KR100195858B1 - 화소 센서 회로의 테스트가 가능한 이미지 센서 어레이 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 화소 센서 회로의 테스트가 가능한 이미지 센서 어레이에 관한 것으로, 어레이에 인가되는 이미지 조도가 있든 없든 간에 전기적으로 테스트될 화소 센서 회로를 인에이블 시키는 이미지 센서 어레이 구조를 제공하기 위한 것이며, 행렬로 배열된 화소 센서 회로를 가진 2차원 이미지 스캐너 어레이에서, 상기 화소 센서 회로를 테스트 하기 위한 장치에 있어서 선택가능한 테스트 전압원을 제공하는 리셋 전원 공급 수단; 화소 센서 회로내의 감광소자의 동작 전압을 상기 리셋 전원 공급 수단으로부터의 테스트 전압으로 리셋하기 위한 리셋 수단; 화소 센서 회로에 대한 전압 공급 수단; 및 상기 감광소자로의 테스트 전압의 인가에 응답하여 화소 센서 회로의 출력을 감지하기 위한 감지 수단을 포함한다.

Description

화소 센서 회로의 테스트가 가능한 이미지 센서 어레이
제1도는 종래의 이미지 어레이 초점면 스캐너 및 어레이에서의 화소 센서 회로도.
제2도는 본 발명의 일실시예에 따른 제어가능한 테스트 전압이 리셋 FET를 통해 광다이오드 역바이어스로 인가되도록 되어 있는 본 발명의 일실시예의 개략도.
제3도는 제어 테스트 전압이 칼럼 라인 및 리셋 트랜지스터를 통해 인가되는 칼럼 라인을 갖는 화소 센서 회로의 개략도.
제4도는 제2도 및 제3도에 사용된 리셋 및 로우 억세스 신호 사이의 관련 타이밍을 설명하는 타이밍도.
제5도는 리셋 및 로우 억세스 신호를 발생하는 타이머 회로의 개략도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
30, 50 : 리셋 전원 공급 장치 34 : 화소 센서 회로
38, 58 : 광다이오드
본 발명은 개선된 이미지 센서 어레이(image sensor array)에 관한 것으로 , 특히 각각의 화소 센서 회로 내의 감광소자에 인가되는 제어가능한 리셋 전압 신호를 이용하여, 어레이 내의 화소 센서 회로가 테스트될 수 있는 그런 이미지 센서 어레이에 관한 것이다.
일반적인 초점면 이미지 스캐너(scanner) 어레이는 이 분야에서 사용 되는 바와 동일한 방식으로 테스트 된다. 이미지 스캐너는 특정한 빛의 세기를 가진 이미지가 인가되고, 이미지 스캐너의 각 로우(row)는 각 화소의 위치에서 화소 센서 회로에 의해 검출되는 광전(photoelectric)신호의 강도를 측정하기 위해 판독된다. 따라서, 이차원 센서 어레이에서 센서를 테스트 하기 위해서는, 어레이의 각 로우에는 테스트에 요구되는 상이한 조도 레벨로 빛이 조사되어야 하며, 각 호소 센서는 각각의 조도레벨에서 판독되어야 한다. 알수 있는 바와 같이, 이것은 어레이로부터 신호를 판독하는 데 있어서의 정밀도 뿐만 아니라 조도에서의 정밀도를 요하는 시간-소비절차(time-consuming process)이다.
제1도는 종래 어레이의 간단한 설계를 도시한다. 이 어레이는 칼럼(COLUMN A 내지 COLUMN N) 및 로우 (ROW 1 내지 ROW n)를 갖고 있다. 따라서, 각 화소 센서 회로는 칼럼을 나타내는 문자 및 로우를 나타내는 숫자로 표현될 수 있다. 따라서, 두 번째 칼럼, 두 번째 로우에 있는 화소 감지 회로는 B2로 나타내어진다.
각각의 화소 센서 회로는 제1도의 칼럼라인(10,12 또는 14)에 연결되어 있다. 각 칼럼 라인은 화소 센서 회로, 예를 들어, 부하 전계 효과 트랜지스터(이하 FET라 함)(16)를 통하여 칼럼 라인 (10)상의 A1에 의해 구동된다. 부하 FET는 칼럼 라인에 소정의 저항을 제공하도록 전압 (VL)에 의해 바이어스 된다. 화소 센서 회로의 출력은 칼럼 라인으로부터 유도되며, 부하 FET에 걸리는 전압 강하가 된다.
