KR100242615B1 - 디지탈 루프 전송 시스템 - Google Patents

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KR100242615B1
KR100242615B1 KR1019910006478A KR910006478A KR100242615B1 KR 100242615 B1 KR100242615 B1 KR 100242615B1 KR 1019910006478 A KR1019910006478 A KR 1019910006478A KR 910006478 A KR910006478 A KR 910006478A KR 100242615 B1 KR100242615 B1 KR 100242615B1
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remote terminal
bridge
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KR1019910006478A
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유진 버크 마이클
콜로드너 사무엘
루우 후이토
필립 세인스키 스티븐
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죤 제이. 키세인
아메리칸 텔리폰 앤드 텔레그라프 컴퍼니
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Abstract

광섬유를 사용하여 가입자의 가정 근처의 원거리 터미널(16)까지 디지탈 루프 시스템 내의 드롭 배선(18)을 테스트하기 위한 수단이 개시된다. 테스트 모듈(20)은 고객 가정에 대한 배선상의 문제점의 유무를 결정하도록 원거리 터미널에 제공된다. 테스트의 결과는 광 데이터 링크(17)를 통하여 원격 터미널(12)에 전송되는데 그 결과는 중앙오피스에서 루프 테스터(15)에 의해 액세스될 수 있다.

Description

디지탈 루프 전송 시스템
제1도는 본 발명의 일 실시예에 의한 디지탈 루프 전송 시스템을 도시한 블록도.
제2도는 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 순서의 흐름도.
제3도 내지 제5도는 본 발명의 일 실시예에 의한 드롭 배선(drop wire)을 테스트하기 위한 회로의 구성도.
제6도는 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 신호를 전송하기 위한 회로의 구성 블록도.
제7도는 본 발명의 일 실시예에 의한 테스트 결과 신호를 수신하고 테스트 제어 정보를 전송하기 위한 회로의 구성 블록도.
제8도는 본 발명의 일 실시예에 의한 저항 성분을 나타내기 위한 회로의 구성도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 중앙 오피스 스위치 11 : 터미널
12 : 원격 터미널 13 : 배선쌍
14 : 쌍 이득 테스트 제어기 15 : 루프 테스터
16 : 원거리 터미널 17 : 광학 링크
20 : 드롭 테스트 모듈 21,23 : 데이터 링크
22,24 : 광/전 인터페이스
본 발명은 광섬유를 사용한 디지탈 루프 전송 시스템에 관한 것으로, 특히 최종 광섬유 링크를 넘어 가입자 가정으로 연장되는 배선쌍을 테스트하기 위한 수단에 관한 것이다.
광섬유는 중앙 오피스와 원격 터미널(remote terminal)간의 디지탈 신호를 송신하기 위한 매체로 선택되고 있다. 최근, 전화 서비스 제공자는 가입자 가정이나 그 근처에 원거리 터미널(distant terminal)을 설정하고 이들 원거리 터미널을 광섬유 링크에 의해 원격 터미널로 접속시킴으로써 광섬유 사용을 원격 터미널을 넘어 확장시키고 있다. 원거리 터미널은 광섬유로부터의 디지탈 신호를 정규의 아날로그 신호로 변환한다. 서비스를 제공하기 위하여 원거리 터미널을 넘어 배선쌍 또는 “드롭(drop)” 배선이 고객 가정으로 연장된다. 여기에서 배선쌍은 통신을 전달하기 위하여 서로 협력하는 두 개의 배선을 가리키는 일반적인 용어이며, 드롭 배선은 루프(loop)로부터 가정이나 기업체로 통신을 공급하기 위하여 드롭되는 배선쌍을 말한다. 원격 및 원거리 터미널 사이의 광섬유 링크가 가입자에 대한 정보용량을 크게 증가시키지만, 이는 또한 결함 조건의 결정을 위한 고객의 배선쌍에 대한 전기적 액세스를 배제하는 문제점을 일으킨다.
가입자 라인(subscriber′s line)의 전기적 테스트를 위한 현재의 방식은 테스트가 요구될 때에 디지탈 링크를 우회(bypass)할 수 있는 원격 터미널과 중앙 오피스 사이에 연장되어 있는 배선쌍을 사용한다(예를 들면, 미국 특허 제 4,270,030호 참조). 여기에서 가입자 라인은 특정한 고객의 가정에 통신을 제공하는 배선쌍을 의미한다. 이 기법은 통상 중앙 오피스와 원격 터미널 사이의 경우와 같이 수천 정도의 고객에게 서비스되는 경우에는 수용 가능하다. 그러나, 이는 원거리 터미널에 이르는 각각의 광섬유와 함께 배선쌍을 제공하기 위해서는 매우 비경제적이 된다.
따라서, 본 발명의 목적은 원거리 터미널까지 광섬유를 사용하는 시스템에 있어 고객 가정에 대한 배선쌍을 테스트하기 위한 수단을 제공하는 데에 있다.
본 발명의 목적을 이루기 위한 본 발명의 한 견지에서 보면, 디지탈 루프 전송 시스템은 중앙 오피스 터미널, 상기 중앙 오피스 터미널에 광전기적으로 접속된 원격 터미널 및 상기 원격 터미널에 광학적으로 접속된 원거리 터미널을 포함한다. 상기 시스템은 또한 상기 원거리 터미널을 넘어 연장되는 전기적 배선을 테스트하고 상기 테스트 결과를 상기 원격 터미널에 광학적으로 전송하기 위한 수단을 상기 원거리 터미널 내에 포함한다. 상기 원격 터미널은 또한 상기 중앙 오피스 터미널에 의해 전기적으로 액세스될 수 있는 특정 저항치로 상기 결과를 변환하기 위한 수단을 포함한다.
