KR101620541B1 - Connector for electrical connection - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전기접속용 커넥터에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스의 단자와, 검사장치의 패드 사이에 배치되어 단자와 패드의 전기적 접속을 위한 전기접속용 커넥터에 있어서, 상단이 상기 피검사 디바이스의 단자에 접촉할 수 있으며, 상단으로부터 하측으로 연장되는 제1접속부; 하단이 상기 검사장치의 패드에 접촉할 수 있으며, 하단으로부터 상측으로 연장되고 상기 제1접속부와 동일한 평면상에서 슬라이드 이동하는 제2접속부; 및 상기 제1접속부 및 상기 제2접속부와 일체로 연결되며, 상기 제1접속부의 상단과 제2접속부의 하단이 서로 근접한 방향으로 이동할 때 상기 제1접속부의 상단과 상기 제2접속부의 하단을 서로 멀어지는 방향으로 이동시키는 스프링으로 이루어지되, 상기 제1접속부와 상기 제2접속부가 서로 근접한 방향으로 상대이동하였을 때, 서로 이격된 상기 제1접속부와 상기 제2접속부는 적어도 일부분에서 서로 접촉될 수 있는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터에 대한 것이다.More particularly, the present invention relates to an electrical connector for electrical connection between a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspecting device for electrical connection between a terminal and a pad, A first connecting portion capable of contacting a terminal of the device and extending downward from the top; A second connecting portion whose lower end can contact the pad of the inspection apparatus and extends upward from the lower end and slides on the same plane as the first connecting portion; And an upper end of the first connecting portion and a lower end of the second connecting portion are connected to each other when the upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion move in directions close to each other, When the first connecting portion and the second connecting portion move relative to each other in a direction close to each other, the first connecting portion and the second connecting portion spaced from each other can be brought into contact with each other at least in part And a connector for electrical connection.

Description

전기접속용 커넥터{Connector for electrical connection}[0001] The present invention relates to a connector for electrical connection,

본 발명은 전기접속용 커넥터에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 제조가 간편하고, 전기적 신호를 안정적으로 상호전달할 수 있는 전기접속용 커넥터에 대한 것이다.The present invention relates to an electrical connection connector, and more particularly, to an electrical connection connector which is simple to manufacture and which can stably mutually transmit an electrical signal.

일반적으로 피검사 디바이스의 전기적 특성 검사를 위해서는 피검사 디바이스와 검사장치와의 전기적 연결이 안정적으로 이루어져야 한다. 통상 피검사 디바이스와 검사장치와의 연결을 위한 장치로서 전기적 검사소켓이 사용된다.Generally, in order to inspect the electrical characteristics of a device to be inspected, the electrical connection between the device to be inspected and the inspection device must be stable. An electrical inspection socket is usually used as a device for connection between the inspected device and the inspected device.

이러한 전기적 검사소켓의 역할은 피검사 디바이스의 단자와 검사장치의 패드를 서로 연결시켜 전기적인 신호가 양방향으로 교환 가능하게 하는 것이다. 이를 위하여 전기적 검사소켓의 내부에 사용되는 접촉수단으로 도전성 고무를 이용하는 소켓 또는 금속핀 및 스프링을 이용한 소켓이 사용된다. 이러한 도전성 고무를 이용한 소켓의 경우 탄성을 가지는 도전부를 피검사 디바이스의 단자와 접속시키는 것이며, 포고핀을 이용한 소켓은 금속핀이 단자와 접촉되고, 피검사 디바이스와의 연결시 발생할 수 있는 기계적인 충격을 스프링이 완충할 수 있도록 구성된다.The role of such an electrical inspection socket is to connect the terminals of the device under test and the pads of the inspection apparatus to each other so that electrical signals can be exchanged in both directions. For this purpose, a socket using a conductive rubber or a socket using a metal pin and a spring is used as the contact means used inside the electric test socket. In the case of a socket using such a conductive rubber, a conductive part having elasticity is connected to a terminal of the device to be inspected. In a socket using a pogo pin, a metal pin is brought into contact with a terminal, The spring is configured to buffer.

이러한 종래기술에 따른 전기적 검사소켓 중에서 포고핀을 이용한 소켓은 원형통 내부에 금속핀과 스프링이 포함되어 이루어지는데, 이러한 포고핀 타입의 소켓은 비교적 고가이기 때문에 도 1 내지 도 5에 개시된 바와 같이 저가형의 판재형 금속핀을 이용한 소켓이 개발되고 있는 실정이다.Among the electrical inspection sockets according to the related art, the socket using the pogo pin includes a metal pin and a spring in the inside of the socket. Since the socket of the pogo pin type is relatively expensive, A socket using a sheet metal pin has been developed.

이러한 종래기술에 따른 저가형 판재형 금속핀을 이용한 전기적 검사소켓의 일 예는 도 1 및 도 2에 나타나 있듯이, 같은 형상의 2개의 접촉 핀(2)과, 코일 스프링(3)으로 구성되어 있다. 접촉 핀(2)은 주로, 걸림돌기(4), 걸림구멍(5), 플랜지부(6), 핀 선단부(2A)로 구성되어 있다. 걸림돌기(4)는, 마주보고 2개 설치되고, 가요성이 있는 지지봉부(4A)로 지지되어 있다. 이에 의해, 2개의 걸림돌기(4)는, 서로 근접 이간하도록 되어 있다. 걸림구멍(5)은, 걸림돌기(4)가 결합하는 구멍으로, 걸림돌기(4)의 폭에 맞춰서 장방형 형상으로 형성되어 있다. 이에 의해, 2개의 접촉 핀(2)이 90도 어긋나서 서로 마주보고 결합함으로써, 걸림구멍(5)의 개구(開口)에, 2개의 걸림돌기(4)가 각각 걸려서 서로 빠지지 않도록 되어 있다. 플랜지부(6)는, 코일 스프링(3)이 접촉되는 부분이다. 2개의 접촉 핀(2)이 각각 코일 스프링(3)에 삽입된 상태에서 90도 어긋나서 서로 결합함으로써, 코일 스프링(3)의 양단이 각 플랜지부(6)에 접촉하여 접촉자(1)가 쌓아 올려진다. 2개의 접촉 핀(2)이 서로 결합한 상태에서 쌓아 올려진 접촉자(1)의 양 단부(端部)는 전극 등에 접촉하여 전기적으로 접속되는 핀 선단부(2A)가 된다.As shown in Figs. 1 and 2, an example of an electrical inspection socket using such a low-priced plate-like metal pin according to the related art is composed of two contact pins 2 of the same shape and a coil spring 3. [ The contact pin 2 is mainly constituted by a locking projection 4, an engagement hole 5, a flange portion 6 and a pin distal end portion 2A. Two locking protrusions 4 are provided facing each other and are supported by a flexible supporting bar 4A. Thereby, the two locking projections 4 are arranged close to each other. The latching hole 5 is a hole into which the latching protrusion 4 is engaged and is formed into a rectangular shape in conformity with the width of the latching protrusion 4. [ As a result, the two contact pins 2 are shifted by 90 degrees to face each other, so that the two locking projections 4 are engaged with the openings of the locking holes 5 so as not to be separated from each other. The flange portion 6 is a portion where the coil spring 3 contacts. Both ends of the coil spring 3 are brought into contact with the respective flange portions 6 so that the contacts 1 are piled up so that the two contact pins 2 are inserted into the coil springs 3, Is raised. Both ends of the contactor 1 piled up in a state where the two contact pins 2 are engaged with each other become the pin tip end 2A to be electrically connected to the electrodes or the like.

