KR0166789B1 - 반도체소자 매뉴얼 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 반도체소자 테스트시에 사용되는 핸들러용 소켓 소켓을 손쉽게 매뉴얼 테스트 겸용으로 사용할 수 있게 하여 매뉴얼 전용 소켓을 별도로 제작하는데 필요한 비용 및 소켓 교체에 따른 시간 손실을 줄일 수 있도록 한 것이다.

이를 위해, 본 발명은 반도체소자 테스트 시에 사용되는 핸들러용 소켓(1)의 상부프레임(2a)을 프레싱할 수 있도록 메인보드(4)에 힌지결합되는 누름레버(3)와, 상기 누름레버(3)에 가해진 누름력을 받아 하강한 상부프레임(2a)의 운동을 록킹하여 소켓(1)의 접촉핀(5)이 이격된 상태를 유지하도록 소켓(1)의 상·하부프레임(2a)(2b)에 장착되는 록킹수단으로 구성된 반도체소자 매뉴얼 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹 장치이다.

Description

반도체소자 매뉴얼 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹 장치

제1도는 종래의 테스트용 소켓에 반도체소자가 로딩된 상태를 나타낸 사시도.

제2도는 본 발명이 적용된 반도체소자 테스트용 소켓을 나타낸 평면도.

제3도는 제2도의 A-A선을 나타낸 종단면도로서,

(a)는 누름레버를 누르기 전의 상태도.

(b)는 누름레버를 눌러 상·하부프레임이 록킹된 상태도.

제4도는 제2도의 측면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 소켓 2a : 상부프레임

2b : 하부프레임 3 : 누름레버

4 : 메인보드 5 : 접촉핀

6 : 걸림편 7 : 브라켓

8 : 작동레버 9 : 걸림레버

10 : 설치공 11 : 인장스프링

12 : 원통형 가대

본 발명은 반도체소자 매뉴얼 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 반도체소자 테스트시에 사용하는 핸들러용 소켓을 매뉴얼 테스트 겸용으로 사용할 수 있게하여 매뉴얼 전용 소켓을 별도로 제작하는데 필요한 비용 및 소켓 교체에 따른 시간 손실을 줄일 수 있도록 한 것이다.

일반적으로, 패키지 공정을 마친 반도체소자는 핸들러(Handler)용 오픈-탑(Open-Top)형 소켓(1a)을 사용하거나, 캄(Calm)형의 매뉴얼 소켓을 사용하여 전기적 특성을 검사하게 되는데 이중에서 오픈 탑형 소켓(1a)의 경우만을 간단히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 핸들러용으로 사용할 때에는 소켓(1a)의 상부프레임(2a)이 누름수단(도시는 생략함)에 의해 가압되면 상부프레임(2a)이 하부프레임(2b) 사이에 설치된 스프링(13)을 압축시키면서 지지축(14)을 따라 하강하게 되며 이에 따라 소켓(1a)에 장착된 접촉핀(5) 사이가 이격되어 벌어지게 된다.

또한, 이와 같이 접촉핀(5) 사이가 벌어진 상태에서 반도체소자(1b)가 소켓(1a) 내에 삽입되어 반도체소자(1b)의 리드가 소켓(1a) 내의 벌어진 접촉핀(5) 사이에 위치한 후에는 상부프레임(2a)을 가압하고 있던 누름수단이 원위치하게 된다.

이에 따라, 스프링(13)의 복원력에 의해 상부프레임(2a)이 상승하여 접촉핀(5) 사이가 다시 닫히면, 반도체소자(1b)의 리드가 접촉핀(5)에 전기적으로 접속되어 반도체소자(1b)의 전기적 특성에 대한 테스트를 진행할 수 있게 된다.

이때, 상기 반도체소자(1b)의 리드와 소켓(1a)의 접촉핀(5)과의 접촉상태를 좋게 하기 위해 푸싱수단(도시는 생략함)이 소켓(1a)에 장착된 반도체소자(1b)를 상부에서 눌러 주게 된다.

한편, 테스트가 끝난 후에는 누름수단이 상부프레임(2a)을 다시 가압하여 접촉핀(5) 사이의 간격을 벌어지게 한 상태에서 로딩수단에 의해 반도체소자(1b)가 소켓(1a)으로부터 언로딩되어 진다.

상기한 바와 같이, 매뉴얼용으로 사용시에는 손으로 소켓(1a)의 상부프레임(2a) 상면 전체를 누르거나 대각선 방향의 양단을 눌러 접촉핀(5) 사이를 벌어지게 한 상태에서 반도체소자(1b)를 소켓(1a) 내에 삽입하여 반도체소자(1b)의 리드를 소켓(1a) 내의 벌어진 접촉핀(5) 사이에 위치시킨 후, 상부프레임(2a)을 누르고 있던 힘을 제거한다.

이에 따라, 스프링(13)의 복원력에 의해 접촉핀(5) 사이가 다시 닫혀 반도체소자(1b)의 리드가 접촉핀(5)에 전기적으로 접속되면 반도체소자(1b)의 전기적 특성에 대한 테스트를 진행할 수 있게 된다.

한편, 테스트가 끝난 후에는 손으로 상부프레임(2a)을 다시 가압하여 접촉핀(5) 사이를 이격시킨 상태에서 반도체소자(1b)를 소켓(1a)으로부터 끄집어내게 된다.

그러나, 이와 같이 종래의 핸들러용 소켓(1a)은 매뉴얼용으로도 사용할 수는 있으나 손으로 소켓(1a)을 눌러 반도체소자(1b)를 장착할 때 상당히 힘이 들어 작업자가 불편함을 겪게 되는 단점이 있었다.

뿐만 아니라, 다량의 반도체소자(1b)를 연속적으로 매뉴얼 테스트해야 할 경우 많은 힘이 들게 되므로, 상기한 소켓(1a)이 아닌 별도의 매뉴얼 전용 소켓(도시는 생략함)으로 교체한 다음 테스트 작업을 진행해야 하는데, 이에 따라 작업자는 소켓 교체에 따른 번거로움을 겪게 된다.

또한, 상기한 핸들러용 소켓(1a)외에 별도의 매뉴얼 전용 소켓을 제작해 두어야 하므로, 비용이 많이 소요되는 등의 문제점이 있었다.

본 발명은 상기한 제반 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 반도체소자 테스트 시에 사용되는 핸들러용 소켓을 매뉴얼 테스트용 소켓으로 사용할 때 적은 힘을 들이고 사용할 수 있게 하여 작업자에게 편리함을 제공할 뿐만 아니라, 매뉴얼 전용 소켓을 별도로 제작하는데 필요한 비용 및 소켓 교체에 따른 시간 손실을 줄일 수 있도록 한 반도체소자 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명은 반도체소자 테스트 시에 사용되는 핸들러용 소켓의 상부프레임을 프레싱할 수 있도록 메인보드에 힌지결합되는 누름레버와, 상기 누름레버에 가해진 누름력을 받아 하강한 상부프레임의 운동을 록킹하여 소켓의 접촉핀이 이격된 상태를 유지하도록 소켓의 상·하부프레임에 장착되는 록킹수단으로 구성된 반도체소자 매뉴얼 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹 장치이다.

이하, 본 발명의 일 실시예를 첨부 도면 제2도 내지 제4도를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

제2도는 본 발명이 적용된 반도체소자 테스트용 소켓을 나타낸 평면도이고, 제3도는 제2도의 A-A선을 나타낸 종단면도이며, 제4도는 제2도의 측면도로서, 반도체소자 테스트 시에 사용되는 핸들러용 소켓(1)을 매뉴얼 테스트용으로 사용시 손쉽게 반도체소자(도시는 생략함)를 소켓(1)에 장착할 수 있도록 상부프레임(2a)을 프레싱하기 위한 누름레버(3)가 메인보드(4)에 힌지결합되고, 상기 상·하부프레임(2a)(2b)의 대각선 방향 두 모서리에는 상기 누름레버(3)가 결합되며 누름레버(3)에 가해진 누름력을 받아 하강한 상부프레임(2a)의 운동을 록킹하여 소켓(1)의 접촉핀(5)이 이격된 상태를 유지하도록 하는 록킹수단이 소켓(1)의 상·하부프레임(2a)(2b)의 대각선 방향 양측 모서리에 장착된다.

이때, 상기 록킹수단은 반도체소자 테스트용 매뉴얼 소켓(1)(즉, 핸들러용 소켓을 말함)의 상부프레임(2a) 양측 대각선 방향 모서리에 형성되는 걸림편(6)과, 상기 각 걸림편(6)과 대향되도록 하부프레임(2b)에 형성된 브라켓(7)과, 상기 브라켓(7)에 회전 가능하게 결합되어 상기 누름레버(3)에 누름력이 가해짐에 따라 회동하는 작동레버(8)와, 상기 작동레버(8)에 힌지결합되어 각 작동레버(8)가 회동함에 따라 상부프레임(2a)의 각 걸림편(6)에 걸려 고정되는 걸림레버(9)가 구비된다.

또한, 상기 메인보드(4)에 힌지결합되며 작동레버(8)의 설치공(10)을 관통하는 누름레버(3)는 상부프레임(2a)의 록킹 상태를 해제할 수 있도록 좌·우측 누름레버(3a)(3b)로 분할 형성되고, 분할 형성된 좌·우측 누름레버(3a)(3b)의 중앙부 양 선단에는 좌·우측 누름레버(3a)(3b)를 상호 연결시키는 인장스프링(11)의 양 끝단이 대응하여 결합되며, 상기 좌·우측 누름레버(3a)(3b) 연결부의 인장스프링(11) 바깥에는 누름레버(3)에 누름력을 가하기 용이하도록 원통형 가대(12)가 끼워져 구성된다.

이와 같이 구성된 본 발명의 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다.

반도체소자의 매뉴얼 테스트시, 먼저 작업자가 한손으로 소켓(1)을 파지한 상태에서 다른 손으로 소켓(1)의 상부프레임(2a)에 결합된 누름레버(3)를 누르면, 메인보드(4)에 힌지 결합된 상기 누름레버(3)는 메인보드(4)에 힌지결합된 양단을 축으로 제4도에 나타낸 바와 같이 도면상 반시계방향(CCW)으로 회동하게 된다.

이때, 상기 누름레버(3)는 하부프레임(2b)의 브라켓(7)에 결합된 작동레버(8)의 설치공(10)을 관통하여 누름레버(3)와 함께 움직이도록 설치되어 있고, 상기 작동레버(8)에 힌지결합된 걸림레버(9)는 상부프레임(2a)에 형성된 걸림편(6)에 걸려있는 상태이므로, 누름레버(3)에 가해진 누름력은 작동레버(8)로 전달되어 결국 상부프레임(2a)을 누르는 힘으로 작용하게 된다.

따라서, 상기 소켓(1)의 상부프레임(2a)은 가해진 누름력에 의해 스프링(13)을 압축시키며 지지축(14)을 따라 제2도의 (b)에 화살표로 나타낸 바와 같이 아래쪽으로 하강하게 된다.

또한, 상기 누름레버(3)의 하강시 함께 연동하는 좌·우측의 작동레버(8)는 일정 각도를 넘어섬에 따라 걸림편(6)과 걸림레버(9)에 의한 토글(Toggle)작용에 의해 제2도의 (b)에 나타낸 바와 같이 록킹되는데, 이에 따라 누름레버(3)에 가하고 있던 누름력을 해제하여도 작동레버(8)는 복귀하지 않게 된다.

이와 같이, 상기 상부프레임(2a)이 록킹되어 소켓(1) 내의 상·하부 접촉핀(5) 사이가 벌어진 상태에서 작업자는 반도체소자를 소켓(1) 내에 삽입하여 반도체소자의 리드를 벌어진 접촉핀(5) 사이에 위치시킨 후, 누름레버(3)의 분할된 좌·우측 누름레버(3a)(3b)를 각각 파지하여 좌·우측 누름레버(3a)(3b)사이의 간격이 이격되도록 벌려 주게 된다.

이때, 상기 좌·우측 누름레버(3a)(3b)는 인장스프링(11)에 의해 견고하게 상호 연결되어 있으며 상기 인장스프링(11) 바깥으로는 누름력을 가하기 용이하도록 원통형 가대(12)가 삽입된다.

한편, 상기한 바와 같이 좌·우측 누름레버(3a)(3b)를 각각 파지하여 서로 간격이 이격되도록 벌려 주면 분할된 좌·우측 누름레버(3a)(3b)는 그 사이를 연결하는 인장스프링(11)의 복원력을 받으며 서로 이격되는 방향으로 움직이게 되는데, 이때, 상기 좌·우측 누름레버(3a)(3b)의 수평운동은 좌·우측 누름레버(3a)(3b)에 각각 결합된 작동레버(8)에 대해 회전모멘트로 작용하게 된다.

즉, 상기 좌·우측 누름레버(3a)(3b)의 수평운동은 하부프레임(2b)의 브라켓(7)에 형성된 통공을 회전축으로 한 작동레버(8)의 회전운동으로 전환되며, 이에 따라 회동하는 작동레버(8)가 토글작용의 임계위치를 벗어나면 걸림편(6)에 걸린 걸림레버(9)가 더이상 상부프레임(2a)를 누르지 못하므로 상기 소켓(1)의 상부프레임(2a)은 소켓(1) 내에 장착된 스프링(13)의 복원력에 의해 상승하게 된다.

이에 따라, 스프링(13)의 복원력에 의해 접촉핀(5) 사이가 다시 닫혀 반도체소자의 리드가 접촉핀(5)에 전기적으로 접속되면 반도체소자의 전기적 특성에 대한 테스트를 진행할 수 있게 된다.

한편, 테스트가 끝난 후에는 전술한 바와 같은 방법 및 요령으로 다시 한번 누름레버(3)를 가압하여 상기 상부프레임(2a)을 록킹시켜 접촉핀(5) 사이를 이격시킨 상태에서 반도체소자를 소켓(1)으로 부터 꺼내어 분리시킨 후, 좌·우 분할된 누름레버(3)의 간격을 이격시켜 상부프레임(2a)의 록킹상태를 해제하게 된다.