이런 형태의 어레이를 판독하기 위해, 부하 억세스 구동라인 (ROW 1 내지 ROW n)은 순차적으로 인에이블된다. 다음에는, 인에이블된 로우 억세스 라인에 의해 구동되는 로우에서 그 칼럼에 있는 화소 센서에서 감지되는 조도를 검출하기 위해 각 칼럼 라인의 부하 FET에 걸리는 출력 전압을 측정한다.
간단한 화소 센서 회로를 제1도의 A1 화소 센서를 참조하여 설명한다. 이 화소센서는 노드 20에서의 전압을 FET(18)에 걸리는 전압보다 적은 VDD로 만들도록 리셋 신호에 의해 리셋 FET(18)를 인에이블시킴으로써 동작한다. VDD는 일반적으로 3-5볼트이고 FET(18)에 걸리는 전압 강하는 약 7/10볼트이다. 그러므로, 광다이오드(22)는 노드 20에서의 전압에 의해 역바이어스된다. 광다이오드(22)에 빛이 조사되면, 광다이오드(22)의 접합에 걸리는 전하는 방전되고 노드 20에서의 전압은 강하된다. 광다이오드(22)를 소정 시간 빛에 노출시킨후에 노드 20에서의 전압이 광다이오드(22)에 의해 검출되는 빛의 세기의 측정값이 된다.
칼럼 라인(10)에서 부하 FET(16)과 함께 FET(24)는 부하 FET(16)에서의 출력 라인(26)상에서 노드 20에서의 전압에 비례하는 전압을 출력하기 위한 소스 폴로워(source follower) 회로로서 동작한다. 화소 센서 회로(A1)는 FET(28)를 인에이블시키는 신호 ROW 1에 의해 선택된다. FET(28)는 단순하게 부하 FET(16)에 의해 제공되는 부하 저항을 갖는 FET(24)로 구성되는 소스 폴로워 회로에서 스위치로서 동작을 한다. 소스 폴로워 회로의 소신호(small-signal) 이득은 약 0.85이다.
전술한 바와 같이, 과거에는 제1도에서의 화소센서는 각 센서를 리셋하고 센서 어레이내의 광다이오드(22)에서의 일련의 테스트시 상이한 조도 레벨을 제공함으로써 테스트되었다.
이것은 실현가능하긴 하지만, 복잡하고 테스트하는 동안에 제공되는 조도의 상당히 정밀한 제어가 요구된다.
따라서, 본 발명의 목적은 어레이에 인가되는 이미지 조도가 있든 없든 간에 전기적으로 테스트될 화소 센서 회로를 인에이블시키는 이미지 센서 어레이 구조를 제공하는 것이다. 본 발명에 따르면, 전술한 목적은 테스트 저압의 선택가능한 레벨에서 광다이오드에 걸리는 역바이어스를 설정하기 위해 제어가능한 전압을 갖는 리셋 FET를 구동함으로써 실현된다. 이런 방식으로 어레이내의 각화소 센서 회로는 요구되는 조도의 양을 수신했던 것처럼 테스트될 수도 있다.
본 발명의 다른 특징으로서, 리셋 트랜지스터에 대한 구동전압은 칼럼 출력 라인을 통해 제공된다. 어떤 로우 억세스 인에이블 신호도 어레이에 인가되지 않을 때 칼럼 라인에는 제어가능한 테스트 전압이 인가될 수 있다. 이 상황에서 칼럼 라인 소스 폴로워 회로는 로우 억세스 FET들에 의해 억제된다. 따라서 별도의 테스트 전압이 리셋 스위치를 통해 칼럼 라인으로 구동될 수 있고, 또한 호소 감지 리셋 트랜지스터를 통해 화소 센서 광다이오드로 연결될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징으로서, 칼럼 라인으로 구동되는 가변 리셋 전압은 병렬로 연결된 P채널 FET 및 N채널 FET를 사용함으로써 접지와 화소센서에 대한 정상 바이어스 전압 VDD사이에서 변화될 수 있다.