또한, 또 다른 종래기술로서의 전기적 검사소켓은 대한민국 등록특허 10-1310672호에는 개시되어 있으며 도 3 내지 도 5로 나타난다. 구체적으로 전기적 검사소켓은 주로, 배선기판(15), 아래쪽 하우징(16), 위쪽 하우징(17), 프레임(18), 가이드 판(19), 접촉자(20)를 갖추어 구성되어 있다.Further, another conventional electric inspection socket is disclosed in Korean Patent No. 10-1310672 and shown in Figs. 3 to 5. Specifically, the electric test socket is mainly composed of a wiring board 15, a lower housing 16, an upper housing 17, a frame 18, a guide plate 19, and a contactor 20.

이때 접촉자(20)은 한쪽 부재에 접촉하는 판상의 제1 플런저(62); 판상의 제2 플런저(63)로서, 상기 제1 플런저(62)와 판끼리 서로 겹쳐진 상태로 넓은 면적에서 다른쪽 부재에 접촉하여 상기 제1 플런저(62)와 협동하여 상기 한쪽 부재와 다른쪽 부재와의 사이를 전기적으로 도통시키는 제2 플런저(63); 및 제1 플런저(62)와 제2 플런저(63)를 서로 그 접촉 편을 반대방향으로 한 상태로 결합하는 부재로서, 상기 제1 플런저(62) 및 제2 플런저(63)의 결합부의 외주를 덮고, 그리고 각 플런저의 스프링 받음부에 각각 접촉하여 각 플런저를 상대적으로 슬라이드 가능하게 지지하는 압축 코일 스프링(64); 을 갖추어 구성된다.At this time, the contactor 20 includes a first plunger 62 in a plate shape contacting with one member; The second plunger 63 is a plate-shaped second plunger 63 which is in contact with the other member in a large area overlapping with the first plunger 62 and cooperating with the first plunger 62, A second plunger (63) electrically connecting the first and second electrodes to each other; And the first plunger 62 and the second plunger 63 in a state in which their contact pieces are opposite to each other. The outer circumference of the engagement portion of the first plunger 62 and the second plunger 63 And a compression coil spring (64) which contacts the spring receiving portions of the respective plungers to relatively slideably support the plungers, respectively; Respectively.

이때 상기 제1 플런저(62) 및 제2 플런저(63) 중 어느 한쪽을 1개, 다른 쪽을 2개 갖추어, 한쪽의 1개의 플런저의 판상의 결합부를 다른 쪽의 2개의 플런저의 판상의 결합부에 끼워 구성되고, 한쪽의 1개의 플런저의 결합부의 폭 치수는, 다른 쪽 2개의 플런저의 결합부의 폭 치수보다 크게 구성되고, 상기 압축 코일 스프링(64)의 양 단부의 내경이, 상기 제1 플런저(62) 및 제2 플런저(63)의 각 결합부를 서로 겹친 상태의 단면 형상에 외접하는 외접원의 직경과 같거나 또는 작게 설정된 것을 특징으로 하고 있습니다.At this time, either one of the first plunger 62 and the second plunger 63 is provided, and the other of the first plunger 62 and the second plunger 63 is provided, and the plate-like coupling portion of one plunger is connected to the plate- The width dimension of the engaging portion of one plunger is larger than the width dimension of the engaging portion of the other two plungers and the inner diameter of both ends of the compression coil spring 64 is larger than the inner diameter of the first plunger, Is set to be equal to or smaller than the diameter of the circumscribed circle circumscribing each of the engaging portions of the second plunger (62) and the second plunger (63) in a cross-sectional shape in which they are overlapped with each other.

이러한 도 1 내지 도 5에 개시된 전기적 검사소켓은 서로 별개로 구성된 복수의 구성품을 조립해야 하기 때문에 조립 및 생산성이 떨어진다는 문제점이 있다. 즉, 도 1에 따른 전기적 검사소켓은 2개의 접촉 핀과, 코일 스프링을 별도로 제작한 후에 이 각각의 구성품을 서로 조립해야 하는 불편함이 있게 된다. 또한, 도 3에 도시된 전기적 검사소켓은, 판상의 제1, 2플런저와 압축 코일 스프링을 별도로 제작한 후에 이 각각의 구성품을 서로 조립해야 하는 불편함이 있게 된다.The electrical inspection socket disclosed in FIGS. 1 to 5 has a problem in that assembly and productivity are degraded because a plurality of separate components are assembled. That is, the electric inspection socket according to FIG. 1 has a disadvantage that the two contact pins and the coil spring are separately manufactured and then the components are assembled with each other. In addition, the electric inspection socket shown in FIG. 3 has a disadvantage that after assembling the first and second plungers and the compression coil spring in the form of plates, the respective components must be assembled with each other.

