JPWO2019059315A1 - 露光用照明装置、露光装置及び露光方法 - Google Patents
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Abstract
インテグレータ部(90)は、2枚のフライアイレンズ(91,92)を備え、フライアイレンズ間隔調整機構(95)が2枚のフライアイレンズ(91,92)の光軸方向の間隔(d)を変更する。2枚のフライアイレンズ(91,92)の光軸方向の間隔(d)は、ミラー曲げ機構(70)による平面ミラー(68)の反射面の形状変更に応じて変更され、ミラー曲げによる露光面での平均照度値の変化を補正する。ミラー曲げに起因する露光面での平均照度値の変化を補正することで、タクトタイムのばらつきを抑制することができる露光用照明装置、露光装置及び露光方法を提供する。
Description
本発明は、露光用照明装置、露光装置及び露光方法に関し、より詳細には、露光パターン補正のために行われるミラー曲げに起因する平均照度の変化を補正することができる露光用照明装置、露光装置及び露光方法に関する。
従来の露光装置では、反射鏡の曲率を補正する曲率補正機構が照明装置に設けられたものがあり、反射鏡を湾曲させて反射鏡のデクリネーション角を変化させることで、露光パターンの形状を補正し、高精度な露光結果を得るものが考案されている(例えば、特許文献1参照)。
また、特許文献2には、照明光学系の光軸と交差する面内に配列される複数の第1単位波面分割面を有する第1のオプティカルインテグレータと、複数の第1単位波面分割面に個別対応する第2単位波面分割面を有する第2のオプティカルインテグレータと、第1及び第2のオプティカルインテグレータの間の間隔を変更させるべく、第2単位波面分割面の分割インテグレータを光軸方向に移動する移動機構と、を備え、被照射面での光強度分布を独立に調整するようにした照明光学系及び露光装置が記載されている。
ところで、露光パターンの補正量は、ミラーの曲げ量に依存し、補正形状は、ミラー形状に依存しているため、曲率補正機構(ミラー曲げ機構)によって反射鏡の曲率を補正すると、反射鏡の反射面が外側(凸面状)に曲がるときは、反射光が拡散して照度が低下し(暗くなる)、反射鏡の反射面が内側(凹面状)に曲がるときは、反射光が収束して照度が高まり(明るくなる)、露光面での照度分布や平均照度値が変化する。平均照度値の変化は、露光量に影響を及ぼして露光時間、ひいてはタクトタイムに影響を及ぼす。一方、露光量に応じて、露光時間やタクトタイムを変更することは、制御が非常に煩雑であった。
特許文献2の照明光学系及び露光装置では、該瞳強度分布計測装置からの検出信号に基づいて算出された計測結果、即ちレチクルの照明領域内の各点に対応する各瞳強度分布に基づいて分割インテグレータをY軸方向に沿ってそれぞれ移動させて、各瞳強度分布が所望の分布となるように調整しているため、複雑な機構と制御装置が必要となり、照明装置のコストが嵩んでしまう。
本発明は、前述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、ミラー曲げに起因する露光面での平均照度値の変化を補正することで、タクトタイムのばらつきを抑制することができる露光用照明装置、露光装置及び露光方法を提供することにある。
本発明の上記目的は、下記の構成により達成される。
(1) 光源と、
マトリックス状に配列された複数のレンズ素子をそれぞれ有する2枚のフライアイレンズを備え、前記光源からの光の照度分布を均一化するインテグレータ部と、
反射面の形状を変更可能なミラー曲げ機構を備え、前記インテグレータ部から出射された前記光を反射する反射鏡と、を備え、
露光パターンが形成されたマスクを介して前記光源からの露光光をワーク上に照射して前記露光パターンを前記ワークに露光転写するための露光用照明装置であって、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔を変更可能なフライアイレンズ間隔調整機構を備え、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更に応じて変更されることを特徴とする露光用照明装置。
(1) 光源と、
マトリックス状に配列された複数のレンズ素子をそれぞれ有する2枚のフライアイレンズを備え、前記光源からの光の照度分布を均一化するインテグレータ部と、
反射面の形状を変更可能なミラー曲げ機構を備え、前記インテグレータ部から出射された前記光を反射する反射鏡と、を備え、
露光パターンが形成されたマスクを介して前記光源からの露光光をワーク上に照射して前記露光パターンを前記ワークに露光転写するための露光用照明装置であって、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔を変更可能なフライアイレンズ間隔調整機構を備え、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更に応じて変更されることを特徴とする露光用照明装置。