본 발명의 큰 장점은 화소 센서 회로가 광다이오드에 걸리는 어떠한 역바이어스 전압으로도 설정될 수 있고, 따라서 화소센서의 조도가 정혹하게 제어될 필요 없이 회로가 쉽고 빠르게 테스트될 수 있다는 것이다. 본 발명의 다른 장점은 칼럼 라인으로 인가되느 가변 테스트 전압에 의해 구현될 때 이미지 어레이 스캐너를 구성하는 집적 회로에 추가적인 전압 또는 테스트 라인을 설치할 필요가 없다는 것이다.
제2도에 도시된바와 같은 본 발명의 제1실시예에 있어서, 가변 리셋 전원 공급 장치(30)는 각각의 화소 센서 회로(34)내의 리셋 FET(32)를 구동시키는 데 사용된다. 노드 36은 리셋 전원 공급 장치(30)로부터의 전압 제어를 기반으로 회로를 테스트하기 위해 요구되는 전압으로 설정될 수 있다. 광다이오드(38)은 그 동작 능력을 테스트하기 위해 빛을 받게 되지만, 셀(34)을 테스트하기 위한 바람직한 방법은 단순히 리셋 전원 공급 장치(30)로부터, 접지 전압고 노드 36에서 의 전압 VDD사이에서 변화되는 테스트 전압을 제공하는 것이다.
제4도에 도시된 바와 같이, 각 테스트 사이클 동안에 리셋 신호(41)는, 리셋 FET(32)를 인에이블시켜 리셋 전원 공급 장치(30)로부터의 테스트 전압이 노드(36)로 인가될 수 있도록 한다. 소정의 시간 간격 T1이후에 제4도의 로우 펄스(43)는 로우 FET(40)를 인에이블 시키게 된다. FET(42) 및 부하 FET(44)로 구성된 소스 폴로워 회로는 노드 36에서의 전압에 비례하는 출력 전압을 노드 46에서 발생한다. 이런 방식으로, 각각의 리셋(RESET) 및 로우(ROW) 펄스 사이클 동안에 노드 36에서 상이한 리셋 전원 공급 장치의 테스트 전압을 인가함으로써 접지와 노드 36에 인가되는 VDD사이의 어떠한 전압에 대해서도 화소 센서 회로(34)의 동작이 테스트 될 수 있다. 상기 리셋 신호와 로우 신호는 제5도에 도시된 바와 같이, 어드레스 디코드 및 타이머 회로(45)에 의해 어드레스 와 클럭 신호에 기초하여 발생된다.
리셋 펄스(41)와 로우 펄스(43)간의 시간간격 T1는 광다이오드(38)를 테스트하려는 요구가 있을 경우 광다이오드(38)에 인가되는 빛의 세기를 적분하기 위한 적분 시간으로 사용될 수 있다. 그러나, 회로의 바람직한 응용에 있어서는, 광다이오드(38)가 빛의 조사를 받지 않고, 다양한 테스트 전압이 리셋 전원 공급 장치(30)로부터 리셋 트랜지스터(32)를 통해 노드 36으로 직접 인가되는 것이다. 이와 같은 테스트 동작에 있어서는, 펄스(41 및 43)간의 간격이 T1이 가능한한 짧아질 수 있으며, 대략 수 나노초(nanoseconds) 정도가 되게 된다. 리셋 펄스(41)와 로우 펄스 (43)의 지속시간(duration)은 회로내의 전압이 안정될 수 있도록 충분히 길어야 된다는 것외에는 임계적이지 않다.
제3도에 도시된 본 발명의 다른 실시예에 있어서, 리셋 전원 공급 장치(50)로 부터의 테스트 전압은 칼럼 라인(52)를 통해 인가된다. 리셋 FET(54)는 칼럼 라인과 노드 56사이에 연결된다. 리셋 펄스(41)와 로우 억세스 펄스(43)는 제2도를 참조하여 전술한 바와 같이, 시간 간격 T1만큼 이적되어 있다. 따라서, 리셋 펄스가 제공되면, 리셋 전원전압이 칼럼 라인(52)에 인가되고 리셋 FET(54)를 통해 노드 56으로 인가된다. 이 때, 로우 억세스 FET(60)는 도통되지 않는다. 광다이오드(58)가 리셋펄스 동안에 노드 56에 인가되는 테스트 전압에 의해 역바이어스 된 후에 ,로우 억세스 펄스(43)는 로우 FET 스위치(60)를 인에이블 시키고, 리셋펄스가 없으면 리셋 전원 공급 스위칭 트랜지스터들(68 및 69)이 억제되게 된다. 부하 FET(64)는 FET(62)와 함께 소스 폴로워 회로로서 연결되게 되고, 출력 노드 (66)에서의 전압은 노드 56에 인가되는 테스트 전압에 비례하게 된다.
