TW219979B - - Google Patents

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A6 B6 219379 五、發明説明Ii ) ♦發明背景 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明係關於使用光纖的數位迴路傳輸糸統，特別是 同一種用於測試延伸超過最後纖維鏈進入用戶房屋的導線 對的機構有關。 ’ 光纖已變成選擇的介質用來傳送數位信號在中央局及 遠處終端間。最近電話服務提供者已擴展光纖的使用超過 遠處終端藉設置遠隔終端在或接近用戶房屋且連接這些遠 隔終端到遠處終端藉一光纖鏈。遠隔終端從光纖轉換數位 信號到正常類比信號。超過遠隔終端、導線對、或a投落 〃導線延伸進入客戶房屋以提供服務。而一光纖鏈在遠處 及遠隔終端間將大大增加給用戶的資訊容量，它亦産生一 個問題即它消除電存取到用戶導線對用於錯誤條件的決定 0 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 用於用戶線的電測試的本方法使用一導線對延伸在中 央局及遠處終端間其可旁通數位鐽當需要終端時（例如具 美國專利编號4, 270, 030)。此技術是可接受的 其中數千客戶正被服務，如通常為在中央局及遠處终端間 的情形。然而，它變得非常昂貴在提供導線對與每個纖維 一起到遠隔終端。 因此，本發明的一個目標為提供一個機構用來測試到 客戶房屋的導線對在使用光纖的糸統中直到遠隔終端。 •發明摘要 這値及其它目標被完成根據本發明其，在一方面，為 衣纸張尺公贷） -3 - 219979 A6 B6 五、發明說明：2 ) 一數位迴路傳輸糸統包含一中央局終端，一遠處終端被光 地及電地連接到中央局終端，及一遠隔終端其被光連接到 遠處終端。此条統尚包括機構在遠隔終端中用於測試延伸 超過遠隔終端的電導線及用於光傳輸該'測試結果給遠處終 端。遠處終端尚包含機構用來轉換該結果成為特性電阻其 能被該中央局終端電存取。 根據另一方面，本發明為一電路用來電測試一對導線 。電路機構被提供來産生一常數電流具有至少兩値值。亦 提供一電橋電路其有兩腳及包括用來比較電路兩腳電壓的 機構。此電路尚包括用來連接至少導線之一到電橋電路的 一腳。 ♦附圖簡述 本發明的這些及其它特性被詳細記述在以下說明。在 附圖中： 圖1為一大網方塊圖說明根據本發明一實施例的一數 位迴路傳輸条統； 圖2為一流程圖説明根據本發明一實施例的一測試順 序； 圔3到5為一電路大網圔用於測試投落導線根據本發 明的一實施例； 圖6為一電路的大網方塊圖用於傳輸1測試信號根據本 發明的一實施例； 圔7為一電路的大網方塊圖用於接收測試結果信號及 夂纸张尺吃4用屮3 準（('NSW 公A) - A - (請先Μ讀背面之注意事項再填寫本頁) .災. *打· •線. Α6 Β6 219979 五、發明說明（3 ) 傳輸測試控制資訊根據相同實施例；及 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 圖8為一電路的大網圖用來顯示電阻根據相同實施例 ♦詳細說明 圖1顯示大網圔形成一基本數位迴路傳輸条統根據本 發明的一方面。一中央局包括一中央局開關1 0及一終端 1 1其被光地及電地連接到一遠處終端12用於提供雙向 數回傳輸。數位信號通常由光纖攜帶，但一導線對13亦 包括在終端間提供一電旁通由於測試的目的。此導線對被 連接到一對增益測試控制器1 4其被一機械化迴路測試器 (M L T ) 1 5控制。（更多細節關於對增益測試控制配 •訂· 置，見美國專利编號4, 270, 030)—光鐽結連接 遠處終端到一遠隔終端1 6其被連接到多個用戶藉導線對 ，僅有其中之一被圖示如18。 •線. 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 根據本發明的一主要特性，一投落測試模組2 0被包 括如一插入電路卡在遠隔終端。此電路，如下詳細說明， 被設計來測試導線對，例如1 8 ,到許多用戶，且傳輸結 果以光資料位元形式經由遠隔終端藉一資料鏈21及一光 /電子介面22返回遠處終端。遠處終端包括一光/電子 介面24及資料鐽2 3用於接收信號及多値電阻其可被連 接到導線對1 3的頂部及環導線藉由繼電器其可回應於從 遠隔終端來的資料位元。機械化迴路終端器1 5藉此具有 電存取對於投《導線測試的結采以逭些電Rfl的形式。 衣纸張义度;t]屮阈:马t »5準（CNS) 7 1甩格（1Π χ^()7 ) 213979 A6 B6 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 五、發明説明1 4) 圖2説明一由投落測試模組2 0執行的典型測試順序 。第一測試（由F E M F代表）判定線上的任何電壓的範 圍當遠隔終端被中斷連接（亦知名為a越區電壓〃）。如 果有一個電壓，典型地，至少為10伏，導線失敗且不再 進行測試。如果導線通過該測試，它們然後被測試有無任 何由於錯誤的漏電在導線中。這在圖的下個步驟完成藉耦 合導線對的頂部及環導線在一起且判定是否組合電阻從頂 部及環導線到地大於50K歐姆。如果不是，導線失敗於 此第一漏電測試而測試結束。如果導線通過測試（R π- >5 0K歐姆），導線經歴一第二漏電測試在圔的步 驟3。這裏，頂部導線被接地而從環到頂部的電阻被測量 。如果此電阻又大於5 0 Κ歐姆，導線通過而下個測試被 執行。此測試，亦知名如一 a連續測試〃判定是否在用戶 電話中的電鈐被連接藉測量用戶電鈴的電容。如果電鈐被 連接，導線通過所有測試；如果沒有，導線失敗而一 '' 亦 無電鈐〃的指示被給出。回到步驟3，如果電阻不大於 5 ◦ K歐姆，導線必須被進一步測試以判定是否事實上有 漏電或是否客戶的聽筒被接聽。這些測試圖示於圖的右手 支線中。因此，在下個測試，頂部導線再接地，電阻被測 量由一供應的1 5毫安電流。如果測量電阻不小於6 5 0 歐姆，導線失敗於漏電測試因為接收器不能顯示此電阻如 果聽筒被接聽。如果電阻小於6 5 0歐姆，環到頂部的電 阻再次被測量，因為可能仍有一接聽狀態，但此時由1毫 安電流經由導線。如果電阻不大於200歐姆，導線失敗 拉纸?丨i尺度適用中阈同京《準（「NS)甲4码格（21〇X?97公资） -6 - (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) -装. *訂· _綠_ 219979 A 6 B 6 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 五、發明説明（5 ) 於漏電測試因為，再次，無法有一接聽狀態顯示此電阻。 如果電阻大於200歐姆，導線被再次測試以判定是否電 阻在1毫安時是大於60歐姆大於電阻在15毫安時。如 果是，聽筒被接聽。如果不是，聽筒不可能被接聽而因此 一定有漏電其將導致導線測試失敗。此完成測試程序。 能執行這些測試的一電路實施例顯示於圔3到5。圖 3基本上圖示電路的推動部分。互補式金氧半場效電晶體 開關100及101將輪流被致能來沈1毫安或15毫安 電流，各從頂部及環導線來。開關的輸出提供一 2. 5伏 參考電壓（産生橫過二極體Di )橫過電阻R2及113到 蓮算放大器102的反相輸入。蓮算放大器的非反相輸入 被接地。蓮算放大器的回授迴路包括電阻R7、及 R4及一對達靈頓耦合雙載子電晶體Qi及。為了推 動電壓在蓮算放大器的反相輸入到0伏特，一電流流經電 阻R er及電晶體Q z及CU。