 오프셋(d)을 가지고 있는 또 다른 접촉 아일랜드(95a)가 사실상 동시에 접촉되어 있으며, 상기 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.3 또는 95.4)의 양호한 전도 접촉의 경우에는 상기 인쇄회로기판(2)의 위치또는 이 인쇄회로기판(2)의 테스트 지점(22a,22b,95a)의 위치를 "양호"로 결정하고 불충분한 전도 접촉 또는 비접촉의 경우에는 "불량"으로 결정하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  38. 제37항에 있어서, 해당 접촉 소자(95b)와의 사이에서 상기 제3오프셋에 대략적으로 반대로 향하고 있는 제4상대 오프셋(d)을 가지고 있는 또 다른 접촉 아일랜드(952)가 사실상 동시에 접촉되어 있으며, 상기 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.4)의 양호한 전도접촉의 경우에는 상기 인쇄회로기판(2)의 위치를 "양호"로 결정하고 상기 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.4)의 불충분한 전도 접촉 또는 비접촉의 경우에는 "불량"으로 결정하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  39. 제35항 내지 제38항중 어느 한 항에 있어서, 각각의 접촉 아일랜드(95a)와 해당접촉 소자(95b)와의 사이에 제5 또는 제6 상대 변위(d)를 가지고 있는 1개 또는 2개의 또 다른 접촉 아일랜드(95a,95b)가 사실상 동시에 접촉되어 있으며, 이들 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.5, 95.6)의 오프셋 방향은 한편으로는 서로 반대로 향하고 다른 한편으로는 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(들)(95.1,95.2,95.3,95.4)이 분산되어 또한 배열되어 있는 중심지점(Mr)의 주위에 있는 가상의 원의 원주방향으로 향하며, 이(들) 또 다른 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95.5,95.6)의 양호한 전도 접촉의 경우에는 인쇄회로기판(2)의 위치를 "양호"로 결정하고 불충분한 전도 접촉 또는 비접촉의 경우에는 "불량"으로 결정하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  40. 제35항 내지 제39항중 어느 한 항에 있어서, 상기 위치의 결정은 상기 인쇄회로기판(2)의 동일한 위치지정동작으로 행해지며, 또한 정확한 전류흐름에 대하여 상기 접촉아일랜드(22a,22b,95a)의 또 다른 테스트가 행해지는 것을 특징으로 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  41. 제40항에 있어서, 상기 위치의 결정은 상기 인쇄회로기판(2)의 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)의 또 다른 테스트를 위한 디바이스(3a,3b)에서 행해지는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  42. 제35항 내지 제41항중 어느 한 항에 있어서, 위치를 "양호"로 결정한 후에, 상기 인쇄회로기판(2)의 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)의 또 다른 테스트가 수동적으로 또는 자동적으로 시작되는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  43. 제35항 내지 제42항중 어느 한 항에 있어서, 위치를 "불량"으로 결정한 후에, 인쇄회로기판(2)의 조절 및/또는 테스트 디바이스(3a,3b)의 조절 및/또는 접촉 소자(들)(95b)의 조절은 접촉이 개선되는 위치로 수동적으로 또는 자동적으로 행해지며, 또다른 테스트에 이용되는 접촉 소자(33) 및 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)는 양호한 접촉을 보장하는 원하는 범위에서 서로 대향하도록 되어 있거나 서로 중심을 향하도록 배열된 정확한 위치에서 대략적으로 정렬되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  44. 제35항 내지 제43항중 어느 한 항에 있어서, 위치 테스트에 이용되는 접촉 소자(95b)와 접촉 아일랜드(95a)의 경우에, 상기 인쇄회로기판(2) 및 이 인쇄회로기판(2)의 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)의 또 다른 테스트에서의 이용을 위한 테스트 핀(33)이 사용되고 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  45. 제35항 내지 제44항중 어느 한 항에 있어서, 양측에 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)가 배열되어 있는 인쇄회로기판(2)의 경우에, 이 인쇄회로기판은 위치의 결정 및 이 인쇄회로기판의 접촉 아일랜드의 또 다른 테스트를 위해 양쪽에 사실상 동시에 접촉되어 있는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 정확한 위치 테스트 방법.
  46. 전기 인쇄회로기판(2)을 위한 위치결정 디바이스(103)와, 이 인쇄회로기판(2)과 마주 보고 있고 장착소자(107)를 갖는 반송소자(106)를 가지고 있는 구성요소 장착 디바이스(103)에서, 접촉 아일랜드(22a,22b,95a)와 컨덕터 경로를 가지고 있는 상기 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치를 테스트하는 구성요소 장착 디바이스로서,
    장착 소자(107)를 갖는 상기 반송소자(106)는, 안내시스템(105)내에서, 선택된 접촉 아일랜드에 대해 이동가능하고 각각의 장착 위치에 고정가능하며, 상기 반송소자에 의해 전자 구성요소(117)는 매거진(118) 등으로부터 배출되어 원하는 접촉 아일랜드(95a)에 배치되며, 각각의 장착위치에서 연결되어 있는 장착소자(107)와 접촉 아일랜드(95a)는 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치에서 서로를 향하고 있고, 상기 장착 디바이스(101)는 테스트 또는 결정 소자를 가지고 있는 테스트 또는 결정 디바이스(108)를 가지고 있으며, 이 디바이스에 의해 인쇄회로기판(2)이 정확한 위치에 있는지를 결정할 수 있는 구성요소 장착 디바이스에 있어서,
    상기 테스트 또는 결정 소자는 인쇄회로기관(2)과 마주 보고 있는 장착 디바이스(101)상에 배열되어 있는 접촉 소자(95b)에 의해 형성되어 있으며, 이 접촉소자에 의해 상기 인쇄회로기판(2)상에서 접촉 아일랜드(95a)가 연결되어 있고, 이 접촉 아일랜드(95a)와 접촉 소자(95b)에는, 접촉 아일랜드(95a)와 접촉 소자(95b)와의 사이의 접촉범위가 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치로 여전히 존재하지만 접촉 아일랜드(95a)의 에지쪽으로 변위될 수 있도록 인쇄회로기판(2)의 정확한 위치에서 서로 상대적으로 오프셋(d)이 설정되어 있으며, 그리고 평가회로(Cal)가 제공되어 있고 그리고 이 평가회로는 테스트 또는 결정 절차중에 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95a,95b)의 양호한 전도접촉 또는 불충분한 전도접촉 또는 비접촉에 대한 평가를 위해 상기 접촉 아일랜드/접촉 소자 쌍(95a,95b)에 전기적으로 접속되어 있는것을 특징으로 하는 구성요소 장착 디바이스.
  47. 제46항에 있어서, 제2항 내지 제34항중 어느 한 항에 따른 시스템을 가지고 있는것을 특징으로 하는 구성요소 장착 디바이스.
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