또한 종래기술에 따른 전기적 검사소켓은 각 구성품들이 서로 면접촉에만 의지하여 전기적 신호가 전달되는데, 이러한 면접촉에 의한 전기적 신호전달은 해당 접촉면에 이물질이 묻게 되면 신호전달에 의한 특성이 저하될 수 밖에 없다는 단점이 있게 된다.Also, in the electric test socket according to the related art, electric signals are transmitted to each of the components by only their surface contact with each other. When electric signals are transmitted by such surface contact, if the foreign substance is deposited on the contact surface, There is a disadvantage that it is absent.

이와 함께 도 1에 따른 전기적 검사소켓은 상하 접촉핀이 서로 접촉되도록 구성된 것이 아니고 스프링에 의하여 전기적 신호가 연결되는데 스프링은 상기 상호 접촉핀과 서로 떨어져 있어서 전기적 안정성이 다소 떨어지는 문제점이 있게 된다. 또한 전기적 신호경로가 길어져서 신호전달에 있어서 다소 문제가 된다.In addition, the electrical inspecting socket shown in FIG. 1 is not configured such that the upper and lower contact pins are in contact with each other, but an electrical signal is connected by a spring, and the spring is separated from the mutual contact pins. In addition, the electrical signal path becomes longer and becomes a problem in signal transmission.

1. 한국 등록특허 제10-1310672호1. Korean Patent No. 10-1310672

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 제조가 간편하고, 전기적 신호를 안정적으로 상호전달할 수 있는 전기접속용 커넥터를 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an electrical connection connector which is easy to manufacture and can stably mutually transmit an electrical signal.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전기접속용 커넥터는, 피검사 디바이스의 단자와, 검사장치의 패드 사이에 배치되어 단자와 패드의 전기적 접속을 위한 전기접속용 커넥터에 있어서,According to an aspect of the present invention for achieving the above object, there is provided an electrical connection connector for electrical connection between a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspection apparatus for electrical connection between a terminal and a pad,

상단이 상기 피검사 디바이스의 단자에 접촉할 수 있으며, 상단으로부터 하측으로 연장되는 제1접속부;A first connecting portion whose upper end can contact a terminal of the device to be inspected and which extends downward from an upper end;

하단이 상기 검사장치의 패드에 접촉할 수 있으며, 하단으로부터 상측으로 연장되고 상기 제1접속부와 동일한 평면상에서 슬라이드 이동하는 제2접속부; 및A second connecting portion whose lower end can contact the pad of the inspection apparatus and extends upward from the lower end and slides on the same plane as the first connecting portion; And

상기 제1접속부 및 상기 제2접속부와 일체로 연결되며, 상기 제1접속부의 상단과 제2접속부의 하단이 서로 근접한 방향으로 이동할 때 상기 제1접속부의 상단과 상기 제2접속부의 하단을 서로 멀어지는 방향으로 이동시키는 스프링으로 이루어지되,The upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion are spaced apart from each other when the upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion move in directions close to each other, Direction,

상기 제1접속부와 상기 제2접속부가 서로 근접한 방향으로 상대이동하였을 때, 서로 이격된 상기 제1접속부와 상기 제2접속부는 적어도 일부분에서 서로 접촉될 수 있다.When the first connecting portion and the second connecting portion move relative to each other in a direction close to each other, the first connecting portion and the second connecting portion spaced from each other can be brought into contact with each other at least in part.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 제1접속부의 하단이 제2접속부에 접촉되거나, 제2접속부의 상단이 제1접속부에 접촉될 수 있다.The lower end of the first connecting portion may be in contact with the second connecting portion, or the upper end of the second connecting portion may be in contact with the first connecting portion.

상기 전기접속용 커넥터에서, 상기 제1접속부는,In the electrical connection connector, the first connecting portion may include:

상기 피검사 디바이스의 단자와 접촉되는 제1상측부와, 상기 제1상측부로부터 아래로 연장되는 제1중간부와, 상기 제1중간부의 하단 일측으로부터 하측으로 연장되며 제1하측부를 포함하되,A first upper portion contacting the terminal of the device to be inspected; a first intermediate portion extending downward from the first upper portion; and a first lower portion extending downward from a lower end of the first intermediate portion,

상기 제2접속부는, 상기 제1중간부의 하단 타측에 접촉될 수 있다.And the second connecting portion may contact the other end of the lower end of the first intermediate portion.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 제1접속부는, 상기 제2접속부의 상측과 대응되는 형상을 가지면서 상기 제2접속부를 수용하는 제1수용부를 포함하되,Wherein the first connecting portion includes a first accommodating portion having a shape corresponding to an upper side of the second connecting portion and accommodating the second connecting portion,

상기 제1수용부에서 상기 제1접속부와 상기 제2접속부가 서로 접촉될 수 있다.And the first connecting portion and the second connecting portion may be in contact with each other in the first accommodating portion.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 제2접속부는, 상기 제1접속부의 하측과 대응되는 형상을 가지면서 상기 제1접속부를 수용하는 제2수용부를 포함하되,Wherein the second connecting portion includes a second accommodating portion having a shape corresponding to a lower side of the first connecting portion and accommodating the first connecting portion,

상기 제2수용부에서 상기 제1접속부와 상기 제2접속부가 서로 접촉될 수 있다.And the first connecting portion and the second connecting portion may be in contact with each other in the second accommodating portion.

상기 전기접속용 커넥터에서, 상기 스프링은, In the electrical connection connector,

상기 제1접속부의 하측과, 상기 제2접속부의 상측에 일체로 연결될 수 있다.And may be integrally connected to a lower side of the first connecting portion and an upper side of the second connecting portion.