(2) 前記インテグレータ部から出射された前記光を反射する複数の反射鏡を備え、
前記ミラー曲げ機構は、前記複数の反射鏡のうち、前記光を最後に反射する平面鏡に設けられることを特徴とする(1)に記載の露光用照明装置。
(3) 前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状と、前記2枚のフライアイレンズの前記光軸方向の間隔との関係を表すテーブルを備え、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、該テーブルを用いて、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更に応じて変更されることを特徴とする(1)に記載の露光用照明装置。
(4) 前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更前と形状変形後の前記露光面で取得された平均照度値に応じて、変更されることを特徴とする(1)に記載の露光用照明装置。
(5) マスクを支持するマスク支持部と、
ワークを支持するワーク支持部と、
前記(1)〜(4)のいずれかに記載の露光用照明装置と、
を備え、
前記光源からの露光光を前記マスクを介して前記ワークに照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写することを特徴とする露光装置。
(6) (5)に記載の露光装置を使用し、前記光源からの露光光を前記マスクを介して前記ワークに照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写することを特徴とする露光方法。
前記ミラー曲げ機構は、前記複数の反射鏡のうち、前記光を最後に反射する平面鏡に設けられることを特徴とする(1)に記載の露光用照明装置。
(3) 前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状と、前記2枚のフライアイレンズの前記光軸方向の間隔との関係を表すテーブルを備え、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、該テーブルを用いて、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更に応じて変更されることを特徴とする(1)に記載の露光用照明装置。
(4) 前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更前と形状変形後の前記露光面で取得された平均照度値に応じて、変更されることを特徴とする(1)に記載の露光用照明装置。
(5) マスクを支持するマスク支持部と、
ワークを支持するワーク支持部と、
前記(1)〜(4)のいずれかに記載の露光用照明装置と、
を備え、
前記光源からの露光光を前記マスクを介して前記ワークに照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写することを特徴とする露光装置。
(6) (5)に記載の露光装置を使用し、前記光源からの露光光を前記マスクを介して前記ワークに照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写することを特徴とする露光方法。
本発明の露光用照明装置によれば、インテグレータ部が、2枚のフライアイレンズを備え、フライアイレンズ間隔調整機構が2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔を変更する。2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、ミラー曲げ機構による反射鏡の反射面の形状変更に応じて変更されるので、ミラー曲げによる露光面での平均照度値の変化を補正することができる。これにより、露光時間やタクトタイムのばらつきを抑えることができる。
また、本発明の露光装置及び露光方法によれば、マスクを支持するマスク支持部と、ワークを支持するワーク支持部と、ミラー曲げ機構による反射鏡の反射面の形状変更に応じて、2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔を変更可能なフライアイレンズ間隔調整機構を備える露光用照明装置と、を備えるので、ミラー曲げに起因する露光面での平均照度値の変化を補正することで、露光時間やタクトタイムのばらつきを抑えることができる。
以下、本発明に係る露光装置の一実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。図1に示すように、近接露光装置PEは、被露光材としてのワークWより小さいマスクMを用い、マスクMをマスクステージ(マスク支持部)1で保持すると共に、ワークWをワークステージ(ワーク支持部)2で保持する。そして、マスクMとワークWとを近接させて所定の露光ギャップで対向配置した状態で、露光用照明装置3からパターン露光用の光をマスクMに向けて照射することにより、マスクMのパターンがワークW上に露光転写される。また、ワークステージ2をマスクMに対してX軸方向とY軸方向の二軸方向にステップ移動させて、ステップ毎に露光転写が行われる。
