JPWO2020110667A1 - 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、鋼材の製造設備、表面欠陥判定モデルの生成方法、及び表面欠陥判定モデル - Google Patents
表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、鋼材の製造設備、表面欠陥判定モデルの生成方法、及び表面欠陥判定モデル Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2020110667A1 JPWO2020110667A1 JP2020515047A JP2020515047A JPWO2020110667A1 JP WO2020110667 A1 JPWO2020110667 A1 JP WO2020110667A1 JP 2020515047 A JP2020515047 A JP 2020515047A JP 2020515047 A JP2020515047 A JP 2020515047A JP WO2020110667 A1 JPWO2020110667 A1 JP WO2020110667A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- surface defect
- bright
- image
- steel material
- inspection target
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06N—COMPUTING ARRANGEMENTS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS
- G06N20/00—Machine learning
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8812—Diffuse illumination, e.g. "sky"
- G01N2021/8816—Diffuse illumination, e.g. "sky" by using multiple sources, e.g. LEDs
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8822—Dark field detection
- G01N2021/8825—Separate detection of dark field and bright field
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/8861—Determining coordinates of flaws
- G01N2021/8864—Mapping zones of defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/8867—Grading and classifying of flaws using sequentially two or more inspection runs, e.g. coarse and fine, or detecting then analysing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8914—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
- G01N2021/8918—Metal
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N2021/8924—Dents; Relief flaws
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
図1は、本発明の一実施形態である表面欠陥検出装置の構成を示す模式図である。図1に示すように、本発明の一実施形態である表面欠陥検出装置1は、図示矢印方向に搬送される円筒形状の鋼管Pの表面欠陥を検出する装置であり、光源2a,2b、ファンクションジェネレータ3、エリアセンサ4a,4b、画像処理装置5、及びモニター6を主な構成要素として備えている。
特許文献1及び特許文献2に記載の表面欠陥検出方法では、冷間スリ疵等の地鉄部の二次元画像に対して同様の差分処理を実施すると、図2(a)に示すような凹凸性の表面欠陥の明暗パターンと同様の図2(b)〜(e)に示すような明暗パターンが発生することがある。これは、地鉄部が高い反射率及び輝度のばらつきを有することから、明部及び暗部がランダムに発生するためである。特に表面欠陥の深さが重要な厚板や鋼管等の鋼材の分野では、地鉄部は表面欠陥と比較して非常に多く発生するため、特徴量等による弁別は困難である。
まず、図5を参照して、本発明の第1の実施形態である表面欠陥検出方法について説明する。
次に、図6を参照して、本発明の第2の実施形態である表面欠陥検出方法について説明する。
次に、図7を参照して、本発明の第3の実施形態である表面欠陥検出方法について説明する。
地鉄部にわずかに凹凸が存在する場合、凹凸性の表面欠陥と同様の明暗パターンが発生することにより、地鉄部と凹凸性の表面欠陥とを精度よく弁別できないことがある。そこで、本実施形態では、特許文献1及び特許文献2に記載の方法により算出できる凹凸性の表面欠陥を表面欠陥候補部として用いることにより、地鉄部と凹凸性の表面欠陥とを精度よく弁別する。以下、図9を参照して、本発明の第4の実施形態である表面欠陥検出方法について説明する。
図18に、実機試験における、第4の実施形態に係る表面欠陥検出方法と表面欠陥装置1とを用いて算出した、両明部占有率のヒストグラムの一例を示す。図18の横軸は両明部占有率をパーセンテージで、縦軸は地鉄部または凹凸性の表面欠陥の頻度をパーセンテージで示している。図18中の黒菱形の符号は、目視で「地鉄部」と確認された箇所100%に対し、両明部占有率ごとに幾ら分布しているかを示す。また、図18中の白四角の符号は、目視で「凹凸性の表面欠陥」と確認された箇所100%に対し、両明部占有率ごとに幾ら分布しているかを示す。なお、本実施例では、明部は健全部の1.5倍以上の輝度を持つ部分とした。また、凹凸性の表面欠陥候補部は、明暗パターン検出と膨張収縮処理を用いて検出した。
最後に、図19を参照して、本発明の第5の実施形態である表面欠陥検出方法について説明する。
2a,2b 光源
3 ファンクションジェネレータ
4a,4b エリアセンサ
5 画像処理装置
6 モニター
L 照明光
P 鋼管
Claims (10)
- 鋼材の表面欠陥を光学的に検出する表面欠陥検出方法であって、
2つ以上の弁別可能な光源を利用して同一の検査対象部位に異なる方向から照明光を照射する照射ステップと、
各照明光の反射光による2つ以上の画像から抽出された明部の重なり度合に基づいて前記検査対象部位における表面欠陥を検出する検出ステップと、