상기 전기접속용 커넥터에서, 상기 스프링은,In the electrical connection connector,

상단이 상기 제2접속부에 일체로 형성되고, 하단이 상기 제1접속부에 일체로 연결될 수 있다.An upper end may be formed integrally with the second connection portion, and a lower end may be integrally connected to the first connection portion.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 스프링은 인장스프링일 수 있다.The spring may be a tension spring.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 제1접속부와, 상기 제2접속부는 전체적으로 판 형태로 이루어질 수 있다.The first connection portion and the second connection portion may be formed in a plate shape as a whole.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 제1접속부와 제2접속부는 적어도 2곳 이상에서 서로 접촉될 수 있다.The first connection portion and the second connection portion may be in contact with each other at at least two places.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전기접속용 커넥터는, 피검사 디바이스의 단자와, 검사장치의 패드 사이에 배치되어 단자와 패드의 전기적 접속을 위한 전기접속용 커넥터에 있어서,According to an aspect of the present invention for achieving the above object, there is provided an electrical connection connector for electrical connection between a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspection apparatus for electrical connection between a terminal and a pad,

제1접속부;A first connection;

상기 제1접속부와 동일한 평면상에서 슬라이드 이동하는 제2접속부; 및A second connecting portion sliding along the same plane as the first connecting portion; And

상기 제1접속부와 상기 제2접속부에 일체로 연결되고 상기 제1접속부의 상단과 제2접속부의 하단이 서로 근접한 방향으로 이동할 때 상기 제1접속부의 상단과 상기 제2접속부의 하단을 서로 멀어지는 방향으로 이동시키는 인장스프링을 포함하되,When the upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion are moved in a direction close to each other, the upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion are connected to the first connecting portion and the second connecting portion in a direction And a tension spring for moving the tension spring,

상기 제1접속부는 상기 인장스프링의 하측과 일체로 연결되고, 상기 제2접속부는 상기 인장스프링의 상측과 일체로 연결된다.The first connecting portion is integrally connected to the lower side of the tension spring, and the second connecting portion is integrally connected to the upper side of the tension spring.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 인장스프링의 일단은 상기 제1접속부의 내면과 일체로 연결되고,One end of the tension spring is integrally connected to the inner surface of the first connection portion,

상기 인장스프링의 하단은 상기 제2접속부의 내면과 일체로 연결될 수 있다.The lower end of the tension spring may be integrally connected to the inner surface of the second connection portion.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

제1접속부의 상단에는 복수개의 산형 탐침이 마련될 수 있다.A plurality of acid type probes may be provided on the upper end of the first connection part.

상기 전기접속용 커넥터에서,In the electrical connection connector,

상기 제1접속부의 상부는 피검사 디바이스의 단자와 접촉되고, An upper portion of the first connecting portion is in contact with a terminal of the device to be inspected,

상기 제1접속부의 상부는, 수평방향 단면이 곡선을 이루도록 곡면형상을 가질 수 있다.The upper portion of the first connection portion may have a curved surface shape such that the horizontal cross section is curved.

본 발명에 따른 전기접속용 커넥터는, 단자와 패드에 각각 접촉하는 제1접속부 및 제2접속부가 스프링에 일체로 연결되어 있기 때문에 제조가 간편하다는 장점이 있다.The connector for electrical connection according to the present invention is advantageous in that it is easy to manufacture because the first connecting portion and the second connecting portion, which are in contact with the terminal and the pad respectively, are integrally connected to the spring.

또한, 본 발명에 따른 전기접속용 커넥터는, 제1접속부 및 제2접속부가 서로 접근하여 접촉되도록 구성되어 있어서 전기적 전달경로를 짧게 함은 물론 안정적인 전기적 접속이 가능하게 한다는 장점이 있다.In addition, the electrical connector according to the present invention is advantageous in that the first connecting portion and the second connecting portion come into close contact with each other to shorten the electrical transmission path and enable stable electrical connection.

도 1 및 도 2는 종래기술에 따른 판재형 검사장치의 일 예를 나타내는 도면.
도 3 내지 도 5는 종래기술에 따른 판재형 검사장치의 또 다른 예를 나타내는 도면.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 다른 전기접속용 커넥터를 나타내는 도면.
도 7은 도 6의 전기접속용 커넥터가 하우징 내에 설치된 모습을 나타내는 모습이며 도 8은 도 7의 전기접속용 커넥터의 작동도.
도 9 및 도 10는 본 발명의 다른 실시예에 따른 전기접속용 커넥터의 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 and FIG. 2 are views showing an example of a plate type inspection apparatus according to the prior art. FIG.
Figs. 3 to 5 are views showing still another example of a plate-like type inspection apparatus according to the prior art. Fig.
6 is a view showing an electrical connection connector according to an embodiment of the present invention;
FIG. 7 is a view showing a state in which the electrical connection connector of FIG. 6 is installed in the housing, and FIG. 8 is an operational view of the electrical connection connector of FIG.
9 and 10 are views of an electrical connection connector according to another embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 전기접속용 커넥터는 첨부된 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.Hereinafter, an electrical connection connector according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 전기접속용 커넥터(100)는, 피검사 디바이스(140)의 단자(151)(미도시)와 검사장치(160)의 패드(161)를 서로 전기적으로 접속시키기 위하여, 상기 피검사 디바이스(140)의 단자(151)와 대응되는 위치마다 관통공(141)이 형성되는 하우징(140)의 상기 관통공(141) 내에 삽입되는 것이다. 이때 상기 피검사 디바이스(140)는 집적회로 등의 반도체 디바이스를 의미하며 예를 들어 볼 형태의 단자(151)가 하면상에 복수개 나열된 반도체 디바이스일 수 있다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 다양한 반도체 디바이스 내지 반도체 소자 등이 사용될 수 있음을 물론이다.The electrical connector 100 according to the present invention can be used for electrically connecting the terminals 151 (not shown) of the device under test 140 and the pads 161 of the inspection device 160 to each other Is inserted into the through hole 141 of the housing 140 in which the through hole 141 is formed at a position corresponding to the terminal 151 of the device 140. [ Here, the device under test 140 refers to a semiconductor device such as an integrated circuit, and for example, a ball-shaped terminal 151 may be a plurality of semiconductor devices arranged on a lower surface. However, the present invention is not limited thereto, and various semiconductor devices, semiconductor devices, and the like may be used.

이러한 전기접속용 커넥터(100)는, 제1접속부(110), 제2접속부(120) 및 스프링(130)을 포함하여 구성된다.The electrical connection connector 100 includes a first connection portion 110, a second connection portion 120, and a spring 130.

상기 제1접속부(110)는, 전체적으로 판형태로 이루어지는 것으로서, 상단이 상기 피검사 디바이스(140)의 단자(151)와 접촉할 수 있으며, 상단으로부터 하측으로 연장되어 있다. 상기 제1접속부(110)는 도전성 재료를 절삭하거나, 프레스 가공 또는 포토리소그래피 기술을 이용한 MEMS 가공에 의하여 형성되는 것이 가능하며, 제1접속부(110)의 소재를 니켈 합금 내지 기타 도전성이 우수한 다양한 것을 사용할 수 있다.The first connection part 110 is formed in a plate shape as a whole and has an upper end that can contact the terminal 151 of the device under test 140 and extends downward from the upper end. The first connection part 110 can be formed by cutting a conductive material, or by MEMS processing using a press working or a photolithography technique. The first connection part 110 can be made of a nickel alloy or various other materials having excellent conductivity Can be used.

