JPWO2017179145A1 - 荷電粒子線装置および試料ホルダ - Google Patents
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Abstract
Description
前記試料ホルダは、
中心マーカ、倍率及び回転角度を解析するためのパターン及び番地マーカを含む位置合わせ用パターンを有する試料支持部材を搭載することにより位置合わせされるザグリ部が形成された第1上面と、前記第1上面を水平に回転させるための回転軸とを備えた試料搭載部と、
前記試料搭載部が上下動可能な開口部と、前記開口部の周辺の第2上面とを備えた試料台部と、
導電性を有し、且つ前記試料支持部材の前記位置合わせ用パターンが露出される窓を有し、前記試料台部の前記第2上面の方向へ押し下げることにより、前記試料搭載部に搭載された前記試料支持部材の上面と前記第2上面とが同じ高さとなるような試料カバー部と、を有することを特徴とする荷電粒子線装置とする。
先ず、荷電粒子線装置のシステム構成例と、観察対象試料の撮像フローを図1と図2A、図2Bに基づき説明する。
図2A及び図2Bはそれぞれ、図1に示したSEMシステムを用いた本実施例における、OMでの撮像動作フローチャート及びそれにより得られたOM像の視野と同一視野の観察をSEMで実施する際の撮像動作を示すフローチャートである。
<試料支持部材>
図3A及び図3Bは、試料支持部材115の構造を示す図であり、図3Aは概略鳥瞰図、図3Bは上面図である。
<試料ホルダ>
図4A及び図4Bは、試料ホルダ116の一構成例であり、図4Aは概略鳥瞰図、図4Bは図4AのA−A’断面図である。
<位置・倍率演算部>
図5Aは、SEM像の初期視野(SEM視野146)及びSEM像視野中心147と、位置合わせ用パターン117(133、134、135)との位置関係を示す図であり、図5Bは、位置合わせ用パターン117の形状データ及び座標データから構成されるパターンデータ148と、SEM視野146との位置関係を説明するための図である。
スタート(ステップS301)すると最初に、パターンデータ格納部126より、位置合わせ用パターン117の形状データを読込む(ステップS302)。この形状データには、グリッドパターン133のグリッド間隔、中心マーカ134の形状データ、番地マーカ135の形状データ、グリッドパターン133や各マーカの位置座標データが含まれる。
E(X’,Y’)=E(X,Y) T(θ,M,S)
と表現することができ、位置合わせ用パターン117とSEM像視野との相対位置の算出が可能となる。
Claims (12)
- 荷電粒子源と、試料を載置する試料ホルダと、前記荷電粒子源から放出された荷電粒子を荷電粒子線として前記試料に照射する荷電粒子線光学系と、前記試料から放出された信号を検出する検出器と、各構成要素を制御する制御部とを備えた荷電粒子線装置において、
前記試料ホルダは、
中心マーカ、倍率及び回転角度を解析するためのパターン及び番地マーカを含む位置合わせ用パターンを有する試料支持部材を搭載することにより位置合わせされるザグリ部が形成された第1上面と、前記第1上面を水平に回転させるための回転軸とを備えた試料搭載部と、
前記試料搭載部が上下動可能な開口部と、前記開口部の周辺の第2上面とを備えた試料台部と、
導電性を有し、且つ前記試料支持部材の前記位置合わせ用パターンが露出される窓を有し、前記試料台部の前記第2上面の方向へ押し下げることにより、前記試料搭載部に搭載された前記試料支持部材の上面と前記第2上面とが同じ高さとなるような試料カバー部と、を有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
前記倍率及び回転角度を解析するためのパターンは、グリッドパターンであることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
前記試料支持部材は、裏表・方向識別マーカを更に有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
前記試料支持部材は絶縁性材料であり、表面に導電性被膜が形成されていることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
前記荷電粒子線装置は、前記試料ホルダの位置や向き或いは両者を変位させる試料移動機構を更に備えることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項1に記載の荷電粒子線装置において、
前記試料ホルダは、試料搭載部および試料カバーを複数組備えていることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 荷電粒子源と、試料を載置する試料ホルダと、前記荷電粒子源から放出された荷電粒子を荷電粒子線として前記試料に照射する荷電粒子線光学系と、前記試料から放出された信号を検出する検出器と、各構成要素を制御する制御部とを備えた荷電粒子線装置において、
前記試料ホルダは、
中心マーカ、倍率及び回転角度を解析するためのパターン及び番地マーカを含む位置合わせ用パターンを有する試料支持部材を搭載することにより位置合わせされるザグリ部が形成された第1上面と、前記第1上面を水平に回転させるための回転軸とを備えた試料搭載部と、
前記試料搭載部が上下動可能な開口部と、前記開口部の周辺の第2上面とを備えた試料台部と、
導電性を有し、且つ前記試料支持部材の前記位置合わせ用パターンが露出される窓を有し、前記試料台部の前記第2上面の方向へ押し下げることにより、前記試料搭載部に搭載された前記試料支持部材の上面と前記第2上面とが同じ高さとなるような試料カバー部と、を有し、
前記制御部は、光学顕微鏡を用いて得られた前記試料支持部材の前記倍率及び回転角度を解析するためのパターンと、前記中心マーカ或いは前記番地マーカとを含む第1撮像データを処理する第1画像処理部と、
前記検出器を用いて得られた前記試料支持部材の前記倍率及び回転角度を解析するためのパターンと、前記中心マーカとを含む第2撮像データを処理する第2画像処理部と、
前記位置合わせ用パターンの形状データ及び座標データを含むパターンデータが格納されたパターンデータ格納部と、
前記第1画像処理部で処理された第1画像データ、前記第2画像処理部で処理された第2画像データ、及び前記パターン格納部に格納された前記パターンデータを用いて観察倍率と、パターン座標と視野位置との相対位置情報を演算する位置・倍率演算部と、を有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7に記載の荷電粒子線装置において、
前記制御部は、前記光学顕微鏡で得られた視野と同じ視野を得るための位置情報を演算する視野合わせ部を更に有することを特徴とする荷電粒子線装置。 - 請求項7に記載の荷電粒子線装置において、
前記試料ホルダは、試料搭載部および試料カバーを複数組備え、
前記制御部には各試料搭載部の中心位置が記録されていることを特徴とする荷電粒子線装置。 - 中心マーカ、倍率及び回転角度を解析するためのパターン及び番地マーカを含む位置合わせ用パターンを有する試料支持部材を搭載することにより位置合わせされるザグリ部が形成された第1上面と、前記第1上面を水平に回転させるための回転軸とを備えた試料搭載部と、
前記試料搭載部が上下動可能な開口部と、前記開口部の周辺の第2上面とを備えた試料台部と、
導電性を有し、且つ前記試料支持部材の前記位置合わせ用パターンが露出される窓を有し、前記試料台部の前記第2上面の方向へ押し下げることにより、前記試料搭載部に搭載された前記試料支持部材の上面と前記第2上面とが同じ高さとなるような試料カバー部と、を有することを特徴とする試料ホルダ。 - 請求項10に記載の試料ホルダにおいて、
前記試料搭載部の前記ザグリ部は、前記試料支持部材の前記中心マーカと前記試料搭載部の前記回転軸との位置合わせを行うものであることを特徴とする試料ホルダ。 - 請求項10に記載の試料ホルダにおいて、
前記試料ホルダは、試料搭載部および試料カバーを複数組備えていることを特徴とする試料ホルダ。
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