此電流被供應經電阻R «到 電路A點其具有一 3 0伏持電壓供應其上。 一參考電流0.1毫安或1. 5毫安被藉此産生視開 關1 0 0或1 0 1何者被致能而定。應用此電流到R s啓 動一 10倍電流鏡其由蓮算放大器103,電阻R9及逹 卺頓耦合雙載子電晶體（^3及〇4所形成。此産生所需1 毫安或1 5毫安電流從導線標記電流源經電阻R 2。到點B 其為3 0伏特。 如圖4所示，在導線電流源的一常數電流的抽取將建 立一電壓Vs在電橋電路的一節點其中電阻及R μ構 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) •裝. •線. 甲 4(210X297公贷）80. 5. 20,000張（Η) 7 — A6 B6 219979 五、發明説明1 61 ί請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 成一腳。另一腳由Rm或Ru形成，視固態繼電器104 或105何者被致能而定，而負載電阻Rλ，由客戶設備 在導線標記頂部及環上形成。頂部導線被連接到連接R24 及R 2 5的節點（檫記V / )經一保險絲F / , —繼電器接 點K;s, —電阻R42及另一繼電器接點。環導線被連 接到節點經保險絲F2，繼電器接點Κκ及電阻R43。電 壓Vi在此節點被與在連接R 25及R/6的節點電壓V2比 較藉由一差動放大器其包括達卺頓耦合雙載子電晶體 及Qs及電阻R,8在一腳，及達靈頓耦合雙載子電晶體 〇3及（^2。及電阻R2C在另一腳中。此差動放大器的輸出 出現如一高或低電壓在導線標記〜COMP 〃上。一常數 電流被抽引經放大器藉一常數電流源其包括雙載子電晶體 Q5及其基極區與電阻共有連接而其射極連接 30伏電壓經電阻R22 (為CU )及R23 (為Q6 )。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 為了執行越區電壓測試（F E M F < 1 0伏），參考 圖3, —個1毫安電流被建立在電流源藉起動開關1〇〇 。此外，繼電器1 0 6被致能以連接一 2 0伏齊納二極體 D 2 ，到相同導線。回到圖4 ,此建立一 V s在導線電流 源上20伏特。由開關104及105同時被失效，V2 將等於1 0伏因為Ri5及Ru相等。頂部及環導線被接在 一起藉關閉繼電器接點K 7 s及K 7 c及打開繼電器接點K 2 。在頂部及環導線的電壓V /被與1 0伏電壓比較藉包含 電晶體-Q,。的差動放大器如前所述。如果Vi < 一 10伏，在差動放大器中的電流將流經Q7 腳而 本紙張尺；用屮Μ闪家堞準（('β)ψ丨川丨7公幣） 8 A6 B6 219979 五、發明説明I7 ) (請先閑讀背面之注意事項再填寫本頁) 在COMP導線的輸出將為高，而如果V2 3—1◦伏， 電流將經Q S — Q i。而輸出將為低。 下個徼漏電測試亦可被執行藉基本上前述電路的相同 部分。因此，在圔2所不的第一漏電測試中（Rr.ii-ciifl 75 OK歐姆），頂部及環導線被再次接在一起藉關閉繼 電器接點K ^及K : c及打開繼電器接點K 2。開關1 ◦ 0 (圖3 )被致能以産生1毫安電流，而開關1 0 6 (圖3 )被失效而開關1 ◦ 4被致能以連接R 2 4，其約為5 0 K 歐姆，到頂部及環導線。因此，電壓V I將大於或等於 V 2如果用戶線路的電阻R i小於或等於5 0 K歐姆，及 ，相反地，V :將小於V 2如果用戶線路電阻，R λ ,大 於50Κ歐姆。如前，如果Vz <V2 ，在差動放大器中 的電流將流經Q 7 — Q s而在C Ο Μ P A輸出將為高，而 如果V z 2 V 2 ，電流將流經Q 3 — Qi。