KR0122165Y1

KR0122165Y1 - Connector for a semiconductor testing

Info

Publication number: KR0122165Y1
Application number: KR2019950006657U
Authority: KR
Inventors: 이채윤
Original assignee: 이채윤
Priority date: 1995-04-04
Filing date: 1995-04-04
Publication date: 1998-08-17
Also published as: KR960035610U

Abstract

본 고안은 제조공정에서 생산완료된 반도체(이하 소자라 함)의 리드와 접속되어 반도체의 성능을 검사하는 핸들러의 테스트부에 설치되는 컨넥터(Connector)에 관한 것으로써, 좀더 구체적으로는 메모리용의 소자를 테스트하는 컨넥터에서 단자가 훼손될 경우 훼손된 단자의 전체를 교체하지 않고 훼손된 단자의 일부만을 신속하게 교체시킬 수 있도록 한 것이다.The present invention relates to a connector which is connected to a lead of a semiconductor (hereinafter referred to as a device) produced in a manufacturing process and installed in a test part of a handler for inspecting the performance of the semiconductor. More specifically, a device for a memory If a terminal is damaged in the connector that is tested, it is possible to quickly replace only a part of the damaged terminal without replacing the entire damaged terminal.

이를 위해, 본 고안은 일체로 사출성형되는 본체(13)의 양측에 핀삽입공(14)과 연통되는 단자핀 삽입홈(15)을 대향되게 형성하고 상기 각 단자핀 삽입홈의 일측으로는 연이어 접속핀 삽입홈(16)을 형성함과 함께 상기 각 단자핀 삽입홈내에 걸림돌기(19)를 갖는 탄성편(20)과 핀(17)이 형성된 단자핀(18)을 삽입하여 상기 단자핀의 핀(17)이 본체(13)에 형성된 핀삽입공(14)을 통해 본체의 하방으로 노출되도록 하고 상기 접속핀 삽입홈(16)내에는 플런저(21)가 승강가능하게 탄력적으로 결합된 접속핀(23)을 끼워 상기 접속핀(23)이 접속핀 삽입홈(16)의 일측면과 걸림돌기(19)에 걸려 지지되도록 하여서 된 것이다.To this end, the present invention is formed to face the terminal pin insertion groove 15 in communication with the pin insertion hole 14 on both sides of the main body 13 to be integrally injection molded and one side of each of the terminal pin insertion groove The connecting pin insertion groove 16 is formed and the elastic piece 20 having the engaging protrusion 19 and the terminal pin 18 having the pin 17 are inserted into the respective terminal pin insertion grooves. The pin 17 is exposed to the lower side of the main body through the pin insertion hole 14 formed in the main body 13 and the connecting pin in which the plunger 21 is elastically coupled to the lifting pin insertion groove 16 to be elevated. (23) by inserting the connection pin 23 is to be supported by one side and the engaging projection 19 of the connection pin insertion groove (16).

Description

Semiconductor Test Connector

제1도는 종래의 컨넥터를 일부 절결하여 나타낸 분해사시도.1 is an exploded perspective view showing a part of the conventional connector cut away.

제2도는 제1도의 결합상태 종단면도.2 is a longitudinal cross-sectional view of FIG.

제3도는 본 고안의 일부를 절결하여 나타낸 분해사시도.Figure 3 is an exploded perspective view showing a cut off part of the present invention.

제4도는 제3도의 결합상태 종단면도.4 is a longitudinal cross-sectional view of FIG.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

13:본체 14:핀삽입공13: Body 14: pin insertion hole

15:단자핀 삽입홈 16:접속핀 삽입홈15: Terminal pin insertion groove 16: Connection pin insertion groove