제2도 및 제4도를 참조하여 전술한 바와 같이, 리셋 및 로우 억세스 펄스(41 및 43)는 빛이 광다이오드(58)에 인가되는 동안에 펄스 (41 및 43)간의 시간 간격을 조정함으로써 광다이오드(58)를 테스트하는 조도를 제공하기 위해 제 3도에 도시된 실시예에서 사용될수 있다. 선택적으로 시간 간격은 실질적으로 0까지 줄일 수 있고 로우 펄스(43)는 확장될 수 있다. 출력 신호는 광다이오드에 인가되는 최대의 빛으로 시간상의 연속적인 지점에서 표본화 될 수 있다. 각 표본화 시간에서 광다이오드에 걸리는 전압은 다른 전압으로 감쇠되게 된다. 따라서, 각 표본화 시간에서의 판독은 감지 회로내의 광다이오드에 걸리는 새로운 테스트 전압의 판독으로 이루어질수 있다. 그러나, 제3도에 도시된 실시예에 있어서의 바람직한 테스트는 리셋 및 로우 펄스를 주기적으로 순환시키고, 각 사이클에서 리셋 전원 공급 장치(50)로부터 상이한 테스트 전압을 제공하는 것이다.
제3도에 도시된 실시예의 또 다른 특성은 리셋 전원 공급 전압을 칼럼 라인(52)으로 전달하기 위해 병렬로 구성된 N채널 FET(68) 및 P채널 FET(69)를 사용한다는 것이다. 이 구성은 FET에 걸리는 전압에서 드레인-소스 전압 강하와 관계없이 테스트 전압이 접지와 VDD사이의 어디에서나 설정될수 있도록 허용한다. 동작중에 접지 전압으로부터 VDD에서 FET 전압 강하를 뺀 전압까지의 전압이 N채널 FET(68)을 통해 제공된다. FET양단의 전압강하와 VDD사이의 전압이 P채널 FET(69)를 통해 제공될 수 있다. 따라서, N채널 및 P채널 FET의 병렬 사용으로 접지와 VDD간의 전압이 칼럼 라인(52) 및 리셋 FET(54)에 인가될수 있다. 본 발명의 범위는 다음 청구 범위에 의해 정의 된다.

Claims (20)

  1. 행렬로 배열된 화소 센서 회로를 가진 2차원 이미지 스캐너 어레이에서 , 상기 화소 센서 회로를 테스트 하기 위한 장치에 있어서, 선택가능한 테스트 전압원을 제공하는 리셋 전원 공급 수단; 화소 센서 회로내의 감광소자의 동작 전압을 상기 리셋 전원 공급 수단으로부터의 테스트 전압으로 리셋하기 위한 리셋 수단; 화소 센서 회로에 대한 전압 공급 수단; 및 상기 감광소자로의 테스트 전압의 인가에 응답하여 화소 센서 회로의 출력을 감지하기 위한 감지 수단을 포함해서 이루어진 화소 센서 회로 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서, 한 로우내의 각 화소 센서 회로를 그 화소 센서 회로의 칼럼 라인에 전기적으로 연결하기 위한 로우 억세스 수단을 더 포함하고, 상기 리셋 수단은 제 1 시간에서 테스트 전압을 리셋하고, 상기 로우 억세스 수단은 상기 제 1 시간에 후속되는 제2시간에서 화소 센서 회로를 상기 칼럼 라인에 연결하므로써, 상기 리셋 수단 및 로우 억세스 수단이 반복적으로 순환되어 화소 센서 회로의 연속적인 테스트를 제공하는 것을 특징으로 하는 화소 센서 회로 테스트 장치.