이러한 제1접속부(110)는, 상기 피검사 디바이스(140)의 단자(151)와 접촉되는 제1상측부(111)와, 상기 제1상측부(111)로부터 아래로 연장되는 제1중간부(112)와, 상기 제1중간부(112)의 하단 일측으로부터 하측으로 연장되며 제1하측부(113)로 이루어진다.The first connecting portion 110 includes a first upper portion 111 which contacts the terminal 151 of the device under test 140 and a second middle portion 111 which extends downward from the first upper portion 111, And a first lower side portion 113 extending downward from one side of the lower end of the first intermediate portion 112.

상기 제1상측부(111)는, 단부가 뾰족한 2개의 산이 형성되어 있으며 그로부터 하측으로 일정한 폭을 가지면서 연장되어 있는 형상을 가지고 있다.The first upper side portion 111 has a shape in which two sharp-edged mountains are formed and extends downward with a certain width.

상기 제1중간부(112)는, 상기 상측부의 하단으로부터 하측으로 연장되되 상기 제1중간부(112)는 상기 제1상측부(111)보다 큰 폭을 가지면서 하측으로 연장된다. 이러한 제1중간부(112)의 하단 일측에는 제1하측부(113)가 마련되어 있으며 하단 타측은 제2접속부(120)가 접촉될 수 있도록 제1수용부(114)가 마련되어 있게 된다. The first intermediate portion 112 extends downward from the lower end of the upper portion while the first intermediate portion 112 extends downward with a greater width than the first upper portion 111. The first lower portion 113 is provided on the lower end of the first intermediate portion 112 and the first accommodating portion 114 is provided on the lower end of the first intermediate portion 112 so that the second connection portion 120 can be contacted.

상기 제1하측부(113)는, 상기 제1중부로부터 하측으로 연장되되 상기 제1중간부(112)의 하단 일측으로부터 하향 연장되도록 구성된다. 이러한 제1하측부(113)의 단부는 상기 스프링(130)의 하단과 일체로 연결되어 있게 된다. The first lower portion 113 is configured to extend downward from the first middle portion and extend downward from a lower end of the first intermediate portion 112. The end of the first lower portion 113 is integrally connected to the lower end of the spring 130.

상기 제1중간부(112)의 타측 하단면과 제1하측부(113)의 일측면(내측면)에 의하여 제2접속부(120)의 상측이 수용될 수 있는 제1수용부(114)가 형성된다. 이러한 상기 제1수용부(114)는 상기 제2접속부(120)의 상측과 대응되는 형상을 가지면서 상기 제2접속부(120)를 수용하는 것으로서, 상기 제1수용부(114)에서 상기 제2접속부(120)가 접촉하게 된다. 즉 상기 제1수용부(114)에서 상기 제1접속부(110)와 상기 제2접속부(120)가 서로 접촉되는 것이다. The first receiving portion 114 can receive the upper side of the second connecting portion 120 by the other lower end surface of the first intermediate portion 112 and one side (inner side surface) of the first lower side portion 113 . The first receiving portion 114 has a shape corresponding to the upper side of the second connecting portion 120 and accommodates the second connecting portion 120, The connection portion 120 is brought into contact. That is, the first connecting part 110 and the second connecting part 120 in the first receiving part 114 are in contact with each other.

상기 제2접속부(120)는, 전체적으로 평판형태로 이루어지고, 하단이 상기 검사장치(160)의 패드(161)에 접촉할 수 있으며, 하단으로부터 상측으로 연장되고 상기 제1접속부(110)와 동일한 평면상에서 슬라이드 이동하는 것으로서, 제2접속부(120)는 그 상단이 제1접속부(110)에 접촉될 수 있다.The lower end of the second connection part 120 may be in contact with the pad 161 of the inspection apparatus 160 and may extend upward from the lower end of the second connection part 120 and may have the same shape as the first connection part 110 The upper end of the second connecting portion 120 can be brought into contact with the first connecting portion 110. In addition,

이러한 제2접속부(120)는, 제1접속부(110)와 동일하게 도전성 재료를 절삭하거나, 프레스 가공 또는 포토리소그래피 기술을 이용한 MEMS 가공에 의하여 형성되는 것이 가능하며, 제1접속부(110)의 소재를 니켈 합금 내지 기타 도전성이 우수한 다양한 것을 사용할 수 있다.The second connection part 120 can be formed by cutting a conductive material or by MEMS processing using a press working or a photolithography technique in the same manner as the first connection part 110, A nickel alloy or various other materials excellent in conductivity may be used.

상기 제2접속부(120)는, 제2하측부(121), 제2중간부(122) 및 제2상측부(123)를 포함하여 구성된다. The second connecting portion 120 includes a second lower portion 121, a second intermediate portion 122, and a second upper portion 123.

상기 제2하측부(121)는, 다수의 탐침이 형성되어 있는 부분으로서 하단이 검사장치(160)의 패드(161)와 접촉될 수 있다. 다만 이에 한정되는 것은 아니며 하단이 대략 둥근 형태를 가지는 것도 가능하다.The second lower portion 121 may be a portion where a plurality of probes are formed, and the lower end of the second lower portion 121 may be in contact with the pad 161 of the inspection apparatus 160. However, the present invention is not limited thereto, and it is also possible that the lower end has a substantially rounded shape.

상기 제2중간부(122)는, 상기 제2하측부(121)로부터 상측으로 연장되되 상기 제2하측부(121)보다 넓은 폭을 가지는 부분이다. The second intermediate portion 122 is a portion extending upward from the second lower side portion 121 and having a wider width than the second lower side portion 121.

