KR0136723Y1

KR0136723Y1 - 전자제품의 pcb기판 어셈블리 동작 검사장치

Info

Publication number: KR0136723Y1
Application number: KR2019960000536U
Authority: KR
Inventors: 박세진
Original assignee: 김광호; 삼성전자주식회사
Priority date: 1996-01-17
Filing date: 1996-01-17
Publication date: 1999-05-15
Also published as: KR970050508U

Abstract

본 고안은 동작검사지그상에 PCB기판어셈블리를 올려 놓을 때 테스트핀보다 접지핀이 먼저 접촉되도록 하는 동시에 최후에 분리되도록 하고, 동작 검사지그에 동판을 설치하여 접지핀이 그물망형으로 접지되게 하므로서 외부로부터 유입되는 서지(Surge) 및 정전기에 의한 PCB기판어셈블리를 보호하도록 안출한 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치에 관한 것으로, 상부판의 저면에 동판(20)을 설치한 뒤 그 상면에 PCB기판어셈블리(90)를 올려놓도록 하는 동작검사지그(10)와, 동작검사지그(10)의 각 모서리부에 세워져서 PCB기판어셈블리(90)의 각 모서리에 형성된 가이드구멍(91)을 끼워서 유동방지 및 정확한 위치에 셋팅되도록 하는 가이드핀(30)과, PCB기판어셈블리(90)의 기능 및 성능검사를 위하여 동작검사지그(10)의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재(50)에 의하여 돌출되는 다수의 테스트핀(40)과, PCB기판어셈블리(90)를 올려 놓을 때 테스트핀(40)보다 다숭의 접지핀(60)이 먼저 접촉하는 동시에 최후에 분리되게 테스트핀(40)보다 높게 돌출되도록 동작검사지그(10)의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재(70)에 의하여 돌출되는 다수의 접지핀(60)으로 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사 장치를 구성한다.

Description

전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치

제1도는 종래 PCB기판어셈블리 동작검사장치의 사시도.

제2도는 제1도의 개략적인 종단면도.

제3도는 본 고안 PCB기판어셈블리 동작검사장치의 사시도.

제4도는 제3도의 개략적인 종단면도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 동작검사지그 20 : 동판

30 : 가이드핀 40 : 테스트핀

50, 70 : 탄력부재 60 : 접지핀

80 : 상부판 90 : PCB기판 어셈블리

본 고안은 전자제품에 사용되는 PCB기판어셈블리(PCB Board Assembly)의 동작 검사장치에 관한 것으로, 특히 동작검사지그상에 PCB기판어셈블리를 올려 놓을 때 테스트핀보다 접지핀이 먼저 접촉되도록 하는 동시에 최후에 분리되도록 하고, 동작 검사지그에 동판을 설치하여 접지핀이 그물망형으로 접지되게 하므로서 외부로부터 유입되는 서지(Surge) 및 정전기에 의한 PCB기판어셈블리를 보호하도록 안출한 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치에 관한 것이다.

종래의 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치는 제1도 및 제2도와 같이, PCB기판어셈블리(7)를 올려놓는 동작검사지그(1)와, 동작검사지그(1)의 각 모서리부에 세워져서 PCB기판어셈블리(7)의 각 모서리에 형성된 가이드구멍(7a)을 끼워서 유동방지 및 정확한 위치에 셋팅되도록 하는 가이드핀(2)과, PCB기판어셈블리(7)의 기능 및 성능검사를 위하여 동작검사지그(1)의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재(4)에 의하여 돌출되는 다수의 테스트핀(3)과, PCB기판어셈블리(7)의 기능 및 성능검사시 자체의 서지와 정전기로부터 PCB기판어셈블리(7)의 부품을 보호하도록 동작검사지그(1)의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재(6)에 의하여 돌출되는 다수의 접지핀(5)으로 구성되어 있다.

여기서 테스트핀(3)이란 PCB기판어셈블리(7)의 필요한 기능 및 성능을 검사하기 위하여 임의로 설정된 위치에 설치한 접촉단자를 말하며, PCB기판어셈블리(7)의 기능 및 성능에 따라 위치가 변할 수도 있다.