본 발명의 다른 견지에 의하면, 본 발명은 한 쌍의 배선을 전기적으로 테스트하기 위한 회로로서, 회로 수단은 적어도 2개의 값을 가지는 일정 전류를 발생시키기 위해 제공된다. 또한 2개의 다리를 가지며 2개의 다리에서의 전압을 비교하기 위한 수단을 포함하는 브리지 회로가 제공된다. 상기 회로는 또한 상기 브리지 회로의 다리에 적어도 하나의 상기 배선을 접속하기 위한 수단을 포함한다.
이하, 본 발명은 첨부된 도면을 참조로 하여 더욱 상세히 설명될 것이다.
제1도는 본 발명에 따른 기본적인 디지탈 루프 전송 시스템을 블록도 형태로 도시한 것이다. 중앙 오피스는 중앙 오피스 스위치(10)와, 양방향성 디지탈 전송을 제공하기 위하여 원격 터미널(12)에 광학적 및 전기적으로 접속된 터미널(11)을 포함한다. 디지탈 신호는 광섬유에 의해 통상 운반되지만, 테스트 목적을 위한 전기적 우회를 제공하는 배선쌍(13)은 터미널들간에 포함된다. 이러한 배선쌍은 기계식 루프 테스터(MLT; mechanized loop tester)(15)에 의해 제어되는 쌍 이득 테스트 제어기(pair gain test controller)(14)에 접속된다. (상기 쌍 이득 테스트 제어 장치에 관한 보다 상세한 설명은 미국 특허 제 4,270,030호에 기술된다). 광학 링크(17)는 배선쌍에 의해 다수의 가입자에 접속되는 원거리 터미널(16)에로 원격 터미널을 접속시키며, 오직 하나만의 배선쌍만이 부호(18)로 도시된다.
본 발명의 주된 특징에 의하면, 드롭 테스트 모듈(drop test module)(20)은 원거리 터미널에 플러그-인(plug-in)회로 카드로서 포함된다. 이후에 상세히 기술되는 바와 같이, 이 회로는 다양한 가입자에 대하여 배선쌍(18)을 테스트하도록 설계되며, 데이터 링크(21)와 상기 원격 터미널 아래 있는 광/전 인터페이스(O/E interface; optical/electronic interface)(22)에 의해 원거리 터미널을 통하여 광데이터 형태의 결과를 전송한다. 원격 터미널은 상기 신호를 수신하기 위한 광/전 인터페이스(24)와 데이터 링크(23) 및 원거리 터미널로부터의 데이터 비트에 응답하는 릴레이에 의해 배선쌍(13)의 팁(tip) 및 링(ring)도선에 접속될 수 있는 다수의 레지스터를 포함한다. 그로 인하여 MLT(15)는 이들 레지스터의 형태로 드롭 배선 테스트의 결과에 대한 전기적 액세스를 가진다.
제2도는 드롭 테스트 모듈(20)에 의해 수행되는 전형적인 테스트 순서를 도시한다. 제1테스트(FEMF(foreign electro-magnetic force)로 표시됨. 여기에서 FEMF는 경우에 따라 가입자 라인에서 발생할 수 있지만 원칙적으로 가입자 라인에서 나타나서는 안되는 외부 전압을 말한다.)는 원거리 터미널이 비접속될 때에 라인 상의 소정 전압의 크기를 결정한다(“외부 전압”으로 알려짐). 만일 일반적으로 적어도 10볼트의 전압이 있을 경우, 배선은 비작동되어 더 이상의 테스트가 되지 않는다. 만일 배선이 상기 테스트를 통과할 경우, 배선은 고장에 기인한 배선내의 어떠한 손실에 대하여도 테스트된다. 이는 흐름도의 다음 단계에서 배선쌍의 팁 및 링 도선을 함께 접속시키고 팁 및 링 도선으로부터 접지까지의 결속된 저항치가 50㏀ 보다 큰지를 결정함으로써 수행된다. 만일 그렇지 않을 경우, 배선은 제1손실 테스트에 실패하며, 그 테스트는 중단된다. 배선이 테스트(RT,R-GRD〉50㏀)를 통과할 경우, 배선은 흐름도의 세번째 단계에서 제2손실 테스트를 하게된다. 여기서, 팁 도선은 접지되고 링에서 팁까지의 저항치가 측정된다. 다시 이러한 저항치가 50㏀보다 클 경우, 배선은 통과되어 다음 테스트가 수행된다. 이 테스트는 “연속성 테스트”로써 고객 발신기의 용량을 측정함으로써 고객 전화기 내의 발신기가 접속되는지를 결정한다. 발신기가 접속된 경우, 배선은 모든 테스트를 통과하는 반면, 그렇지 않을 경우, 배선은 비작동되어 “비정상 발신기”의 표시가 나타난다. 단계 3으로 돌아가서, 저항치가 50㏀보다 크지 않을 경우, 배선은 실제로 손실이 있는지 또는 고객 수신기가 오프-훅(off-hook) 상태인지를 결정하도록 테스트되어야만 한다. 이들 테스트는 흐름도의 우측 편에 도시된다. 이와 같이, 다음 테스트에서 팁 도선이 다시 접지된 채로, 15mA 전류를 인가하여 저항치가 측정된다. 만일 측정된 저항치가 650Ω보다 작지 않을 경우, 배선은 손실 테스트를 할 수 없게 되는데, 이는 수신기가 오프훅 상태일 경우 수신기가 이들 저항치를 나타낼 수 없기 때문이다. 만일 저항치가 650Ω보다 작을 경우에는 여전히 오프훅 상태일 수 있다고 가정되기 때문에 링부터 팁까지의 저항치는 다시 측정된다. 다만 이때에는 배선을 통하여, 1mA 전류를 인가한다. 만일 저항치가 200Ω보다 크지 않을 경우, 배선은 다시 이러한 저항치를 나타내는 오프훅 조건이 될 수 없기 때문에 손실 테스트에 실패한다. 만일 저항치가 200Ω보다 클 경우, 배선은 1mA에서의 저항치가 15mA에서의 저항치보다 60Ω이상 큰지를 결정하도록 한번 더 테스트된다. 만일 클 경우, 수신기는 오프훅 상태이고, 그렇지 않을 경우, 수신기는 오프훅 상태가 될 수 없으며, 그래서 배선의 테스트 실패를 초래하는 손실이 있는 것이다. 이는 테스트 과정을 종결한다.
