JPWO2017056174A1 - 分析装置 - Google Patents

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Abstract

扉部20を開けているときにアクチュエータ72が邪魔にならないことと損傷しないように収納することとができる分析装置1を提供するために、装置本体部50内を開放する開放位置と、装置本体部50内を閉鎖する閉鎖位置とに移動可能となっている扉部20と、装置本体部50に設けられたアクチュエータ挿入部71と、扉部20に設けられたアクチュエータ72と有するロックスイッチ70とを備え、アクチュエータ72がアクチュエータ挿入部71内に挿入されることで、扉部20が開放位置に移動不可能となる分析装置1であって、アクチュエータ72は、扉部20から突出する突出位置と、扉部20に収納される収納位置とに移動可能となっており、扉部20が閉鎖位置にあるときには、アクチュエータ72は突出位置に配置され、一方、扉部20が開放位置にあるときには、アクチュエータ72は収納位置に配置されるように構成されている。

Description

本発明は、分析装置に関し、特に試料中に含まれる元素の情報を取得する蛍光X線分析装置に関する。
蛍光X線分析装置は、固体試料や粉体試料や液体試料に一次X線を照射し、一次X線により励起されて放出される蛍光X線を検出することによって、その試料に含まれる元素の定性や定量分析を行うものである(例えば特許文献1参照)。
図7及び図8は、従来の蛍光X線分析装置の概略構成を示す側面図であり、図9は、蛍光X線分析装置の平面図であり、図10及び図11は、蛍光X線分析装置の側面断面図であり、図12は、蛍光X線分析装置の前面断面図である。蛍光X線分析装置101は、装置本体部50と、試料室上側筐体部(扉部)20と、試料室上側筐体部20を移動させるための開閉機構40と、蛍光X線分析装置101全体の制御を行うコンピュータ(図示せず)とを備える。
装置本体部50は、直方体形状の筐体54を有し、筐体54の内部には、X線管51と検出器52とが設置されており、また、円形状の開口53が形成され、試料Sの分析面が開口53を塞ぐようにして所定位置に載置されるようになっている。
X線管51は、陽極であるターゲットと陰極であるフィラメントとを有し、ターゲットの端面で発生した一次X線を出射するようになっている。このようなX線管51は、出射した一次X線が開口53に入射するように設置されている。よって、試料Sの分析面が開口53を塞ぐように当接されることで、試料Sの分析面が一次X線に照射されることになる。
また、検出器52は、蛍光X線の強度を検出するX線検出素子を有する。このような検出器52は、試料Sの分析面で発生する蛍光X線が入射するように設置されている。よって、試料Sの分析面が一次X線に照射されると、試料Sの分析面で蛍光X線が発生して、X線検出素子は蛍光X線の強度を検出することになる。
開閉機構40は、装置本体部50の上面の右後部に形成された右側支柱41と、装置本体部50の上面の左後部に形成された左側支柱42とを備える。
試料室上側筐体部20は、上面と右側壁と前側壁と左側壁と後側壁とを有する筒形状の筐体部21を備える。そして、筐体部21の下面には気密シール用のOリングが取付けられており、筐体部21が、装置本体部50の上面にOリングを介して載置されることで、筐体部21と装置本体部50とで形成された密閉空間内に、試料Sが配置されることになる。なお、試料室上側筐体部20は、真空に耐える強度を有し、また、一次X線を遮蔽する材料で作製する必要があるため、重いもの(例えば10kg)となっている。
試料室上側筐体部20の筐体部21の右側壁の中央部には、右方に突出する円柱形状の右側ピン22が形成されており、前後方向に伸びた右側連結部31に取付けられている。また、試料室上側筐体部20の筐体部21の左側壁の中央部には、左方に突出する円柱形状の左側ピン23が形成されており、前後方向に伸びた左側連結部32に取付けられている。そして、右側連結部31の他端部と左側連結部32の他端部とを連結するように、左右方向に伸びた前側連結部33が形成されている。
右側連結部31の上面の一端部には、回転部材31cが形成されており、回転部材31cと右側支柱41とが回転軸31dを介して回転可能に取付けられている。また、回転部材31cと右側支柱41とには、伸縮可能なバネ43が取付けられており、右側連結部31が設定保持角度となるように回転力が作用している。
