JPWO2020255231A5 - 変位測定装置、変位測定方法、およびプログラム - Google Patents

Description

本発明は、対象物の画像から面内変位を測定するための、変位測定装置及び変位測定方法に関し、更には、これらを実現するためのプログラムに関する。

本発明の目的の一例は、上記問題を解消し、画像からの面内変位の測定において、ノイズによる影響を抑制し得る、変位測定装置、変位測定方法、及びプログラムを提供することにある。

更に、上記目的を達成するため、本発明の一側面におけるプログラムは、
コンピュータに、
（ａ）対象物の時系列画像から、前記対象物の特定表面における面全体変位を計測する、ステップと、
（ｂ）前記面全体変位と前記時系列画像とから、前記対象物の特定表面における面内変位を計測する、ステップと、
（ｃ）前記面全体変位と前記面内変位とから、前記対象物の特定表面に発生する応力に合わせてレベルが変化する、参照信号を生成する、ステップと、
（ｄ）前記参照信号と前記面内変位とを用いて、前記面内変位から、前記対象物の特定表面に発生する応力の変動に対応して変化する面内変位成分を抽出する、ステップと、
を実行させる、
ことを特徴とする。

（付記９）
コンピュータに、
（ａ）対象物の時系列画像から、前記対象物の特定表面における面全体変位を計測する、ステップと、
（ｂ）前記面全体変位と前記時系列画像とから、前記対象物の特定表面における面内変位を計測する、ステップと、
（ｃ）前記面全体変位と前記面内変位とから、前記対象物の特定表面に発生する応力に合わせてレベルが変化する、参照信号を生成する、ステップと、
（ｄ）前記参照信号と前記面内変位とを用いて、前記面内変位から、前記対象物の特定表面に発生する応力の変動に対応して変化する面内変位成分を抽出する、ステップと、
を実行させる、プログラム。

（付記１０）
付記９に記載のプログラムであって、
前記（ｃ）のステップにおいて、前記特定表面上の注目点の特定方向における前記面内変位から、前記注目点の前記特定方向における歪みの時系列変化を算出し、算出した前記歪みの時系列変化を示す信号を、前記参照信号として生成する、
ことを特徴とするプログラム。

（付記１１）
付記９に記載のプログラムであって、
前記（ａ）のステップにおいてが、前記対象物の特定表面の面内方向、及び前記対象物に印加される外力の印加方向において、前記面全体変位を計測しており、
前記（ｃ）のステップにおいて、前記印加方向における前記面全体変位の時系列変化を算出し、算出した前記面全体変位の時系列変化を示す信号を、前記参照信号として生成する、
ことを特徴とするプログラム。

（付記１２）
付記９に記載のプログラムであって、
前記（ｃ）のステップにおいて、前記面内変位を用いて、前記対象物の特定表面における局所歪みを算出し、更に、前記局所歪みを前記特定表面全体について積算して、前記対象物の特定表面全体における歪みの時系列変化を算出し、算出した前記歪みの時系列変化を示す信号を、前記参照信号として生成する、
ことを特徴とするプログラム。

Claims (6)

1. 対象物の時系列画像から、前記対象物の特定表面における面全体変位を計測する、面全体変位計測手段と、
   前記面全体変位と前記時系列画像とから、前記対象物の特定表面における面内変位を計測する、面内変位計測手段と、
   前記面全体変位と前記面内変位とから、前記対象物の特定表面に発生する応力に合わせてレベルが変化する、参照信号を生成する、参照信号生成手段と、
   前記参照信号と前記面内変位とを用いて、前記面内変位から、前記対象物の特定表面に発生する応力の変動に対応して変化する面内変位成分を抽出する、対応成分抽出手段と、
   を備えている、
   ことを特徴とする変位計測装置。
2. 請求項１に記載の変位計測装置であって、
   前記参照信号生成手段が、前記特定表面上の注目点の特定方向における前記面内変位から、前記注目点の前記特定方向における歪みの時系列変化を算出し、算出した前記歪みの時系列変化を示す信号を、前記参照信号として生成する、
   ことを特徴とする変位計測装置。
3. 請求項１に記載の変位計測装置であって、
   前記面全体変位計測手段が、前記対象物の特定表面の面内方向、及び前記対象物に印加される外力の印加方向において、前記面全体変位を計測しており、
   前記参照信号生成手段が、前記印加方向における前記面全体変位の時系列変化を算出し、算出した前記面全体変位の時系列変化を示す信号を、前記参照信号として生成する、
   ことを特徴とする変位計測装置。
4. 請求項１に記載の変位計測装置であって、
   前記参照信号生成手段が、前記面内変位を用いて、前記対象物の特定表面における局所歪みを算出し、更に、前記局所歪みを前記特定表面全体について積算して、前記対象物の特定表面全体における歪みの時系列変化を算出し、算出した前記歪みの時系列変化を示す信号を、前記参照信号として生成する、
   ことを特徴とする変位計測装置。
5. （ａ）対象物の時系列画像から、前記対象物の特定表面における面全体変位を計測し、
   （ｂ）前記面全体変位と前記時系列画像とから、前記対象物の特定表面における面内変位を計測し、
   （ｃ）前記面全体変位と前記面内変位とから、前記対象物の特定表面に発生する応力に合わせてレベルが変化する、参照信号を生成し、
   （ｄ）前記参照信号と前記面内変位とを用いて、前記面内変位から、前記対象物の特定表面に発生する応力の変動に対応して変化する面内変位成分を抽出する、
   ことを特徴とする変位計測方法。
6. コンピュータに、
   （ａ）対象物の時系列画像から、前記対象物の特定表面における面全体変位を計測する、ステップと、
   （ｂ）前記面全体変位と前記時系列画像とから、前記対象物の特定表面における面内変位を計測する、ステップと、
   （ｃ）前記面全体変位と前記面内変位とから、前記対象物の特定表面に発生する応力に合わせてレベルが変化する、参照信号を生成する、ステップと、
   （ｄ）前記参照信号と前記面内変位とを用いて、前記面内変位から、前記対象物の特定表面に発生する応力の変動に対応して変化する面内変位成分を抽出する、ステップと、
   を実行させる、プログラム。