이들 테스트를 수행할 수 있는 회로의 일 실시예가 제3도 내지 제5도에 도시된다. 제3도는 회로의 구동 섹션을 도시한다. CMOS 스위치(100 및 101)는 팁 및 링 도선으로부터 각각 1mA 또는 15mA 전류중의 어느 하나로 교호로 떨어질 수 있게 한다. 스위치들의 출력은 연산 증폭기(OP Amp; operational amplifier)(102)의 반전 입력에 저항 R2및 R3양단의 2.5V 기준 전압(다이오드 D1양단에서 발생된)을 제공한다. 연산 증폭기의 비반전 입력은 접지된다. 연산 증폭기의 궤환 루프는 한 쌍의 다아링톤 접속된 바이폴라 트랜지스터 Q1및 Q2와 저항(R7, R6및 R4)을 포함한다. 연산 증폭기의 반전 입력의 전압을 0 전압으로 구동하기 위하여, 전류는 저항 R6및 트랜지스터 Q1및 Q2를 통하여 유출된다. 이 전류는 저항 R8를 통하여, 인가되는 전압이 -30V인 회로의 점 A에 공급된다.
0.1mA 또는 1.5mA의 기준 전류가 스위치(100 또는 101)중 어느 것이 구동되는가에 따라 생성된다. 이 전류를 R8에 인가하는 것은 연산 증폭기(103), 저항 R9및 다아링톤 접속된 바이폴라 트랜지스터 Q3및 Q4에 의해 형성되는 x10 전류 미러를 작동시킨다. 이는 Isource로 표기된 도선으로부터 저항 R10을 통하여 -30V인 점 B까지 원하는 1mA 또는 15mA의 전류를 발생시킨다.
제4도에 도시된 바와 같이, 도선 Isource의 일정 전류의 유출은 저항 R15및 R16이 하나의 다리를 구성하는 브리지 회로의 하나의 노드에서 전압 Vs을 형성시킨다. 다른 다리는 고상 릴레이(104 또는 105)의 구동 여부에 따라 R24또는 R25와 팁(Tip) 및 링(Ring)으로 표기된 도선 상의 고객 설비에 의해 형성된 부하 저항 RL에 의해 형성된다. 팁 도선은 퓨즈 F1, 릴레이 콘택 K1B, 저항 R42및 다른 릴레이 콘택 K2를 통하여 R24및 R25를 연결하고 있는 노드(V1으로 표기)에 접속된다. 링 도선은 퓨즈 F2, 릴레이 콘택 K1C및 저항 R43을 통하여 노드에 접속된다. 이 노드에서의 전압 V1은 한쪽 다리에서 다아링톤 접속된 바이폴라 트랜지스터 Q7및 Q8및 저항 R18와 다른쪽 다리에서 다아링톤 접속된 바이폴라 트랜지스터 Q9및 Q10과 저항 R19를 포함하는 차동 증폭기에 의해 R15및 R15를 연결하고 있는 노드에서의 전압 V2와 비교된다. 이 차동 증폭기의 출력은 “COMP”로 표시된 도선 상의 높거나 낮은 전압으로 나타난다. 일정한 전류는 베이스 영역이 레지스터 R21에 공통으로 접속되고 에미터가 저항 R22(트랜지스터 Q5의 경우) 및 저항 R23(트랜지스터 Q6의 경우)을 통하여 -30V의 전압에 접속된 바이폴라 트랜지스터 Q5및 Q6를 포함하는 일정 전류원에 의해 증폭기를 통하여 유출된다.
제3도를 참조하면, 외부 전압 테스트(FEMF〈10V)를 수행하기 위하여, 스위치 100을 작동시킴으로써 1mA 전류가 Isource에서 만들어진다. 또한 릴레이(106)는 20V 제너 다이오드 D2를 동일 도선에 접속할 수 있도록 작동된다. 제4도로 돌아가서, 이는 도선 Isource 상에 -20V의 Vs를 만든다. 스위치(104 및 105) 양자가 비구동된 상태에서, 저항 R15및 R16이 동일하기 때문에 V2는 -10V가 된다. 릴레이 콘택 K1B및 K1C를 닫고 릴레이 콘택 K2를 엶으로써 팁 및 링 도선이 서로 연결된다. 팁 및 링 도선상의 전압 V1이 이전에 기술한 바와 같이 트랜지스터 Q7-Q10을 포함하는 차동 증폭기에 의해 -10V의 전압 V2와 비교된다. 만일 V1〈-10V일 경우, 차동 증폭기내의 전류는 Q7-Q8다리를 통하여 흐를 것이며, COMP 도선의 출력은 높게 될 것이고, 반면에 V1〉-10V일 경우, 전류는 Q9-Q10을 통하여 흐를 것이며, 그 출력은 낮게 될 것이다.
다음의 몇몇 손실 테스트는 지금까지 기술된 회로의 동일 부분에 의해 기본적으로 수행될 수 있다. 따라서, 제2도 내에 도시된 제1손실 테스트(RT,R-GRD〉50㏀)에 있어서, 릴레이 콘택 K1B및 K1C를 닫고 릴레이 콘택 K2를 엷으로써 팁 및 링 도선은 다시 연결된다. 스위치(100)(제3도)는 1mA 전류를 발생시키기 위하여 동작되는 반면에, 스위치(106)(제3도)는 비구동되며, 스위치(104)는 대략 50㏀인 R24를 팁 및 링 도선에 접속하기 위하여 구동된다. 그러므로, 전압 V1은 가입자 라인의 저항 RL이 50㏀보다 작거나 같은 경우 V2보다 크거나 같게 될 것이며, 역으로 V1은 가입자 라인 저항 RL이 50㏀보다 클 경우 V2보다 작게 될 것이다. 전과 같이, 만일 V1〈V2일 경우, 차동 증폭기의 전류는 Q7-Q8을 통하여 흐를 것이며, COMP의 출력은 높게 되는 반면, V1≥V2일 경우, 전류는 Q9-Q10을 통하여 흐를 것이며, 출력은 낮게 될 것이다. 제2손실 테스트(RTR〉50㏀)를 위한 방법은 팁도선이 접지되도록 릴레이 콘택 K2가 닫혀지는 것을 제외하고 같다.