  3. 제2항에 있어서, 상기 리셋 수단은, 테스트 전압을 칼럼 라인으로 인가하기 위한 리셋 전원 공급 수단; 리셋 신호가 존재하는 동안에만, 상기 리셋 전원 공급 수단을 칼럼 라인에 연결하기 위한 스위치 수단; 및 상기 리셋 신호가 존재하는 동안에만, 상기 칼럼 라인으로부터의 전압을 감광소자로 셋트하기 위한 리셋 스위치를 포함하는 것을 특징으로하는 화소 센서 회로 테스트 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 스위치 수단은, 각 반도체 소자에 걸리는 전압 강하와 관계없이 테스트 전압의 전체 범위를 전달하는 스위치를 제공하기 위한 병렬 연결된 P채널 반도체 소자 및 n 채널 반도체 소자를 포함하는 것을 특징으로하는 화소 센서 회로 테스트 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 리셋 수단은 테스트 전압을 칼럼 라인으로 인가하기 위한 리셋 전원 공급 장치; 상기 리셋 신호가 존재하는 동안에만 상기 리셋 전원 공급 수단을 칼럼 라인에 연결시키기 위한 스위치 수단; 및 상기 리셋 신호가 존재하는 동안에만 칼럼 라인으로부터의 전압을 감광소자로 셋트하기 위한 리셋 스위치를 포함하는 것을 특징으로하는 화소 센서 회로 테스트 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 스위치 수단은, 각 반도체 소자에 걸리는 전압 강하와 관계없이 테스트 전압의 전체 범위를 전달하는 스위치를 제공하기 위한 병렬 연결된 p채널 반도체 소자 및 n 채널 반도체 소자를 포함하는 것을 특징으로하는 화소 센서 회로 테스트 장치.
  7. a) 화소 센서 회로에 전원전압을 제공하는 단계; b) 화소 센서 회로내의 감광소자에 걸리는 동작 전압을 상기 전원 전압과 다른 테스트 전압으로 리셋하는 단계; c) 감광소자에 걸리는 동작 전압이 상기 리셋 단계에 의해 테스트 전압으로 리셋된 후에 감광소자에 걸리는 동작 전압을 출력 라인으로 구동시키는 단계; 및 d)감광소자에 걸리는 동작 전압에 비례하는 출력 테스트 신호를 출력으로부터 제공하는 단계를 포함해서 이루어진 것을 특징으로 하는 초점면 이미지 스캐너 어레이 테스트 방법.
  8. 제 7항에 있어서, e)감광소자에 걸리는 동작 전압을 출력 라인으로부터 전기적으로 분리시키도록 구동 단계를 오프시키는 스위칭 단계; f)테스트 전압을 출력 라인에 인가하는 리셋 단계; g)리셋 동작 전압으로서 출력 라인을 통하여 감광소자 양단에 테스트 전압을 인가하기 위한 제 2 스위칭 단계; 및 h)상기 제 2 스위칭 단계후에, 상기 제 2 스위칭 단계를 억제시키고, 상기 리셋 동작 전압을 출력 라인으로 구동시켜 상기 단계 d)가 출력 테스트 신호를 제공하도록 상기 구동 단계를 인에이블 시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초점면 이미지 스캐너 어레이 테스트 방법.
  9. 제8항에 있어서, 연속적인 테스트 사이클에서 상기 단계 e) 내지 상기 단계 h)를 반복하는 단계와 각 테스트 사이클에서 상기 리셋 단계에 의해 제공되는 테스트 전압을 변화시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초점면 이미지 스캐너 어레이 테스트 방법.
  10. 제7항에 있어서, 연속적인 테스트 사이클에서 상기 단계 b), 내지 상기 단계 d)를 반복하는 단계; 각 테스트 사이클에서 상기 리셋 단계에 의해 제공되는 테스트 전압을 변화시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초점면 이미지 스캐너 어레이 테스트 방법.
  11. 다수의 화소 센서 회로를 가진 이미지 스캐너 어레이에 있어서, 각각의 화소 센서 회로는, 리셋 전압에 의해 역바이어스되는 광다이오드; 상기 광다이오드에 걸리는 전압에 대응하는 동작 신호에 비례하는 출력 신호를 구동시키기 위한 소스 폴로워 전계 효과 트랜지스터 회로; 상기 소스폴로워 회로에 동작 전원을 공급하기 위한 전압 공급원; 상기 전압 공급원과 별도로, 리셋 전압으로서 테스트 전압을 제공하기 위한 리셋 전압원; 리셋 전압을 광다이오드에 역바이어스로 인가하기 위한 리셋 전계 효과 트랜지스터; 및 광다이오드 양단에 동작 전압으로서 테스트 전압을 인가하도록 리셋 전계 효과 트랜지스터를 우선 인에이블 시키고, 그후에 동작 전압에 비례하는 출력 신호를 구동시키도록 소스 폴로워 회로를 인에이블 시키기 위한 타이머를 포함해서 이루어진 이미지 스캐너 어레이.