を含む表面欠陥検出方法。 - 前記明部の重なり度合は、前記検査対象部位において、表面欠陥候補部に対する前記明部の重なり部分が占める割合である、請求項1に記載の表面欠陥検出方法。
- 前記検出ステップは、
各照明光の反射光による2つ以上の画像から抽出された明部から、検査対象部位における表面欠陥候補部を算出するステップと、
表面欠陥候補部に対する前記明部の重なり部分が占める割合に基づいて、前記検査対象部位における表面欠陥を検出するステップと、
を含む請求項1に記載の表面欠陥検出方法。 - 前記検出ステップは、前記2つ以上の画像から抽出された明部の重なり度合が入力された際に該2つ以上の画像に対応する検査対象部位に表面欠陥があるか否かの判定値を出力するように、機械学習が施された表面欠陥判定モデルを用いて、前記検査対象部位における前記表面欠陥を検出するステップを含む請求項1〜3のうち、いずれか一項に記載の表面欠陥検出方法。
- 鋼材の表面欠陥を光学的に検出する表面欠陥検出装置であって、
2つ以上の弁別可能な光源で同一の検査対象部位に異なる方向から照明光を照射する照射手段と、
各照明光の反射光による2つ以上の画像から抽出された明部の重なり度合に基づいて前記検査対象部位における表面欠陥を検出する検出手段と、
を備える表面欠陥検出装置。 - 請求項1〜4のうち、いずれか1項に記載の表面欠陥検出方法を用いて鋼材の表面欠陥を検出しながら鋼材を製造するステップを含む鋼材の製造方法。
- 請求項1〜4のうち、いずれか1項に記載の表面欠陥検出方法を用いて表面欠陥の有無に基づいて鋼材を分類することによって鋼材の品質を管理するステップを含む鋼材の品質管理方法。
- 鋼材を製造する製造設備と、
前記製造設備によって製造された鋼材を検査する、請求項5に記載の表面欠陥検出装置と、
を備える鋼材の製造設備。 - 2つ以上の弁別可能な光源を利用して同一の検査対象部位に異なる方向から照射された照明光の反射光による2つ以上の画像から抽出された明部の重なり度合と、前記検査対象部位に表面欠陥があるか否かの判定結果と、を教師データとして用いて、
前記2つ以上の画像から抽出された明部の重なり度合を入力値、該2つ以上の画像に対応する検査対象部位に表面欠陥があるか否かの判定値を出力値とする学習済みモデルを、表面欠陥判定モデルとして機械学習により生成する
表面欠陥判定モデルの生成方法。 - 請求項9に記載の表面欠陥判定モデルの生成方法により生成された表面欠陥判定モデル。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018224403 | 2018-11-30 | ||
JP2018224403 | 2018-11-30 | ||
PCT/JP2019/043930 WO2020110667A1 (ja) | 2018-11-30 | 2019-11-08 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、鋼材の製造設備、表面欠陥判定モデルの生成方法、及び表面欠陥判定モデル |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6753553B1 JP6753553B1 (ja) | 2020-09-09 |
JPWO2020110667A1 true JPWO2020110667A1 (ja) | 2021-02-15 |
Family
ID=70853762
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020515047A Active JP6753553B1 (ja) | 2018-11-30 | 2019-11-08 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、鋼材の製造設備、表面欠陥判定モデルの生成方法、及び表面欠陥判定モデル |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20220011241A1 (ja) |
EP (1) | EP3889589A4 (ja) |
JP (1) | JP6753553B1 (ja) |
KR (1) | KR102613277B1 (ja) |
CN (1) | CN113196040A (ja) |
BR (1) | BR112021009765A2 (ja) |
RU (1) | RU2764644C1 (ja) |
WO (1) | WO2020110667A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11562475B2 (en) * | 2020-12-15 | 2023-01-24 | Wipro Limited | System and method for detecting product defects across manufacturing process |
KR102523770B1 (ko) | 2021-06-03 | 2023-04-19 | 동의대학교 산학협력단 | 딥러닝을 활용한 머신 비전 기반의 전장 부품의 품질 관리 시스템 및 방법 |
CN114618893B (zh) * | 2022-04-06 | 2023-09-19 | 山东钢铁集团日照有限公司 | 一种热轧带钢划伤缺陷的快速诊断与控制的操作方法 |
CN114778684A (zh) * | 2022-06-21 | 2022-07-22 | 张家港沙龙精密管业有限公司 | 一种基于服役场景的钢管性能评估方法及系统 |
CN114937039B (zh) * | 2022-07-21 | 2022-10-25 | 阿法龙(山东)科技有限公司 | 一种钢管缺陷智能检测方法 |
CN117173171B (zh) * | 2023-11-02 | 2023-12-29 | 深圳市蓝钛科技有限公司 | 一种基于图像处理的材料表面检测方法、装置和系统 |
Family Cites Families (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4162126A (en) * | 1976-12-10 | 1979-07-24 | Hitachi, Ltd. | Surface detect test apparatus |
US5293538A (en) * | 1990-05-25 | 1994-03-08 | Hitachi, Ltd. | Method and apparatus for the inspection of defects |
JPH04332855A (ja) * | 1991-05-07 | 1992-11-19 | Nippon Steel Corp | 鋼板の表面欠陥検査装置 |
JPH06201608A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-22 | Mitsubishi Motors Corp | 面検査方法 |