다음 손실 테스트(RTR〈650Ω)를 위하여, 제3도의 스위치(101)는 Isource에서 15mA의 일정 전류를 산출할 수 있도록 구동된다. 스위치(105)(제4도)가 또한 구동되고 스위치(104)는 비구동되어 저항 R25이 링 도선에 접속된다(반면 팁 도선은 여전히 릴레이 콘택 K2에 의해 접지된다). R25가 대략 650Ω이기 때문에, 이전에 기술한 바와 같이 2개의 전압 V1및 V2을 비교하는 COMP에서 나타나는 출력은 가입자 라인의 저항치가 650Ω보다 큰지 작은지를 가리킨다.
나중의 테스트 목적을 위하여, R25가 팁 및 링 도선에 접속될 때에 나타나는 전압 V1은 스위치(117)를 구동시킴으로써 연산 증폭기(107)의 입력에 접속된다. 연산 증폭기(107)의 출력은 저항 R32및 R33에 의해 나누어진 후(이 경우 15로) 샘플/홀드 집적 회로(108)에 접속된다. 결과 전압은 나중의 사용을 위하여 캐패시터 C10에 저장된다.
다음 손실 테스트(RTR〉200Ω)를 위하여, Isource에서의 전류는 1mA로 복귀되고, R25는 계속해서 팁 및 링 도선에 접속된다. 결과 전압 V1은 여전히 스위치(117)에 의해 연산 증폭기(107)에 접속되지만 연산 증폭기의 출력은 비교기(109)의 비반전 입력에 접속된다. 비교기는 이 입력을 저항 R30대 R31의 비로 비교하는데, 본 실시예에서는 대략 8.7이다. R30및 R31이 -5V의 전압에 접속되기 때문에, 비교기는 RL이 200Ω보다 작거나 같은 경우 “쇼트(short)”로 표기된 도선 상에 신호를 발생시키는 반면에, RL이 200Ω보다 클 경우 어떠한 신호도 발생시키지 않는다.
최종 손실 테스트(R1-R15〉60Ω)는 연산 증폭기(107)의 출력을 15mA에서 이루어진 이전의 손실 테스트(RTR〈650Ω)로부터 캐패시터 C10내에 저장된 전압과 비교함으로써 이루어진다. 저항 R35에 인가되는 +2.5V의 기준 전압은 연산 증폭기(107)의 출력으로부터 60Ω과 동등한 저항치를 감산한다. 결과 신호는 비교기(100)의 반전 입력에 인가되는 반면, 캐패시터 C10내에 저장된 전압은 샘플/홀드 회로(108)를 통하여 비반전 입력에 인가된다. 만일 반전(-) 입력의 신호가 비반전(+) 입력의 신호보다 작을 경우, 신호는 수신기가 오프훅 상태라는 것을 가리키는 ROH(receiver off hook)로 표기된 도선에 나타날 것이다(여기에서, ROH는 전화의 핸드셋(handset)이 전화기 베이스로부터 떨어져 있음을 나타낸다). 만일 반전 입력의 신호가 비반전 입력의 신호와 같거나 클 경우, 어떠한 신호도 도선 ROH에 나타나지 않게 되어 따라서 손실이 문제였다는 것을 가리키게 된다.
고객 라인 상에 발신기가 있는지에 대한 테스트는 팁 및 링간의 캐패시턴스를 측정함으로써 이루어진다. 이러한 테스트는 발신 공급원(제3도의 “20Hz”도선에 연속적으로 인가되는 대략 20Hz의 AC 신호)을 취하여, 캐패시터 C3상에 대략 -120V의 전압을 저장하도록 다이오드 D3에 의해 이 공급원을 정류함으로써 유도되는 고전압을 사용한다. 이 전압은 스위치(112)를 구동시킴으로써 Isource 상으로 방전되는 반면에 부하에 유도되는 에너지는 전화기가 우발적으로 발신되는 것을 방지하도록 저항 R11에 의해 제한된다. 이 전압은 스위치(105)를 작동시킴으로써 저항 R25을 통하여 고객 라인(제4도) 상의 캐패시턴스 CL을 충전한다. 제너 다이오드 D4및 D5는 라인 상에 저장된 전압을 -75V로 제한한다. 사용된 큰 전압 (-75V)은 충분한 전하가 캐패시터와 직렬로 된 제너 다이오드를 가지는 전자 발신기상에 저장되게 한다. 동시에, 기준 캐패시터 C18및 C8는 스위치(111)를 구동시킴으로써 동일 전압 Vs으로 충전된다. 스위치(112, 105 및 111)가 비구동될 때에, 캐패시터는 전압 Vs로부터 비접속된다. 스위치(117)를 구동하는 것은 발신기 캐패시턴스 CL이 대략 50㏀의 합산 저항치를 가지는 저항 R26및 R27를 통하여 방전되게 한다. 동시에 기준 캐패시터 C18및 C8는 대략 50㏀에 일치하는 저항 R16을 통하여 방전될 것이다. 정해진 간격, 보통 대략 10msec 이후에 전압 V1및 V2는 이전에 기술된 바와 같이 비교기 소자에 의해 비교된다. 만일 V1이 V2보다 클 경우, 라인 상에 발신기가 있는 것이다.
