JPWO2019054035A1 - 電流生成回路および診断回路 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、第1実施形態に係る電流生成回路の構成を示すブロック図である。
図1において、電流生成回路1には、基準電流源100、カレントミラー回路200、調整レジスタ300、切替スイッチ400、機能回路500および診断回路600が設けられている。診断回路600は、基準クロック入力部700に接続されている。
図2において、診断回路600を起動する(801)。この時、診断回路600の最初の起動時に初期診断動作に移行することができる。診断回路600は、電流生成回路1の電源がオンされた直後などに起動することができる。診断回路600は、所定の周期で定期的に起動してもよい。
図4は、第2実施形態に係る電流生成回路の構成を示すブロック図である。
図4の電流生成回路2では、図1の調整レジスタ300、機能回路500および診断回路600の代わりに調整レジスタ300´、機能回路500´および診断回路600´が設けられている。
図5において、演算部500aには、電流検出器501、電流比較器502および電流計算器503が設けられている。
図6において、比較結果T4が許容範囲LIMITを超えている場合(810a)、補正係数Cを(1+ΔI)倍することで、電流検出値Ix´の変化分1/(1+ΔI)を打ち消す。
図7は、第3実施形態に係る電流生成回路の構成を示すブロック図である。
図7において、電流生成回路3には、基準電流源100、カレントミラー回路210、200(1)〜200(3)、調整レジスタ300(1)〜300(3)、切替スイッチ400(1)〜400(3)、セレクタ430、機能回路500(1)〜500(3)および診断回路601が設けられている。診断回路601は、基準クロック入力部700に接続されている。
(3)および切替スイッチ400(1)〜400(3)は、各機能回路500(1)〜500(3)に対応して設けられている。機能回路500(1)〜500(3)は、同一の機能を持っていてもよいし、異なる機能を持っていてもよい。
図8の処理では、各機能回路500(1)〜500(3)で用いられる基準電流I2(1)〜I2(3)が診断回路601に順次入力され、各基準電流I2(1)〜I2(3)について図2と同様の処理が実行される。
図9は、第4実施形態に係る電流生成回路が用いられる診断システムの構成を示すブロック図である。
図9において、診断システム10には、電流生成回路1および基準クロック生成回路902が設けられている。電流生成回路1は、基準クロック入力部700を介して基準クロック生成回路902に接続されている。基準クロック生成回路902には、振動子901が接続されている。
図10は、第5実施形態に係る電流生成回路に用いられる基準クロックの周期誤差の温度依存性を示す図である。
図9の診断システム10において、電流生成回路1および基準クロック生成回路902の特性は温度依存性を持つ。このため、図10に示すように、初期診断動作時に環境温度がTP1であったものとすると、TP1と異なる環境温度では、基準クロックの周期T2および診断回路600に誤差ER1、ER2がそれぞれ発生する。
図11は、第6実施形態に係る電流生成回路が用いられる診断システムの構成を示すブロック図である。
図11において、自動車11には、室内空間20およびエンジンルーム30が設けられている。
Claims (15)
- 基準電流が用いられる機能回路と、
前記基準電流に基づいて生成される周期信号の周期と、外部から入力される基準クロックの周期との比較結果に基づいて、前記機能回路に流れる基準電流を診断する診断回路とを備える電流生成回路。 - 前記比較結果は、異なる時刻における第1の比較結果と第2の比較結果とを備え、
前記診断回路は、前記第1の比較結果と前記第2の比較結果とを比較した第3の比較結果に基づいて、前記基準電流を診断する請求項1に記載の電流生成回路。 - 前記第1の比較結果は、前記機能回路で前記基準電流が用いられる時の初期値であり、前記第3の比較結果は、前記第1の比較結果と前記第2の比較結果との差分である請求項2に記載の電流生成回路。
- 前記基準電流を生成するカレントミラー回路を備える請求項1から3のいずれか1項に記載の電流生成回路。
- 前記診断回路は、前記基準電流の診断結果に基づいて前記カレントミラー回路のミラー比を調整する請求項4に記載の電流生成回路。
- 前記機能回路は、前記基準電流に基づいて演算を行う演算部を備え、
前記診断回路は、前記基準電流の診断結果に基づいて前記演算部の係数を調整する請求項1から4のいずれか1項に記載の電流生成回路。 - 前記機能回路と前記診断回路との間で前記基準電流の入力先を切り替える切替スイッチを備える請求項1から6のいずれか1項に記載の電流生成回路。
- 前記切替スイッチは、前記機能回路で前記基準電流が用いられる時は前記基準電流の入力先を前記機能回路に切り替え、前記比較結果の生成時は前記基準電流の入力先を前記診断回路に切り替える請求項7に記載の電流生成回路。
