KR0140581B1 - 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템 - Google Patents
릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템Info
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Abstract
[청구 범위에 기재된 발명이 속한 기술분야]
고집적 반도체 소자의 테스트 시스템.
[발명이 해결하려고 하는 기술적 과제]
종래의 반도체 소자의 테스트 시스템은, 테스트 시스템의 입출력 단자보다 적은 입출력 단자를 갖는 반도체 소자의 테스트는 한번으로 가능하지만, 다수의 입출력 단자를 가진 반도체 소자는 2장 또는 4장의 보드를 구성하여 여러번 테스트 해야 하는 기술적 어려움과 테스트 시스템의 제약성을 해결하고자 함.
[발명의 해결방법의 요지]
테스트 시스템의 입출력 단자의 수보다 소정의 배수 만큼 많은 다수의 입출력 단자를 가진 반도체 소자의 입출력 단자의 수와 동일하게 릴레이를 연결하고, 상기 릴레이를 테스트 시스템의 각 단자에 상기 소정의 배수 만큼 공통으로 연결하여 1장의 보드를 구성하므로써 기존의 테스트 시스템을 사용하면서도 보드의 교환없이 반도체 소자를 테스트 하고자 함.
[발명의 중요한 용도]
반도체 소자의 테스트 시스템에 이용됨.
Description
제 1 도는 본 발명에 따른 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템의 구성도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1: 반도체 소자의 입출력 단자부2: 릴레이 제어 신호부
3: 릴레이부30 내지 335: 릴레이 유니트
4: 연결 수단5: 테스트 시스템의 입출력 단자부
본 발명은 일반적으로 고집적 반도체 소자의 테스트 시스템에 관한 것으로서, 특히 테스트 시스템의 입출력 단자의 수보다 많은 다수의 입출력(멀티 인풋/아웃풋; Multi Input/Output) 단자를 가진 반도체 소자의 전기적 특성을 릴레이(Relay)를 이용하여 효율적으로 체크할 수 있는 릴레이를 이용한 반도체 소자의 테스트 시스템에 관한 것이다.
종래의 반도체 소자의 테스트 시스템(Test system)은 36개 또는 72개의 입출력 단자로 구성되는데, 각 테스트 시스템의 단자 수보다 반도체 소자의 입출력 단자가 적거나 같은 경우에는 병렬(Parallel) 테스트가 가능하여 한번으로 테스트 가능하지만, 테스트 시스템의 단자 수보다 반도체 소자의 입출력 단자가 많은 경우에는 테스트 시스템 단자의 제한성으로 한번에 접근(Access)하여 테스트 할 수가 없었다. 즉, 기존의 36개의 입출력 단자로 구성된 테스트 시스템을 이용하여 테스트 시스템의 입출력 단자보다 4배가 많은 144개의 입출력 단자를 가진 반도체 소자를 테스트 할 경우, 반도체 소자의 입출력 단자가 36개씩 연결된 4장의 보드(Board)를 구성한 후 상기 보드를 교환하면서 4번 테스트하는 실정이었다. 상기와 같이 보드를 교환 해야 하는 번거로움과 여러 회에 걸쳐 테스트 하는 기술적 어려움을 없애려면 다수의 입출력 단자를 가진 반도체 소자의 입출력 단자의 수에 대응하는 입출력 단자를 가진 테스트 시스템의 개발이 있어야 하는데, 이를 위해서는 막대한 투자가 따른다.
따라서, 전술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 본 발명은 테스트 시스템의 입출력 단자의 수보다 소정의 배수 만큼 많은 다수의 입출력 단자를 가진 반도체 소자의 입출력 단자의 수와 동일한 수의 릴레이를 연결하고, 상기 릴레이를 테스트 시스템의 각 단자에 상기 소정의 배수 만큼씩 공통으로 연결하여 1장의 보드를 구성하므로써 기존의 테스트 시스템을 사용하면서도 보드의 교환없이 다수의 입출력 단자를 가진 반도체 소자를 테스트할 수 있는 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명에 따른 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템은, 테스트 하고자 하는 반도체 소자의 입출력 단자의 수와 동일한 수의 릴레이가 상기 소정의 배수 만큼씩 하나의 릴레이 유니트를 형성하는 다수의 릴레이 유니트로 이루어진 릴레이부와, 상기 릴레이부에 연결되어 각 릴레이에 전원을 공급하는 릴레이 전원 공급부와, 상기 릴레이부에 연결되어 각 릴레이의 접속 여부를 제어하기 위한 릴레이 제어 신호부 및 상기 릴레이부와 테스트 시스템의 입출력 단자부를 연결하는 연결수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이제 본 발명의 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템에 대하여 첨부 도면 제 1 도를 참조하여 보다 상세하게 설명하게 된다. 36개의 단자를 가진 테스트 시스템을 이용하여 테스트 시스템의 입출력 단자보다도 4배가 많은 144개의 입출력 단자를 가진 반도체 소자를 테스트하는 경우에, 먼저 반도체 소자를 테스트하기 위한 작업 보드에 제 1 도에 도시한 바와 같은 테스트 시스템을 구성한다.