이러한 형태의 테스트 회로에서 팁 및 링 도선 상에 회로의 구성 요소에 타격을 주는 어떠한 과도한 AC 또는 양전압이 없다는 것을 보증하는 것이 또한 바람직하다. 따라서 회로는 이전에 기술된 일련의 테스트 이전에 고전압에 대하여 팁 및 링 도선을 프리-스크리닝(pre-screening)하기 위한 수단을 제공한다. 이러한 프리-스크리닝은 도선 HV로 제4도의 릴레이 콘택 K1B및 K1C, 저항 R46, R47및 R44, R45를 통하여 팁 및 링 도선을 라우팅시킴으로써 이루어질 수 있다. HV 상의 모든 양전압은 제5도의 인버터(120)에 의해 음전압으로 반전될 것이다. 제5도에 또한 도시된 바와 같이, 모든 AC 신호 또는 DC 신호의 피크치는 비교기(114)의 반전(-) 입력에 인가된 음의 전압 Vp으로 나타난다. 이 전압 Vp은 -5V의 전원에 접속된 저항 R49및 R50에 의해 산출된 비반전(+) 입력의 전압과 비교된다. 따라서, 팁 및 링 상의 전압의 절대치가 10V보다 클 경우 비교기(114)의 출력은 프로그램 가능 어레이 논리(PAL; programmable array logic) 칩(115)에서 플래그(PRESCREEN)를 산출하며, 테스트는 종결될 것이다.
제5도에 또한 도시된 바와 같이, 제4도의 Q7내지 Q10을 포함하는 비교기를 사용하는 이전에 기술된 테스트로부터 나온 COMP 도선 상의 신호는 이득을 제공하고 PAL(115)에 의해 사용될 수 있는 도선 COMP IN 상의 논리 레벨 신호로 변환하기 위하여 비교기(113)에 접속된다. ROH, PRESCREEN 및 SHORT 도선 상에 산출된 이전에 기술된 신호와 마찬가지로 상기 신호는 PAL(115)의 입력부에 모두 인가된다. 테스트 결과는 각각의 출력 리드 DTR1, DTR2 및 DTR3 상의 하나의 비트로 나타난다. 도선 DT DONE은 테스트가 완결될 때를 지시한다. 나머지 출력 도선들은 지시된 바와 같은 회로의 스위치 중의 하나에 각각 접속된다. 릴레이 1 및 릴레이 2로 표기된 도선은 제4도의 릴레이 콘택 K1B, K1C및 K2와 제각기 연관된 릴레이 K1A및 K2A를 동작시킨다. 단안정 발진기(116)는 방전 캐패시턴스를 샘플링하기 위한 10msec 주기를 산출하기 위하여 발신기 테스트 동안 PAL의 정상적인 클락킹을 조정하도록 PAL에 접속된다.
PAL(115)로부터의 출력은 원거리 터미널에서 데이터 링크(제1도의 21)에 접속된다. 이 데이터 링크는 제6도의 블록도에서 더욱 상세히 묘사된다. 도시된 바와 같이, 드롭 테스트 모듈(20)은 데이터 버스(208) 상의 정상적인 디지탈 흐름의 일부로서 중앙 오피스로부터 명령(테스트 코드)을 수신한 이후에 래치(202)를 통하여 TEST 리드 상의 신호를 제공함으로써 테스트를 개시하는 마이크로프로세서(201)에 의해 제어된다. 원격 터미널로부터의 확인 신호(OTR)와 함께 이 명령어는 래치(210)를 통하여 마이크로프로세서(201)에 접속되고 어떤 채널 유니트(203)가 테스트되는지를 정한다. 테스트 모듈은 릴레이 K10A가 콘택 K10B을 닫도록 동작할 때에 가입자에게 서비스하는 채널 유니트(203)를 통하여 드롭 배선에 접속된다. 이 릴레이는 마이크로프로세 서(201)가 릴레이에 접속되는 릴레이 구동기(213) 및 래치(212)를 통하여 신호를 송신할 때 동작된다(오직 하나의 릴레이 구동기 및 릴레이가 도시되지만, 채널 유니트 각각에 대하여 하나가 일반적으로 주어진다는 것이 인지될 것이다). 모듈로부터의 테스트 결과는 리드 DTR1, DTR2 및 DTR3의 분리된 비트로써 래치(204)를 통하여 마이크로프로세서(201)로 전송된다. 테스트 비트는 데이터 버스(208) 상으로 래치들(205, 206 및 207)을 분리하도록 다른 데이터와 함께 전송된다. 멀티플렉서(209)는 데이터 비트를 구성하고 공지된 기법에 의해 신호를 스크램블(scramble)한다. 이 신호는 원격 터미널에 대한 광전송을 위해 레이저 및 광 검출기를 포함하는 표준 광/전 인터페이스( 22)에 접속된다. 광 데이터 신호는 제1도의 광학 링크(17)를 통하여 원거리 터미널로부터 원격 터미널에 있는 제1도의 데이터 링크(23) 및 광/전 인터페이스(24)에도 전달된다.