左側連結部32の上面の一端部には、回転部材32cが形成されており、回転部材32cと左側支柱42とが回転軸32dを介して回転可能に取付けられている。また、回転部材32cと左側支柱42とには、伸縮可能なバネ44が取付けられており、左側連結部32が設定保持角度となるように回転力が作用している。
このような蛍光X線分析装置101によれば、測定者は前側連結部33を把持して、右側連結部31と左側連結部32とを図8及び図10に示す左側面図から見て順方向(時計回り)に回転させると、試料室上側筐体部20は回動することになる。このとき、左右のバネ43、44の伸長する力が加わるので、力を入れずに開閉することができる。そして、バネ43、44の伸縮作用により、右側連結部31と左側連結部32とは設定保持角度で停止する。その結果、試料室上側筐体部20が開放位置に保持され、測定者は試料Sを所定位置に配置したり所定位置から取り除いたりする。
その後、測定者は前側連結部33を把持して、右側連結部31と左側連結部32とを図7及び図9に示す左側面図から見て逆方向(反時計回り)に回転させると、試料室上側筐体部20は回動して、閉鎖位置に配置される。
ところで、蛍光X線分析装置101では、X線管51は一次X線を出射するため、測定者が測定中に誤って試料室上側筐体部20を開けないように、左側ロックスイッチ170と右側ロックスイッチ180とが設けられている(図12参照)。
左側ロックスイッチ170は、左側アクチュエータ挿入部71と左側アクチュエータ172とを備える。左側アクチュエータ172は、金属製の棒状体172aを有し、試料室上側筐体部20の前側壁の左方に設けられている。そして、棒状体172aは、前側壁の下面から下方に所定距離で突出している。また、左側アクチュエータ挿入部71は、直方体形状の筐体71aを有し、装置本体部50の前側壁の左上部に設けられている。そして、筐体71aの上面には挿入穴が形成され、筐体71aの内部にはスイッチ(図示せず)が設けられている。
これにより、試料室上側筐体部20が閉鎖位置に配置されると、棒状体172aが挿入穴から挿入されることで、スイッチが電気的に接続されコンピュータに信号を出力する。その結果、コンピュータによって試料室上側筐体部20が開放位置に移動不可能となる。一方、試料室上側筐体部20が開放位置に配置された際には、棒状体172aが挿入穴から引き抜かれており、スイッチが電気的に切断されコンピュータに信号を出力しない。
なお、左側ロックスイッチ180も、右側ロックスイッチ170と同様の構成となっている。
実用新案登録第3187413号
しかしながら、上述したような蛍光X線分析装置101では、試料室上側筐体部20を開放位置に保持した後、測定者は試料Sを所定位置に配置したり所定位置から取り除いたりしているが、棒状体172aが手や試料Sに当たることがあることがあった。また、棒状体172aに損傷等を与えることがあった。
そこで、本発明は、試料室上側筐体部等を開けているときにアクチュエータが邪魔にならないことと損傷しないように収納することとができる分析装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するためになされた本発明の分析装置は、試料が配置される装置本体部と、前記装置本体部内を開放する開放位置と、前記装置本体部内を閉鎖する閉鎖位置とに移動可能となっている扉部と、前記装置本体部に設けられたアクチュエータ挿入部と、前記扉部に設けられたアクチュエータと有するロックスイッチとを備え、前記アクチュエータが前記アクチュエータ挿入部内に挿入されることで、前記扉部が開放位置に移動不可能となる分析装置であって、前記アクチュエータは、前記扉部から突出する突出位置と、前記扉部に収納される収納位置とに移動可能となっており、前記扉部が閉鎖位置にあるときには、前記アクチュエータは突出位置に配置され、一方、前記扉部が開放位置にあるときには、前記アクチュエータは収納位置に配置されるように構成されているようにしている。
以上のように、本発明の分析装置によれば、扉部を開けたとき、アクチュエータが収納される(突出しない)ので、邪魔にならず損傷することがなくなり、操作・安全性が向上する。また、見栄えがよく安心感を与える。