ワークステージ2をX軸方向にステップ移動させるため、装置ベース4上には、X軸送り台5aをX軸方向にステップ移動させるX軸ステージ送り機構5が設置されている。X軸ステージ送り機構5のX軸送り台5a上には、ワークステージ2をY軸方向にステップ移動させるため、Y軸送り台6aをY軸方向にステップ移動させるY軸ステージ送り機構6が設置されている。Y軸ステージ送り機構6のY軸送り台6a上には、ワークステージ2が設置されている。ワークステージ2の上面には、ワークWがワークチャック等で真空吸引された状態で保持される。また、ワークステージ2の側部には、マスクMの下面高さを測定するための基板側変位センサ15が配設されている。従って、基板側変位センサ15は、ワークステージ2と共にX、Y軸方向に移動可能である。
装置ベース4上には、複数(図に示す実施形態では4本)のX軸リニアガイドのガイドレール51がX軸方向に配置され、それぞれのガイドレール51には、X軸送り台5aの下面に固定されたスライダ52が跨架されている。これにより、X軸送り台5aは、X軸ステージ送り機構5の第1リニアモータ20で駆動され、ガイドレール51に沿ってX軸方向に往復移動可能である。また、X軸送り台5a上には、複数のY軸リニアガイドのガイドレール53がY軸方向に配置され、それぞれのガイドレール53には、Y軸送り台6aの下面に固定されたスライダ54が跨架されている。これにより、Y軸送り台6aは、Y軸ステージ送り機構6の第2リニアモータ21で駆動され、ガイドレール53に沿ってY軸方向に往復移動可能である。
Y軸ステージ送り機構6とワークステージ2の間には、ワークステージ2を上下方向に移動させるため、比較的位置決め分解能は粗いが移動ストローク及び移動速度が大きな上下粗動装置7と、上下粗動装置7と比べて高分解能での位置決めが可能でワークステージ2を上下に微動させてマスクMとワークWとの対向面間のギャップを所定量に微調整する上下微動装置8が設置されている。
上下粗動装置7は後述の微動ステージ6bに設けられた適宜の駆動機構によりワークステージ2を微動ステージ6bに対して上下動させる。ワークステージ2の底面の4箇所に固定されたステージ粗動軸14は、微動ステージ6bに固定された直動ベアリング14aに係合し、微動ステージ6bに対し上下方向に案内される。なお、上下粗動装置7は、分解能が低くても、繰り返し位置決め精度が高いことが望ましい。
上下微動装置8は、Y軸送り台6aに固定された固定台9と、固定台9にその内端側を斜め下方に傾斜させた状態で取り付けられたリニアガイドの案内レール10とを備えており、該案内レール10に跨架されたスライダ11を介して案内レール10に沿って往復移動するスライド体12にボールねじのナット(図示せず)が連結されると共に、スライド体12の上端面は微動ステージ6bに固定されたフランジ12aに対して水平方向に摺動自在に接している。
そして、固定台9に取り付けられたモータ17によってボールねじのねじ軸を回転駆動させると、ナット、スライダ11及びスライド体12が一体となって案内レール10に沿って斜め方向に移動し、これにより、フランジ12aが上下微動する。
なお、上下微動装置8は、モータ17とボールねじによってスライド体12を駆動する代わりに、リニアモータによってスライド体12を駆動するようにしてもよい。
なお、上下微動装置8は、モータ17とボールねじによってスライド体12を駆動する代わりに、リニアモータによってスライド体12を駆動するようにしてもよい。
この上下微動装置8は、Z軸送り台6aのY軸方向の一端側(図1の左端側)に1台、他端側に2台、合計3台設置されてそれぞれが独立に駆動制御されるようになっている。これにより、上下微動装置8は、ギャップセンサ27による複数箇所でのマスクMとワークWとのギャップ量の計測結果に基づき、3箇所のフランジ12aの高さを独立に微調整してワークステージ2の高さ及び傾きを微調整する。
なお、上下微動装置8によってワークステージ2の高さを十分に調整できる場合には、上下粗動装置7を省略してもよい。
なお、上下微動装置8によってワークステージ2の高さを十分に調整できる場合には、上下粗動装置7を省略してもよい。
また、Y軸送り台6a上には、ワークステージ2のY方向の位置を検出するY軸レーザ干渉計18に対向するバーミラー19と、ワークステージ2のX軸方向の位置を検出するX軸レーザ干渉計に対向するバーミラー(共に図示せず)とが設置されている。Y軸レーザ干渉計18に対向するバーミラー19は、Y軸送り台6aの一側でX軸方向に沿って配置されており、X軸レーザ干渉計に対向するバーミラーは、Y軸送り台6aの一端側でY軸方向に沿って配置されている。
Y軸レーザ干渉計18及びX軸レーザ干渉計は、それぞれ常に対応するバーミラーに対向するように配置されて装置ベース4に支持されている。なお、Y軸レーザ干渉計18は、X軸方向に離間して2台設置されている。2台のY軸レーザ干渉計18により、バーミラー19を介してY軸送り台6a、ひいてはワークステージ2のY軸方向の位置及びヨーイング誤差を検出する。また、X軸レーザ干渉計により、対向するバーミラーを介してX軸送り台5a、ひいてはワークステージ2のX軸方向の位置を検出する。
マスクステージ1は、略長方形状の枠体からなるマスク基枠24と、該マスク基枠24の中央部開口にギャップを介して挿入されてX,Y,θ方向(X,Y平面内)に移動可能に支持されたマスクフレーム25とを備えており、マスク基枠24は装置ベース4から突設された支柱4aによってワークステージ2の上方の定位置に保持されている。
マスクフレーム25の中央部開口の下面には、枠状のマスクホルダ26が設けられている。即ち、マスクフレーム25の下面には、図示しない真空式吸着装置に接続される複数のマスクホルダ吸着溝が設けられており、マスクホルダ26が複数のマスクホルダ吸着溝を介してマスクフレーム25に吸着保持される。
マスクホルダ26の下面には、マスクMのマスクパターンが描かれていない周縁部を吸着するための複数のマスク吸着溝(図示せず)が開設されており、マスクMは、マスク吸着溝を介して図示しない真空式吸着装置によりマスクホルダ26の下面に着脱自在に保持される。
図2に示すように、露光用照明装置3は、紫外線照射用の光源としてのランプユニット60と、光路ELの向きを変えるための平面ミラー63,64と、光路ELを開閉制御する露光制御用シャッターユニット65と、露光制御用シャッターユニット65の下流側に配置され、ランプユニット60からの光を均一にして出射するインテグレータ部90と、インテグレータ部90から出射された光を平行光として照射するコリメーションミラー67と、該平行光をマスクMに向けて照射する平面ミラー68と、を備える。
ランプユニット60は、高圧水銀ランプとリフレクタとを対応して複数備えたユニット部品をマトリクス状に配置することで構成される。なお、光源としては、単一の高圧水銀ランプとリフレクタの構成であってもよく、或いは、LEDによって構成されてもよい。
インテグレータ部90は、マトリックス状に配列された複数のレンズ素子93A,93Bをそれぞれ有する2枚のフライアイレンズ91,92を備え、ランプユニット60からの光を、照射領域においてできるだけ均一な照度分布となるようにして出射する。フライアイレンズ91のレンズ素子93Aと、フライアイレンズ92のレンズ素子93Bは、同数であり、レンズ素子93Aとレンズ素子93Bとが1対1で対応している。即ち、互いに対向するフライアイレンズ91のレンズ素子93Aと、フライアイレンズ92のレンズ素子93Bとが、インテグレータ部90の1つの単位レンズを構成する。
なお、各フライアイレンズ91、92は、縦方向に3個以上15個以下、横方向に3個以上15個以下で並ぶように配置されることが好ましい。各フライアイレンズ91、92は、目の個数を増やすと、照度分布が向上するが、照度は暗くなり、一方、目の個数を減らすと、照度分布は低下するが、照度は明るくなることから、目の個数は、10個×10個程度とするのがより好ましい。
なお、各フライアイレンズ91、92は、縦方向に3個以上15個以下、横方向に3個以上15個以下で並ぶように配置されることが好ましい。各フライアイレンズ91、92は、目の個数を増やすと、照度分布が向上するが、照度は暗くなり、一方、目の個数を減らすと、照度分布は低下するが、照度は明るくなることから、目の個数は、10個×10個程度とするのがより好ましい。
フライアイレンズ91の各レンズ素子93Aは、ランプユニット60側に凸とした平凸レンズにすると共に、フライアイレンズ92の各レンズ素子93Bは、露光面側に凸とした平凸レンズにするとよい。即ち、フライアイレンズ91,92は、一方の面がフライアイ構造であり、他方の面が平面であり、フライアイレンズ91,92の平面は、対向させて並べることが好ましい。
また、インテグレータ部90は、フライアイレンズ91,92の間隔dを変更するためのフライアイレンズ間隔調整機構95を備える。フライアイレンズ間隔調整機構95は、例えば、カム機構、ラックアンドピニオンなど、任意の機構で構成可能であり、フライアイレンズ91,92のいずれか一方、又は両方を光軸に沿って相対移動させて間隔dを変更する。
フライアイレンズ間隔調整機構95は、後述する平面ミラー68の反射面の形状変更を制御する制御部80からの指令により作動する。即ち、フライアイレンズ間隔調整機構95は、平面ミラー68の反射面の形状変更に応じてフライアイレンズ91,92の間隔dを変更する。
フライアイレンズ91,92の間隔dを変更することで、インテグレータ部90の単位レンズの焦点距離(すなわち、一対のレンズ素子93A,93Bの合成焦点距離)fが変化する。フライアイレンズ91とフライアイレンズ92の間隔dが短いときには、焦点距離fが短くなることで、低NAかつ大視野の照明が実現する。一方、フライアイレンズ91とフライアイレンズ92の間隔dが長いときには、焦点距離fが長くなることで、高NAかつ小視野の照明が実現する。
また、露光用照明装置3では、インテグレータ部90と露光面との間に、DUVカットフィルタ、偏光フィルタ、バンドパスフィルタなどが配置されてもよい。