17:핀 18:단자핀17: Pin 18: Terminal pin

19:걸림돌기 20:탄성편19: Jamming protrusion 20: elasticity

21:플런저 21a:돌기21: Plunger 21a: protrusion

22:탄성부재 23:접속핀22: elastic member 23: connecting pin

본 고안은 제조공정에서 생산완료된 반도체(이하 소자라 함)의 리드와 접속되어 반도체의 성능을 검사하는 핸들러의 테스트부에 설치되는 컨넥터(Connector)에 관한 것으로써, 좀더 구체적으로는 메모리용의 소자(SOIC,SOJ)를 테스트하는 컨넥터에서 단자가 훼손될 경우 훼손된 단자의 전체를 교체하지 않고 훼손된 단자의 일부만을 신속하게 교체시킬 수 있도록 한 것이다.The present invention relates to a connector which is connected to a lead of a semiconductor (hereinafter referred to as a device) produced in a manufacturing process and installed in a test part of a handler for inspecting the performance of the semiconductor. More specifically, a device for a memory If a terminal is damaged in the connector testing (SOIC, SOJ), only a part of the damaged terminal can be replaced quickly without replacing the entire damaged terminal.

첨부도면 제1도는 종래의 컨넥터를 일부 절결하여 나타낸 분해사시도이고 제2도는 제1도의 결합상태 종단면도로써, 합성수지재의 컨넥터는 핀(2)이 삽입되는 핀삽입공(3)이 지그재그로 형성된 하판(1)과, 복수개의 단자(4)가 상부로 노출되게 삽입홈(5)이 길이방향으로 길게 형성된 하우징(6)으로 구성되어 있어 상기 하우징에 형성된 각 삽입홈(5)내에 단자(4)를 차례로 끼운 다음 하우징의 저면에 고정되는 맞춤핀(7)을 하판(1)의 결합공(8)으로 끼워 넣어 컨넥터를 조립하도록 되어 있다.FIG. 1 is an exploded perspective view showing a part of a conventional connector cut away, and FIG. 2 is a longitudinal cross-sectional view of the coupled state of FIG. 1, wherein a connector of a synthetic resin material has a bottom plate formed by a zigzag of a pin insertion hole 3 into which a pin 2 is inserted. (1) and a housing (6) formed with an insertion groove (5) elongated in the longitudinal direction so that the plurality of terminals (4) are exposed to the top, and the terminal (4) in each insertion groove (5) formed in the housing After inserting the fitting pin (7) is fixed to the bottom of the housing into the coupling hole (8) of the lower plate (1) is to assemble the connector.

상기 단자(4)는 소자(9)의 리드(9a)와 접속되는 접속부(10)와, 상기 리드에 외력이 가해져 접속부가 눌림에 따라 압축된 다음 외력이 제거되면 접속부를 초기 상태로 환원시키는 탄성부(11)와, 상기 단자(4)를 테스트부(도시는 생략함)의 단자에 리드선으로 연결시키는 핀(2)이 일체로 형성되어 있다.The terminal 4 has a connection portion 10 connected to the lead 9a of the element 9, and an elastic force that reduces the connection portion to an initial state when an external force is applied to the lead and the connection portion is compressed and then the external force is removed. The part 11 and the pin 2 which connects the said terminal 4 to the terminal of a test part (not shown) by the lead wire are integrally formed.

따라서 복수개의 단자(4)의 접속부(10)가 하우징(6)의 상부로 노출됨과 동시에 핀(2)이 하판(1)의 하부로 노출되도록 컨넥터를 조립한 상태에서 상기 컨넥터를 핸들러의 테스트부에 제2도와 같이 설치한 상태에서 테스트하고자 하는 1개의 메모리용 소자(9)가 이송수단에 의해 이송되어 오면 상기 소자의 리드(9a)가 단자(4)의 접속부(10)와 접속된다.Therefore, the connector 10 is exposed to the upper portion of the housing 6 at the same time as the connector (2) is exposed to the lower portion of the lower plate (1) while the connector is assembled in the test section of the handler When one memory element 9 to be tested is transferred by a transfer means in the state where it is installed as shown in FIG. 2, the lead 9a of the element is connected to the connection portion 10 of the terminal 4.