而輸出將為低。 對於第二漏電測試（Rrs>5〇K歐姆），過程相同除了 繼電器接點K 2被關閉以使頂部導線接地。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 對於下個漏電測試（R η < 6 5 ◦歐姆），圖3的開 關101被致能以産生一常數電流15毫安在電流源。開 關1 0 5 (圖4 )亦被致能而開閉1 0 4被失效使得現在 電阻R 〃被連接到環導線（而頂部仍藉繼電器接點K 2接 地）。因為R2 5約為650歐姆，出現在COMP的輸出 ,其比較兩電壓V,及\^2如前述說明，將指示是否在用 戶線上的電阻大於或小於6 5 0歐姆。 為了稍後的測試，電壓V /出現當R 2 5被連接到頂部 本纸張尺中丨ΠΧ297公筇.） -9 - A6 B6 五、發明説明〇 ) Ο 及環被連接到蓮算放大器1 0 7的一輸入藉致能開關 1 1 7。蓮算放大器的輸出被連接到一取樣及保持積體電 路1 〇 8在被電阻R 32及R 分割（在此情形為1 5 )後 。結果電壓被儲存在電容器Cu上以供稍後用。 對於下個漏電測試（Rr«> 2 0 0歐姆），在電流源 的電流返回1毫安而R25繼續被連接到頂部及環導線。結 果電壓Vi仍藉開關1 17連接到蓮算放大器1〇7，但 蓮算放大器的輸出亦被連接到比較器1 0 9的非反相輸入 。比較器比較此輸入與電阻R 3。對Ru的比例，其在此實 施例中約為8、7。由R 3。及Ru連接到一 5伏電壓，比 較器將産生一信號在導線標記、、短路〃上如果R i小於或 等於2 0 0歐姆，而沒有信號將被産生如果Ri大於 2 ◦ 0歐姆。 最後的漏電測試（R / — R ^ > 6 0歐姆）被執行藉 蓮算放器107的此輸出與儲存在電容中的電壓從先 前漏電測試來的其被執行在1 5毫安（R rs< 6 5 0歐姆 )。一參考電壓+2. 5伏被提供給電阻Ra 5從1〇7的 經濟部中央標準局負工消費合作社印製 (請先閑讀背面之注意事硕再瑱寫本頁) • J^:: .線. 輸出減掉電阻60歐姆的相等量。結果信號然後被供應給 比較器1 10的反相輸入，而儲存在電容C』。中的電壓被 供應到非反相輸入經取樣及保持電路10 8。如果在反本目 (一）輸入的信號小於在非反相（+ )輸入的信號，一信 號將出現在導線標記R Ο Η以指示聽筒被接聽。如果信號 在反相輸入大於或等於在非反相輸入的，沒有任何^纟虎Μ 出現在R Ο Η ,因此指示問題為漏電。 G Ρ 小-q 'rwu rWK ] ： ” a - 10 - 219979 Α6 Β6 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 五、發明説明ί 9 ) 對於客戶線上電鈐出現的測試藉測量頂部及環間的電 容達成。此測試使用高電壓其藉採取振鈐供應（一交流信 號大約2 0赫玆其持續被供應給圔3的導線2 0赫玆〃 )獲得且藉二極體D 3整流它以儲存二大約一1 2 0伏的 電壓在電容C3上。此電壓被放電到電流源上藉致能開關 112而傳遞到負載的能量被Ru限定以防止電話不期然 鈐饗。此電壓充電電容，Ci ,在客戶線上（圖4)經電 阻R 2 5藉啓動開關1 0 5。齊納二極體D 4及D 5限制儲 存在線上的電壓到一 75伏。此大電壓（一 75伏）用來 允許足夠充電被儲存在電子電鈐上其具有齊纳二極體與電 容串聯。同時，參考電容Cie&Ce亦被充電到相同電壓 V s藉致能開關1 1 1。當開關1 1 2，1 0 5及1 1 1 被失效，電容被從電壓V s中斷連接。致能開關1 1 7導 致電鈴電容，Ci，放電經電阻R2e及R27其具有一約 50K歐姆的組合電阻。同時，參考電容0^及〇8將放 電經電阻Ru其亦約略等於50K歐姆。