図3に示すように、平面ミラー68は、正面視矩形状に形成されたガラス素材からなる。平面ミラー68は、平面ミラー68の裏面側に設けられた複数のミラー曲げ機構70により保持枠71に支持されている。
各ミラー曲げ機構70は、平面ミラー68の裏面に接着剤で固定されるパッド72と、一端がパッド72に固定された支持部材73と、支持部材73を駆動するアクチュエータ74と、を備える。
支持部材73には、保持枠71に対してパッド72寄りの位置に、±0・5deg以上の屈曲を許容する屈曲機構としてのボールジョイント76が設けられており、保持枠71に対して反対側となる他端には、アクチュエータ74が取り付けられている。
さらに、マスク側のアライメントマーク(図示せず)の位置に露光光を反射する平面ミラー68の各位置の裏面には、複数の接触式センサ77が取り付けられている。
これにより、平面ミラー68は、信号線81により各アクチュエータ74に接続された制御部80からの指令に基づいて(図2参照)、接触式センサ77によって平面ミラー68の変位量をセンシングしながら、各ミラー曲げ機構70のアクチュエータ74を駆動して、各支持部材73の長さを変えることによって、平面ミラー68の形状を変更し、反射面の曲率を変更することで、平面ミラー68のデクリネーション角を補正することができる。
その際、各ミラー曲げ機構70には、ボールジョイント76が設けられているので、支持部側の部分を三次元的に回動可能とすることができ、各パッド72を平面ミラー68の表面に沿って傾斜させることができる。このため、各パッド72と平面ミラー68との接着剥がれを防止するすると共に、移動量の異なる各パッド72間における平面ミラー68の応力が抑制され、平均破壊応力値が小さいガラス素材からなる場合であっても、平面ミラー68の形状を局部的に変更する際、平面ミラー68を破損することなく、10mmオーダーで平面ミラー68を曲げることができ、曲率を大きく変更することができる。
また、制御部80は、ミラー曲げ機構70が平面ミラー68の反射面の曲率を変更した際、各パターンに応じて、露光エリア内の複数点(例えば、5点×5点)での照度値を予め測定又はシミュレーションして、平均照度値を求め、平面ミラー68の反射面の形状と平均照度値との関係を表すテーブルを備える。また、制御部80は、フライアイレンズ91,92の間隔dを変更した際の平均照度値を予め測定又はシミュレーションして、フライアイレンズ91,92の間隔dと平均照度値との関係を与えるテーブルを備えておく。
また、上記の関係から、ミラー曲げ機構70によるミラー曲げ量(平面ミラー68の反射面の形状)とフライアイレンズ91、92の間隔dとを関連付けたテーブルを構成してもよい。
また、上記の関係から、ミラー曲げ機構70によるミラー曲げ量(平面ミラー68の反射面の形状)とフライアイレンズ91、92の間隔dとを関連付けたテーブルを構成してもよい。
特に、露光面における照射領域の大きさを変更するパターン補正の場合、反射面全体が一様な曲率の凹面状、又は凸面状になるように変更してもよく、このような場合の平面ミラー68の反射面の形状(この場合、反射面の曲率)とフライアイレンズ91、92の間隔dとを関連付けたテーブルを準備してもよい。
なお、図2に示す実施形態では、光路ELの最後に配置された平面ミラー68にミラー曲げ機構70を配設したが、平面ミラー68に限定されず、ミラー曲げ機構70を他のミラーに配設することもできる。ただし、光路ELの最後に配置された平面ミラー68(最終ミラー)にミラー曲げ機構70を配設すれば、ミラー曲げ量の計算や、ミラー曲げ量(平面ミラー68の反射面の形状)と平均照度値との関係、及びフライアイレンズ91、92の間隔dと平均照度値との関係を与えるテーブル設計が容易となる。
このように構成された露光装置PEでは、露光用照明装置3において、露光時に露光制御用シャッターユニット65が開制御されると、ランプユニット60から照射された光が、平面ミラー63,64で反射されてインテグレータ部90の入射面に入射される。そして、インテグレータ部90の出射面から発せられた光は、コリメーションミラー67、及び平面ミラー68によってその進行方向が変えられるとともに平行光に変換される。そして、この平行光は、マスクステージ1に保持されるマスクM、さらにはワークステージ2に保持されるワークWの表面に対して略垂直にパターン露光用の光として照射され、マスクMのパターンがワークW上に露光転写される。
ここで、図2も参照して、ワークWの露光済みのパターンに対応してワークW上に露光転写されるマスクMのパターンを補正するため、制御部80から平面ミラー68の各アクチュエータ74に対して駆動信号を伝達すると、各ミラー曲げ機構70のアクチュエータ74は、各支持部材73の長さを変えて、平面ミラー68の反射面の形状を変更して、平面ミラー68のデクリネーション角を補正する。