이러한 상태에서 부도체인 사파이어와 같은 누름핀(12)이 리드(9a)를 화살표방향으로 눌러주면 제2도와 같이 하우징(6)의 상부로 노출된 단자(4)의 탄성부(11)가 일점쇄선과 같이 압축력을 받으며 하강하게 되므로 소자(9)의 리드(3a)와 접속부(11)가 긴밀히 접속되고, 이에따라 테스트부에서 생산완료된 메모리용 소자의 성능을 판단하여 중앙처리장치(CPU)에 그 결과를 알리게 된다.In this state, when the push pin 12 such as sapphire, which is an insulator, presses the lead 9a in the direction of the arrow, the elastic part 11 of the terminal 4 exposed to the upper part of the housing 6 as shown in FIG. The lead 3a and the connecting portion 11 of the element 9 are closely connected, and accordingly the performance of the memory element produced in the test part is judged by the test unit. You will be informed.

그후 이송수단에 의해 소자(9)가 이송트랙상으로 이송되면 탄성부(11)에 가해지던 외력이 제거되므로 접속부(10)는 초기상태로 환원되어 하우징(6)의 상부로 노출된다.After that, when the element 9 is transferred onto the transfer track by the transfer means, the external force applied to the elastic portion 11 is removed, so that the connection portion 10 is reduced to an initial state and exposed to the upper portion of the housing 6.

이와같이 테스트가 완료되어 소자(9)가 송출트랙을 통해 분류부로 송출되면 판정결과에 따라 테스트완료된 소자를 양품과 불량품으로 분류하게 된다.Thus, when the test is completed and the device 9 is sent to the classification unit through the delivery track, the tested device is classified as good or defective according to the determination result.

그러나 이러한 종래의 컨넥터는 소자(9)의 반복테스트(약 3만번정도)에 따라 소자(9)의 리드(9a)와 접속되는 접속면(10a)이 이물질에 오염되거나, 탄성부(11)의 탄성력이 저하될 경우 하판(1)에 결합된 하우징(6)을 하판(1)으로부터 분리시킨 다음 훼손된 단자(4)의 전체를 교체시켜 주어야 되었으므로 고가의 단자(1개당 약 2,500원정도)를 교체하므로 인해 경제적인 손실을 초래하게 되었다.However, according to the conventional connector, the connection surface 10a connected to the lead 9a of the element 9 is contaminated with foreign matters or the elastic portion 11 of the elastic part 11 is subjected to repeated tests (about 30,000 times) of the element 9. When the elastic force is lowered, the housing 6 coupled to the lower plate 1 should be separated from the lower plate 1, and then the entire damaged terminal 4 should be replaced. This caused economic losses.

또한, 컨넥터의 조립시에도 하우징(6)을 뒤집은 상태에서 단자(4)의 접속부(10)가 하우징의 상부로 노출되도록 단자를 삽입홈(5)내에 각각 삽입한 다음 하판(1)에 형성된 핀삽입공(3)을 상기 단자(4)의 핀(2)에 끼워 넣어야 되었으므로 컨넥터의 조립작업이 번거로워 생산성이 저하되는 문제점도 있었다.In addition, when assembling the connector, the terminals are respectively inserted into the insertion grooves 5 so that the connecting portion 10 of the terminal 4 is exposed to the upper portion of the housing while the housing 6 is turned upside down, and then the pin formed on the lower plate 1. Since the insertion hole 3 had to be inserted into the pin 2 of the terminal 4, the assembly work of the connector was cumbersome, and there was also a problem in that the productivity was lowered.

본 고안은 종래의 이와같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 본체를 일체로 형성하고 상기 본체에 결합되는 단자는 접속핀과 단자핀으로 분할 형성하여 상기 접속핀과 단자핀을 본체내에 분해, 조립가능하게 결합하므로써, 본체로부터 훼손된 접속핀만을 간단히 교체시킬 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.The present invention devised to solve such a problem in the prior art to form a main body integrally and the terminal coupled to the main body is formed by dividing the connection pin and the terminal pin can be disassembled, assembled in the main body It is the purpose to be able to easily replace only the connection pins damaged from the main body by combining them.