상기 제2상측부(123)는, 상기 제2중간부(122)의 상단 양쪽 단부에서 상측으로 나란하게 연장되어 있는 것으로서, 그 사이에 제2수용부(124)가 마련되어 있다. 이때 제2수용부(124)는 제1접속부(110)의 하측과 대응되는 형상을 가지면서 상기 제1접속부(110)는 수용하는 것이며, 상기 제2수용부(124)에서 상기 제1접속부(110)가 제2접속부(120)가 서로 접촉되게 된다. The second upper portion 123 extends upward from both ends of the upper end of the second intermediate portion 122, and a second receiving portion 124 is provided therebetween. The second receiving portion 124 has a shape corresponding to the lower side of the first connecting portion 110 and accommodates the first connecting portion 110. In the second receiving portion 124, 110 are brought into contact with each other at the second connecting portions 120.

또한, 한 쌍의 제2상측부(123) 중 어느 하나의 제2상측부(123)에서는 스프링(130)의 상단이 일체적으로 형성되어 있게 된다. 또한, 상기 한 쌍의 제2상측부(123) 중 스프링(130)의 상단과 일체적으로 연결되어 있는 제2상측부(123)의 상단은 제1수용부(114)에 수용되어 상기 제1중간부(112)의 하단 타측에 접촉되도록 구성된다.In addition, the upper end of the spring 130 is integrally formed on the second upper side portion 123 of one of the pair of second upper side portions 123. The upper end of the second upper portion 123 integrally connected to the upper end of the spring 130 among the pair of second upper side portions 123 is received in the first receiving portion 114, And is brought into contact with the other end of the lower end of the intermediate portion 112.

상기 스프링(130)은, 상기 제1접속부(110) 및 상기 제2접속부(120)와 일체로 연결되며, 상기 제1접속부(110)의 상단과 제2접속부(120)의 하단이 서로 근접한 방향으로 이동할 때 상기 제1접속부(110)의 상단과 상기 제2접속부(120)의 하단을 서로 멀어지는 방향으로 이동시키는 것이다. 이러한 스프링(130)은, 인장스프링(130)으로서 상기 제1접속부(110)의 하측과, 상기 제2접속부(120)의 상측에 일체로 연결되어 있는 것이다. 즉, 스프링(130)은 상단이 상기 제2접속부(120)에 일체적으로 연결되어 있으며, 하단이 상기 제1접속부(110)에 일체로 연결되어 있게 되어 상기 제1접속부(110)와 제2접속부(120)가 서로 접근하게 되면 원래 길이보다 스프링(130)이 늘어나면서 상기 제1접속부(110) 및 제2접속부(120)가 서로 멀어지는 방향으로 이동하도록 탄성바이어스시키는 것이다.The spring 130 is integrally connected to the first connection part 110 and the second connection part 120 and the upper end of the first connection part 110 and the lower end of the second connection part 120 are connected to each other in a direction The upper end of the first connection part 110 and the lower end of the second connection part 120 are moved away from each other. The spring 130 is integrally connected to the lower side of the first connection part 110 and the upper side of the second connection part 120 as a tension spring 130. [ That is, the upper end of the spring 130 is integrally connected to the second connection part 120 and the lower end thereof is integrally connected to the first connection part 110, so that the first connection part 110 and the second When the connection portions 120 approach each other, the spring 130 is stretched more than the original length so that the first connection portion 110 and the second connection portion 120 are elastically biased to move away from each other.

또한, 인장스프링(130)의 일단은 상기 제1접속부(110)의 내면과 일체로 연결되고, 상기 인장스프링(130)의 하단은 상기 제2접속부(120)의 내면과 일체로 연결되도록 구성된다. 이와 같이 스프링(130)이 제1접속부(110)와 제2접속부(120)의 내부에 배치되어 있음에 따라서 스프링(130)에 의하여 전체적인 설치공간이 커지는 것을 방지할 수 있다.One end of the tension spring 130 is integrally connected to the inner surface of the first connection part 110 and the lower end of the tension spring 130 is integrally connected to the inner surface of the second connection part 120 . Since the spring 130 is disposed inside the first connection part 110 and the second connection part 120, it is possible to prevent the overall installation space from being increased by the spring 130.

이러한 본 발명의 일 실시예에 따른 전기접속용 커넥터(100)에 대한 작용효과를 설명하면 다음과 같다.The operation and effect of the electrical connector 100 according to an embodiment of the present invention will be described as follows.

먼저, 하우징(140) 내에 각각의 전기접속용 커넥터(100)를 배치시킨 후에, 제2접속부(120)의 하단이 검사장치(160)의 패드(161)에 접촉하게 한다. The lower ends of the second connection portions 120 are brought into contact with the pads 161 of the inspection apparatus 160 after the respective electrical connection connectors 100 are disposed in the housing 140. [

이후에, 피검사 디바이스(140)의 단자(151)를 하강시켜 상기 피검사 디바이스(140)의 단자(151)가 제1접속부(110)를 가압하면, 상기 제1접속부(110)는 하강하면서 상기 제2접속부(120) 측으로 이동하게 된다. 이 과정에서 인장스프링(130)은 길이가 늘어나면서 원래 상태로 복귀하려는 탄성반발력이 발생하게 된다.Thereafter, when the terminal 151 of the device under test 140 is lowered and the terminal 151 of the device under test 140 presses the first connection part 110, the first connection part 110 is lowered The second connection unit 120 moves toward the second connection unit 120 side. In this process, the tensile spring 130 is stretched in length and an elastic repulsive force to return to the original state is generated.

한편, 상기 제1접속부(110)의 하단은, 제2접속부(120)에 접촉하고, 제2접속부(120)의 상단은 제1접속부(110)에 접촉하면서 서로 전기적 연결상태를 이루게 된다.The lower end of the first connection part 110 contacts the second connection part 120 and the upper end of the second connection part 120 contacts the first connection part 110 to be electrically connected to each other.

이 상태에서 검사장치(160)로부터 소정의 전기적 신호가 인가되면 상기 전기적 신호는 제2접속부(120)로부터 제1접속부(110)를 거쳐서 피검사 디바이스(140)의 단자(151)에 전달된다. 즉, 스프링(130)을 거치지 않고 제2접속부(120)로부터 바로 제1접속부(110)에 전달되어 보다 확실하면서 빠른 신호전달이 가능하게 된다.In this state, when a predetermined electrical signal is applied from the inspection apparatus 160, the electrical signal is transmitted from the second connection unit 120 to the terminal 151 of the device under test 140 through the first connection unit 110. That is, the signal is transmitted from the second connection unit 120 directly to the first connection unit 110 without passing through the spring 130, so that a more reliable and quick signal transmission is possible.