JP3189588B2 (ja) * | 1994-09-14 | 2001-07-16 | 日産自動車株式会社 | 表面欠陥検査装置 |
JP2000105831A (ja) * | 1998-09-29 | 2000-04-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 表面欠陥検査装置及び方法 |
US6327374B1 (en) * | 1999-02-18 | 2001-12-04 | Thermo Radiometrie Oy | Arrangement and method for inspection of surface quality |
US20010030744A1 (en) * | 1999-12-27 | 2001-10-18 | Og Technologies, Inc. | Method of simultaneously applying multiple illumination schemes for simultaneous image acquisition in an imaging system |
JP2001304835A (ja) * | 2000-04-26 | 2001-10-31 | Toshiba Eng Co Ltd | 凹凸測定用照明装置、凹凸測定装置、欠陥検査用照明装置、欠陥検査装置およびその照明方法 |
US7460703B2 (en) * | 2002-12-03 | 2008-12-02 | Og Technologies, Inc. | Apparatus and method for detecting surface defects on a workpiece such as a rolled/drawn metal bar |
JP2005030848A (ja) * | 2003-07-10 | 2005-02-03 | Sumitomo Chem Co Ltd | 表面検査のためのシミュレーション方法及び表面検査装置 |
RU2333474C1 (ru) * | 2005-11-23 | 2008-09-10 | Производственное республиканское унитарное предприятие "Завод полупроводниковых приборов" | Способ контроля качества поверхности изделий |
JP2007240432A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Omron Corp | 欠陥検査装置および欠陥検査方法 |
JP4755040B2 (ja) * | 2006-07-25 | 2011-08-24 | 株式会社神戸製鋼所 | 傷検査装置、傷検査方法 |
JP5260183B2 (ja) * | 2008-08-25 | 2013-08-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥検査方法及びその装置 |
JP4719284B2 (ja) * | 2008-10-10 | 2011-07-06 | トヨタ自動車株式会社 | 表面検査装置 |
JP2010223621A (ja) * | 2009-03-19 | 2010-10-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管状品の内表面検査方法 |
CN102435618A (zh) * | 2010-09-29 | 2012-05-02 | 旭硝子株式会社 | 透明板状体的缺陷检查方法及装置 |
JP5782782B2 (ja) * | 2011-03-30 | 2015-09-24 | 株式会社Sumco | 特定欠陥の検出方法、特定欠陥の検出システムおよびプログラム |
JP5726045B2 (ja) * | 2011-11-07 | 2015-05-27 | 株式会社神戸製鋼所 | タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置 |
JP6091864B2 (ja) * | 2012-11-27 | 2017-03-08 | 株式会社キーエンス | 形状測定装置、形状測定方法および形状測定プログラム |
ES2890649T3 (es) * | 2013-05-23 | 2022-01-21 | Rina Consulting Centro Sviluppo Mat S P A | Método para la inspección de superficie de productos largos y aparato adecuado para llevar a cabo dicho método |
JP2015125069A (ja) * | 2013-12-26 | 2015-07-06 | リコーエレメックス株式会社 | 検査装置および検査方法 |
JP6040930B2 (ja) | 2013-12-27 | 2016-12-07 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 |
ES2942266T3 (es) * | 2013-12-27 | 2023-05-31 | Jfe Steel Corp | Método de detección de defectos de superficie y dispositivo de detección de defectos de superficie |
JP6119663B2 (ja) | 2014-04-25 | 2017-04-26 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 |
JP6248310B2 (ja) * | 2014-03-14 | 2017-12-20 | 株式会社Joled | 表示パネルの製造方法 |
GB2526866A (en) * | 2014-06-05 | 2015-12-09 | Univ Bristol | Apparatus for and method of inspecting surface topography of a moving object |
WO2016194939A1 (ja) * | 2015-06-05 | 2016-12-08 | 新日鐵住金株式会社 | 金属体の形状検査装置及び金属体の形状検査方法 |
JP6394514B2 (ja) * | 2015-06-25 | 2018-09-26 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 |
JP6079948B1 (ja) * | 2015-06-25 | 2017-02-15 | Jfeスチール株式会社 | 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法 |