제 1 도에서, 도면 부호 1은 테스트하고자 하는 반도체 소자의 입출력 단자부(I/O 0 내지 I/O 143)이며, 2(CW0 내지 CW3)는 선택적인 신호를 인가하여 릴레이를 제어하는 릴레이 제어 신호부이다. 또한 3은 릴레이부로서, 상기 반도체 소자의 입출력 단자(1)의 수와 동일한 수 만큼의 릴레이가 4개씩 각각의 릴레이 유니트(Unit)(30 내지 335)를 형성하는 다수의 릴레이 유니트로 형성된다. 이때, 상기 릴레이 유니트를 형성하는 각각의 릴레이는 원 안에 도시한 바와 같이 릴레이에 전원을 공급하는 전원 공급부(Vcc), 릴레이 제어 신호부(2), 반도체 소자의 입출력 단자부(1), 릴레이부(3)와 테스트 시스템의 입출력 단자부(5)를 연결하기 위한 연결 수단(4)에 각각 연결된다. 다음에, 4는 릴레이부(3)와 테스트 시스템의 입출력 단자부(5)를 연결하기 위한 연결 수단이고, 5는 테스트 시스템의 입출력 단자부(I/O 0 내지 I/O 35)로서, 상기 릴레이부(3)의 각 릴레이 유니트(30 내지 335)가 상기 연결 수단(4)을 통하여 테스트 시스템의 각 입출력 단자(5)에 연결된다. 예를 들면, 반도체 소자의 입출력 단자 0, 36, 72, 108에 연결되는 릴레이 유니트(30)는 연결 수단(4)을 통하여 테스트 시스템의 입출력 단자(5)의 0에 공통으로 연결된다. 또한, 상기 릴레이 유니트를 이루는 릴레이의 수는 반도체 소자의 단자 수가 테스트 시스템 단자의 몇배가 되는가에 따라 달라진다. 즉, 72개의 단자를 가진 테스트 시스템을 이용하여 테스트 시스템 입출력 단자의 2배가 되는 144개의 단자를 가진 반도체 소자를 테스트 할 경우에는 2개씩의 릴레이로 이루어진 릴레이 유니트를 테스트 시스템과 각 입출력 단자에 연결하면 된다.
전술한 바와 같이 구성된 테스트 시스템의 동작 상태를 살펴보면, 릴레이 전원 공급부(Vcc)는 5V에 고정되고, 릴레이 제어 신호부(2)에 따라 릴레이부(3)를 이루는 각 릴레이의 접속 여부가 결정되고, 또한 반도체 소자의 입출력 단자(1)의 선택 여부가 결정된다. 즉, 0V가 인가되는 소정의 릴레이 제어 신호부에 연결되는 릴레이가 접속되어 그에 해당하는 입출력 단자가 선택되어지는데, 전체적으로 릴레이 제어 신호에 따라 선택되는 반도체 소자의 입출력 단자를 살펴보면 아래의 표와 같다.
상기의 표에서 H(High)는 5V, L(Low)은 0V가 인가됨을 의미하고, I/O(Input/Output) 단자는 반도체 소자의 입력/출력 단자, CW(Control Word; 컨트롤 워드)는 릴레이 제어 신호부를 각각 의미하고, 소정의 릴레이 제어 신호부에 0V가 인가되면 그에 해당하는 반도체 소자의 입출력 단자가 선택되는 것을 나타낸다. 즉, CW0 내지 CW3의 릴레이 제어 신호부에 차례로 0V가 인가되면 각각 반도체 소자의 입출력 단자 0 내지 35, 36 내지 71, 72 내지 107, 108 내지 143이 차례로 선택되어 릴레이 제어 신호를 이용한 릴레이 컨트롤 4번으로 모든 입출력 단자의 접근이 가능하게 된다.
전술한 바와 같은 본 발명에 따르면, 여러장의 보드를 사용하는 불편함도 없을 뿐만 아니라, 추가적인 옵션(Option) 또는 하드웨어(Hardware)를 증설하지 않고도 릴레이를 이용하여 효과적으로 다수의 입출력 단자를 가지는 반도체 소자를 테스트 할 수 있다.
Claims (1)
- 테스트 시스템의 입출력 단자의 수보다 소정의 배수 만큼 많은 입출력 단자를 가진 반도체 소자를 테스트하기 위한 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템에 있어서, 테스트 하고자 하는 반도체 소자의 입출력 단자의 수와 동일한 수의 릴레이가 상기 소정의 배수 만큼씩 하나의 릴레이 유니트를 형성하는 다수의 릴레이 유니트로 이루어진 릴레이부와, 상기 릴레이부에 연결되어 각 릴레이에 전원을 공급하는 릴레이 전원 공급부와, 상기 릴레이부에 연결되어 각 릴레이의 접속 여부를 제어하기 위한 릴레이 제어 신호부 및, 상기 릴레이부와 테스트 시스템의 입출력 단자부를 연결하는 연결수단을 포함해서 이루어진 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950016390A KR0140581B1 (ko) | 1995-06-20 | 1995-06-20 | 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950016390A KR0140581B1 (ko) | 1995-06-20 | 1995-06-20 | 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970002365A KR970002365A (ko) | 1997-01-24 |
| KR0140581B1 true KR0140581B1 (ko) | 1998-07-15 |
Family
ID=19417563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950016390A KR0140581B1 (ko) | 1995-06-20 | 1995-06-20 | 릴레이를 이용한 반도체 소자 테스트 시스템 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR0140581B1 (ko) |
-
1995
- 1995-06-20 KR KR1019950016390A patent/KR0140581B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR970002365A (ko) | 1997-01-24 |
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