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 형태에 따르면, 일체로 사출성형되는 본체의 양측에 핀삽입공과 연통되는 단자핀 삽입홈을 대향되게 각각 형성하고 상기 단자핀 삽입홈의 일측으로는 연이어 접속핀 삽입홈을 형성함과 함께 상기 각 단자핀 삽입홈내에 걸림돌기를 갖는 탄성핀과 핀이 형성된 단자핀을 삽입하여 상기 단자핀의 핀이 본체에 형성된 핀삽입공을 통해 본체의 하방으로 노출되도록 하고 상기 접속핀 삽입홈내에는 플런저가 승강가능하게 탄력적으로 결합된 접속핀을 끼워 상기 접속핀이 접속핀 삽입홈의 일측면과 걸림돌기에 걸려 지지되도록 하여서 된 반도체테스트용 컨넥터가 제공된다.According to a form of the present invention for achieving the above object, each of the terminal pin insertion grooves which are in communication with the pin insertion hole is formed on both sides of the main body to be integrally injection molded facing each other, and one side of the terminal pin insertion groove is continuously connected to the connection pin insertion Forming a groove and inserting an elastic pin having a locking projection and a pin formed terminal pin in each of the terminal pin insertion groove so that the pin of the terminal pin is exposed to the lower side of the body through the pin insertion hole formed in the main body and the connection In the pin insertion groove, a connector for a semiconductor test is provided in which a connection pin with a plunger elastically coupled to be lifted and lowered so that the connection pin is caught by one side of the connection pin insertion groove and the engaging protrusion.

이하, 본 고안을 일 실시예로 도시한 첨부된 도면 제3도 및 제4도를 참고로 하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 3 and 4 of the accompanying drawings.

첨부도면 제3도는 본 고안의 컨넥터를 일부 절결하여 나타낸 사시도이고 제4도는 제3도의 결합상태 종단면도로써, 본 고안은 일체로 사출성형되는 본체(13)의 양측에 핀삽입공(14)과 연통되는 단자핀 삽입홈(15)이 대향되게 나란히 형성되어 있고 상기 각 단자핀 삽입홈의 일측으로는 연이어 접속핀 삽입홈(16)이 형성되어 잇다.3 is a perspective view showing a partially cut off the connector of the present invention and Figure 4 is a longitudinal cross-sectional view of the engaged state of Figure 3, the present invention is a pin insertion hole 14 and both sides of the main body 13 is integrally injection molded The terminal pin insertion grooves 15 communicating with each other are formed side by side to face each other, and the connection pin insertion grooves 16 are successively formed at one side of each terminal pin insertion groove.

상기 각 단자핀 삽입홈(15)에는 하방에 핀(17)이 형성된 단자핀(18)이 삽입되어 상기 핀이 본체(13)에 형성된 핀삽입공(14)을 통해 본체(13)의 하부로 노출되어 있으며 상기 단자핀(18)에는 걸림돌기(19)를 갖는 탄성편(20)이 형성되어 잇다.Each of the terminal pin insertion grooves 15 has a terminal pin 18 having a pin 17 formed thereon, and the pins are inserted into the lower portion of the main body 13 through pin insertion holes 14 formed in the main body 13. The terminal piece 18 is exposed and an elastic piece 20 having a locking projection 19 is formed.

그리고 상기 접속핀 삽입홈(16)에는 플런저(21)가 탄성부재(22)에 의해 승강기능하게 탄력설치된 접속핀(23)이 끼워져 일단은 접속핀 삽입홈(16)에 지지되고, 다른 일단은 걸림돌기(19)에 걸려 지지되도록 되어 있다.In addition, the connection pin insertion groove 16 is fitted with a connection pin 23 in which the plunger 21 is elastically installed by the elastic member 22 so that one end thereof is supported by the connection pin insertion groove 16, and the other end thereof is an obstacle. It is made to be supported by the flag 19.

상기 플런저(21)의 상면에는 뾰쪽한 다수개의 돌기(21a)가 형성되어 있는데, 이는 플런저(21)가 소자(9)의 리드(9a)와 접속시 면접촉이 되지 않고 점접촉이 되도록 하기 위함이다.The upper surface of the plunger 21 is formed with a plurality of pointed protrusions (21a), so that the plunger 21 is in point contact without contacting the surface when connecting the lead (9a) of the element (9) to be.