(他の課題を解決するための手段及び効果)
また、本発明において、ワイヤロープを備え、前記ワイヤロープの一端部には、前記アクチュエータの末端部が取付られるとともに、前記ワイヤロープの他端部には、前記扉部の移動に伴いスライドするリンク機構が取付られているようにしてもよい。
また、本発明において、前記アクチュエータには、突出位置に移動するように作用する圧縮バネが取付けられているようにしてもよい。
そして、本発明において、前記扉部は、上面と右側壁と前側壁と左側壁と後側壁とからなり、前記右側壁に取付けられた右側連結部と、前記左側壁に取付けられた左側連結部とを有し、前記右側連結部の一端部及び前記左側連結部の一端部を回転軸として、開放位置と閉鎖位置とに回動するようになっているようにしてもよい。
さらに、本発明において、前記装置本体部の内部には、X線管と検出器とが設置されているようにしてもよい。
本発明の実施形態に係る蛍光X線分析装置の概略構成の一例を示す側面図。 本発明の実施形態に係る蛍光X線分析装置の概略構成の一例を示す側面図。 蛍光X線分析装置の平面図。 蛍光X線分析装置の断面図。 蛍光X線分析装置の断面図。 蛍光X線分析装置の断面図。 従来の蛍光X線分析装置の概略構成を示す側面図。 従来の蛍光X線分析装置の概略構成を示す側面図。 蛍光X線分析装置の平面図。 蛍光X線分析装置の断面図。 蛍光X線分析装置の断面図。 蛍光X線分析装置の断面図。
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。なお、本発明は、以下に説明するような実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の態様が含まれることはいうまでもない。
図1及び図2は、本発明の実施形態に係る蛍光X線分析装置の概略構成の一例を示す側面図であり、図3は、蛍光X線分析装置の平面図であり、図4及び図5は、蛍光X線分析装置の側面断面図であり、図6は、蛍光X線分析装置の前面断面図である。なお、蛍光X線分析装置101と同様のものについては、同じ符号を付している。
蛍光X線分析装置1は、装置本体部50と、試料室上側筐体部(扉部)20と、試料室上側筐体部20を移動させるための開閉機構40と、2個のロックスイッチ70、80と、蛍光X線分析装置1全体の制御を行うコンピュータ(図示せず)とを備える。
装置本体部50は、直方体形状の筐体54を有し、筐体54の内部には、X線管51と検出器52とが設置されており、また、円形状の開口53が形成され、試料Sの分析面が開口53を塞ぐようにして所定位置に載置されるようになっている。
筐体54の上面の左後部には、板状体55を前後方向に移動させるための左側スライドレール56と左側第一カバー付滑車57とが形成されおり、板状体55には、左方に突出する円柱形状の左側ピン55aと左側ピン55bとが形成されている。また、筐体54の上面の右後部には、板状体59を前後方向に移動させるための右側スライドレール58と右側第一カバー付滑車とが形成されおり、板状体59には、右方に突出する円柱形状の右側ピン59aと右側ピン59bとが形成されている。
試料室上側筐体部20は、上面と右側壁と前側壁と左側壁と後側壁とを有する筒形状の筐体部21を備える。そして、筐体部21の下面には気密シール用のOリングが取付けられており、筐体部21が、装置本体部50の上面にOリングを介して載置されることで、筐体部21と装置本体部50とで形成された密閉空間内に、試料Sが配置されることになる。
試料室上側筐体部20の筐体部21の外周面の左部には、突出する左側板状体24が形成されており、左側板状体24の一端部には、左方に突出する円柱形状の左側ピン24aと左側第二カバー付滑車24bとが形成されており、左側板状体24の他端部には、左側第三カバー付滑車24cが形成されている。
また、試料室上側筐体部20の筐体部21の外周面の右部には、突出する右側板状体25が形成されおり、右側板状体25の一端部には、右方に突出する円柱形状の右側ピンと右側第二カバー付滑車25bとが形成されており、右側板状体25の他端部には、右側第三カバー付滑車25cが形成されている。