제7도의 블록도에서 더욱 상세히 도시된 바와 같이, 원격 터미널은 광학신호를 부호 24로 표기된 표준 광/전 인터페이스 회로에 의해 전기 신호로 변환한다. 신호는 블록 302로 도시된 표준 보호 회로에 접속되고 원격 터미널에서 클럭(도시 안됨)에 대한 입수(incoming) 데이터를 설정(set)하도록 비대칭 보상기(skew compensato r)(303)에 공급된다. 비대칭 보상기는 미국 특허 제 4,839,907호 내에 기술된 프로그램가능 어레이 논리 칩을 포함하는 형태가 될 수 있다. 상기 신호는 그후 멀티플렉서/디멀티플렉서(309)의 일부인 상용 IC 칩과 같은 표준 수단(304)에 의해 디스크램블(d escramble)되고, 드롭 테스트에 관련된 비트를 산출하고 그들을 RLY1, RLY2 및 RLY3로 표기된 라인 상에 생성하는 프로그램 가능 어레이 논리칩(305)의 입력에 접속된다. 이들 비트는 릴레이 콘택 K4A-K7A를 동작시키는 표준 릴레이 구동기(306)에 접속된다. 이들 릴레이는 제8도에 도시된 콘택 K4B, K5B, K6B, K7B, K4C, K5C, K6C및 K7C를 동작시킨다(콘택 지정의 첫번째 번호는 이에 상응하는 릴레이의 첫번째 수와 같다). 제7도는 또한 원격 터미널로부터 원거리 터미널까지의 통신 경로를 나타낸다. 백플레인(backplane) 액세스 회로(307)는 중앙 오피스로부터의 디지탈 신호를 디코드하고 변환한다. 채널 유니트를 테스트하기 위한 중앙 오피스로부터의 명령(테스트 코드)을 포함하는 이들 비트 스트림은 버스(311) 상으로 주어지며, 버스(312) 상의 프로그램 가능 어레이 논리 칩(305)을 통하여 멀티플렉서/디멀티플렉서 회로(309)로 전달된다. 이 회로의 일부는 스크램블링 회로(313)를 포함한다. 스크램블된 신호는 광/전 인터페이스(24)에 접속되고 원거리 터미널에 송부된다. 백플레인 회로(307)를 다시 참조하면, 테스트 코드는 입수 데이터가 픽 오프(pick off)되어 뱅크 제어기 유니트(BCU) (308)로 송부된다. BCU는 테스트가 발생되는지를 결정한다. 만일 테스트가 진행되면, 확인 신호(OTR)는 리드(310)상의 백플레인 회로를 통하여 BCU에 의해 PAL로 송부되는데, 여기에서 상기 신호는 원거리 터미널에 대한 전송을 위해 버스(312) 상의 나머지 입수 신호와 함께 결합된다.
제8도의 회로는 콘택이 드롭 테스트로부터의 데이터에 의해 개방 또는 폐쇄되는 것에 기초한 중앙 오피스에 대한 원격 터미널 팁 대 링 저항 델타이다. 저항 R100및 R105는 일정한 링 대 접지 그리고 팁 대 접지 저항치를 산출하며, 본 예시에서는 대략 91㏀이다. 본 실시예에서 대략 18㏀인 저항 R104는 테스트 결과에 관계없이 최소 저항치를 제공한다. 본 실시예에서 제각기 40, 20 및 10㏀인 저항 R101, R102및 R103은 팁 및 링 간에 접속되거나 이들 저항들을 통상 단락되게 폐쇄되는 스위치 K5c, K7c및 K6c의 조건에 따라 쇼트된다. 아래의 테이블은 드롭테스트 모듈로부터의 3-비트 메시지가 어떻게 다양한 레지스터의 결합에 근거한 다양한 테스트 조건을 가리킬 수 있는지의 일 예로서 주어진다.
상기 테이블내의 제1조건은 드롭 테스트 모듈이 사용 가능하지 않다는 것을 가리킨다. 원거리 및 원격 터미널간의 광학 링크가 적절히 작동하지 않는 경우에, 개방 회로는 스위치 K5B, K6B및 K7B를 개방시킴으로써 중앙오피스에 나타날 것이다.
본 발명은 일정한 실시예를 통하여 기술되어 있지만, 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 기술 사상 및 요지가 변경되지 않는 범위 내에서 다양한 변경내지는 수정이 가능하다는 것은 두말할 여지가 없다.

Claims (19)

  1. 중앙 오피스 터미널(11), 상기 중앙 오피스 터미널에 광전기적으로 접속된 원격 터미널(12) 및 상기 원격 터미널에 광학적으로 접속된 원거리 터미널(16)을 포함하는 디지탈 루프 전송 시스템에 있어서, 상기 원거리 터미널 내에 있으며, 상기 원거리 터미널을 넘어 연장되는 전기적 배선을 테스트하고, 상기 테스트 결과를 상기 원격 터미널에 광학적으로 전송하기 위한 수단(20 및 21)과, 상기 원격 터미널 내에 있으며, 상기 결과를 루프 테스터에 의해 전기적으로 액세스될 수 있으며 다양한 테스트 조건을 가리키는 특정 저항치들로 변환하기 위한 수단(K5C, K6C, K7C및 R101, R102, R103)을 포함하는 것을 특징으로 하는 디지탈 루프 전송 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 수단은 상기 배선내의 손실, 상기 배선에 접속된 발신기 회로의 존재 및 상기 배선에 접속된 장치의 오프-훅 조건을 검출하기 위한 수단(제3도와 제4도)을 포함하는 디지탈 루프 전송 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 테스트 수단은 2개의 다른 값의 일정 전류를 발생시키기 위한 수단(100,101)과, 이들 값에서의 상기 배선의 저항치를 결정하기 위한 수단(104, 105, R15, R16, R24, R25, Q7-Q10)을 포함하는 디지탈 루프 전송 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 상기 테스트 수단은 상기 배선 상의 저항치를 알려진 저항치와 비교하기 위한 브리지 회로(R15, R16, R24, R25)를 포함하는 디지탈 루프 전송 시스템.
  5. 제1항에 있어서, 상기 테스트에 응답하여 소정의 비트 길이를 포함하는 데이터 신호를 산출하고, 상기 원격 터미널로의 전송을 위해 상기 원거리 터미널로부터의 다른 데이터를 상기 신호와 결합하기 위한 수단(201)을 더 포함하는 디지탈 루프 전송 시스템.
  6. 제1항에 있어서, 상기 특정 저항치들은 각각의 배선 및 접지 사이의 고정 저항치들(R100및 R105)과 2개의 배선간의 가변 저항치를 포함하는 레지스터 델타(제8도)에 의해 발생되는 디지탈 루프 전송 시스템.