한편, 상기 하부프레임(2b)에 형성된 브라켓(7)에 힌지결합되는 작동레버(8)는 작은 힘에도 매우 부드럽게 브라켓(7)의 통공을 축으로 회동할 수 있도록 설치하는 반면에, 상기 작동레버(8)의 설치공(10)에 힌지결합된 걸림레버(9)는 일정 크기 이상의 힘이 작용해야만 회동하도록 걸림편(6)에 대해 일정한 크기의 마찰저항을 가지도록 설치하므로써, 소켓(1)의 록킹상태를 해제하더라도 걸림레버(9)가 토글작용시의 반력에 의해 바깥쪽으로 젖혀지지 않도록하여 각 개별 소자를 테스트할 때마다 작업자가 일일이 걸림레버(9)를 걸림편에 걸쳐지게 한 후 소자를 록킹시켜야 하는 불편함을 해소할 수 있을 것이다.

따라서, 본 발명은 종래에 손으로 소켓(1)을 직접 눌러 반도체소자를 장착할 때와는 달리 작은 힘으로 누름레버(3)를 눌러 소켓 내부의 접촉핀(5) 사이의 간격을 이격시킨 후 정확히 반도체소자를 삽입할 수 있으므로 인해 작업자에게 편리함을 제공할 뿐만 아니라 리드밴트등의 소자불량을 저감시킬 수 있게 되는 효과를 가져오게 된다.

또한, 본 발명의 소켓(1)을 사용하면 핸들러/매뉴얼 테스트를 하나의 소켓으로 편리하게 진행할 수 있으므로 다량의 반도체소자를 연속적으로 매뉴얼 테스트해야 하는 경우에도 별도로 제작된 매뉴얼 전용 소켓으로 교체할 필요없이 테스트 작업을 진행할 수 있어 매뉴얼 전용 소켓으로의 교체에 따른 번거러움 및 시간 손실을 줄일 수 있을 뿐만 아니라, 매뉴얼 전용 소켓이 필요없으므로 매뉴얼 전용 소켓의 제작에 따른 비용을 절감할 수 있게 된다.

이상에서와 같이, 본 발명은 반도체소자 테스트 시에 사용되는 핸들러용 소켓(1)을 손쉽게 매뉴얼 테스트 겸용으로 사용할 수 있게 하여 작업자에게 편리함을 제공할 뿐만 아니라, 매뉴얼 전용 소켓을 별도로 제작하는데 필요한 비용 및 소켓 교체에 따른 시간 손실을 줄일 수 있도록 한 매우 유용한 발명이다.

Claims (2)

1. 반도체소자 테스트용 매뉴얼 소켓이 안착되는 메인보드와, 상기 반도체소자 테스트용 매뉴얼 소켓의 상부프레임 양측 모서리에 각각 형성되는 걸림편과, 상기 각 걸림편에 대응하여 매뉴얼 소켓의 하부프레임에 양측 모서리에 각각 형성되는 브라켓과, 상기 각 브라켓 선단에 힌지결합되는 작동레버와, 상기 작동레버 중앙부에 각각 힌지결합되며, 상기 걸림편에 걸쳐진 상태에서 작동레버가 아래로 회동함에 따라 상부프레임이 하강하도록 걸림편을 통해 누름력을 전달하게 되는 걸림레버와, 상기 작동레버의 관통공을 관통하도록 설치됨과 동시에 그 일단이 메인보드에 힌지결합되도록 설치되며 좌·우측으로 분할형성되는 누름레버와, 상기 분할 형성된 좌·우측 누름레버의 타단을 연결시키는 한편 상기 좌·우측 누름레버의 간격이 벌어져 작동레버가 회동할 수 있도록 설치되는 탄성부재인 인장스프링이 구비되어; 상기 누름레버에 누름력이 가해짐에 따라 작동레버가 회전하면서 토글작용에 의해 상부프레임이 록킹되고, 상기 분할된 좌·우측 누름레버를 파지하여 상호 이격되도록 벌리면서 위로 끌어올림에 따라 좌·우측 누름레버의 수평운동이 작동레버의 회전운동으로 전환되면서 토글작용에 의해 상부프레임의 록킹상태가 해제되도록 한 것을 특징으로 하는 반도체소자 매뉴얼 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 좌·우측 누름레버 연결부의 인장스프링 바깥으로는 누름레버에 누름력을 가하기 용이하도록 원통형 가대가 삽입되는 반도체소자 매뉴얼 테스트용 소켓의 소자 장착용 록킹 장치.