在一特定時段後 ，通常約為1 0毫秒，電壓V 2及V 2藉比較器元件被比 較如前述說明。如果V2大於,有一電鈐在線上。 亦需要在一此型測試電路中保証沒有任何過度交流或 正電壓在頂部及環導線上其能損害電路組件。因此，電路 亦提供一機構用來預篩分頂部及環導線對於高電壓在前述 測試順序之前。此預篩分藉設計頂部及環導線路徑經圖4 繼電器接點Ku及Κκ及電阻R〇, R47，及R〇, R45 到導線HV來完成。任何正電壓在HV上將被反相成一負 (請先閑讀背面之注意事項再填寫本頁) .51. -綠. Μ气茯汉rtl n +fl屮内习京浮準（「NS) v U W 21 η X ?97公兮） -11 A 6 B6 219979 五、發明説明：1Q) {請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 電壓藉圖5的反相器1 20。亦如圖5所示，任何交流信 號的尖峰值或直流信號將出現如一負電壓VP被供應到比 較器1 14的反相（一）輸入。此電壓，V/> ,與在非反 相（+ )輸入由電阻。産生^電壓比較被連接到 一 5伏電源。因此，如果在頂部及環的電壓絶對值大於 10伏恃，比較器1 14的輸出産生一旗標（預篩分）在 可程式化陣列邏輯（P A L )晶片1 1 5上而測試將被終 止。 如圖5中所示，在COMP導線上從前述使用包 •訂. -線_ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 j 括圖4的Q r到Q i。的比較器的測試來的信被連接到比較 器1 1 3以提供增益及轉換到一邏輯階信號在導線 COMP 1 N上其可被使用藉亦可程式化陣列邏輯1 1 5 。該信號與前述産生在聽筒被接聽，預篩分，及短路導線 上的信號皆被供應到可程式化陣列邏輯115的輸入部分 。測試結果出現如一位元在每個輸出引線D T R 1、 DTR2、及DTR3。導線DT DONE代表一測試 被完成。輸出導線的剩餘部分被各連接到電路開關之一如 所示。導線標記繼電器1及繼電器2操作，各別地，繼電 器K u及Κ 2 λ其被伴隨，各別地，與圖4繼電器接點 K〃、K:c、及Κ2。一單穩態振盪器1 16亦被連接到 可程式化陣列邏輯以調整可程式化陣列邏輯的正常時鐘在 電鈴測試來産生1 ◦毫秒週期為取樣放電電容期間。

..V 從^程式化陣列邏輯1 1 5的輸出然後被連接到圖1 的資料鐽2 1 ,在遠隔終端。此資料鏈被更詳細圔示在圖 6的方塊圔中。如所示，投落測試模模2 ◦被一微處理器 <η ^ ^ Ml x\f -v] ^ -¾ ί 一 12 — 219979 A6 B6 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 五、發明説明I 11 ) 2 0 1控制其起始測試藉提供一信號在測試引線上經一 P4 鎖2 0 2在接收一指令（測試碼）從中央局如正常數位串 的部合在資料匯流排2 0 8上後。此指令，與一確定信號 (0TR) —起從遠處終端來，被連接、!1微處理器2 0 1 經閂鎖2 1 ◦且指示那一個通道單元2 0 3要被測試。測 試模組被連接到投落導線經通道單元2 0 3服務用戶當一 繼電器Kua被操作來關閉接點時。此繼電器被操 作當微處理器201傳送一信號經閂鎖212及繼電器推 動器2 13其被連接到繼電器。（那將被瞭解卽僅有一個 繼電器推動器及繼電器被顯示，但典型地每個通道單元有 —個。）模組的測試結果被傳輸如分離位元在引線 DTR1， DTR2及DTR3上到撒處理器201經一 閂鎖2 0 4。測試位元然後被與其它資料一起傳送到分開 閂鎖2 0 5 , 2 0 6及2 0 7到資料匯流排2 0 8上。一 多工器2 0 9框住資料位元及擾頻信號根據知名技術。