  7. 제6항에 있어서, 상기 가변 저항치는 2개의 배선간에 직렬 접속된 다수의 저항(R101-R103)과 상기 저항 각각에 병렬 접속된 개개의 스위치들(K5C-K7C)에 의해 발생되며, 상기 스위치들은 상기 2개의 배선간의 하나 또는 그 이상의 상기 저항을 전기적으로 접속하도록 상기 테스트 수단에 의해 전송된 신호에 응답하는 디지탈 루프 전송 시스템.
  8. 한 쌍의 배선을 전기적으로 테스트하기 위한 회로에 있어서, 적어도 2개의 값을 가지는 일정 전류를 발생시키기 위한 회로 수단(100,101)과, 2개의 다리를 가지고 있으며, 상기 2개의 다리에서의 전압을 비교하기 위한 수단(Q7-Q10)을 포함하는 브리지 회로(R15, R16, R24및 R25)와, 상기 브리지 회로의 다리에 적어도 하나의 상기 배선을 접속하기 위한 수단(K1B, K1C, K2)을 특징으로 하는 회로.
  9. 제8항에 있어서, 2개의 저항(R24, R25)을 적어도 하나의 상기 배선에 접속된 상기 브리지 회로의 다리에 교호로 접속하기 위한 스위칭 수단(104, 105)을 더 포함하는 회로.
  10. 제8항에 있어서, 적어도 하나의 상기 배선을 상기 브리지 회로에 접속하기 이전에 상기 배선 양단의 전압을 소정 최대치와 비교하기 위한 수단(예를 들면, R44-R47, 120, 114)을 더 포함하는 회로.
  11. 제8항에 있어서, 소정 비트 길이를 가진 디지탈 출력 신호를 산출하기 위한 수단(115)을 더 포함하며, 상기 신호는 상기 비교 수단의 출력의 적어도 일부에 기초하는 회로.
  12. 제8항에 있어서, 상기 일정 전류를 발생시키기 위한 회로 수단은 한 입력은 접지되고 다른 입력은 기준 전압원에 접속되는 연산 증폭기(102)와, 한 쌍의 바이폴라 트랜지스터(Q1, Q2) 및 상기 트랜지스터가 구동될 때에 자신을 통하여 전류가 유출되는 저항(R6)을 포함하는 상기 다른 입력에 대한 궤환 루프를 구비하는 회로.
  13. 제12항에 있어서, 상기 기준 전압원은 출력에서 서로 다른 저항(R2, R3)을 가지는 한 쌍의 스위치(100, 101)를 통하여 교호로 제공되는 회로.
  14. 제8항에 있어서, 상기 전압을 비교하기 위한 수단은 2개의 다리를 가지며 다아링톤 접속된(Darlington-coupled) 바이폴라 트랜지스터(Q7, Q8및 Q9, Q10) 및 서로 다른 다리에 저항(R18및 R19)을 포함하는 차동 증폭기를 포함하며, 각 다리는 전류원(Q5, Q6)에 접속되는 회로.
  15. 제8항에 있어서, 특정 브레이크다운(breakdown) 전압의 제너 다이오드(D2)를 상기 브리지 회로의 다리에 접속하기 위한 수단(106)을 더 포함하는 회로.
  16. 제9항에 있어서, 상기 2개의 저항 중의 하나가 접속될 때에 상기 브리지 회로의 다리에서 발생된 전압을 저장하기 위한 수단(C10)을 더 포함하는 회로.
  17. 제16항에 있어서, 한 입력은 스위치(117)를 통하여 상기 브리지 회로의 다리에 접속되고, 다른 입력은 상기 배선의 저항이 소정치보다 클 경우 신호를 산출하도록 한 쌍의 저항에 접속되는 연산 증폭기(107)를 더 포함하는 회로.
  18. 제17항에 있어서, 한 입력은 상기 연산 증폭기의 출력에 접속되고, 다른 입력은 상기 전압 저장 수단에 접속되는 비교기 소자(110)를 더 포함하는 회로.
  19. 제8항에 있어서, 스위치(111)를 통하여 상기 브리지 회로의 노드에 접속되는 기준 캐패시터들(C8, C18)과, 상기 캐패시터들 및 상기 배선 상의 임의의 캐패시터들을 동일 전압으로 충전하기 위한 수단(112)과, 저장된 전하량이 상기 브리지 회로의 비교 수단에 의해 비교되도록 상기 캐패시터들과 상기 배선 상의 캐패시터들을 방전하기 위한 수단(117, R26, R27및 R16)을 더 포함하는 회로.