このとき、平面ミラー68の形状変更により、マスクMに照射される露光光の照度も変化する。具体的には、アクチュエータ74によって平面ミラー68が裏面から押されて、平面ミラー68の反射面が凸面状になると、反射光が拡散して、平面ミラー68の反射面が平面状態(変更前)のときと比較して照射領域が広くなり、露光面での平均照度値が低下する(暗くなる)。また、アクチュエータ74によって平面ミラー68の裏面が引かれて、平面ミラー68の反射面が凹面状になると、反射光が収束して、平面ミラー68の反射面が平面状態(変更前)のときと比較して照射領域が狭まり、露光面での平均照度値が高まる(明るくなる)。
露光面での平均照度値の変化は、露光時間に影響するため、タクトタイムのばらつきとなって現れるので生産効率上、好ましくない。そこで、平均照度値を変更前の値(平面ミラー68の反射面が平面のときの値)に補正するため、上述したテーブルに基づいて、フライアイレンズ間隔調整機構95によりフライアイレンズ91,92の間隔dを変更する。具体的には、平面ミラー68の反射面が凸面状に変更されたときには、フライアイレンズ91,92の間隔dを広げてインテグレータ部90の単位レンズの焦点距離fを長くし、露光面での平均照度値を高める。また、平面ミラー68の反射面が凹面状に変更されたときには、フライアイレンズ91,92の間隔dを狭めてインテグレータ部90の単位レンズの焦点距離fを短くし、露光面での平均照度値を低下させる。
これにより、平面ミラー68の反射面の形状変更に拘らず、平均照度値を略一定にすることができ、露光時間が一定となってタクトタイムのばらつきを抑制することができる。
以上説明したように、本実施形態の露光用照明装置3によれば、インテグレータ部90が、2枚のフライアイレンズ91,92を備え、フライアイレンズ間隔調整機構95が2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dを変更する。2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dは、ミラー曲げ機構70による平面ミラー68の反射面の形状変更に応じて変更されるので、ミラー曲げによる露光面での平均照度値の変化を補正することができる。これにより、例えば、露光面での平均照度値を、平面ミラー68の反射面が変更される前の平均照度値(標準平均照度値)に近似するように補正することで、露光時間を略一定にすることができ、タクトタイムのばらつきを抑えることができる。
また、インテグレータ部から出射された光を反射する複数の反射鏡67、68を備え、ミラー曲げ機構70は、複数の反射鏡67、68のうち、光路ELの最後に配置された平面ミラー68に設けられるので、ミラー曲げ量の計算や、ミラー曲げ量と平均照度値との関係、及びフライアイレンズ91、92の間隔dと平均照度値との関係を与えるテーブル設計を容易に行うことができる。
さらに、ミラー曲げ機構70による平面ミラー68の反射面の形状と、露光面での平均照度値との関係、及び、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dと、露光面での平均照度値との関係に基づいて、ミラー曲げ機構70による平面ミラー68の反射面の形状と、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dとの関係を表すテーブルを備える。そして、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dは、該テーブルを用いて、ミラー曲げ機構70による平面ミラー68の反射面の形状変更に応じて変更されるので、実際の平均照度値を取得することなく、露光面での平均照度値を略一定にすることができる。ただし、上記手法によって、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dを調整する場合に、露光面での平均照度値を取得していてもよい。
ここで、ミラー曲げ機構70により平面ミラー68の反射面の形状を変更した場合、露光面での平均照度値が略一定となるように、フライアイレンズ91,92の間隔dを変更して照度補正したシミュレーション結果について説明する。シミュレーション結果を表1に示す。なお、ここでは、平面ミラー68の反射面の形状変更は、局部的な変更ではなく、全体を一様な曲率に変更する場合について説明する。また、表1では、可動する一方のフライアイレンズ91の座標を表しており、平面ミラー79の反射面が平面の状態で、フライアイレンズ91、92の間隔dが所定値となる際の、フライアイレンズ91の座標を0(mm)としている。
表1に示すように、平面ミラー68の反射面が平面(標準状態)であり、フライアイレンズ91,92の間隔dが所定値(一方のフライアイレンズ91の座標が0(mm))であるときの平均照度値は、54.7mW/cm2である。ここで、平面ミラー68の反射面を内曲げ(凹面状)すると露光面での平均照度値が高まり、フライアイレンズ91,92の間隔dが所定値の場合、平均照度値が57.4mW/cm2に上昇する。このため、フライアイレンズ91,92の間隔dを所定値から2.6mm狭めると、平均照度値が54.6mW/cm2に低下して、平面ミラー68の反射面が平面のときの値に近似する。