左側リンク部材91は、一端部に第一開口が形成されるとともに、その一端部から所定距離離れた他端部に第二開口が形成されており、第一開口に左側ピン24aが挿入され、第二開口に左側ピン55aが挿入されている。これにより、試料室上側筐体部20が開けられると、板状体55が左側スライドレール56内の後方に自動的に移動し、一方、試料室上側筐体部20が閉められると、板状体55が左側スライドレール56内の前方に自動的に移動する。
左側ロックスイッチ70は、左側アクチュエータ挿入部71と左側アクチュエータ72とを備える。左側アクチュエータ72は、金属製の棒状体72aと、棒状体72aを上下方向に移動させるための筒形状のスライド軸受72cと、スライド軸受72c内に配置された圧縮バネ72bとを有し、試料室上側筐体部20の前側壁の左方に設けられている。そして、棒状体72aは、前側壁の下面から下方に所定距離で突出する突出位置(スライド軸受72c内の下方位置)と、試料室上側筐体部20内に収納される収納位置(スライド軸受72c内の上方位置)とに移動可能となっており、圧縮バネ72bは、棒状体72aが突出位置に移動するように作用している。
左側ワイヤロープ92の一端部は、棒状体72aの末端部に取付けられ、左側第三カバー付滑車24cの滑車とカバー(ワイヤ外れ防止ワイヤガード)との間と、左側第二カバー付滑車24bの滑車とカバー(ワイヤ外れ防止ワイヤガード)との間と、左側第一カバー付滑車57の滑車とカバー(ワイヤ外れ防止ワイヤガード)との間とを通過して、その一端部から所定距離離れた左側ワイヤロープ92の他端部は、板状体55の左側ピン55bに取付けられている。これにより、板状体55が左側スライドレール56内の後方に移動すると、棒状体72aがスライド軸受72c内の上方に自動的に移動し、一方、板状体55が左側スライドレール56内の前方に移動すると、棒状体72aがスライド軸受72c内の下方に自動的に移動する。
なお、右側ロックスイッチ80も、左側ロックスイッチ70と同様の構成となっている。
このような蛍光X線分析装置1によれば、測定者は前側連結部33を把持して、右側連結部31と左側連結部32とを図2及び図4に示す左側面図から見て順方向(時計回り)に回転させると、試料室上側筐体部20は回動することになる。このとき、板状体55が左側スライドレール56内の後方に自動的に移動して、棒状体72aもスライド軸受72c内の上方に自動的に移動する。つまり、棒状体72aが収納位置に自動的に配置される。その結果、測定者は、棒状体72aが邪魔にならず損傷させずに、試料Sを所定位置に配置したり所定位置から取り除いたりすることができる。
その後、測定者は前側連結部33を把持して、右側連結部31と左側連結部32とを図1及び図3に示す左側面図から見て逆方向(反時計回り)に回転させると、試料室上側筐体部20は回動して、閉鎖位置に配置される。このとき、板状体55が左側スライドレール56内の前方に自動的に移動して、棒状体72aもスライド軸受72c内の下方に自動的に移動する。つまり、棒状体72aが突出位置に自動的に配置され、棒状体72aが挿入穴に挿入される。その結果、スイッチが電気的に接続されコンピュータに信号を出力し、コンピュータによって試料室上側筐体部20が開放位置に移動不可能となる。
<他の実施形態>
上述した実施形態では、蛍光X線分析装置1を例に説明を行ったが、分析対象を試料室(または測定位置)に設置する際、試料室(または測定位置)を開閉することを必要とする分析装置に対しても本発明を同様に適用することができる。
本発明は、試料中に含まれる元素の情報を取得する蛍光X線分析装置等に利用することができる。
1 蛍光X線分析装置
20 試料室上側筐体部(扉部)
50 装置本体部
70 ロックスイッチ
71 アクチュエータ挿入部
72 アクチュエータ

Claims (5)

  1. 試料が配置される装置本体部と、
    前記装置本体部内を開放する開放位置と、前記装置本体部内を閉鎖する閉鎖位置とに移動可能となっている扉部と、
    前記装置本体部に設けられたアクチュエータ挿入部と、前記扉部に設けられたアクチュエータと有するロックスイッチとを備え、
    前記アクチュエータが前記アクチュエータ挿入部内に挿入されることで、前記扉部が開放位置に移動不可能となる分析装置であって、
    前記アクチュエータは、前記扉部から突出する突出位置と、前記扉部に収納される収納位置とに移動可能となっており、