한편, 피검사 디바이스의 검사가 완료되어 피검사 디바이스를 상승시키면 팽창된 스프링이 원래 상태로 압축되면서 제1접속부와 제2접속부가 서로 멀어지도록 이동하게 된다. On the other hand, when the inspection of the device to be inspected is completed and the device to be inspected is raised, the expanded spring is compressed to the original state, and the first connection part and the second connection part are moved away from each other.

이러한 본 발명의 일 실시예에 따른 전기접속용 커넥터는, 전체적으로 구성품이 단 시간 내에 대량생산이 가능하여 생산성을 향상시킬 수 있다. 특히, 일체형(One body) 구조와 도전재질로 만들어서, 전기신호의 전달경로를 짧게 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있다는 장점이 있다. The connector for electrical connection according to one embodiment of the present invention can be mass-produced in a short time in the whole, thereby improving the productivity. Particularly, it is made of a one-body structure and a conductive material, so that a stable electric signal can be transmitted by shortening a transmission path of an electric signal.

특히, 본 발명에서는 반도체 디바이스의 단자에 의해 아래로 눌러지는 힘에 의하여 스프링이 늘어나며, 동시에 접점(제1접속부와 제2접속부가 서로 접촉하는 내부 접점으로서, 1point 또는 2point)이 마련됨으로써 전기신호의 이동경로가 짧아져 우수한 전기적 특성을 가질 수 있다.Particularly, in the present invention, the spring is extended by the force pressing down by the terminal of the semiconductor device, and at the same time, the contact point (1 point or 2 point as the internal contact point where the first connection part and the second connection part come in contact with each other) The moving path is shortened and excellent electrical characteristics can be obtained.

구체적으로, 본원발명은 금형을 이용한 성형과 가공에 의한 단순화된 공정으로 생산의 자동화가 쉽고 대량 생산 가능하다. 예를 들어 각 부품들을 서로 결합하거나 조립하는 공정이 전혀 없기 때문에 제조시간이 향상될 수 있다.Specifically, the present invention is a simple process by molding and processing using a mold, and automation of production is easy and mass production is possible. For example, the manufacturing time can be improved since there is no process of joining or assembling each part to each other.

특히, 제1접속부, 제2접속부 및 스프링이 일체화되어 연결되어 있기 때문에, 전기신호의 이동경로가 짧고, 안정적으로 전기적 신호를 상호전달할 수 있는 장점이 있다.Particularly, since the first connecting portion, the second connecting portion, and the spring are integrally connected to each other, the electric signal has a short travel path and can stably transmit electric signals.

이러한 본 발명에 따른 전기접속용 커넥터는 다음과 같이 변형될 수 있다.The connector for electrical connection according to the present invention can be modified as follows.

먼저, 상술한 실시예에는 제1접속부의 상부, 즉 피검사 디바이스의 단자와 접촉되는 부분이 판형태로 구성된 것을 예시하였으나, 도 10에 도시된 바와 같이 곡면형태로 굽어져 있는 것도 가능하다. 예를 들어, 도 9에 도시된 바와 같이 다소 폭이 넓은 상태에서 상단에 다수의 탐침을 형성한 제1접속부(210)을 준비한 후에, 이 제1접속부(210)의 상부(211)를 수평방향 단면이 곡선을 이루도록 원형태로 말아서 4포인트 컨택이 가능하도록 변형이 가능하다. 즉, 도 9의 형태에서 원형태로 말아서 도 10에 도시된 바와 같은 전기접속용 커넥터(200)를 얻을 수 있는 것이다.First, in the above-described embodiment, the upper portion of the first connection portion, that is, the portion contacting with the terminal of the device to be inspected is formed in a plate shape, but it is also possible to bend in a curved shape as shown in FIG. For example, as shown in FIG. 9, after a first connecting portion 210 having a plurality of probes formed at its upper end is prepared in a somewhat wide state, the upper portion 211 of the first connecting portion 210 is horizontally It can be deformed so that a four-point contact is possible by curving a circular cross-section into a circular shape. That is, the electrical connector 200 as shown in Fig. 10 can be obtained by rolling in the shape of Fig. 9 in the form of a circle.

이상에서 다양한 실시예를 들어 본 발명을 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 권리범위로부터 합리적으로 해석될 수 있는 것이라면 무엇이나 본 발명의 권리범위에 속하는 것은 당연하다.While the present invention has been described with reference to the particular embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims.

100...전기접속용 커넥터 110...제1접속부
111...제1상측부 112...제1중간부
113...제1하측부 114...제1수용부
120...제2접속부 121...제2하측부
122...제2중간부 123...제2상측부
124...제2수용부 130...스프링
140...하우징 141...관통공
150...피검사 디바이스 151...단자
160...검사장치 161...패드100 ... Electrical connection connector 110 ... First connection
111 ... first phase side portion 112 ... first intermediate portion
113 ... first lower side 114 ... first receiving portion
120 ... second connecting portion 121 ... second lower side
122 ... second intermediate portion 123 ... second upper side portion
124 ... second accommodating portion 130 ... spring
140 ... housing 141 ... through hole
150 ... inspected device 151 ... terminal
160 ... inspection device 161 ... pad

Claims (14)