同様に、平面ミラー68の反射面を外曲げ(凸面状)すると露光面での平均照度値が低下し、フライアイレンズ91,92の間隔dが所定値の場合、平均照度値が52.1mW/cm2に低下する。このため、フライアイレンズ91,92の間隔dを所定値から2.5mm広げると、平均照度値が54.6mW/cm2に上昇して、平面ミラー68の反射面が平面のときの値に近似する。
さらに、平面ミラー68の反射面を縦方向にのみ外曲げ(凸面状)すると、露光面での平均照度値が上昇し、フライアイレンズ91,92の間隔dが所定値の場合、平均照度値が55.2mW/cm2に上昇する。ここで、フライアイレンズ91,92の間隔dを所定値から2mm広げると、平均照度値が54.6mW/cm2に低下して、平面ミラー68の反射面が平面のときの値に近似する。
これにより、平面ミラー68の反射面の形状変更に伴う露光面での平均照度値の変化は、フライアイレンズ91,92の間隔dを、平面ミラー68の反射面の形状変更に応じて調整することで補正できる。
これにより、平面ミラー68の反射面の形状変更に伴う露光面での平均照度値の変化は、フライアイレンズ91,92の間隔dを、平面ミラー68の反射面の形状変更に応じて調整することで補正できる。
尚、本発明は、前述した実施形態及び実施例に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。
上述した実施形態では、ミラー曲げ機構70による反射鏡の反射面の形状と、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dとの関係を表すテーブルによって、実際の平均照度値を取得することなく、反射鏡の反射面の形状から、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dを調整している。
ただし、ミラー曲げ機構70による反射鏡の反射面の形状変更前と形状変更後の、実際の露光面での平均照度値を図示しない照度計で取得した上で、形状変更後の露光面での平均照度値が形状変更前の露光面での平均照度値となるように、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dを調整してもよい。
ただし、ミラー曲げ機構70による反射鏡の反射面の形状変更前と形状変更後の、実際の露光面での平均照度値を図示しない照度計で取得した上で、形状変更後の露光面での平均照度値が形状変更前の露光面での平均照度値となるように、2枚のフライアイレンズ91,92の光軸方向の間隔dを調整してもよい。
本出願は、2017年9月22日出願の日本特許出願2017−182803に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
3 露光用照明装置
60 ランプユニット(光源)
67 コリメーションミラー(反射鏡)
68 平面ミラー(反射鏡)
70 ミラー曲げ機構
90 インテグレータ部
91,92 フライアイレンズ
93A,93B レンズ素子
95 フライアイレンズ間隔調整機構
d 2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔
M マスク
W ワーク
60 ランプユニット(光源)
67 コリメーションミラー(反射鏡)
68 平面ミラー(反射鏡)
70 ミラー曲げ機構
90 インテグレータ部
91,92 フライアイレンズ
93A,93B レンズ素子
95 フライアイレンズ間隔調整機構
d 2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔
M マスク
W ワーク
Claims (6)
- 光源と、
マトリックス状に配列された複数のレンズ素子をそれぞれ有する2枚のフライアイレンズを備え、前記光源からの光の照度分布を均一化するインテグレータ部と、
反射面の形状を変更可能なミラー曲げ機構を備え、前記インテグレータ部から出射された前記光を反射する反射鏡と、を備え、
露光パターンが形成されたマスクを介して前記光源からの露光光をワーク上に照射して前記露光パターンを前記ワークに露光転写するための露光用照明装置であって、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔を変更可能なフライアイレンズ間隔調整機構を備え、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更に応じて変更されることを特徴とする露光用照明装置。 - 前記インテグレータ部から出射された前記光を反射する複数の反射鏡を備え、
前記ミラー曲げ機構は、前記複数の反射鏡のうち、光路の最後に配置された平面ミラーに設けられることを特徴とする請求項1に記載の露光用照明装置。 - 前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状と、前記2枚のフライアイレンズの前記光軸方向の間隔との関係を表すテーブルを備え、