信 號然後被連接到一標準光/電子介面2 2，其包含一雷射 及光偵測器，用於光傳輸到遠處終端。光資料信號被傳送 藉經由圖1的光鍵結17從圔1的遠隔終端到光/電子界 面24及資料鏈2 3在遠處終端。 如更詳細圖示在圖7的方塊圖中，遠處終端轉換光信 號成為一電子信號藉由一標準光/電子界面電路以24表 示。信號被連接到一標準保護電路，由方塊3 0 2表示， 且供給一斜補償器3 0 3以設定到來的資料到時鐘（未示 出）在遠處終端上。斜補償器可為包括一可程式化陣列邏 K -ϋ ήι ri] ^ I \ ：·.}. f fVs ) ψ .} \V, ^ ( ° ] Π V ?〇7 /Λ ) f請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) •裴· •打· .線· -13 - A6 B6 219979 五、發明説明（12 ) 輯晶片的型式其被說明在美國專利编號4、 839、 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂· •線· 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 907中。此信號然後被去掉擾頻藉標準機構304,例 如一定製積體電路晶片其為多工器/解多工器3 0 9的部 分，且連接到可程式化陣列邏輯晶片34 5其選出關於投 落測試的位元且産生它們在線路標記R L Y 1 , R L Y 2 及R L Y 3上。這些位元被連接到一標準繼電推動器 3 0 6其操作繼電器接觸K4 a到K7A。這些繼電器操作接 觸 K<B、Ksfl、Kes、K7fl、K<C、Ksc、Kec·、及 K7C 圖示於圖8中。（接觸的第一個數字相同於對應的繼電器 的第一値數字。）圖7亦圔示從遠處終端到遠隔終端的通 信路徑。一背面存取電路307解碼及翻譯從中央局來的 數位信號。此位元串，其包括一指令（測試碼）從中央局 來以測試一通道單元，被放到匯流排3 1 1上且傳送經由 一可程式化陣列邏輯晶片3 0 5到匯流排3 1 2上到多工 器/解多工器電路3 0 9。此電路的部分包括一擾頻電路 3 1 3。擾頻信號被連接到光/電子界面24且送到遠隔 終端。回頭提到背面電路307,測試碼亦被選擇到來的 資料且送到一觸排控制器單元（BCU) 308。觸排控 制器單元決定是否測試應該發生。如果測試將進行，一確 定信號（Ο T R )藉觸排控制器單元經背面電路送到引線 3 1 ◦上到可程式化陣列邏輯其中信號被組合與到來的其 它信號在匯流排3 1 2上用於傳輸到遠隔終端。 圖8的電路為遠處终端頂部到環電阻三角到中央局基 於其接觸被打開或關閉藉從投落測試來的資料。電阻 木紙張尺哼；1用卡^ 3 Ψ 公饪） -14 — 219979 C6 ___D6 _ 五、創作説紀（) R/。。及Ri。5産生常數環到地及頂部到地電阻其，在此 實施例中約為9 1 K歐姆。電阻其在此實施例中約 為1 8 K歐姆，提供一極小電阻不考慮測試結果。電阻 Rki、1^。2及Ri。：》,其在本實施例中各為40K、 2〇K、 10K歐姆，將被連接在頂部及環間或被短路各 視開關K5C、仄7。及1<6(：而定，其正常為關閉以短路這些 電阻。下表說明一從投落測試模組來的3位元訊號如何能 指示不同測試狀態基於不同電阻連接的實施例。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝< 訂' 經濟部中央標準局印製 甲 4(21 Οχ 297公货） -15 - 219979 A6 B6 五、發明説明（14) 表 位元訊息 狀 態 開關打開 電 阻連接 f 0 0 1 沒有投落 測試模組 K 5C 及 RjtOJ 0 10 通過 K 7 C R!04 及 Rl02 0 11 沒有電鈴 K 6 C及 K 7C R 2 0 4 , R 1 0 3 及 R ! 