이와같이 구성된 본 고안의 작용, 효과를 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation, effects of the present invention configured as described above are as follows.

먼저, 사출성형된 본체(13)의 단자핀 삽입홈(15)내에 단자핀(18)을 차례로 삽입하여 본체(13)에 형성된 핀삽입공(14)을 통해 단자핀(18)에 형성된 핀(17)이 본체(13)의 하방으로 노출되도록 한다.First, the pins formed on the terminal pins 18 through the pin insertion holes 14 formed in the main body 13 by sequentially inserting the terminal pins 18 into the terminal pin insertion grooves 15 of the injection molded body 13 ( 17) is exposed below the main body 13.

이와같이 본체(13)의 삽입홈(14)내에 단자핀(18)을 각각 삽입하고 난 후 상기 단자핀 삽입홈의 일측으로 연이어져 형성되어 있는 접속핀 삽입홈(16)으로 접속핀(23)을 각각 삽입하면 상기 접속핀(23)의 일측면은 접속핀 삽입홈(16)에 밀착됨과 동시에 다른 일측면은 탄성편(20)의 일측에 형성된 걸림돌기(19)에 걸려 지지되므로 접속핀(23)이 접속핀 삽입홈(16)에서 이탈되지 않는다.After inserting the terminal pins 18 into the insertion grooves 14 of the main body 13 as described above, the connection pins 23 are connected to the connection pin insertion grooves 16 formed to be connected to one side of the terminal pin insertion grooves. When inserted, one side of the connecting pin 23 is in close contact with the connecting pin insertion groove 16 and the other side is supported by the engaging projection 19 formed on one side of the elastic piece 20, so the connecting pin 23 ) Is not detached from the connecting pin insertion groove (16).

이때 접속핀(23)의 직경이 탄성편(20)의 일측에 형성된 걸림돌기(19)사이의 간격보다 크기 때문에 상기 탄성편(20)이 외측으로 벌어지면서 복원력을 갖게 되므로 접속핀(23)이 단자핀(18)에 긴밀히 접속된다.At this time, since the diameter of the connecting pin 23 is larger than the distance between the engaging projections 19 formed on one side of the elastic piece 20, the elastic piece 20 is opened to the outside to have a restoring force, so the connecting pin 23 is It is closely connected to the terminal pin 18.

이에따라 본체(13)의 상부로 노출된 접속핀(23)의 플런저(21)에 외력이 작용되면 상기 플러저는 탄성부재(22)의 탄성력에 의해 접속핀(23)의 내부를 출몰하게 된다.Accordingly, when an external force is applied to the plunger 21 of the connection pin 23 exposed to the upper portion of the main body 13, the plunger oozes the inside of the connection pin 23 by the elastic force of the elastic member 22.

상기한 바와 같은 동작으로 컨넥터의 조립을 완료하여 핸들러의 테스트부에 제4도와 같이 설치한 상태에서 테스트하고자 하는 1개의 소자(9)가 이송수단에 의해 이송되어 오면 상기 소자의 리드(9a)가 접속핀(23)의 과 플런저(21)에 접속된다.When the assembly of the connector is completed by the operation as described above and the one element 9 to be tested is transferred by the transfer means in the state of being installed in the test unit of the handler as shown in FIG. 4, the lead 9a of the element is It is connected to the plunger 21 and the connecting pin 23.

이러한 상태에서 부도체인 사파이어와 같은 누름핀(12)이 리드(9a)를 화살표방향으로 눌러주면 제4도와 같이 플런저(21)가 탄성부재(22)를 압축시키면서 일점쇄선과 같이 하강하게 되므로 소자(9)의 리드(9a)와 플런저(21)의 상면이 긴밀히 접속되고, 이에따라 테스트부에서 생산완료된 소자의 성능을 판단하여 중앙처리장치(CPU)에 그 결과를 알리게 된다.In this state, when the push pin 12 such as sapphire, which is an insulator, presses the lead 9a in the direction of the arrow, the plunger 21 compresses the elastic member 22 and descends like a dashed line as shown in FIG. The lead 9a of 9) and the upper surface of the plunger 21 are closely connected, and accordingly, the performance of the device produced by the test unit is judged to inform the CPU of the result.