前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、該テーブルを用いて、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更に応じて変更されることを特徴とする請求項1に記載の露光用照明装置。 - 前記2枚のフライアイレンズの光軸方向の間隔は、前記ミラー曲げ機構による前記反射鏡の反射面の形状変更前と形状変形後の前記露光面で取得された平均照度値に応じて、変更されることを特徴とする請求項1に記載の露光用照明装置。
- マスクを支持するマスク支持部と、
ワークを支持するワーク支持部と、
請求項1〜4のいずれか1項に記載の露光用照明装置と、
を備え、
前記光源からの露光光を前記マスクを介して前記ワークに照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写することを特徴とする露光装置。 - 請求項5に記載の露光装置を使用し、前記光源からの露光光を前記マスクを介して前記ワークに照射して前記マスクの露光パターンを前記ワークに露光転写することを特徴とする露光方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017182803 | 2017-09-22 | ||
JP2017182803 | 2017-09-22 | ||
PCT/JP2018/034920 WO2019059315A1 (ja) | 2017-09-22 | 2018-09-20 | 露光用照明装置、露光装置及び露光方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2019059315A1 true JPWO2019059315A1 (ja) | 2020-09-03 |
Family
ID=65810299
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019543713A Pending JPWO2019059315A1 (ja) | 2017-09-22 | 2018-09-20 | 露光用照明装置、露光装置及び露光方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPWO2019059315A1 (ja) |
KR (1) | KR20200060345A (ja) |
CN (1) | CN111133386A (ja) |
TW (1) | TW201921157A (ja) |
WO (1) | WO2019059315A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023066565A (ja) | 2021-10-29 | 2023-05-16 | 株式会社オーク製作所 | 照明光学系及びレーザ加工装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2946950B2 (ja) * | 1992-06-25 | 1999-09-13 | キヤノン株式会社 | 照明装置及びそれを用いた露光装置 |
JP5453804B2 (ja) | 2008-12-25 | 2014-03-26 | 株式会社ニコン | 照明光学系、露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP5645126B2 (ja) | 2011-01-25 | 2014-12-24 | Nskテクノロジー株式会社 | 露光装置及び露光方法 |
CN107615170B (zh) * | 2015-05-26 | 2020-06-23 | 株式会社V技术 | 曝光用照明装置、曝光装置和曝光方法 |
-
2018
- 2018-09-20 WO PCT/JP2018/034920 patent/WO2019059315A1/ja active Application Filing
- 2018-09-20 CN CN201880061765.2A patent/CN111133386A/zh active Pending
- 2018-09-20 KR KR1020207003602A patent/KR20200060345A/ko unknown
- 2018-09-20 JP JP2019543713A patent/JPWO2019059315A1/ja active Pending
- 2018-09-21 TW TW107133451A patent/TW201921157A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2019059315A1 (ja) | 2019-03-28 |
TW201921157A (zh) | 2019-06-01 |
KR20200060345A (ko) | 2020-05-29 |
CN111133386A (zh) | 2020-05-08 |
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