RU2612918C9 (ru) * | 2015-09-04 | 2017-06-13 | Николай Петрович Ларионов | Устройство для определения положений дефектов на асферической поверхности оптической детали (варианты) |
JP6570977B2 (ja) * | 2015-11-16 | 2019-09-04 | 株式会社エンビジョンAescジャパン | 表面検査装置および表面検査方法 |
KR20170076957A (ko) * | 2015-12-24 | 2017-07-05 | 주식회사 포스코 | 강판의 결함 검출 장치 및 방법 |
CN108362702A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-08-03 | 北京木业邦科技有限公司 | 一种基于人工智能的单板缺陷检测方法、系统及设备 |
-
2019
- 2019-11-08 JP JP2020515047A patent/JP6753553B1/ja active Active
- 2019-11-08 KR KR1020217016099A patent/KR102613277B1/ko active IP Right Grant
- 2019-11-08 BR BR112021009765-1A patent/BR112021009765A2/pt unknown
- 2019-11-08 RU RU2021118774A patent/RU2764644C1/ru active
- 2019-11-08 EP EP19890439.3A patent/EP3889589A4/en active Pending
- 2019-11-08 US US17/297,516 patent/US20220011241A1/en active Pending
- 2019-11-08 CN CN201980077268.6A patent/CN113196040A/zh active Pending
- 2019-11-08 WO PCT/JP2019/043930 patent/WO2020110667A1/ja unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3889589A1 (en) | 2021-10-06 |
KR20210080535A (ko) | 2021-06-30 |
CN113196040A (zh) | 2021-07-30 |
EP3889589A4 (en) | 2022-01-19 |
WO2020110667A1 (ja) | 2020-06-04 |
US20220011241A1 (en) | 2022-01-13 |
KR102613277B1 (ko) | 2023-12-12 |
RU2764644C1 (ru) | 2022-01-19 |
JP6753553B1 (ja) | 2020-09-09 |
BR112021009765A2 (pt) | 2021-08-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6753553B1 (ja) | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、鋼材の製造方法、鋼材の品質管理方法、鋼材の製造設備、表面欠陥判定モデルの生成方法、及び表面欠陥判定モデル | |
JP6119663B2 (ja) | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 | |
CN107735674B (zh) | 表面缺陷检测装置、表面缺陷检测方法及钢材的制造方法 | |
WO2015098929A1 (ja) | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 | |
JP6394514B2 (ja) | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 | |
JP6922539B2 (ja) | 表面欠陥判定方法および表面欠陥検査装置 | |
JP6079948B1 (ja) | 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法 | |
JP6646339B2 (ja) | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 | |
JP2020008501A (ja) | 表面欠陥検出装置及び表面欠陥検出方法 | |
JP4739044B2 (ja) | 外観検査装置 | |
JP2021056183A (ja) | ワークの表面欠陥検出装置及び検出方法、ワークの表面検査システム並びにプログラム | |
JP6007639B2 (ja) | 疵検出方法および疵検出装置 | |
JP6387909B2 (ja) | 表面欠陥検出方法、表面欠陥検出装置、及び鋼材の製造方法 | |
JP6064942B2 (ja) | 表面欠陥検出方法及び表面欠陥検出装置 | |
JP7469740B2 (ja) | ベルト検査システムおよびベルト検査プログラム | |
JP7131509B2 (ja) | 表面欠陥検出装置、表面欠陥検出方法、及び鋼材の製造方法 | |
JP6595800B2 (ja) | 欠損検査装置、及び欠損検査方法 | |
JP2007101239A (ja) | 外観検査装置及び外観検査方法 | |
JP2006226834A (ja) | 表面検査装置、表面検査の方法 | |
JP2018059883A (ja) | 表面検査装置及び表面検査方法 | |
JP2008164466A (ja) | 物流量測定方法及び物流量測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200312 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20200312 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20200406 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200721 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200803 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6753553 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |