JPWO2018193806A1 - マーカユニット - Google Patents

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共啓 斉藤
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Abstract

本発明は、例えば、同じ対象物に対して、同じ条件で容易に設置することが可能なマーカユニットを提供する。本発明のマーカユニットは、上基板と、下基板とを含み、前記下基板の上に、前記上基板が積層された積層体であり、前記下基板は、その上面に、前記積層体の上面側に露出した下基板被検出部を有し、その下面に、位置決定部を有し、前記被検出部は、前記積層体の上面側から検出可能であり、前記位置決定部は、マーカユニットが設置される被設置体における前記マーカユニットが設置される被設置部に対して、位置を決定する形状であることを特徴とする。

Description

本発明は、マーカユニットに関する。
拡張現実感(Augmented Reality、以下、「AR」ともいう)およびロボティクス等の分野において、物体の位置および姿勢等を認識するために、いわゆる視認マーカが使用されている。前記マーカとしては、例えば、ARマーカが一般的である。また、前記マーカの他の例としては、例えば、黒の縞模様の上に、レンチキュラレンズが配置されたマーカが報告されている(特許文献1)。前記マーカは、一般的に、見る角度に応じて変位する可変モアレパターン(VMP)マーカと呼ばれ、また、RAS(Rotation Angle Scale;回転角度)マーカとも呼ばれる。カメラ等の検出機器によって、前記マーカに現れる像を検出すると、前記マーカに対する前記カメラの視認角度に依存して、前記像は、濃淡パターンが変化する。このため、前記マーカの濃淡パターンを検出することによって、前記マーカの回転角度を判断することができる。
前記視認マーカは、通常、基板上に配置されており、前記基板には、前記カメラが検出すべき領域の目印となる複数の検出基準部が設けられ、全体で、マーカユニットとして使用されている。
特開2012−145559号公報
前記マーカユニットは、ロボット等の被対象物に対して設置される際、両面テープによる貼り合せが一般的である。そして、前記マーカユニットは、例えば、汚れ、故障等が発生した場合には、取り換えが必要であり、また、測定後に取り外しが必要な場合がある。そうすると、同じ被対象物に対して、次の測定時に、新たなマーカユニットの設置が必要となる。
そして、現状、前記マーカユニットは、前記被対象物に対して目視で位置決めがされている。しかし、前記マーカユニットにおける前記マーカおよび前記検出基準部は、位置や角度によって見え方が異なる。このため、測定の度に、前記被対象物にマーカユニットを設置し且つ取り外すことが必要な場合、同じ種類のマーカユニットへの取り換えが必要な場合等、マーカユニットの設置精度が重要となる。すなわち、マーカユニットが同一物であっても、同じ種類のマーカユニットの取り換えであっても、前記被対象物への設置が、その度に異なると、同条件の測定であっても、前記マーカユニットから得られる結果が異なる可能性がある。そうすると、設置する度に、前回設置したマーカユニットの測定結果と、その次に設置したマーカユニットの測定結果とを対応できるように、キャリブレーション等が必要となり、手間がかかる。
そこで、本発明は、例えば、同じ対象物に対して、同様の設置条件で容易に設置することが可能なマーカユニットを提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明のマーカユニットは、
上基板と、下基板とを含み、
前記下基板の上に、前記上基板が積層された積層体であり、
前記下基板は、
その上面に、前記積層体の上面側に露出した下基板被検出部を有し、その下面に、位置決定部を有し、
前記被検出部は、
前記積層体の上面側から検出可能であり、
前記位置決定部は、
マーカユニットが設置される被設置体における前記マーカユニットが設置される被設置部に対して、位置を決定する形状であることを特徴とする。
本発明のマーカユニットは、前述のような位置決定部を有するため、ロボット等の被設置体に対して、同様の設置条件で容易に設置することが可能である。このため、例えば、前記被設置体にマーカユニットを設置する度、前記マーカユニットにおける検出基準部やマーカ等の測定についてキャリブレーション等を行うことも省略することが可能となる。
図1(A)において、上図は、実施形態1のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図1(B)において、上図は、実施形態1のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図2(A)において、上図は、実施形態2のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図2(B)において、上図は、実施形態2のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図3(A)において、上図は、実施形態3のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図3(B)において、上図は、実施形態3のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図4(A)において、上図は、実施形態4のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図4(B)において、上図は、実施形態4のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図5(A)において、上図は、実施形態5のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図5(B)において、上図は、実施形態5のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図6(A)において、上図は、実施形態6のマーカユニットの一例を示す側面図であり、中図は、前記マーカユニットの断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図6(B)において、上の2図および中図は、実施形態6のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図7において、上図は、実施形態7のマーカユニットの一例を示す側面図であり、中図は、前記マーカユニットの断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図8において、上図は、実施形態8のマーカユニットの一例を示す側面図であり、中図は、前記マーカユニットの断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図9において、上の2図および中図は、実施形態9のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図10において、上図は、実施形態10のマーカユニットの一例を示す側面図であり、中図は、前記マーカユニットの断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図11(A)において、上図は、実施形態11のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図11(B)において、上の2図は、実施形態11のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図12において、上図は、実施形態12のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図13は、各実施形態のマーカユニットの基本構成の一例であり、図13(A)は、前記マーカユニットの上方向から見た平面図であり、図13(B)は、前記マーカユニットの断面図であり、図13(C)は、前記マーカユニットの上基板の平面図である。 図14(A)において、上図は、変形例のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図14(B)において、上図は、変形例のマーカユニットの一例を示す断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図15(A)は、変形例のマーカユニットの上方向から見た平面図であり、図15(B)は、前記マーカユニットの断面図であり、図15(C)は、前記マーカユニットの上基板の平面図である。 図16(A)において、右下図は、実施形態13のマーカユニットの一例を示す平面図であり、右上図は、前記マーカユニットの矢印A方向の側面図であり、左下図は、前記マーカユニットの矢印B方向の側面図であり、図16(B)において、右下図は、実施形態13のマーカユニットの一例を示す平面図であり、右上図は、前記マーカユニットの矢印A方向の側面図であり、左下図は、前記マーカユニットの矢印B方向の側面図である。 図17(A)において、上図は、実施形態14のマーカユニットの一例を示す側面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図17(B)において、上図は、実施形態14のマーカユニットの側面図であり、中図は、前記マーカユニットの断面図であり、下図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図18(A)において、左図は、実施形態15のマーカユニットの一例を示す側面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図18(B)において、左図は、実施形態15のマーカユニットの一例を示す側面図であり、右図は、下方向から見た平面図であり、図18(C)において、左図は、実施形態15のマーカユニットの一例を示す側面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図18(D)において、左図は、実施形態15のマーカユニットの一例を示す断面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向からみた平面図であり、中図は、前記マーカユニットの側面図である。 図19(A)において、左図は、実施形態16のマーカユニットの一例を示す側面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図19(B)において、左図は、実施形態16のマーカユニットの一例を示す側面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。 