피검사 디바이스의 단자와, 검사장치의 패드 사이에 배치되어 단자와 패드의 전기적 접속을 위한 전기접속용 커넥터에 있어서,
상단이 상기 피검사 디바이스의 단자에 접촉할 수 있으며, 상단으로부터 하측으로 연장되는 제1접속부;
하단이 상기 검사장치의 패드에 접촉할 수 있으며, 하단으로부터 상측으로 연장되고 상기 제1접속부와 동일한 평면상에서 슬라이드 이동하는 제2접속부; 및
상기 제1접속부 및 상기 제2접속부와 일체로 연결되며, 상기 제1접속부의 상단과 제2접속부의 하단이 서로 근접한 방향으로 이동할 때 상기 제1접속부의 상단과 상기 제2접속부의 하단을 서로 멀어지는 방향으로 이동시키는 스프링으로 이루어지되,
상기 제1접속부와 상기 제2접속부가 서로 근접한 방향으로 상대이동하였을 때, 서로 이격된 상기 제1접속부와 상기 제2접속부는 적어도 일부분에서 서로 접촉될 수 있고,
상기 스프링은 인장스프링인 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.An electrical connection connector for electrical connection between a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspecting apparatus for electrical connection between a terminal and a pad,
A first connecting portion whose upper end can contact a terminal of the device to be inspected and which extends downward from an upper end;
A second connecting portion whose lower end can contact the pad of the inspection apparatus and extends upward from the lower end and slides on the same plane as the first connecting portion; And
The upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion are spaced apart from each other when the upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion move in directions close to each other, Direction,
When the first connecting portion and the second connecting portion move relative to each other in a direction close to each other, the first connecting portion and the second connecting portion spaced from each other can be brought into contact with each other at least in part,
Wherein the spring is a tension spring. 제1항에 있어서,
상기 제1접속부의 하단이 제2접속부에 접촉되거나, 제2접속부의 상단이 제1접속부에 접촉되는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein a lower end of the first connecting portion contacts the second connecting portion, and an upper end of the second connecting portion contacts the first connecting portion. 제1항에 있어서,
상기 제1접속부는,
상기 피검사 디바이스의 단자와 접촉되는 제1상측부와, 상기 제1상측부로부터 아래로 연장되는 제1중간부와, 상기 제1중간부의 하단 일측으로부터 하측으로 연장되며 제1하측부를 포함하되,
상기 제2접속부는,
상기 제1중간부의 하단 타측에 접촉될 수 있는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein the first connecting portion comprises:
A first upper portion that is in contact with a terminal of the device to be inspected; a first intermediate portion that extends downward from the first upper portion; and a first lower portion that extends downward from a lower end of the first intermediate portion,
Wherein the second connecting portion comprises:
And the second intermediate portion can contact the other end of the lower end of the first intermediate portion. 제1항에 있어서,
상기 제1접속부는, 상기 제2접속부의 상측과 대응되는 형상을 가지면서 상기 제2접속부를 수용하는 제1수용부를 포함하되,
상기 제1수용부에서 상기 제1접속부와 상기 제2접속부가 서로 접촉되는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein the first connecting portion includes a first accommodating portion having a shape corresponding to an upper side of the second connecting portion and accommodating the second connecting portion,
Wherein the first connecting portion and the second connecting portion are in contact with each other in the first accommodating portion. 제1항에 있어서,
상기 제2접속부는, 상기 제1접속부의 하측과 대응되는 형상을 가지면서 상기 제1접속부를 수용하는 제2수용부를 포함하되,
상기 제2수용부에서 상기 제1접속부와 상기 제2접속부가 서로 접촉되는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein the second connecting portion includes a second accommodating portion having a shape corresponding to a lower side of the first connecting portion and accommodating the first connecting portion,
And the first connecting portion and the second connecting portion are in contact with each other in the second accommodating portion. 제1항에 있어서,
상기 스프링은,
상기 제1접속부의 하측과, 상기 제2접속부의 상측에 일체로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
The spring
Wherein the second connection portion is integrally connected to a lower side of the first connection portion and an upper side of the second connection portion. 제1항에 있어서,
상기 스프링은,
상단이 상기 제2접속부에 일체로 형성되고, 하단이 상기 제1접속부에 일체로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
The spring
Wherein an upper end is integrally formed with the second connecting portion, and a lower end is integrally connected to the first connecting portion. 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 제1접속부와, 상기 제2접속부는 전체적으로 판 형태로 이루어진 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein the first connecting portion and the second connecting portion are formed in a plate shape as a whole. 제1항에 있어서,
상기 제1접속부와 제2접속부는 적어도 2곳 이상에서 서로 접촉되는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein the first connecting portion and the second connecting portion are in contact with each other at at least two places. 피검사 디바이스의 단자와, 검사장치의 패드 사이에 배치되어 단자와 패드의 전기적 접속을 위한 전기접속용 커넥터에 있어서,
제1접속부;
상기 제1접속부와 동일한 평면상에서 슬라이드 이동하는 제2접속부; 및
상기 제1접속부와 상기 제2접속부에 일체로 연결되고 상기 제1접속부의 상단과 제2접속부의 하단이 서로 근접한 방향으로 이동할 때 상기 제1접속부의 상단과 상기 제2접속부의 하단을 서로 멀어지는 방향으로 이동시키는 인장스프링을 포함하되,
상기 제1접속부는 상기 인장스프링의 하측과 일체로 연결되고, 상기 제2접속부는 상기 인장스프링의 상측과 일체로 연결되는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.An electrical connection connector for electrical connection between a terminal of a device to be inspected and a pad of an inspecting apparatus for electrical connection between a terminal and a pad,
A first connection;
A second connecting portion sliding along the same plane as the first connecting portion; And
When the upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion are moved in a direction close to each other, the upper end of the first connecting portion and the lower end of the second connecting portion are connected to the first connecting portion and the second connecting portion in a direction And a tension spring for moving the tension spring,
Wherein the first connection portion is integrally connected to the lower side of the tension spring and the second connection portion is integrally connected to the upper side of the tension spring. 제11항에 있어서,
상기 인장스프링의 일단은 상기 제1접속부의 내면과 일체로 연결되고,
상기 인장스프링의 하단은 상기 제2접속부의 내면과 일체로 연결되는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.12. The method of claim 11,
One end of the tension spring is integrally connected to the inner surface of the first connection portion,
And the lower end of the tension spring is integrally connected to the inner surface of the second connection portion. 제11항에 있어서,
제1접속부의 상단에는 복수개의 산형 탐침이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.12. The method of claim 11,
And a plurality of acid type probes are provided on an upper end of the first connecting portion. 제11항에 있어서,
상기 제1접속부의 상부는 피검사 디바이스의 단자와 접촉되고,
상기 제1접속부의 상부는, 수평방향 단면이 곡선을 이루도록 곡면형상을 가지는 것을 특징으로 하는 전기접속용 커넥터.12. The method of claim 11,
An upper portion of the first connecting portion is in contact with a terminal of the device to be inspected,
Wherein an upper portion of the first connecting portion has a curved surface shape such that a horizontal cross section thereof is curved.
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