이때 상기 소자(9)의 리드(9a)가 접속되는 플런저(21)의 상면에는 다수개의 뾰쪽한 돌기(21b)가 형성되어 있어 리드(9a)의 저면이 점접촉을 하게 되므로 소자의 반복테스트시에도 마모량이 적어지게 됨은 물론 이물질에 쉽게 오염되지 않는다.At this time, a plurality of pointed protrusions 21b are formed on the upper surface of the plunger 21 to which the lead 9a of the element 9 is connected, so that the bottom surface of the lead 9a is in point contact. In addition, the amount of wear is reduced as well as not easily contaminated with foreign substances.

그후 이송수단에 의해 소자(9)가 송출트랙상으로 이송되면 플런저(21)에 가해지던 외력이 제거되므로 상기 플런저은 탄성부재(22)의 복원력으로 초기상태로 환원된다.Then, when the element 9 is transferred onto the delivery track by the transfer means, the external force applied to the plunger 21 is removed, so that the plunger is reduced to the initial state by the restoring force of the elastic member 22.

이와같이 테스트가 완료되면 판정결과에 따라 분류부에서 테스트완료된 소자를 양품과 불량품으로 분류하게 되는 것이다.As such, when the test is completed, the classification unit classifies the tested device as good or defective according to the determination result.

한편, 상기한 컨넥터를 이용하여 장시간 테스트를 하므로써, 접속핀(23)이 마모되거나, 이물질에 오염될 경우에는 훼손된 접속핀(23)을 접속핀 삽입홈(16)으로부터 빼낸 다음 상기 삽입홈내에 새로운 접속핀을 교체해 주면 계속해서 컨넥터를 사용할 수 있게 됨은 이해가능한 것이다.On the other hand, if the connection pin 23 is worn or contaminated by foreign substances by long time test using the above connector, the damaged connection pin 23 is pulled out from the connection pin insertion groove 16 and then a new inside the insertion groove. It is understandable that replacing the pins will allow the connector to continue to be used.

이상에서와 같은 본 고안은 일체로 형성된 본체(13)의 상부에서 분할 형성된 단자핀(18)과 접속핀(23)을 착탈가능하게 결합하도록 되어 있어 컨넥터의 조립작업이 용이해지게 되므로 생산성을 향상시키게 됨은 물론 컨넥터의 장시간 사용으로 접속핀(23) 이 훼손될 경우 훼손된 해당 접속핀만을 교체시켜 주면 되므로 고가의 접속핀 전체를 교체하던 종래의 컨넥터에 비해, 매우 경제적인 잇점을 갖게 된다.The present invention as described above is to be detachably coupled to the terminal pin 18 and the connecting pin 23 formed in the upper portion of the main body 13 formed integrally to facilitate the assembly operation of the connector, thereby improving productivity Of course, when the connection pin 23 is damaged by the long time use of the connector, only the damaged connection pins need to be replaced, and thus, compared to the conventional connector which replaced the entire expensive connection pin, it has a very economical advantage.

Claims

Terminal pin insertion grooves 15 communicating with the pin insertion holes 14 are formed on both sides of the body 13 to be integrally injection molded, and the connection pin insertion grooves 16 are connected to one side of each of the terminal pin insertion grooves. In addition, the pin 17 of the terminal pin is inserted into the main body by inserting an elastic piece 20 having a locking projection 19 and a terminal pin 18 having a pin 17 into each of the terminal pin insertion grooves. Through the pin insertion hole 14 formed in the (13) to be exposed to the lower side of the main body and in the connecting pin insertion groove 16 is fitted a connecting pin 23, the plunger 21 is elastically coupled to the lifting and lowering of the The connector for the semiconductor test, characterized in that the connecting pin 23 is caught on the one side and the engaging projection 19 of the connecting pin insertion groove (16).

The connector for semiconductor test according to claim 1, wherein a plurality of pointed projections (21a) are formed on the upper surface of the plunger (21).