    前記扉部が閉鎖位置にあるときには、前記アクチュエータは突出位置に配置され、一方、前記扉部が開放位置にあるときには、前記アクチュエータは収納位置に配置されるように構成されていることを特徴とする分析装置。
  2. ワイヤロープを備え、
    前記ワイヤロープの一端部には、前記アクチュエータの末端部が取付られるとともに、
    前記ワイヤロープの他端部には、前記扉部の移動に伴いスライドするリンク機構が取付られていることを特徴とする請求項1に記載の分析装置。
  3. 前記アクチュエータには、突出位置に移動するように作用する圧縮バネが取付けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の分析装置。
  4. 前記扉部は、上面と右側壁と前側壁と左側壁と後側壁とからなり、
    前記右側壁に取付けられた右側連結部と、前記左側壁に取付けられた左側連結部とを有し、
    前記右側連結部の一端部及び前記左側連結部の一端部を回転軸として、開放位置と閉鎖位置とに回動するようになっていることを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の分析装置。
  5. 前記装置本体部の内部には、X線管と検出器とが設置されていることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の分析装置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008032688A (ja) * 2006-06-30 2008-02-14 Sysmex Corp 試料分析装置
JP2010175506A (ja) * 2009-02-02 2010-08-12 Shimadzu Corp X線分析装置
JP2013014977A (ja) * 2011-07-06 2013-01-24 Oki Electric Ind Co Ltd ロック装置
JP2013137273A (ja) * 2011-12-28 2013-07-11 Techno X Co Ltd 蛍光x線分光装置及び蛍光x線分析装置
JP3187413U (ja) * 2013-07-19 2013-11-28 株式会社島津製作所 蛍光x線分析装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3018127A (en) * 1958-10-30 1962-01-23 Westinghouse Electric Corp Enclosed device with cover-mounting means
US3465803A (en) * 1967-07-26 1969-09-09 Penn Eng & Mfg Corp Captive screw device and a method for securing together the parts thereof
US5059075A (en) * 1989-03-31 1991-10-22 Cooper Industries, Inc. Retracting screw assembly
JP2000162161A (ja) * 1998-11-26 2000-06-16 Shimadzu Corp 蛍光x線分析装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008032688A (ja) * 2006-06-30 2008-02-14 Sysmex Corp 試料分析装置
JP2010175506A (ja) * 2009-02-02 2010-08-12 Shimadzu Corp X線分析装置
JP2013014977A (ja) * 2011-07-06 2013-01-24 Oki Electric Ind Co Ltd ロック装置
JP2013137273A (ja) * 2011-12-28 2013-07-11 Techno X Co Ltd 蛍光x線分光装置及び蛍光x線分析装置
JP3187413U (ja) * 2013-07-19 2013-11-28 株式会社島津製作所 蛍光x線分析装置

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