図20において、左図は、実施形態17のマーカユニットの一例を示す側面図であり、中図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、右上図は、前記マーカユニットの断面図である。 図21(A)において、左図は、実施形態18のマーカユニットの一例を示す断面図であり、中図は、前記マーカユニットの側面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向からみた平面図であり、図21(B)において、左図は、実施形態18のマーカユニットの一例を示す断面図であり、中図は、前記マーカユニットの側面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向からみた平面図であり、図21(C)において、左図は、実施形態18のマーカユニットの一例を示す断面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向からみた平面図であり、図21(D)において、左図は、実施形態18のマーカユニットの一例を示す断面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向からみた平面図である。 図22(A)は、実施形態19のマーカユニットの一例を示す図であり、左図は、前記マーカユニットの上方向から見た平面図であり、中上図および中下図は、前記マーカユニットの断面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図であり、図22(B)は、実施形態19のマーカユニットの一例を示す図であり、左図は、前記マーカユニットの上方向から見た平面図であり、中上図および中下図は、前記マーカユニットの断面図であり、右図は、前記マーカユニットの下方向から見た平面図である。
本発明のマーカユニットにおいて、例えば、前記下基板被検出部は、マーカ、および前記マーカの検出における基準となる検出基準部の少なくとも一方を含む。
本発明のマーカユニットにおいて、例えば、さらに、前記上基板は、前記積層体の上面側から検出可能な上基板被検出部を有し、前記上基板被検出部は、マーカである。
本発明のマーカユニットにおいて、例えば、前記位置決定部は、前記被設置部の形状に対して、対応する形状である。
本発明のマーカユニットは、例えば、前記被設置体の被設置部が凸部の場合、前記下基板の位置決定部は、凹部であり、前記被設置体の被設置部が凹部の場合、前記下基板の位置決定部は、凸部である。
本発明のマーカユニットは、例えば、前記被設置体の被設置部が凸状の曲面を有する場合、前記下基板の位置決定部は、複数の凸部である。
本発明のマーカユニットは、例えば、前記下基板の位置決定部が、2箇所以上である。
本発明のマーカユニットは、例えば、前記下基板の位置決定部が、1箇所である。
本発明のマーカユニットにおいて、例えば、前記下基板は、その下面において、前記下基板被検出部と対応する箇所に、前記位置決定部を有する。
本発明のマーカユニットにおいて、例えば、前記上基板は、貫通孔を有し、前記下基板は、その上面において、前記上基板の貫通孔と対応する箇所が、前記検出基準部となり、その下面において、前記検出基準部と対応する箇所に、前記位置決定部を有する。
本発明のマーカユニットにおいて、例えば、前記下基板は、その上面において、前記上基板の貫通孔と対応する箇所に、凸部を有し、前記凸部の上面が、前記検出基準部である。
本発明のマーカユニットは、例えば、前記下基板被検出部が、マーカを含み、前記下基板は、その下面において、前記マーカと対応する箇所に、前記位置決定部を有する。
本発明のマーカユニットは、便宜上、視認側を「上方向」といい、その反対側を「下方向」という。このため、本発明のマーカユニットにおいて、例えば、「上基板」とは、視認側の基板であり、「下基板」とは、上基板に対して下方向に位置する基板である。
本発明のマーカユニットが設置される被設置体は、特に制限されず、例えば、ロボット、建設機器、衣料品、およびそれらに付されたマウント等があげられる。本発明のマーカユニットにおける前記位置決定部の形状は、前記被設置体における被設置部に対してマーカユニットの設置位置が決定される形状であればよく、例えば、前記被設置体における被設置部の形状に応じて適宜決定できる。前記被設置体における被設置部とは、前記マーカユニットが設置される部位である。
また、前記マーカユニットの位置決定部と、前記被設置体の被設置部とは、例えば、それぞれが嵌り合う形状でもよい。前記位置決定部と前記被設置部とによって、前記被設置体に前記マーカユニットを固定できる場合、例えば、前記位置決定部を固定部ともいい、前記被設置部を被固定部ともいう。
本発明のマーカユニットの位置決定部は、例えば、前記被設置体の被設置部に対応して設計することができる。具体例として、例えば、前記被設置体の被設置部が凸部の場合、前記下基板の位置決定部は、凹部であり、前者の凸部と後者の凹部とが、一対一の関係で対応することが好ましい。また、例えば、前記被設置体の被設置部が凹部の場合、前記下基板の位置決定部は、凸部であり、前者の凹部と後者の凸部とが、一対一の関係で対応することが好ましい。このように、本発明のマーカユニットは、例えば、前記位置決定部として、前記被設置体の被設置部の形状に対応する形状を有することで、両者をはめ込むことで容易に設置ができる。
また、本発明のマーカユニットは、例えば、前記被設置部が凸状の曲面を有する場合でも、例えば、容易に安定して設置することが可能である。従来、前記被設置体の前記被設置部が平面ではなく曲面の場合、例えば、前記マーカユニットが板状であると、設置において安定性の問題があった。また、曲面に対して前記板状のマーカユニットを無理に設置すると、前記マーカユニットが反り等によって変形し、結果的に、前記マーカユニットにおけるマーカの機能が低下したり、発現しないおそれがあった。これに対して、本発明のマーカユニットによれば、例えば、前記位置決定部を凸状とし、その凸状の先端を前記曲面と接触させることで、前記曲面を有する前記被設置部に対しても、容易に安定して設置することが可能である。
本発明のマーカユニットは、前述のような条件となるように前記位置決定部を設けることが特徴であり、その他の構成等は、何ら限定されず、具体的には、前記マーカユニットにおいて、例えば、前記被検出部、前記被検出部に含まれるマーカの種類、各種基板の種類および積層形態等も限定されない。
つぎに、本発明の実施形態について、図を用いて説明する。本発明は、下記の実施形態によって何ら限定および制限されない。各図において、同一箇所には同一符号を付している。なお、図においては、説明の便宜上、各部の構造は、適宜、簡略化して示す場合があり、各部の寸法比等は、図の条件には制限されない。なお、以下、前記下基板と上基板とを含む積層体において、下基板側を下方向、上基板側を上方向という。
まず、以下の実施形態におけるマーカユニットの基本構成の一例を、図13に示す。図13(A)は、上面側から見たマーカユニット1の平面図であり、図13(B)は、マーカユニット1のXII−XII方向から見た断面図であり、図13(C)は、マーカユニット1の上基板10の平面図である。マーカユニット1は、下基板12、介在基板11、および上基板10を有し、下基板12の上に、介在基板11を介して、上基板10が配置された積層体である。
マーカユニット1は、前記積層体の上面側から検出可能な被検出部として、検出基準部122と、検出基準部122の間に、VMP(可変モアレパターン)等のマーカ20とを有する。検出基準部122とマーカ20は、下基板12によって形成される前記下基板被検出部である。前記下基板被検出部は、マーカユニット1の下基板12の上表面側の領域であり、下基板12の上面において、マーカユニット1の上面側に露出している。マーカユニット1において、上基板10および介在基板11は、検出基準部122およびマーカ20に対応する箇所に、貫通孔101、102を有する。そして、下基板12の上に、介在基板11および上基板10を積層すると、上基板10の貫通孔101、102に対応する領域において、下基板12の上表面が露出し、前述した検出基準部122およびマーカ20となる。下基板12は、例えば、検出基準部122となる箇所に、上方向に突出する円形の凸部を有し、マーカユニット1において、前記凸部の上面が、検出基準部122となる。また、下基板12は、例えば、マーカ20となる箇所に、山型の連続凸部を有し、マーカユニット1において、前記連続凸部が、マーカ20となる。
以下の実施形態においては、このマーカユニット1の基本構造を前提として、さらに、前記下基板における位置決定部について説明する。図13においては、後述する図1(A)と同様に、下基板12における位置決定部として、下方向に突出する位置決定部121を示すが、本発明のマーカユニットは、これには限定されない。
なお、本発明のマーカユニットの基本構造は、図13の例には限定されず、例えば、前記介在基板を有しても有さなくてもよく、前記下基板被検出部として、マーカ20のみを有してもよいし、検出基準部122のみを有してもよく、マーカ20および検出基準部122の形状等も、これらの例には限定されない。また、本発明のマーカユニットは、例えば、さらに、上基板被検出部としてマーカを有してもよい。なお、以下の実施形態の図において、マーカ20は省略する。
[実施形態1]
図1に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット1(1Aおよび1B)は、下基板12が、上面において、検出基準部122を有し、また、下面において、検出基準部122と対応する箇所に、位置決定部121を有する形態である。図1(A)のマーカユニット1Aは、下基板12が、凸状の位置決定部121Aを有する形態であり、図1(B)のマーカユニット1Bは、下基板12が、凹状の位置決定部121Bを有する形態である。
まず、図1(A)のマーカユニット1Aについて説明する。図1(A)において、上図は、マーカユニット1Aの側面図であり、下図は、マーカユニット1Aを下基板12側から見た平面図である。図1(A)に示すように、マーカユニット1Aは、下基板12、介在基板11、および上基板10を有し、下基板12の上に、介在基板11を介して、上基板10が配置されている。マーカユニット1Aは、上面側から検出可能な検出基準部122とマーカ(図13参照)とを有し、検出基準部122の間に、前記マーカを有する(図13参照)。マーカユニット1Aにおける下基板12は、その上面において、上方向に突出する円柱状の凸部(以下、上面側凸部ともいう)を有し、前記上面側凸部の上面が検出基準部122であり、介在基板11および上基板10は、それぞれ、検出基準部122と対応する箇所に貫通孔を有し、下基板12の上面側凸部は、介在基板11および上基板10のそれぞれの貫通孔に挿入されており、その上面である検出基準部122が、上方向において露出している。そして、下基板12は、その下面において、前記上面の検出基準部122に対応する箇所に、下方向に突出する円柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部121Aである。前記上面側の凸部と前記下面側の凸部を有する下基板12は、例えば、一体成形体である。マーカユニット1Aは、各角の領域に、それぞれ検出基準部122(4箇所)を有し、これらと対応する箇所において、下基板12の下面は、4箇所に位置決定部121Aを有する。
マーカユニット1Aは、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。この際、マーカユニット1Aの位置決定部121Aの形状および大きさは、特に制限されず、例えば、前記被設置体の前記被設置部の形状および大きさに応じて、設定できる。この際、マーカユニット1Aを前記被設置体に固定できることから、例えば、嵌り合うように設定してもよい。マーカユニット1Aの位置決定部121Aを、前記被設置体の凹状の被設置部に挿入して、両者を嵌め合うことによって、マーカユニット1Aを前記被設置体に設置できる。位置決定部12Aと前記被設置部との嵌め合いは、特に制限されず、例えば、嵌入等があげられる。
マーカユニット1Aは、4箇所に位置決定部121Aを有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。本発明において、前記位置決定部の数は、特に制限されず、例えば、このような効果の点から、2箇所以上が好ましい。
つぎに、図1(B)のマーカユニット1Bについて説明する。図1(B)において、上図は、マーカユニット1BのI−I方向から見た断面図であり、下図は、マーカユニット1Bを下基板12側から見た平面図である。図1(B)に示すように、マーカユニット1Bは、下基板12が、その下面において、前記上面の検出基準部122に対応する箇所に、内部が円柱状の凹部を有し、前記凹部が、位置決定部121Bである以外は、前記図1(A)のマーカユニット1Aと同じである。マーカユニット1Bは、各角領域に、それぞれ検出基準部122(4箇所)を有し、これらの対応する箇所において、下基板12の下面は、4箇所に位置決定部121Bを有する。
マーカユニット1Bは、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。この際、マーカユニット1Bの位置決定部121Bの形状および大きさは、例えば、前記被設置体の前記被設置部の形状および大きさに応じて、設定でき、嵌り合うように設定してもよい。前記被設置体の凸状の被設置部を、マーカユニット1Bの位置決定部121Bに挿入して、両者を嵌め合うことによって、マーカユニット1Bを前記被設置体に設置できる。
マーカユニット1Bは、4箇所に位置決定部121Bを有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。本発明において、前記位置決定部の数は、特に制限されず、例えば、このような効果の点から、2箇所以上が好ましい。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。また、本実施形態のマーカユニットは、前記下基板の上面と下面とにおいて、前記下基板被検出部である検出基準部と前記位置決定部とを、対応する箇所に有していることから、さらに、前記下基板被検出部を、より一層正確に配置することが可能になる。
[実施形態2]
図2に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット2(2A、2B)は、下基板12が、マーカの端部と対応する箇所に、位置決定部221を有する形態である。図2(A)のマーカユニット2Aは、下基板12が、凸状の位置決定部221Aを有する形態であり、図2(B)のマーカユニット2Bは、下基板12が、凹状の位置決定部221Bを有する形態である。
まず、図2(A)のマーカユニット2Aについて説明する。図2(A)において、上図は、マーカユニット2Aの側面図であり、下図は、マーカユニット2Aを下基板12側から見た平面図である。図2(A)に示すように、マーカユニット2Aは、下基板12が、その下面において、前記上面のマーカの端部に対応する箇所に、円柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部221Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット2Aは、前記下基板被検出部として、各角の領域に、それぞれ検出基準部122(4箇所)を有し、検出基準部122の間に、並行して2つのマーカを有する(図13参照)。そして、これらのマーカの端部に対応する箇所において、下基板12の下面は、4箇所に位置決定部221Aを有する。マーカユニット2Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
マーカユニット2Aは、4箇所に位置決定部221Aを有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。
つぎに、図2(B)のマーカユニット2Bについて説明する。図2(B)において、上図は、マーカユニット2BのII−II方向から見た断面図であり、下図は、マーカユニット2Bを下基板12側から見た平面図である。図2(B)に示すように、マーカユニット2Bは、下基板12が、その下面において、前記上面のマーカの端部に対応する箇所に、内部が円柱状の凹部を有し、前記凹部が、位置決定部221Bである以外は、前記図2(A)のマーカユニット2Aと同じである。マーカユニット2Bは、前記下基板被検出部として、各角の領域に、それぞれ検出基準部122(4箇所)を有し、検出基準部122の間に、並行して2つのマーカを有する。そして、これらのマーカの端部に対応する箇所において、下基板12の下面は、4箇所に位置決定部221Bを有する。マーカユニット2Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
マーカユニット2Bは、4箇所に位置決定部221Bを有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。また、本実施形態のマーカユニットは、前記下基板の上面と下面とにおいて、前記下基板被検出部であるマーカと前記位置決定部とを、対応する箇所に有していることから、さらに、前記下基板被検出部を、より一層正確に配置することが可能になる。
[実施形態3]
図3に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット3(3A、3B)は、下基板12が、その下面の中央に、位置決定部321を有する形態である。図3(A)のマーカユニット3Aは、下基板12が、凸状の位置決定部321Aを有する形態であり、図3(B)のマーカユニット3Bは、下基板12が、凹状の位置決定部321Bを有する形態である。
まず、図3(A)のマーカユニット3Aについて説明する。図3(A)において、上図は、マーカユニット3Aの側面図であり、下図は、マーカユニット3Aを下基板12側から見た平面図である。図3(A)に示すように、マーカユニット3Aは、下基板12が、その下面の中央に、円柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部321Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット3Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
つぎに、図3(B)のマーカユニット3Bについて説明する。図3(B)において、上図は、マーカユニット3BのIII−III方向から見た断面図であり、下図は、マーカユニット3Bを下基板12側から見た平面図である。図3(B)に示すように、マーカユニット3Aは、下基板12が、その下面の中央に、内部が円柱状の凹部を有し、前記凹部が、位置決定部321Bである以外は、前記図3(A)のマーカユニット3Aと同じである。マーカユニット3Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態4]
図4に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット4(4A、4B)は、下基板12が、その下面の中央に、位置決定部421を有する形態である。図4(A)のマーカユニット4Aは、下基板12が、凸状の位置決定部421Aを有する形態であり、図4(B)のマーカユニット4Bは、下基板12が、凹状の位置決定部421Bを有する形態である。
まず、図4(A)のマーカユニット4Aについて説明する。図4(A)において、上図は、マーカユニット4Aの側面図であり、下図は、マーカユニット4Aを下基板12側から見た平面図である。図4(A)に示すように、マーカユニット4Aは、下基板12が、その下面の中央に、円周の一部が欠損した柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部421Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット4Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
位置決定部421Aは、例えば、円周の一部が欠損した柱状の凸部であるため、前記被設置体の被設置部に挿入した際、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じること等を十分に防止できる。また、例えば、位置決定部421Aの形状から、前記被設置体の被設置部に対するマーカユニット4Aの向きが、必然的に決まるため、より容易に目的の箇所への正しい方向での設置が可能となる。
つぎに、図4(B)のマーカユニット4Bについて説明する。図4(B)において、上図は、マーカユニット4BのIV−IV方向から見た断面図であり、下図は、マーカユニット4Bを下基板12側から見た平面図である。図4(B)に示すように、マーカユニット4Bは、下基板12が、その下面の中央に、円周の一部が欠損した柱状の内部である凹部を有し、前記凹部が、位置決定部421Bである以外は、前記図4(A)のマーカユニット4Aと同じである。マーカユニット4Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
位置決定部421Bは、例えば、円周の一部が欠損した柱状の凹部であるため、前記被設置体の被設置部を挿入した際、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じること等を十分に防止できる。また、例えば、位置決定部421Bの形状から、前記被設置体の被設置部に対するマーカユニット4Bの向きが、必然的に決まるため、より容易に目的の箇所への正しい方向での設置が可能となる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態5]
図5に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット5(5A、5B)は、下基板12が、その下面の中央に、位置決定部521を有する形態である。図5(A)のマーカユニット5Aは、下基板12が、凸状の位置決定部521Aを有する形態であり、図5(B)のマーカユニット5Bは、下基板12が、凹状の位置決定部521Bを有する形態である。
まず、図5(A)のマーカユニット5Aについて説明する。図5(A)において、上図は、マーカユニット5Aの側面図であり、下図は、マーカユニット5Aを下基板12側から見た平面図である。図5(A)に示すように、マーカユニット5Aは、下基板12が、その下面の中央に、角柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部521Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット5Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
つぎに、図5(B)のマーカユニット5Bについて説明する。図5(B)において、上図は、マーカユニット5BのV−V方向から見た断面図であり、下図は、マーカユニット5Bを下基板12側から見た平面図である。図5(B)に示すように、マーカユニット5Bは、下基板12が、その下面の中央に、内部が角柱状の凹部を有し、前記凹部が、位置決定部521Bである以外は、前記図5(A)のマーカユニット5Aと同じである。マーカユニット5Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態6]
図6に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット6(6A、6B)は、下基板12が、その下面の対角線上の角部の領域に、位置決定部621を有する形態である。図6(A)のマーカユニット6Aは、下基板12が、凸状の位置決定部621A、621A’を有し、図6(B)のマーカユニット6Bは、下基板12が、凹状の位置決定部621B、621B’を有する形態である。
まず、図6(A)のマーカユニット6Aについて説明する。図6(A)において、上図は、マーカユニット6Aの側面図であり、下図は、マーカユニット6Aを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、前記平面図のVI−VI方向からみた断面図である。図6(A)に示すように、マーカユニット6Aは、下基板12が、その下面の対角線上の角部の領域に、2つの円柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部621A、621A’である以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット6Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
マーカユニット6Aは、2箇所に位置決定部621A、621A’を有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。
つぎに、図6(B)のマーカユニット6Bについて説明する。図6(B)において、上図および真ん中の図は、マーカユニット6Bの断面図であり、下図は、マーカユニット6Bを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、マーカユニット6Bの断面図である。前記断面図のうち、上図は、VIa−VIa方向から見た断面図であり、真ん中の図は、VIb−VIb方向から見た断面図であり、右上図は、VIc−VIc方向から見た断面図である。図6(B)に示すように、マーカユニット6Bは、下基板12が、その下面の対角線上に、内部が円柱状の2つの凹部を有し、前記凹部が、位置決定部621B、621B’である以外は、前記図6(A)のマーカユニット6Aと同じである。マーカユニット6Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
マーカユニット6Bは、2箇所に位置決定部621B、621B’を有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態7]
図7に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット7Aは、下基板12が、凸状且つテーパ状の位置決定部721Aを有する形態である。
図7において、上図は、マーカユニット7Aの側面図であり、下図は、マーカユニット7Aを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、前記平面図のVII−VII方向からみた断面図である。図7に示すように、マーカユニット7Aは、下基板12が、平面形状が三角形であり厚み方向がテーパ状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部721Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット7Aは、例えば、位置決定部721Aの凸部の角を、前記被設置体の対応する箇所に突き当てる(または角を揃える)ことによって、位置決定することができる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態8]
図8に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット8Aは、下基板12が、凸状且つテーパ状の位置決定部821Aを有する形態である。
図8において、上図は、マーカユニット8Aの側面図であり、下図は、マーカユニット8Aを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、前記平面図のVIII−VIII方向からみた断面図である。図8に示すように、マーカユニット8Aは、下基板12が、平面形状が三角形であり厚み方向がテーパ状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部821Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット8Aは、例えば、位置決定部821Aの凸部の角を、前記被設置体の対応する箇所に突き当てる(または角を揃える)ことによって、位置決定することができる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態9]
図9に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット9Bは、下基板12が、その下面の対角線上の角部の領域に、凹状の位置決定部921B、921B’を有する形態である。
図9のマーカユニット9Bについて説明する。図9において、上図および真ん中の図は、マーカユニット9Bの断面図であり、下図は、マーカユニット9Bを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、マーカユニット9Bの断面図である。前記断面図のうち、上図は、IXa−IXa方向から見た断面図であり、真ん中の図は、IXb−IXb方向から見た断面図であり、右上図は、IXc−IXc方向から見た断面図である。図9に示すように、マーカユニット9Bは、下基板12が、その下面の対角線上に、内部が略真円の円柱状の凹部と内部が楕円の円柱状の凹部とを有し、前記凹部が、位置決定部921B、921B’である以外は、前記図6(B)のマーカユニット6Bと同じである。マーカユニット9Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
位置決定部921Bと921B’は、それぞれ異なる形状であるため、前記被設置体の被設置部に挿入した際、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じること等を十分に防止できる。また、例えば、位置決定部921B、921B’の形状により、前記被設置体の被設置部に対するマーカユニット9Bの向きが、必然的に決まるため、より容易に目的の箇所への正しい方向での設置が可能となる。
マーカユニット9Bの2つの位置決定部は、前述のように、一方が略真円であり、他方が楕円である。このため、前記被設置体の2箇所の被設置部がそれぞれ真円の場合、例えば、まず、一方の真円の前記被設置部を、マーカユニット9Bの楕円の位置決定部921B’に前記被設置部を挿入し、つぎに、他方の真円の前記被設置部を、マーカユニット9Bの真円の位置決定部921Bを挿入することで、より容易な設置が可能となる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態10]
図10に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット13Aは、下基板12が、その下面の対角線上の角部の領域に、凸状の位置決定部1321A、1321A’を有する形態である。
図10のマーカユニット13Aについて説明する。図10において、上図は、マーカユニット13Aの側面図であり、下図は、マーカユニット13Aを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、前記平面図のX−X方向からみた断面図である。図10に示すように、マーカユニット13Aは、下基板12が、その下面の対角線上に、円柱状の凸部と角柱状の凸部とを有し、前記2つの凸部が、位置決定部1321A、1321A’である以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット13Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
位置決定部1321Aと1321A’は、それぞれ異なる形状であるため、前記被設置体の被設置部に挿入した際、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じること等を十分に防止できる。また、例えば、位置決定部1321A、1321A’の形状により、前記被設置体の被設置部に対するマーカユニット13Aの向きが、必然的に決まるため、より容易に目的の箇所への正しい方向での設置が可能となる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態11]
図11に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット14(14A、14B)は、下基板12が、隣り合う辺に沿って配置された2つのマーカ(図13におけるマーカ20)と対応する箇所に、位置決定部1421を有する形態である。図11(A)のマーカユニット14Aは、下基板12が、凸状の位置決定部1421A、1421A’を有する形態であり、図11(B)のマーカユニット14Bは、下基板12が、凹状の位置決定部1421B、1421B’を有する形態である。
まず、図11(A)のマーカユニット14Aについて説明する。図11(A)において、上図は、マーカユニット14Aの側面図であり、下図は、マーカユニット14Aを下基板12側から見た平面図である。図11(A)に示すように、マーカユニット14Aは、下基板12が、隣り合う辺に沿って配置された2つのマーカ(図13参照)と対応する箇所に、それぞれ角柱状の凸部を有し、前記2つの凸部が、位置決定部1421A、1421A’である以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット14Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
マーカユニット14Aは、2箇所に位置決定部1421A、1421A’を有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。また、例えば、位置決定部1421Aと1421A’との組み合わせ形状から、前記被設置体の被設置部に対するマーカユニット14Aの向きが、必然的に決まるため、より容易に目的の箇所への正しい方向での設置が可能となる。
つぎに、図11(B)のマーカユニット14Bについて説明する。図11(B)において、上図および真ん中の図は、マーカユニット14Bの断面図であり、下図は、マーカユニット14Bを下基板12側から見た平面図である。前記断面図のうち、上図は、XIa−XIa方向から見た断面図であり、真ん中の図は、XIb−XIb方向から見た断面図である。図11(B)に示すように、マーカユニット14Bは、下基板12が、隣り合う辺に沿って配置された2つのマーカ(図13参照)と対応する箇所に、それぞれ、内部が角柱状の凹部を有し、前記凹部が、位置決定部1421B、1421B’である以外は、前記図11(A)のマーカユニット14Aと同じである。マーカユニット14Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
マーカユニット14Bは、2箇所に位置決定部1421B、1421B’を有するため、前記被設置体に設置した後、例えば、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じることを十分に防止できる。また、例えば、位置決定部1421Bと1421B’との組み合わせ形状から、前記被設置体の被設置部に対するマーカユニット14Bの向きが、必然的に決まるため、より容易に目的の箇所への正しい方向での設置が可能となる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。また、本実施形態のマーカユニットは、前記下基板の上面と下面とにおいて、前記下基板被検出部であるマーカと前記位置決定部とを、対応する箇所に有していることから、さらに、前記下基板被検出部を、より一層正確に配置することが可能になる。
[実施形態12]
図12に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット15Aは、下基板12が、凸状且つ交差状の位置決定部1521Aを有する形態である。
図12において、上図は、マーカユニット15Aの側面図であり、下図は、マーカユニット15Aを下基板12側から見た平面図である。図12に示すように、マーカユニット15Aは、下基板12が、交差状(X状)の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部1521Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット15Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、凹状の被設置部を有する被設置体に設置することができる。
位置決定部1521Aは、X状の凸部であるため、前記被設置体の被設置部に挿入した際、回転しにくい。このため、前記被設置体への設置後に、例えば、位置ずれが生じること等を十分に防止できる。
図12において、X状の位置決定部1521Aは、4つの線状凸部が中央でリンクしており、各線状凸部の長さは略同じであり、各線により形成される角度も同等である。位置決定部1521Aは、これには制限されず、例えば、各線の長さが異なったり、各線により形成される角度が異なってもよい。このような形態であれば、例えば、位置決定部1521Aの形状から、前記被設置体の被設置部に対するマーカユニット15Aの向きが、必然的に決まるため、より容易に目的の箇所への正しい方向での設置が可能となる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態13]
図16に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット18(18A、18B)は、それぞれ下基板12が、3つの位置決定部1821(1821A、1821B)を有する形態である。
まず、図16(A)のマーカユニット18Aについて説明する。図16(A)において、右下図は、マーカユニット18Aを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、マーカユニット18Aを、前記平面図の矢印A方向から見た側面図であり、左下図は、マーカユニット18Aを、前記平面図の矢印B方向から見た側面図である。図16(A)に示すように、マーカユニット18Aは、下基板12が、その下面の3箇所に、円柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部1821Aである以外は、前記実施形態1と同じである。位置決定部1821Aは、それぞれ、下基板12とは反対側の先端部が、曲面である。
マーカユニット18Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、前記凸状の3つの位置決定部1821Aにそれぞれ対応する凹状の3つの被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット18Aは、例えば、各位置決定部1821Aを、各凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。
また、マーカユニット18Aによれば、例えば、表面が湾曲した被設置体に対しても、容易に設置が可能である。この場合、マーカユニット18Aは、例えば、前記凸状の3つの位置決定部1821Aの各先端部を、前記被設置体の湾曲した曲面(被設置部)に接触させることで、マーカユニット18Aを前記被設置体に設置できる。具体的には、マーカユニット18Aは、位置決定部1821Aで囲まれる空間全体が、前記被設置体の曲面に対する凹部となり、位置決定部1821Aの前記空間に、前記被設置体の曲面の一部が挿入され、且つ、位置決定部1821Aの先端部で、前記被設置体に設置される。
本実施形態のマーカユニット18Aにおいて、位置決定部1821は、例えば、前記被設置体の曲面に対応する箇所に設けられている。このため、例えば、マーカユニット18を構成する積層体が平面形状であっても、複数の凸部(位置決定部1821)によって、前記被設置体における前記曲面を含む前記被設置部に、マーカユニット18を設置できる。
つぎに、図16(B)のマーカユニット18Bについて説明する。図16(B)において、右下図は、マーカユニット18Bを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、マーカユニット18Bを、前記平面図の矢印A方向から見た側面図であり、左下図は、マーカユニット18Bを、前記平面図の矢印B方向から見た側面図である。マーカユニット18Bは、前記凸部が、下方向を頂点とする円錐状であり、前記凸部が、位置決定部1821Bである以外は、図16(A)のマーカユニット18Aと同様である。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態14]
図17に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット19(19A、19B)は、それぞれ下基板12が、凸状の位置決定部1921(1921A、1921B)を有する形態である。
まず、図17(A)のマーカユニット19Aについて説明する。図17(A)において、上図は、マーカユニット19Aの側面図であり、下図は、マーカユニット19Aを下基板12側から見た平面図である。図17(A)に示すように、マーカユニット19Aは、下基板12が、その下面において、並行する一対の直線状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部1921Aである以外は、前記実施形態1と同じである。前記一対の直線状の凸部は、それぞれ、前記上面のマーカおよび検出基準部(図13参照)に対応する箇所を通り、下方向を頂点とする山型の凸部である。
マーカユニット19Aは、例えば、前記一対の直線状の山形凸部にそれぞれ対応する一対の谷型凹状の被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット19Aは、例えば、一対の位置決定部1921Aを、それぞれ、前記各谷型凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。
また、マーカユニット19Aによれば、例えば、表面が湾曲した被設置体に対しても、容易に安定な設置が可能である。前記被設置体としては、例えば、前記被設置部の形状が、半円筒状である形態があげられる。この場合、マーカユニット19Aは、例えば、前記一対の直線状の凸部(位置決定部1921A)の各先端部を、前記被設置体の湾曲した曲面(被設置部)に接触させることで、マーカユニット19Aを前記被設置体に設置できる。具体的には、マーカユニット19Aは、一対の位置決定部1921Aの間にある空間全体が、前記被設置体の曲面に対する凹部となり、位置決定部1921Aの前記空間に、前記被設置体の曲面の一部が挿入され、且つ、位置決定部1921Aの先端部で、前記被設置体に設置される。前記被設置部の半円筒状の軸方向と、位置決定部1921の直線方向とが並行であることが好ましい。
つぎに、図17(B)のマーカユニット19Bについて説明する。図17(B)において、上図は、マーカユニット19Bの側面図であり、下図は、マーカユニット19Bを下基板12側から見た平面図であり、真ん中の図は、前記平面図のXV―XV方向から見た断面図である。図17(B)に示すように、マーカユニット19Bは、下基板12が、その下面において、環状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部1921Bである以外は、前記実施形態1と同じである。前記環状の凸部は、下方向を頂点とする山型の凸部である。
マーカユニット19Bは、例えば、前記環状の山型凸部に対応する、環状の谷型凹状の被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット19Bは、例えば、位置決定部1921B、前記環状の谷型凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。
また、マーカユニット19Bによれば、例えば、表面が湾曲した被設置体に対しても、容易に設置が可能である。前記被設置体としては、例えば、前記被設置部が、球状面を有する形態があげられる。この場合、マーカユニット19Bは、例えば、前記山型凸状の位置決定部1921Bの山型先端部を、前記被設置体の湾曲した曲面(被設置部)に接触させることで、マーカユニット19Bを前記被設置体に設置できる。具体的には、マーカユニット19Bは、環状の位置決定部1921Bで囲まれる空間全体が、前記被設置体の曲面に対する凹部となり、位置決定部1921Bの前記空間に、前記被設置体の曲面の一部が挿入され、且つ、位置決定部1921Bの先端部で、前記被設置体に設置される。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態15]
図18に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット21(21A、21B、21C、21D)は、それぞれ下基板12が、その下面に、凸状の位置決定部2121(2121A、2121B、2121C、2121D)を有する形態である。
まず、図18(A)のマーカユニット21Aについて説明する。図18(A)において、右図は、マーカユニット21Aを下基板12側から見た平面図であり、左図は、マーカユニット21Aの側面図である。図18(A)に示すように、マーカユニット21Aは、下基板12が、その下面の4箇所に、角柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部2121Aである以外は、前記実施形態1と同じである。位置決定部2121Aは、下基板12の4辺の中点に、それぞれ位置している。
マーカユニット21Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、前記凸状の4つの位置決定部2121Aにそれぞれ対応する凹状の4つの被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット21Aは、例えば、各位置決定部2121Aを、各凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。
また、マーカユニット21Aによれば、例えば、表面が湾曲した被設置体に対しても、容易に設置が可能である。この場合、マーカユニット21Aは、例えば、前記凸状の位置決定部2121Aを、前記被設置体の湾曲した曲面(被設置部)に接触させることで、マーカユニット21Aを前記被設置体に設置できる。具体的には、マーカユニット21Aは、4つの位置決定部2121Aで囲まれる空間全体が、前記被設置体の曲面に対する凹部となり、位置決定部2121Aの前記空間に、前記被設置体の曲面の一部が挿入され、且つ、位置決定部2121Aの先端部で、前記被設置体に設置される。
つぎに、図18(B)のマーカユニット21Bおよび図18(C)のマーカユニット21Cについて説明する。図18(B)および(C)において、右図は、マーカユニット21B、21Cを下基板12側から見た平面図であり、左図は、マーカユニット21B、21Cの側面図である。マーカユニット21B、21Cは、それぞれ、前記凸部の個数が、3つまたは2つである以外は、前記図18(A)のマーカユニット21Aと同様である。
つぎに、図18(D)のマーカユニット21Dについて説明する。図18(D)において、右図は、マーカユニット21Dを下基板12側から見た平面図であり、真ん中の図は、マーカユニット21Dの側面図であり、左図は、XVI−XVI方向から見た断面図である。図18(D)に示すように、マーカユニット21Dは、下基板12が、その下面に、十字状の凸部を有し、前記十字状の凸部が、位置決定部2121Dである以外は、前記実施形態1と同じである。
マーカユニット21Dは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、前記凸状の位置決定部2121Dに対応する十字状且つ凹状の被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット21Dは、例えば、位置決定部21212Dを、前記凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態16]
図19に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット22(22A、22B)は、それぞれ、それぞれ下基板12が、凸状の位置決定部2221(2221A、2221B)を有する形態である。
まず、図19(A)のマーカユニット22Aについて説明する。図19(A)において、右図は、マーカユニット22Aを下基板12側から見た平面図であり、左図は、マーカユニット22Aの側面図である。マーカユニット22Aは、位置決定部2221Aとなる4つの凸部が、下基板12の4辺において、少なくとも1つが中点以外に位置している以外は、前記実施形態15のマーカユニット21Aと同様である。
マーカユニット22Aにおいて、下基板12の4辺において、4つの位置決定部2221Aの位置は、特に制限されず、例えば、中点でもよいし、隣接するいずれかの角部に近い位置でもよいし、角部でもよい。ただし、4つの位置決定部2221Aが全て中点に存在する態様は、図18(A)に示しており、本実施形態からは除く。
つぎに、図19(B)のマーカユニット22Bについて説明する。図19(B)において、右図は、マーカユニット22Bを下基板12側から見た平面図であり、左図は、マーカユニット22Bの側面図である。マーカユニット22Bは、位置決定部2221Bとなる凸部の個数が、3つである以外は、前記図19(A)のマーカユニット22Aと同様である。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。また、本実施形態のマーカユニットは、前記下基板の上面と下面とにおいて、前記下基板被検出部であるマーカと前記位置決定部とを、対応する箇所に有していることから、さらに、前記下基板被検出部を、より一層正確に配置することが可能になる。
[実施形態17]
図20に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット23Aは、下基板12が、その下面に、位置決定部2321Aを有する形態である。
図20において、真ん中の図は、マーカユニット23Aを下基板12側から見た平面図であり、右上図は、マーカユニット23AをXVII−XVII方向から見た断面図であり、左図は、マーカユニット23Aの側面図である。図20に示すように、マーカユニット23Aは、下基板12が、その下面の中央部に角柱状の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部2321Aである以外は、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同じである。
マーカユニット23Aは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、前記角柱状の位置決定部2321Aに対応する凹状の被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット23Aは、例えば、位置決定部2321Aを、前記凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態18]
図21に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット24(24A、24B、24C、24D)は、下基板12が、その下面に、位置決定部2421(2421A、2421B、2421C、2421D)を有する形態である。図21(A)および(B)のマーカユニット24A、24Bは、下基板12が、凸状の位置決定部2421A、2421Bを有する形態であり、図21(C)および(D)のマーカユニット24C、24Dは、下基板12が、凹状の位置決定部2421C、2421Dを有する形態である。
まず、図21(A)のマーカユニット24Aについて説明する。図21(A)において、右図は、マーカユニット24Aを下基板12側から見た平面図であり、真ん中の図は、マーカユニット24Aの側面図であり、左図は、マーカユニット24AをXVIII−XVIII方向からみた断面図である。図21(A)に示すように、マーカユニット24Aは、下基板12が縁部を囲む凸部を有し、前記凸部が、位置決定部2421Aである以外は、前記実施形態1と同じである。マーカユニット24において、凸状の位置決定部2421Aは、下基板12の縁部を囲み、4つの辺のそれぞれの中点が欠損している。
マーカユニット24Aは、前記実施形態1Aのマーカユニット1Aと同様に、例えば、前記凸状の位置決定部2421Aに対応する凹状の被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット24Aは、例えば、位置決定部2421Aを、前記凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。また、マーカユニット24Aは、例えば、前記凸状の位置決定部2421Aで囲まれる空間に対応する凸状の被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット24Aは、例えば、位置決定部2421Aで囲まれた前記空間に、前記凸状の被設置部を挿入することで、前記被設置体に設置できる。
つぎに、図21(B)のマーカユニット24Bについて説明する。図21(B)において、右図は、マーカユニット24Bを下基板12側から見た平面図であり、真ん中の図は、マーカユニット24Bの側面図であり、左図は、マーカユニット24BをXIX−XIX方向からみた断面図である。図21(B)に示すように、マーカユニット24Bは、下基板12の4辺の中点に、三角柱状の一対の凸部を有し、前記凸部が、位置決定部2421Bである以外は、前記実施形態1と同じである。
マーカユニット24Bは、前記実施形態1のマーカユニット1Aと同様に、例えば、前記凸状の位置決定部2421Bに対応する凹状の被設置部を有する被設置体に設置できる。この場合、マーカユニット24Bは、例えば、位置決定部2421Bを、前記凹状の被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。
つぎに、図21(C)のマーカユニット24Cについて説明する。図21(C)において、右図は、マーカユニット24Cの平面図であり、左図は、マーカユニット24CのXX−XX方向から見た断面図である。図21(C)に示すように、マーカユニット24Cは、下基板12が、4辺の中点に、凹部を有し、前記凹部が、位置決定部2421Cである以外は、前記図21(A)のマーカユニット24Aと同じである。マーカユニット24Cは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置できる。
つぎに、図21(D)のマーカユニット24Dについて説明する。図21(D)において、右図は、マーカユニット24Dの平面図であり、左図は、マーカユニット24CのXXI−XXI方向から見た断面図である。図21(D)に示すように、マーカユニット24Dは、下基板12が、4辺の中点に、三角柱状の一対の凹部を有し、前記凹部が、位置決定部2421Dである以外は、前記図21(A)のマーカユニット24Aと同じである。マーカユニット24Dは、前記実施形態1のマーカユニット1Bと同様に、例えば、凸状の被設置部を有する被設置体に設置できる。
本実施形態のマーカユニットにおいて、前記位置決定部は、外部からの検出対象である前記下基板被検出部と同じ下基板に設けられている。このように、両者が、同じ下基板に設けられていることから、例えば、前述のように位置のズレによって測定結果に影響が生じる前記下基板被検出部を、前記位置決定部によって、より正確に配置することができる。
[実施形態19]
図22に、本実施形態のマーカユニットの一例を示す。本実施形態のマーカユニット25(25A、25B)は、下基板12が、その中央に、凹状の位置決定部2521(2521A、2521B)として貫通孔を有する形態である。
まず、図22(A)のマーカユニット25Aについて説明する。図22(A)において、左図は、マーカユニット25Aの上方向から見た平面図であり、中上図は、前記左図をXXIIa-XXIIa方向から見た断面図であり、中下図は、前記左図をXXIIb-XXIIb方向から見た断面図であり、右図は、マーカユニット25Aの下方向から見た平面図である。
マーカユニット25Aは、後述する変形例2と同様に、下基板12の上に上基板10が積層された二層構造である。マーカユニット25Aは、前述の図13と同様に、下基板12の上表面が露出した検出基準部122と、検出基準部122の間に配置されたマーカ40を有する。本実施形態において、マーカ40は、下基板12および上基板10とは別部材であり、上基板10上に配置されている。
マーカユニット25Aにおいて、下基板12は、その中心に貫通孔を有し、さらに、上基板10も、下基板12の前記貫通孔と対応する箇所に、貫通孔103Aを有する。つまり、マーカユニット25Aは、その中心に、上基板10と下基板12とを貫通する貫通孔を有し、前記貫通孔が位置決定部2521Aを形成する。このように、位置決定部2521Aが、検出基準部122と共に下基板12に形成されることで、前記被設置体に対する位置決めが、より高精度に行える。
マーカユニット25Aにおいて、位置決定部2521Aである前記貫通孔の位置は、前述のように、下基板12の中心である。下基板12の中心とは、例えば、4つの検出基準部122について、対向する2対の検出基準部122をそれぞれ結んだ線が交差する位置である。位置決定部2521Aの断面形状(前記貫通孔の形状)は、特に制限されず、例えば、図22(A)の左図および右図に示すように、円形であり、具体例として、真円、楕円等があげられる。
マーカユニット25Aにおいて、下基板12は、例えば、図22(A)の左図および中下図に示すように、前記貫通孔(位置決定部2521A)の周囲に、上方向に突出する筒部123Aを有してもよい。筒部123Aの上面は、図22(A)の左図および中下図に示すように、上基板10側において露出している。このように、下基板12の筒部123Aの上面が、露出することによって、被設置体に対する位置決めが、より容易になる。上基板10側に露出する筒部123Aの形状は、例えば、円環状である。下基板12は、例えば、筒部123Aおよび検出基準部122を含む一体成形体である。マーカユニット25Aの断面において、下基板12における筒部123Aの上面は、例えば、下基板12における検出基準部122の上面と同じ高さ、または、それより低い高さであることが好ましい。
マーカユニット25Aにおいて、上基板10の表面は、例えば、その中央部に、二次元パターンコード等が記されたシール等を貼付する貼付領域104を有してもよい。具体的に、上基板10の表面は、例えば、図22(A)の左図および中下図に示すように、その中央部が、その周囲よりも低くなった凹部を有し、この凹部の露出する底面が、貼付領域104となる。上基板10における前記凹部の深さは、特に制限されず、例えば、前記シールを貼付するため、前記シールの厚みを考慮して設定される。上基板10の貼り付け領域104において前記シールを貼付した場合、マーカユニット25Aの断面において、下基板12における筒部123Aの上面は、例えば、前記シールの上面と同じ高さ、または、それより低い高さであることが好ましい。
マーカユニット25Aは、例えば、同様の目的で、上基板10の表面が、検出基準部122間に、マーカ40を貼付する凹部(貼付領域)を有してもよい。図22(A)の左図および中上図に示すように、検出基準部122間において、上基板10は、その周囲よりも低くなった凹部を有し、この凹部に、マーカ40が配置されている。なお、本発明において、マーカユニットにおけるマーカの形態は、何ら制限されず、マーカ40は、例示である。
マーカユニット25Aは、例えば、位置決定部2521Aを、凸状被設置部に挿入することで、前記被設置体に設置できる。前記被設置体の凸状の被設置部としては、例えば、前記被設置体の回転軸等があげられる。また、マーカユニット25Aは、例えば、前記被設置体の被設置部に配置した後、位置決定部2521Aに、上方向から棒を差し込むことによって、前記被設置体に固定することもできる。位置決定部2521Aの断面形状と前記凸状の被設置部の断面形状とは、例えば、対応していることが好ましい。
つぎに、図22(B)のマーカユニット25Bについて説明する。図22(B)において、左図は、マーカユニット25Bの上方向から見た平面図であり、中上図は、前記左図をXXIIIa-XXIIIa方向から見た断面図であり、中下図は、前記左図をXXIIIb-XXIIIb方向から見た断面図であり、右図は、マーカユニット25Bの下方向から見た平面図である。
マーカユニット25Bは、位置決定部2521Bが、断面形状が多角形の貫通孔によって形成され、前記貫通孔の周囲が、上方向に突出する多角形環状の筒部123Bを有する以外は、マーカユニット25Aと同様である。前記多角形は、特に制限されず、図22(B)に示すような四角形でもよいし、三角形、四角形以上の多角形でもよい。前記四角形は、特に制限されず、例えば、正方形、長方形、ひし形等があげられる。
本発明のマーカユニットは、前記各実施形態には限定されない。本発明の変形例として、以下に、前述した下基板における位置決定部以外の構成について例示する。なお、本発明は、これらの例示には限定されない。
[変形例1]
本発明のマーカユニットにおいて、前記下基板被検出部としては、前述のように、前記検出基準部および前記マーカがあげられる。前記検出基準部は、例えば、カメラ等の検出機器で前記マーカを検出する際、検出すべき領域の目印となる。本発明のマーカユニットにおいて、前記検出基準部の数および位置は、特に制限されない。前記各実施形態における各図は、前記検出基準部の数が、4つであり、前記検出基準部の位置が、四隅付近となる例である。
本発明のマーカユニットは、例えば、前記下基板被検出部の他に、さらに、前記上基板被検出部を有してもよい。前記下基板検出部は、前記下基板の上面によって形成された、前記積層体の上面側に露出した被検出部であるのに対して、前記上基板被検出部は、前記上基板によって形成された、前記積層体の上面側から検出可能な被検出部である。前記上基板被検出部は、例えば、マーカである。
本発明のマーカユニットは、例えば、前記下基板被検出部として、前記検出基準部と前記マーカとを有し、さらに、前記上基板被検出部として、前記マーカを有しても良いし、前記下基板被検出部として、前記検出基準部と前記マーカのいずれかを有し、さらに、前記上基板被検出部として、前記マーカを有してもよい。
前記下基板被検出部のマーカおよび前記上基板被検出部のマーカは、それぞれ、特に制限されず、例えば、前述のようなVMPマーカ(RASマーカ)、二次元パターンコード等があげられる。前記二次元パターンコードは、例えば、ARマーカ、QRマーカ等があげられる。前記ARマーカは、例えば、ARToolKit、ARTag、CyberCode、ARToolKitPlus等があげられる。本発明のマーカユニットにおいて、前記マーカの位置は、特に制限されない。前記各実施形態における各図は、前記下基板被検出部として、前記検出基準部および前記マーカを有し、前記マーカが、VMPマーカであり、且つ、四隅に設けられた検出基準部と検出基準部との間に設置されている例である。
本発明のマーカユニットにおいて、前記マーカの形成方法は、特に制限されない。前記下基板被検出部であるマーカは、例えば、以下のようにして形成できる。すなわち、本発明のマーカユニットの所望の領域において、例えば、前記下基板の上面に、谷型と山形の凹凸を形成することによって、前記所望の領域を、前記マーカにすることができる。
前記上基板被検出部であるマーカは、例えば、以下のようにして搭載できる。すなわち、本発明のマーカユニットの所望の領域において、例えば、前記上基板の上面側には、レンチキュラレンズ等のレンズ構造を形成し、前記上基板の下面側には、縞模様やドット模様等の模様を形成することによって、前記所望の領域を、前記マーカにすることができる。
前記上基板被検出部のマーカとして、具体的に、VMPマーカを例にあげて説明する。
前記マーカは、複数のレンズユニットを有するレンズ本体を含み、前記複数のレンズユニットは、平面方向において連続的に配置されている。前記複数のレンズユニットが配置されている方向を、配置方向または幅方向といい、平面方向において前記配置方向に対する垂直方向を、長さ方向という。
前記レンズ本体における前記レンズユニットは、例えば、シリンドリカルレンズがあげられる。前記レンズ本体は、例えば、透光性部材である。前記透光性部材は、特に制限されず、例えば、樹脂およびガラス等があげられる。前記樹脂は、例えば、ポリカーボネート、ポリメタクリル酸メチル(PMMA)等のアクリル系樹脂、シクロオレフィンポリマー(COP)、シクロオレフィンコポリマー(COC)等があげられる。
前記レンズ本体は、一方の表面側が、光を集める機能を有する集光部を有し、他方の表面側に、複数の模様形成部を有する。前記模様形成部は、例えば、前記レンズ本体の前記長さ方向に沿って伸びる線であり、前記レンズ本体の他方の表面側において、複数の線により、縞模様が形成されたり、複数のドットにより、ドット模様が形成されている。前記複数の模様形成部は、例えば、光学的に検出可能な像として、前記レンズ本体の上面側に投影され、光学的に検出できる。
前記模様形成部は、光学的に検出できればよく、例えば、着色膜があげられる。前記着色膜の色は、特に制限されず、例えば、黒である。前記着色膜は、例えば、塗膜であり、塗料により形成できる。前記塗料は、特に制限されず、例えば、液体塗料でもよいし、粉体塗料でもよい。前記塗料は、例えば、塗布および/または固化することによって、前記塗膜を形成できる。前記塗布方法は、例えば、スプレー塗布、スクリーン印刷等があげられる。前記固化方法は、例えば、前記液体塗料の乾燥、前記塗料中の硬化成分(例えば、ラジカル重合性化合物等)の硬化、前記粉体塗料の焼き付け等があげられる。
前記模様形成部により形成される模様は、何ら制限されない。前記模様が、例えば、前記縞模様の場合、縞模様を形成する色の濃さは、例えば、同じでもよいし、濃淡であってもよい。
前記マーカを、例えば、白色の物体の上に置いた場合、前記マーカの前記レンズ本体の上面から入射した光のうち、前記模様形成部に到達した光は、前記模様形成部(例えば、黒色の着色膜)に吸収され、それ以外の光は、前記レンズ本体を透過して、前記物体の表面で反射する。このため、前記レンズ本体の上面には、白色の背景上に、前記模様形成部の像(例えば、黒色の線)が投影される。このため、前記マーカユニットにおいて、前記マーカを有する前記上基板が配置される前記介在基板は、反射板の役割を果たすことから、例えば、前記マーカの模様形成部が黒色で形成されている場合、前記マーカの下に位置する前記介在基板は、その上面が白色であることが好ましい。
図15に、本実施形態のマーカユニットとして、前記上基板被検出部のマーカを有する一例を示す。図15(A)は、マーカユニット17の上面図であり、図15(B)は、XIV―XIV方向から見た断面図であり、図15(C)は、マーカユニット17の上基板30の上面図である。マーカユニット17において、下基板12は、上面側に、前記下基板被検出部である検出基準部122を有し、下面側に、位置決定部1721を有し、上基板30は、前述したレンズ本体となる領域を有し、前記領域が、前記上基板被検出部のマーカ31である。本実施形態のマーカユニットは、前記下基板被検出部のマーカに代えて、前記上基板被検出部のマーカを有する以外は、図1(A)に示す前記実施形態1と同様である。また、前述の各実施形態のマーカユニットも、前記下基板被検出部のマーカに代えて、前記上基板被検出部のマーカを有する以外、同様であってもよい。
[変形例2]
本発明のマーカユニットは、例えば、前記下基板の上に前記上基板が積層された積層体(例えば、二層構造)を含んでもよいし、前述のように、さらに、前記介在基板を有し、前記下基板の上に、前記介在基板を介して前記上基板が積層された積層体(例えば、三層構造)を含んでもよい。
図14に、本実施形態のマーカユニットとして、二層の積層構造の一例を示す。図14(A)のマーカユニット16Aは、下基板12が、凸状の位置決定部1621Aを有する形態であり、図14(B)のマーカユニット16Bは、下基板12が、凹状の位置決定部1621Bを有する形態である。本実施形態のマーカユニットは、介在基板を有さない以外は、前記実施形態1と同様である。また、前述の各実施形態のマーカユニットも、前記介在基板を有さない以外、同様であってもよい。
前記二層構造の積層体の場合、例えば、前記上基板は、貫通孔を有し、前記下基板の上面は、前記上基板の貫通孔に対応する領域、つまり、前記貫通孔によって露出する上面の領域が、前記下基板被検出部となる。前記三層構造の積層体の場合、例えば、さらに、前記介在基板も、前記上基板の貫通孔と対応する箇所に、貫通孔を有し、前記上基板の貫通孔と前記介在基板の貫通孔とによって露出する前記下基板の上面の領域が、前記下基板被検出部となる。
前記下基板の上面は、例えば、平面でもよいし、上方向に突出する前記上面側凸部を有してもよい。この場合、前記下基板において、前記上面側凸部は、前記上基板の貫通孔および前記介在基板の貫通孔に対応する箇所に設けられ、前記積層体において、前記上面側凸部は、前記各貫通孔に挿入された構造となる。そして、前記下基板の上面側凸部の上面は、前記下基板被検出部である前記検出基準部となる。前記下基板の前記上面側凸部の上面は、例えば、前記上基板の上面とフラットな状態(段差がない状態)でもよいし、前記上基板の上面よりも高い(突出した)状態でもよいし、前記上基板の上面よりも低い状態でもよい。
前記下基板が前記検出基準部となる前記上面側凸部を有する場合、前記下基板の上面側凸部と、前記上基板および前記介在基板の貫通孔とは、前者の形状と後者の形状とが、実質的に同じ形状であり、且つ、前者の平面の面積と、後者の貫通孔の孔面積とが、実質的に同じであることが好ましい。
前記下基板の前記検出基準部の形状は、例えば、円形、角形等があげられる。前記円形は、例えば、真円、楕円等であり、真円が好ましい。前記角形は、例えば、三角形、四角形等の多角形であり、前記四角形は、例えば、正方形、長方形等である。前記上基板および前記介在基板の貫通孔の形状も、特に制限されず、例えば、円形、角形等があげられる。
前記二層構造の場合、前記下基板と前記上基板の色の組合せは、特に制限されず、例えば、前記下基板被検出部および前記上基板被検出部(任意)を検出可能であればよい。前記下基板および前記上基板の色は、例えば、以下のような組合せがあげられる。前記下基板は、例えば、その上面が黒色であり、前記上基板は、例えば、透明または白色である。
前記三層構造の場合、前記下基板と前記介在基板と前記上基板の色の組合せは、特に制限されず、例えば、前記下基板被検出部および前記上基板被検出部(任意)を検出可能であればよい。前記下基板および前記上基板の色は、例えば、前述と同様である。前記介在基板の色は、例えば、前記上基板、前記下基板および前記マーカ等に応じて適宜設定できる。前記介在基板の上面の色は、例えば、前記下基板被検出部および前記上基板被検出部の色とは異なる色である。また、前記介在基板の上面の色と、前記下基板被検出部の色および前記上基板被検出部の色とは、例えば、コントラスト差が生じやすい組合せであることが好ましい。このように、前記介在基板によりコントラスト差を生じさせることで、例えば、前記下基板被検出部および前記上基板被検出部の検出精度を、より向上できる。
前記下基板、前記介在基板および前記上基板の色は、例えば、以下のような組合せがあげられる。前記下基板は、例えば、その上面の色が黒色であり、前記介在基板は、例えば、その上面が白色であり、前記上基板は、例えば、透明である。前記介在基板は、例えば、前記下基板被検出部および前記上基板被検出部に対する反射基板ということもできる。
前記下基板、前記介在基板および前記上基板は、例えば、それぞれ、樹脂基板である。前記樹脂基板の成形樹脂としては、例えば、ポリカーボネート(PC)、アクリル系樹脂(例えば、ポリメタクリル酸メチル(PMMA))、シクロオレフィンポリマー(COP)、シクロオレフィンコポリマー(COC)等があげられる。また、前記樹脂基板を着色する場合、例えば、前記樹脂に目的とする色の着色剤(例えば、マスターバッチ、ドライカラー等)を添加した所望の着色樹脂を、成形材料とすることができる。
以上、実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は、上記実施形態に限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
この出願は、2017年4月19日に出願された日本出願特願2017−082435および2017年7月31日に出願された日本出願特願2017−148305を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
以上のように、本発明のマーカユニットは、前述のように、前述のような位置決定部を有するため、ロボット等の被設置体に対して、同じ条件で容易に設置することが可能である。このため、例えば、前記被設置体に新たなマーカユニットを設置する度、前記マーカユニットにおける検出基準部やマーカ等の測定についてキャリブレーションを行うことも省略することが可能となる。
1〜9、13〜19、21〜25 マーカユニット
10、30 上基板
11 介在基板
12 下基板
20、31、40 マーカ
121、221、321、421、521、621、721、821、921、1321、1421、1521、1621、1721、1821、1921、2121,2221、2321、2421、2521 位置決定部
122 検出基準部

Claims (11)

  1. 上基板と、下基板とを含み、
    前記下基板の上に、前記上基板が積層された積層体であり、
    前記下基板は、
    その上面に、前記積層体の上面側に露出した下基板被検出部を有し、その下面に、位置決定部を有し、
    前記被検出部は、
    前記積層体の上面側から検出可能であり、
    前記位置決定部は、
    マーカユニットが設置される被設置体における前記マーカユニットが設置される被設置部に対して、位置を決定する形状であることを特徴とするマーカユニット。
  2. 前記下基板被検出部は、マーカ、および前記マーカの検出における基準となる検出基準部の少なくとも一方を含む、請求項1記載のマーカユニット。
  3. さらに、
    前記上基板は、前記積層体の上面側から検出可能な上基板被検出部を有し、
    前記上基板被検出部は、マーカである、請求項1または2記載のマーカユニット。
  4. 前記位置決定部は、前記被設置部の形状に対して、対応する形状である、請求項1から3のいずれか一項に記載のマーカユニット。
  5. 前記被設置体の被設置部が凸部の場合、前記下基板の位置決定部は、凹部であり、
    前記被設置体の被設置部が凹部の場合、前記下基板の位置決定部は、凸部である、請求項1から4のいずれか一項に記載のマーカユニット。
  6. 前記下基板の位置決定部が、2箇所以上である、請求項1から5のいずれか一項に記載のマーカユニット。
  7. 前記下基板の位置決定部が、1箇所である、請求項1から5のいずれか一項に記載のマーカユニット。
  8. 前記下基板は、
    その下面において、前記下基板被検出部と対応する箇所に、前記位置決定部を有する、請求項1から7のいずれか一項に記載のマーカユニット。
  9. 前記上基板は、
    貫通孔を有し、
    前記下基板は、
    その上面において、前記上基板の貫通孔と対応する箇所が、前記検出基準部となり、
    その下面において、前記検出基準部と対応する箇所に、前記位置決定部を有する、請求項1から8のいずれか一項に記載のマーカユニット。
  10. 前記下基板は、
    その上面において、前記上基板の貫通孔と対応する箇所に、凸部を有し、前記凸部の上面が、前記検出基準部である、請求項9記載のマーカユニット。
  11. 前記下基板被検出部が、マーカを含み、
    前記下基板は、
    その下面において、前記マーカと対応する箇所に、前記位置決定部を有する、請求項1から10のいずれか一項に記載のマーカユニット。

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