- 前記機能回路は複数設けられ、
前記基準電流は前記機能回路ごとに生成され、
前記診断回路は前記複数の機能回路で共有され、
前記切替スイッチは、前記機能回路ごとに設けられ、各機能回路の基準電流が前記診断回路に順次入力されるように前記基準電流の入力先を前記機能回路から前記診断回路に順次切り替える請求項7または8に記載の電流生成回路。 - 前記診断回路は、前記機能回路ごとに個別に用いられる前記基準電流が互いに等しくなるように前記基準電流を個別に調整する請求項9に記載の電流生成回路。
- 前記基準クロックの発振源は、前記基準電流の電流源よりも熱的ストレスが小さい環境下に設置されている請求項1から10のいずれか1項に記載の電流生成回路。
- 前記診断回路は、所定の環境温度範囲を逸脱する場合は動作しない請求項1から11のいずれか1項に記載の電流生成回路。
- 前記機能回路は、
ソレノイドを駆動するソレノイドドライバと、
前記ソレノイドドライバから出力される駆動電流を検出する検出器を備え、
前記診断回路は、前記ソレノイドドライバから出力される駆動電流が前記検出器の検出値に一致するように前記検出器の演算に用いられる係数を調整する請求項1から12のいずれか1項に記載の電流生成回路。 - 電子回路で用いられる電流に基づいて生成される周期信号の周期と、外部から入力される基準クロックの周期とを比較する第1比較器と、
前記第1比較器の比較結果に基づいて、前記電流を調整する調整部とを備える診断回路。 - 前記電子回路で用いられる電流に基づいて前記周期信号を生成する発振器と、
前記第1比較器の第1時刻の比較結果を記憶する記憶部と、
前記第1時刻の比較結果と、前記第1比較器の第2時刻の比較結果とを比較する第2比較器とをさらに備え、
前記調整部は、前記第2比較器の比較結果に基づいて、前記電流を調整する請求項14に記載の診断回路。
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Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140152341A1 (en) * | 2012-12-05 | 2014-06-05 | Lsi Corporation | External component-less pvt compensation scheme for io buffers |
US20170060165A1 (en) * | 2015-08-31 | 2017-03-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Current reference circuit and an electronic device including the same |
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US5267545A (en) * | 1989-05-19 | 1993-12-07 | Orbital Engine Company (Australia) Pty. Limited | Method and apparatus for controlling the operation of a solenoid |
US6130632A (en) * | 1998-04-16 | 2000-10-10 | National Semiconductor Corporation | Digitally self-calibrating current-mode D/A converter |
US6044019A (en) * | 1998-10-23 | 2000-03-28 | Sandisk Corporation | Non-volatile memory with improved sensing and method therefor |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20140152341A1 (en) * | 2012-12-05 | 2014-06-05 | Lsi Corporation | External component-less pvt compensation scheme for io buffers |
US20170060165A1 (en) * | 2015-08-31 | 2017-03-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Current reference circuit and an electronic device including the same |
JP2017147694A (ja) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | 株式会社東芝 | 基準電流生成回路、ad変換器、及び無線通信装置 |
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