JPWO2017183557A1 - 温度計測システム - Google Patents
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Abstract
Description
前記特定波長帯の電磁波を透過可能であり、温度が気温と同じである光学部材と、を有し、
前記撮像装置が、前記光学部材を通さずに取得した前記被写体像の輝度情報と、前記光学部材を通して取得した前記被写体像の輝度情報と、を用いて、前記特定波長帯における気温相当の黒体放射輝度を算出することを特徴とする。
(I1−Iair)・T=I2−Iair
が成り立つ。
Iair−Iair・T=I2−I1・T
Iair(1−T)=I2−I1・T
となるので、以下の式(F1)が得られる。
Iair=(I2−I1・T)/(1−T) …(F1)
上記式(F1)に従って、気温相当の黒体放射輝度Iairを算出する。
Iair=(I1A・I2B−I2A・I1B)/{(I1A−I2A)−(I1B−I2B)} …(F2)
上記の式(F2)に従って、気温相当の黒体放射輝度Iairを算出する。なお、2種類の電磁波放射部材からなる背景温度に対して光学部材OEの有無があることから、得られる4点情報により透過率Tの項は消えることになる。
DU 撮像装置
LU レンズユニット
LN 撮像レンズ
SR 撮像センサー
OE 光学部材
HE 背景部材
HS 被写体表面(背景)
AX 光軸
P1,P2,P1A,P1B,P2A,P2B 測定点
RA,RB 領域
NL 法線
B1,B2,B3 電磁波遮断部材
1 信号処理部
2 演算制御部
3 メモリー
4 操作部
5 表示部
10 挿抜機構
Claims (4)
- 被写体表面が放射又は反射する電磁波のうち、特定波長帯の電磁波に対して感度を有し、前記特定波長帯の電磁波からなる被写体像を輝度情報として取得する撮像装置と、
前記特定波長帯の電磁波を透過可能であり、温度が気温と同じである光学部材と、を有し、
前記撮像装置が、前記光学部材を通さずに取得した前記被写体像の輝度情報と、前記光学部材を通して取得した前記被写体像の輝度情報と、を用いて、前記特定波長帯における気温相当の黒体放射輝度を算出することを特徴とする温度計測システム。 - 前記黒体放射輝度の算出に用いられる輝度情報が両方とも、前記被写体表面における前記特定波長帯の電磁波の輝度が同じ測定点について取得したものであることを特徴とする請求項1記載の温度計測システム。
- 前記黒体放射輝度の算出に用いられる輝度情報が両方とも、前記被写体表面における前記特定波長帯の電磁波の輝度が互いに異なる少なくとも2つの測定点について取得したものであることを特徴とする請求項1記載の温度計測システム。
- 前記光学部材において前記被写体像を構成する電磁波が透過する光学面の法線が、前記撮像装置の光軸に対して非平行であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の温度計測システム。
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