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Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5073919A (en) * 1990-10-10 1991-12-17 Teradyne, Inc. Automatically testing telephone lines
GB9104133D0 (en) * 1991-02-27 1991-04-17 Plessey Telecomm Remote line test facility
AU654570B2 (en) * 1991-07-30 1994-11-10 Alcatel N.V. Subscriber loop testing in a fibre-to-the-curb telecommunications network
AU652269B2 (en) * 1991-07-31 1994-08-18 Alcatel N.V. Remote terminal for an optical fibre communications system
US5347566A (en) * 1991-10-23 1994-09-13 Digital Transmission Systems, Inc. Retrofit subscriber loop carrier system with improved performance monitoring and remote provisioning
TW199948B (ko) * 1991-12-19 1993-02-11 Dsc Comm Corp
GB2269073B (en) * 1992-07-23 1996-06-19 Northern Telecom Ltd Remote line tester
US5712898A (en) * 1993-03-08 1998-01-27 Adtran, Inc. D4 channel bank with multi-mode formatted, performance-monitoring communication bus
US5473665A (en) * 1993-03-08 1995-12-05 Adtran Performance monitoring of DS0 channel via D4 channel bank
US5784377A (en) * 1993-03-09 1998-07-21 Hubbell Incorporated Integrated digital loop carrier system with virtual tributary mapper circuit
US5440610A (en) * 1993-04-14 1995-08-08 Harris Corporation Mechanism for controlling operation of telephone metallic loop measurement device in dependence upon rate of settling of telephone line voltage
US5519830A (en) * 1993-06-10 1996-05-21 Adc Telecommunications, Inc. Point-to-multipoint performance monitoring and failure isolation system
US5386454A (en) * 1993-08-18 1995-01-31 Remote Switch Systems, Inc. Remotely controlled multiple pair telephone pedestal/building terminal
JP3360184B2 (ja) * 1993-09-20 2002-12-24 富士通株式会社 光加入者伝送システムに於ける給電制御方式
WO1995011887A1 (en) * 1993-10-29 1995-05-04 Merrell Pharmaceuticals Inc. 3-aryl-4-alkyl and 4,5-dialkyl-4h-1,2,4-triazoles useful as memory enhancers
US5953389A (en) * 1993-11-16 1999-09-14 Bell Atlantic Network Services, Inc. Combination system for provisioning and maintaining telephone network facilities in a public switched telephone network
US5790633A (en) * 1995-07-25 1998-08-04 Bell Atlantic Network Services, Inc. System for proactively maintaining telephone network facilities in a public switched telephone network
US5687212A (en) * 1995-07-25 1997-11-11 Bell Atlantic Network Services, Inc. System for reactively maintaining telephone network facilities in a public switched telephone network
US5790634A (en) * 1995-07-25 1998-08-04 Bell Atlantic Network Services, Inc. Combination system for proactively and reactively maintaining telephone network facilities in a public switched telephone system
GB2285896B (en) * 1994-01-22 1998-04-15 Northern Telecom Ltd Subscriber line testing
US5615225A (en) * 1994-02-09 1997-03-25 Harris Corporation Remote measurement unit containing integrated line measurement and conditioning functionality for performing remotely commanded testing and conditioning of telephone line circuits
FI107856B (fi) * 1994-06-15 2001-10-15 Nokia Networks Oy Tilaajamultiplekseri, puhelinjärjestelmä, sekä menetelmä tilaajaliitännän kunnon viestittämiseksi puhelinkeskukselle
US6334219B1 (en) 1994-09-26 2001-12-25 Adc Telecommunications Inc. Channel selection for a hybrid fiber coax network
US5699402A (en) * 1994-09-26 1997-12-16 Teradyne, Inc. Method and apparatus for fault segmentation in a telephone network
US5636202A (en) * 1995-07-25 1997-06-03 Lucent Technologies Inc. Test system for detecting ISDN NT1-U interfaces
USRE42236E1 (en) 1995-02-06 2011-03-22 Adc Telecommunications, Inc. Multiuse subcarriers in multipoint-to-point communication using orthogonal frequency division multiplexing
US7280564B1 (en) 1995-02-06 2007-10-09 Adc Telecommunications, Inc. Synchronization techniques in multipoint-to-point communication using orthgonal frequency division multiplexing
US5677941A (en) * 1995-03-02 1997-10-14 Lucent Technologies Inc. Channel test unit
US5859895A (en) * 1995-12-07 1999-01-12 Bell Atlantic Network Services, Inc. Auxiliary circuit switching for provisioning and/or repair in a fiber-to-the-curb system
US6002502A (en) * 1995-12-07 1999-12-14 Bell Atlantic Network Services, Inc. Switchable optical network unit
WO1997036413A1 (en) * 1996-03-28 1997-10-02 Tollgrade Communications, Inc. Remote telephony testing device
US5764727A (en) * 1996-05-23 1998-06-09 Wiltron Company Metallic access test extender
US5937033A (en) * 1997-05-20 1999-08-10 Gte Laboratories Incorporated Telephone system diagnostic measurement system including a distant terminal drop test measurement circuit
US6522723B1 (en) 1998-06-09 2003-02-18 Tollgrade Communications, Inc. Telephony line test unit and method
US6301227B1 (en) * 1998-08-24 2001-10-09 Terayon Communication Systems, Inc. Systems and methods for allowing transmission systems to effectively respond to automated test procedures
US6987837B1 (en) * 2002-09-06 2006-01-17 Sprint Communications Company L.P. Close-out test system
DE102008062929B4 (de) * 2008-12-23 2018-02-15 Texas Instruments Deutschland Gmbh Elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Leitungsprüfung

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS519312A (ja) * 1974-07-11 1976-01-26 Fujitsu Ltd Kanyushasenshikenhoshiki
FR2404354A1 (fr) * 1977-09-26 1979-04-20 Constr Telephoniques Dispositif de mesure des lignes et des postes telephoniques
US4196321A (en) * 1978-12-29 1980-04-01 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Loopback test system
US4270030A (en) * 1979-11-27 1981-05-26 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Testing of subscriber loop pair gain systems
US4451916A (en) * 1980-05-12 1984-05-29 Harris Corporation Repeatered, multi-channel fiber optic communication network having fault isolation system
US4611101A (en) * 1984-08-29 1986-09-09 Tii Computer Systems, Inc. Method and apparatus for testing communication systems
US4663775A (en) * 1984-10-26 1987-05-05 Teleprobe Systems Inc. Method and apparatus for testing remote communication systems
US4797622A (en) * 1987-04-01 1989-01-10 American Telephone And Telegraph Company At&T Bell Laboratories Technique for determining the values of circuit elements in a three terminal equivalent circuit
JP2649922B2 (ja) * 1987-08-22 1997-09-03 ファナック株式会社 加工液槽ロック装置
JPH01106550A (ja) * 1987-10-19 1989-04-24 Fujitsu Ltd 遠隔設置装置を有する交換機の試験法
US4839907A (en) 1988-02-26 1989-06-13 American Telephone And Telegraph Company, At&T Bell Laboratories Clock skew correction arrangement

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Publication number Publication date
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EP0454926B1 (en) 1997-03-05
DE69030081D1 (de) 1997-04-10

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