KR100315643B1 - 아날로그회선의가입자선로및가입자회로시험장치 - Google Patents

아날로그회선의가입자선로및가입자회로시험장치 Download PDF

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Abstract

가입자까지의 선로뿐만 아니라 교환기의 가입자 보드까지도 시험할 수 있는 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치가 제공된다. 시험장치는 인워드 테스팅을 위한 인워드 테스트 인터페이스부와, 아웃워드 테스팅을 위한 아웃워드 테스트 인터페이스부와, PCM 하이웨이와의 연결을 위한 PCM 인터페이스부와, 인워드 테스트 인터페이스부와 아웃워드 테스트 인터페이스부에 각각 연결된 A/D 및 D/A 변환기와, 상기 PCM 인터페이스부에 연결되어 디지털 신호의 처리를 담당하는 디지털 시그널 프로세서와, 메모리, 제어로직, CPU을 구비하고 장치내의 각종 디바이스 제어를 담당하는 제어부와, 상기 제어부와 TD 버스 혹은 L-BUS, RS-232C 등의 데이터 통신 인터페이스와의 접속을 위한 데이터통신 접속부를 구비한다.

Description

아날로그 회선의 가입자 선로 및 가입자 회로 시험장치
본 발명은 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치에 관한 것으로서, 특히 가입자까지의 선로뿐만 아니라 교환기의 가입자 보드까지도 시험할 수 있는 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치에 관한 것이다.
전화국의 교환기에는 가입자와의 연결을 위한 가입자 보드가 설치되고, 각 가입자 보드내의 가입자 인터페이스 회로에서는 선로를 통해 각 가입자에게로 연결되어 있다. 따라서, 전화와 관련된 기능 테스트를 위해서는 가입자 보드 내의 각 가입자 인터페이스 회로와 가입자 선로에 대한 시험이 모두 행해져야 한다.
가입자 선로에 대한 시험은 아웃워드(outward) 테스트라고 불리우며, 교류전압, 직류전압, 루프저항, 절연저항, 정전용량 등을 측정하여 선로의 단락, 선로의 개방, 접지와의 단락 등 외부로부터 교환기에 불필요한 영향을 미치는 것이 있는지를 시험하게 된다.
가입자 보드에 대한 시험은 인워드(inward) 테스트라고 불리우며, 루프전류 측정, 다이알 톤 측정 및 다이알후에 다이알 톤이 중지되는지 여부 시험, 극성 반전 검출, 링 전압 측정 및 링 트립 검출, 전송 손실 측정 등의 시험을 행하게 된다.
시험장치는 전술한 기능 이외에도, 가입자 모니터링 시험, 피측정 가입자와의 통화시험, MDF의 이상유무를 판단하기 위하여 MDF와 통화하는 시험, 가입자측에서 전화선을 연결할 때 올바른 전화선을 찾는데 도움이 되도록 테스트톤을 송출하는 기능 등의 특수시험기능을 가져야 한다.
본 발명의 목적은 아날로그 회선의 가입자 선로 및 가입자 회로를 모두 테스트할 수 있는 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 가입자 선로 및 가입자 회로의 테스트 이외에도 특수 시험을 하기 위한 기능을 가진 시험장치를 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명의 시험장치가 교환기와 선로 사이에서 연결되는 모습을 보여주는 개략도,
도 2는 교환기의 가입자 보드내에서 가입자선 인터페이스 회로로부터 시험선로로의 연결 모습을 보여주는 블록도,
도 3은 본 발명의 시험장치의 내부 구성을 보여주는 블록도이다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 시험장치는 인워드 테스팅을 위한 인워드 테스트 인터페이스부와, 아웃워드 테스팅을 위한 아웃워드 테스트 인터페이스부와, PCM 하이웨이와의 연결을 위한 PCM 인터페이스부와, 인워드 테스트 인터페이스부와 아웃워드 테스트 인터페이스부에 각각 연결된 A/D 및 D/A 변환기와, 상기 PCM 인터페이스부에 연결되어 디지털 신호의 처리를 담당하는 디지털 시그널 프로세서와, 메모리, 제어로직, CPU을 구비하고 장치내의 각종 디바이스 제어를 담당하는 제어부와, 상기 제어부와 TD 버스 혹은 L-BUS, RS-232C 등의 데이터 통신 인터페이스와의 접속을 위한 데이터 통신 접속부를 구비한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다. 도 1은 본 발명의 시험장치가 교환기와 선로 사이에서 연결되는 모습을 보여주는 개략도이고, 도 2는 교환기의 가입자 보드내에서 가입자선 인터페이스 회로로부터 시험선로로의 연결 모습을 보여주는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 교환기에는 다수의 가입자 보드(200)가 설치되어 있다. 이들 가입자 보드 내의 가입자선 인터페이스 회로는 각 가입자에 대해서 일대일로 연결되게 된다. 또한, 이 회로들은 도 2에 도시된 것처럼 가입자 보드내에서 릴레이를 거쳐서 병렬로 테스트 선에 연결되어 있다. 이 테스트 선의 팁(T)과 링(R)은 별도의 릴레이 보드(300)에서 본 발명의 시험장치(100)와 MDF(400)에 연결될 수 있도록 되어 있다. 또한, 가입자의 전화기(500)는 선로를 통해 MDF(400)에 연결되어 있다. 편의상 도면에서는 릴레이 보드(300)에 하나의 선로에 대한 릴레이만을 도시하였지만, 실제로는 다수의 선로에 대한 릴레이가 마련된다.
먼저, 인워드(inward) 테스트시의 릴레이 접속에 대해서 설명하면, 인워드 테스트시에는 RL1과 RL2가 B 단자에 연결된다. 또한, 피측정 가입자선 인터페이스 회로를 선택하기 위하여 도 2의 릴레이중에서 해당 가입자선 인터페이스 회로에 연결되는 릴레이가 접속되고, 나머지 릴레이들은 개방된 상태를 유지한다. 그러면, 시험장치(100)의 InTip 단자 및 InRing 단자는 릴레이 RL1 및 RL2를 통해 가입자 보드(200)의 T 및 R 단자에 연결되고, 다시 가입자 보드(200)내의 접속되어 있는 릴레이를 거쳐서 해당 가입자선 인터페이스 회로에 연결되어, 시험장치(100)의 InTip 단자와 InRing 단자가 피측정 가입자선 인터페이스 회로에 연결되게 된다. 따라서, 이 상태에서 시험장치는 InTip 단자와 InRing 단자를 통해서 해당 피측정 가입자선 인터페이스 회로에 대한 시험을 행할 수 있게 된다.