0 2 10 0 FEMF/ 漏 電 K 5 C 及 R202 10 1 話筒被 接聽 K 6C及 K 5 C R i 〇 4 , R i 0 i 及 R i 0 3 {锖先閔讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝. .打· -綵. 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 表中的第一狀態代表沒有任何投落測試模組可用。如 果在遠隔及遠處終端間的光鏈結不能正確工作，一開路將 披呈現結中央局藉打開開關1<6^及1^7«。 那將被清楚瞭解，此間給的電路元件的許多值為舉例 而可根據特別需定改變。#多其它附加及修正亦將變得清 - ______ - 16 — ΜΆ CT.q π 阀文丰ΐ!7 ΐ1,1 公…）一...:...*........ - 219979 A6B6 五、發明説明I 0楚對於那些純熟於本技術的人。所有此種變化其依靠傳授 經由其本發明已提升本技術被適切地考慮在本發明範圍内 (請先聞讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準局員工消費合作杜印製

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Claims (1)

1. A B c D 213979 六、申請專利範® 1.一種數位迴路傳輸糸統包含： (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 一中央局終端（1 1 ); _遠處終端（1 2)被光接及電接到中央局終辆； 一遠隔終端（16)被光接到遠處終端；及 其特徵為 機構（2 0及2 1 )在遠隔終端中用來測試延伸超過 遠隔終端的電線且用於光傳輸該測試結果到遠處終端。 2 .如申請專利範圍第1項之条統尚包含機構（例如 ，Ksc、Kec、Krc 及 Ri。；、Ri〇2、R/OJ )在遠處 終端中用來轉換該結果成為特徽電阻其可藉一迴路測試器 電存取。 3 .如申請專利範圍第1項之糸統其中測試機構包括 機構（圖3及圖4 )用於偵測在導線中的漏電，一連接導 線的電鈐電路的存在及連接導線的設備的接聽狀態。 4 .如申請專利範圍第3項之条統其中測試機構包括 機構（100, 10 1)用來産生一兩不同值的常數電流 及機構（例如，104, 105, R/5, R24, 經濟部屮央櫺準局只工;/;#合作社卬於 R 2 5 , Q 7到Q i。）用來判定導線的電阻在這值上。 5 .如申請專利範圍第1項之糸統其中測試機構包括 一電橋電路（R:5, Ru, R24, R23)用來比較導線上 電阻與一已知電阻。 6.如申請專利範圍第1項之条統尚包含機構（20 1 )用來産生包含一預設位元長以回應該測試的一資料信 號及用於組合該信號與其它從遠隔終端來的資料其用來傳 t!：j^ - :^； λ； -c： ί- ΐ ff'vs> ^!!'I ^·;f x297) 一 ,,y 一 經濟部屮央標平局W工消费合作社印31 ^19979 ΕΊ ci ___D7 六、申請專利範園 輸到遠處終端。 7.如申請專利範圍第1項之条統其中特徽電阻由一 電阻三角産生（圖8)其包括固定電阻（Ru。及只〃5 )在每値導線及地間，及一在兩導線間f的可變電阻。 8 .如申請專利範圍第7項之糸統其中可變餐阻是由 多個串連在兩導線間的電阻（R』。：到R ,。3 )及並連每 個電阻的値別開關（仄3。到？[7(：)産生，該開關可回應於 由測試機構傳輸的信號以電接一個或多個在兩導線間的該 電阻。 9 . 