이러한 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치의 검사과정은, PCB기판어셈블리(7)이 동작검사지그(1)상에 돌출된 각 테스트핀(3)과 접지핀(5)에 접촉되도록 가이드핀(2)에 PCB기판어셈블리(7)의 가이드구멍(7a)을 끼우게 되면 PCB기판어셈블리(7)는 정확하게 각 테스트핀(3) 및 접지핀(5)에 접촉되어 각 기능 및 성능을 검사하게 되는 것이다.

검사완료 후 PCB기판어셈블리(7)를 상방으로 들어올려 테스트핀(3) 및 접지핀(5)으로 분리되도록 하면 된다.

그런데 테스트핀(3)과 접지핀(5)의 높이는 상호 동일하여 PCB기판어셈블리(7)의 저면에 도포된 동판에 동시에 접촉하도록 되어 있어 다음과 같은 문제점이 있었다.

첫째, 동작검사지그(1)에 PCB기판어셈블리(7)의 안착시 테스트핀(3)에서 외부로부터 유입되는 서지 및 정전기가 피검사용 PCB기판어셈블리(7)에 충격을 가하여 반도체(IC, TR)등을 손상시키는 원인이 되었으며, 둘째, PCB기판어셈블리(7)내에 타 회로부에서의 전기적 충격이 다른 특정부위로 영향을 주어 불량을 유발시키는 원인이 되었고, 셋째, PCB기판어셈블리(7)내의 전기적(전위) 불안정상태로 인하여 주변 전기회로에 영향을 주었으며, 넷째, 동작검사지그(1)에서 피검사용 PCB기판어셈블리(7)를 분리할 때 테스트핀(3)보다 접지핀(5)이 먼저 분리되는 경우 피검사용 PCB기판어셈블리(7)에 전기적 충격이 가해져 불량을 유발시키는 원인이 되었고, 다섯째, 접지핀(5)의 저항이 높아 피검사용 PCB기판어셈블리(7)를 안정시키지 못하고 타 회로부에 영향을 주는 원인이 되는 등의 문제점이 있었다.

본 고안은 이러한 종래의 문제점을 해결하고자 하는 것으로, 동작검사지그상에 PCB기판어셈블리를 올려 놓을 때 테스트핀보다 접지핀이 먼저 접촉되도록 하는 동시에 최후에 분리되도록 하고, 동작검사지그에 동판을 설치하여 접지핀이 그물망형으로 접지되게 하므로서 외부로부터 유입되는 서지(Surge) 및 정전기에 의한 PCB기판어셈블리를 보호하고자 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

본 고안은 이러한 목적을 달성하기 위하여, 상부판의 상면에 검사할 PCB기판어셈블리를 올려놓도록 하는 동작검사지그와, 동작검사지그의 각 모서리부에 세워져서 PCB기판어셈블리의 각 모서리에 형성된 가이드구멍을 기워서 유동방지 및 정확한 위치에 셋팅되도록 하는 가이드핀과, PCB기판어셈블리의 기능 및 성능검사를 위하여 동작검사지그의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재에 의하여 돌출되는 다수의 테스트핀과, PCB기판어셈블리를 올려 놓을 때 테스트핀보다 먼저 접촉하는 동시에 최후에 분리되게 테스트핀보다 높게 돌출되도록 동작검사지그의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재에 의하여 돌출되는 다수의 접지핀으로 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작 검사장치를 구성한 것이 본 고안의 특징이다.

상기 접지핀은 동작검사지그에 균일하게 분포되도록 그물망모양으로 배열한 것이 본 고안의 부수적인 특징이다.

이하 본 고안을 첨부도면에 의하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

도면 제3도 및 제4도는 본 고안의 실시예로서, 아크릴과 같은 절연재로 형성된 상부판(90)의 저면에 동판(20)을 설치한 뒤 그 상면에 PCB기판어셈블리(90)를 올려놓도록 하는 동작검사지그(10)와, 동작검사지그(10)의 각 모서리부에 세워져서 PCB기판어셈블리(90)의 각 모서리에 형성된 가이드구멍(91)을 끼워서 유동방지 및 정확한 위치에 셋팅되도록 하는 가이드핀(30)과, PCB기판어셈블리(90)의 기능 및 성능검사를 위하여 동작검사지그(10)의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재(50)에 의하여 돌출되는 다수의 테스트핀(40)과, PCB기판어셈블리(90)를 올려 놓을 때 테스트핀(40)보다 먼저 접촉하는 동시에 최후에 분리되게 테스트핀(40)보다 높게 돌출되도록 동작검사지그(10)의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재(70)에 의하여 돌출되는 다수의 접지핀(60)으로 전자제품의 PCB기판 어셈블리 동작검사장치를 구성한다.