다음으로, 아웃워드(Outward) 테스트시의 릴레이 접속에 대해서 설명한다. 아웃워드 테스트시에는 RL3과 RL4가 B 단자에 연결된다. 그러면, 시험장치(100)의 OutTip 단자와 OutRing 단자가 RL3과 RL4를 거쳐서 MDF(400)에 연결되고, MDF(400)에서 다시 가입자 선로를 거쳐서 가입자의 전화기(500)에 연결되게 된다. 따라서, 이 상태에서 시험장치는 OutTip 단자와 OutRing 단자를 통해서 해당 전화기로의 가입자 선로에 대한 시험을 행할 수 있게 된다.
다음으로, 도 3을 참조하여 본 발명의 시험장치(100)의 구성에 대해서 설명한다. 도 3은 본 발명의 시험장치(100)의 내부 구성을 보여주는 블록도이다.
본 발명의 시험장치(100)는 전체 제어를 담당하는 CPU(101)와, CPU의 동작에 필요한 프로그램 및 데이터의 저장을 담당하는 ROM, RAM 등의 메모리(130)와, CPU의 명령에 따라서 각종 주변장치의 제어에 필요한 신호를 발생하는 제어로직(140)으로 이루어지는 제어부를 구비하고 있다. 제어로직(140)은 또한 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)로부터의 데이터를 DSP(Digital Signal Processor)(170)로 전달하거나, DSP(170)로부터의 디지털 데이터를 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)로 전달하는 역할을 한다. DSP(170)와 CPU(101)와의 통신은 듀얼포트램(111)을 통해 이루어진다.
시험장치(100)에는 TD 버스 혹은 L-BUS, RS-232C 등의 데이터 통신 인터페이스와의 접속을 위한 데이터통신 접속부(120)와 듀얼포트램(110)이 마련되어 있어서, 듀얼포트램(110)과 데이터통신 접속부(120)를 통해 CPU(101)가 TD 버스와 연결되어 테스트 커맨드와 시험 결과 등을 주고 받는다.
시험장치(100)는 인워드 테스트를 위하여 InTip 및 InRing에 연결하기 위한 인워드 테스트 인터페이스(190)를 구비하고 있다. 인워드 테스트 인터페이스(190)는 제어로직(140)의 제어에 따라 동작되는 릴레이 컨트롤(150)의 제어를 받는다. 또한 인워드 테스트 인터페이스(190)는 A/D(Analog to Digital) 및 D/A(Digital to Analog) 변환기(160)에 연결되어 있다. A/D 및 D/A 변환기(160)는 제어부로부터의 디지털 데이터를 아날로그 신호로 변환하여 인워드 테스트 인터페이스(190)에 전달하거나 인워드 테스트 인터페이스(190)로부터의 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 제어부에 전달하거나 하는 역할을 한다. 이렇게 제어부에 전달된 신호는 DSP(170)로 전달되고, DSP(170)에서 필터링 등의 처리를 거쳐서 측정이 이루어져서 그 결과가 다시 듀얼포트램(111)을 거쳐서 CPU(101)에 전해진다.
시험장치(100)는 또한, 아웃워드 테스트를 위하여 OutTip 및 OutRing에 연결하기 위한 아웃워드 테스트 인터페이스(192)를 구비하고 있다. 아웃워드 테스트 인터페이스(192)는 제어로직(140)의 제어에 따라 동작되는 릴레이 컨트롤(150)의 제어를 받는다. 또한 아웃워드 테스트 인터페이스(192)는 A/D 및 D/A 변환기(180)에 연결되어 있다. A/D 및 D/A 변환기(180)는 제어부로부터의 디지털 데이터를 아날로그 신호로 변환하여 아웃워드 테스트 인터페이스(192)에 전달하거나 아웃워드 테스트 인터페이스(192)로부터의 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 제어부에 전달하거나 하는 역할을 한다. 이렇게 제어부에 전달된 신호는 DSP(170)로 전달되고, DSP(170)에서 필터링 등의 처리를 거쳐서 측정이 이루어져서 그 결과가 다시 듀얼포트램(111)을 거쳐서 CPU(101)에 전해진다.
시험장치(100)는 PCM 인터페이스(191)를 통해 교환기의 PCM 하이웨이에 연결되어 있다. PCM 인터페이스(191)는 DSP(170)의 제어에 의해 PCM 하이웨이중의 임의의 채널에 PCM 데이터를 보내거나 임의의 채널로부터의 PCM 데이터를 가져올 수 있다.
PCM 인터페이스(191)는 DSP(170)에 연결되어 있다. DSP(170)는 PCM 인터페이스(191)로부터 PCM 데이터를 받아서 필터링 등의 처리를 하여 전송손실 측정, 다이알 톤 검출 등 각종 측정을 위해 필요한 처리를 행하고, 그 결과를 제어부에 보낸다. 또한, DSP(170)는 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)로부터의 디지털 신호를 처리하여 교류전압측정, 루프전류 측정 등 인워드 테스트 및 아웃워드 테스트를 행하고 그 결과를 제어부에 보낸다. DSP(170)는 또한 특정 주파수의 톤에 대한 디지털 데이터를 발생하며, 이 데이터는 PCM 인터페이스(191)를 통해 송출되거나 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)를 통해 아날로그 신호로 변환되어 InTip/InRing 또는 OutTip/OutRing으로 송출된다.
이상 본 발명을 바람직한 실시예를 사용하여 상세히 설명하였지만, 본 발명의 범위는 특정 실시예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의해서 해석되어야 할 것이다.
본 발명에 따르면, 가입자까지의 선로뿐만 아니라 교환기의 가입자 보드까지도 시험할 수 있는 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치가 제공되어, 하나의 장치로 다양한 시험을 행할 수 있어서 시험 능률을 높일 수 있다는 효과가 있다.