一種電路用於電測試一對導線， 其特徵為 電路機構（100, 10 1)用來産生一具有至少兩 個值的常數電流； 一電橋電路（R^, RiS, R24, R25)具有至少兩 腳及包括用來比較電路兩腳上的電壓值的機構（Q r到 Q. I 〇 );及 機構（Κ^, Κα, κ2’）用來連接至少一値該導線 到電橋電路的一腳。 10.如申請專利範圍第9項之電路尚包含開關機構 (1 04, 1 05),用來選擇性地連接兩電阻（R R 2 5)到連接至少一個該導線的電橋電路的腳。 1 1 .如申請專利範圍第9項之電路尚包含機構（例 如，R4^jR47, 120, 114)用來比較橫過導線的 電壓值與一預設最大值在連接至少一個該導線到電橋電路 ί'：ίι； I'J ：'； ;ί'·ίΓΝί; γ^ϋ'χ^ίϊΤ^ί?-) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) -裝. .線， 7 7 7 7 A B c D 219979 六、申諳專利範a 之前。 12. 如申請專利範圍第9項之電路尚包含機構（1 15)用來産生一具有預設位元長的數位輸出信號，該信 號基於至少部分在比較機構的輸出上。 13. 如申請專利範圍第9項之電路其中用於産生一 常數電流的電路機構包括一蓮算放大器（102)其一輸 入接地而另一輸入連接到一參考電壓源，及一連接該另一 輸入的回授迴路包括一對雙載子電晶體（Qi , )及 一電阻（Re )經由其一常數電流被吸引當該電晶體被致 能時。 14. 如申請專利範圍第13項之電路其中參考電壓 源被選擇性提供經由一對開關（100, 101)具有不 同電阻（R2 , R3 )在開關的輸出。\ 15. 如申請專利範圍第9項之電路其中用於比較電 壓的機構包含一差動放大器具有兩腳且包括達靈頓耦合雙 載子電晶體（Q 7 , Q 8及Q 3，Q /。）及一電阻（R , β 及在不同腳中，每値腳被連接到一電流源（Q5 , Q 6 ) Ο 17.如申請專利範圍第10項之電路尚包含機構（ C〃）用來儲存在電橋電路的一腳上産生的電壓當該兩電 阻之一被連接其上時。 16 .如申請專利範圍第9項之電路尚包含機構（1 0 6 )用來連接一特別崩潰電壓的齊納二極體（d 2 )到 電橋電路的一胞I。 S ；：'· ；!] l>.\ J',J -y： 1.^ (- ! ：! ί -； r ^ ： χ 9〇7 -：；; ) - >〇- ............................·:」...................裝..............................訂…」.....................線 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部屮央標準而=;工消#合作社印^ 9 7 9 9 21 A B c D 六、申請專利範围 18.如申請專利範圍第17項之電路尚包含一蓮算 放大器（107)其一輸入經一開關（1 17)連接電橋 電路的一腳而另一輸入連接到一對電阻以産生一信號如果 導線電阻大於一預設值。 ^ 1 9.如申請專利範圍第1 8項之電路尚包含一比較 器元件（1 10)其一輸入連接到該蓮算放大器的輸出而 另一輸入連接到該電壓儲存機構。 20.如申請專利範圍第9項之電路尚包含參考電容 (Ce , C")經由一開關（1 1 1)被連接到該電橋電 路的一節點，機構（1 12)用於充電該電容及任何在導 線上的電容到相同電壓，及機構（1 17, R〃，R2 7及 用來放電該電容及在線上的該電容使得儲存的充電 量藉電橋電路的比較機構比較。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部中央標準工消费合作社印1表