  12. 제11항에 있어서, 상기 타이머는 다수의 연속적인 테스트 사이클을 제공하도록 리셋 트랜지스터의 인에이블 및 소스폴로워 회로의 인에이블을 주기적으로 반복하고, 상기 리셋 전압원은 각 테스트 사이클마다 상이한 테스트 전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 이미지 스캐너 어레이.
  13. 제11항에 있어서, 상기 다수의 화소 센서 회로내의 상기 소스폴로워 회로는 출력 신호를 상기 센서 회로에 의해 공유되는 공통 출력 라인으로 구동하고, 상기 리셋 전계 효과 트랜지스터는 상기 타이머에 응답하여, 제1시간 간격에서 리셋 트랜지스터 및 상기 공통 출력 라인을 통해 상기 리셋 전압을 상기 광다이오드로 인가하고, 상기 어레이는, 상기 타이머에 응답하여 제1 시간 간격에 뒤따르는 제2 시간 간격에서 소스 폴로워 회로를 인에이블 시켜, 리셋 전압이 제1시간 간격동안에 공통 출력 라인을 통해 인가되고 출력신호가 제2시간 간격동안에 공통 출력 라인으로 제공되도록 하기 위한 억세스 전계 효과 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 스캐너 어레이.
  14. 제11항에 있어서, 상기 다수의 화소 센서 회로로부터의 상기 소스 폴로워 회로는 출력 신호를 상기 센서 회로에 의해 공유되는 공통 출력 라인으로 구동시키고, 상기 리셋 전계 효과 트랜지스터는 상기 타이머에 응답하여 제1시간 간격 동안에 공통 출력 라인으로부터의 리셋 전압을 광다이오드로 인가하고, 상기 어레이는, 상기 타이머에 응답하여 제1 시간 간격 동안에 리셋 전압을 공통 출력 라인으로 인가하기 위한 리셋 스위칭 회로와 상기 타이머에 응답하여, 제1 시간 간격에 뒤따르는 제2 시간 간격에서 소스 폴로워 회로를 인에이블 시켜, 리셋 전압이 제1시간 간격동안에 공통 출력 라인을 통해 인가되고 출력신호는 제2시간 간격동안에 공통 출력 라인으로 제공되도록 하기 위한 억세스 전계 효과 트랜지스터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 스캐너 어레이.
  15. 제14항에 있어서, 상기 타이머는 다수의 연속적인 테스트 사이클을 제공하도록 상기 리셋 회로 및 상기 트랜지스터의 인에이블, 및 소스 폴로워 회로의 인에이블을 주기적으로 반복하고, 상기 리셋 전압원은 각 테스트 사이클마다 상이한 테스트 전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 이미지 스캐너 어레이.
  16. 제14항에 있어서, 상기 리셋 스위칭 회로는, P채널 전계 효과 트랜지스터 및 n채널 전계 효과 트랜지스터에 걸리는 전압 강하와 관계없이 테스트 전압의 전체 범위를 공통 출력 라인에 인가하는 스위치를 제공하기 위한 병렬 연결된 p채널 반도체 소자 및 n 채널 반도체 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 이미지 스캐너 어레이.
  17. 화소 센서 회로를 테스트하기 위한 방법에 있어서, 제1 공급 전압을 상기 화소 센서 회로에 인가하는 단계; 제2테스트 전압을 상기 화소 센서 회로의 리셋 회로에 인가하는 단계; 및 상기 리셋 회로를 주기적으로 인에이블 시키는 단계를 포함해서 이루어진 화소 센서 회로 테스트방법.
  18. 다수의 센서 회로 및 감광소자를 구비하는 이미지 센서 어레이에서, 상기 감광 소자에 빛을 조사하지 않고 상기 센서 회로를 테스트하기 위한 방법에 있어서, 상기 센서 회로들 중 최소한 하나의 회로에 가변 전압을 인가시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 센서 회로 테스트 방법.
  19. 제18항에 있어서, 상기 가변 전압은 상기 센서 회로의 리셋 회로에 인가 되는 것을 특징으로 하는 센서 회로 테스트 방법.
  20. 제19항에 있어서, 상기 리셋 회로는 주기적으로 인에이블되는 것을 특징으로 하는 센서 회로 테스트 방법.
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