Claims (1)

  1. 교환기 가입자 보드로의 접속을 위한 인워드 테스트 인터페이스부와,
    가입자 선로와의 접속을 위한 아웃워드 테스트 인터페이스부와,
    교환기의 PCM 하이웨이와의 연결을 위한 PCM 인터페이스부와,
    메모리, 제어로직, CPU을 구비하고 장치내의 각종 디바이스 제어를 담당하는 제어보와,
    인워드 테스트 인터페이스부와 아웃워드 테스트 인터페이스부에 각각 연결되어 있으며, 상기 제어부로부터의 디지털 데이터를 아날로그 신호로 변환하여 인워드 테스트 인터페이스부나 아웃워드 테스트 인터페이스부에 각각 전달하거나 인워드 테스트 인터페이스부나 아웃워드 테스트 인터페이스부로부터의 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 상기 제어부로 전달하는 A/D 및 D/A 변환기와,
    상기 PCM 인터페이스부와 상기 제어부에 연결되어 상기 PCM 인터페이스부로 부터의 PCM 신호 또는 상기 A/D 및 D/A 변환기로부터 상기 제어부를 거쳐 입력되는 디지털 신호로부터 필터링, 교류전압측정, 루프전류측정 등의 신호 처리를 담당하는 디지털 시그널 프로세서와,
    상기 제어부와 장치 외부와의 데이터 통신을 위한 데이터통신 접속부
    를 구비하는 아날로그 회선의 가입자 선로 및 가입자 회로 시험장치.
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