상기 접지핀(60)은 동작검사지그(10)에 균일하게 분포되도록 그물망모양으로 배열하며, 동판(20)에 가장 가까운 위치에 연결처리한다.

이와 같이 구성된 본 고안은, PCB기판어셈블리(90)이 동작검사지그(10)상에 돌출된 각 테스트핀(40)과 접지핀(60)에 접촉되도록 가이드핀(30)에 PCB기판어셈블리(90)의 가이드구멍(91)을 끼우게 되면 PCB기판어셈블리(90)는 정확하게 각 테스트핀(40) 및 접지핀(60)에 접촉되어 각 기능 및 성능을 검사하게 되는 것이다.

검사완료 후 PCB기판어셈블리(90)를 상방으로 들어올려 테스트핀(40) 및 접지핀(60)으로부터 분리되도록 하면 되는 것이다.

이때, 접지핀(60)은 테스트핀(40)보다 높게 설치되어 있어 동작검사지그(10)의 상면에 PCB기판어셈블리(90)를 안치할 때 접지핀(60)이 테스트핀(40)보다 먼저 접촉하게 되므로 접지핀(60)은 외부로부터 유입되는 서지 및 정전기를 피검사용 PCB기판어셈블리(90)로 유입되지 않도록 차단하여 부품들을 보호하게 되는 것이다.

또, 동작검사지그(10)로부터 PCB기판어셈블리(90)를 분리할 때 다수의 테스트핀(40)이 먼저 분리되고 접지핀(60)이 최후에 분리되므로 완전히 분리될 때까지 안정된 상태를 유지하여 주므로서 외부로부터 유입되는 서지 및 정전기를 차단하여 PCB기판어셈블리(90)를 보호하게 되는 것이다.

또, PCB기판어셈블리(90)에 균일하게 접촉하도록 접지핀(60)의 위치를 그물망모양으로 설정하고 동작검사지그(10)의 상부판(80)의 저면에 동판(20)을 설치하여 주므로서 접지핀(60)의 저항을 최소화하여 PCB기판어셈블리(90)를 보호하고 안정된 검사를 진행할 수가 있는 것이다.

이와 같이 본 고안은 동작검사지그상에 PCB기판어셈블리를 올려 놓을 때 테스트핀보다 접지핀이 먼저 접촉되도록 하는 동시에 최후에 분리되도록 하고, 동작검사지그에 동판을 설치하여 접지핀이 그물망형으로 접지되게 하므로서 저항의 최소화로 안정된 검사를 진행할 수 있는 동시에 외부로부터 유입되는 서지 및 정전기에 의한 PCB기판어셈블리를 보호할 수 있는 효과가 있다.

Claims

절연재의 상부판에 그 상면에 PCB기판어셈블리를 올려놓도록 하는 동작검사지그와, 동작검사지그의 각 모서리부에 세워져서 PCB기판어셈블리의 각 모서리에 형성된 가이드구멍을 끼워서 유동방지 및 정확한 위치에 셋팅되도록 하는 가이드핀과, PCB기판어셈블리의 기능 및 성능검사를 위하여 동작검사지그의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재에 의하여 돌출되는 다수의 테스트핀과, PCB기판어셈블리를 올려 놓을 때 테스트핀보다 먼저 접촉하는 동시에 최후에 분리되게 테스트핀보다 높게 돌출되도록 동작검사지그의 상부에 설정된 위치마다 탄력부재에 의하여 돌출되는 다수의 접지핀으로 구성한 것을 특징으로 하는 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치.
제1항에 있어서, 상기 접지핀은 동작검사지그에 균일하게 분포되도록 그물망모양으로 배열한 것을 특징으로 하는 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상부판 하측의 동작검사지그 상면에 접지핀과 연결되도록 접지용 동판이 제공된 것을 특징으로 하는 전자제품의 PCB기판어셈블리 동작검사장치.