JPWO2017043274A1 - 金型、有機発光ダイオードの製造方法及び有機発光ダイオード - Google Patents
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Abstract
Description
光取出し効率を低下させる要因の一つとして表面プラズモンの影響がある。有機発光ダイオードでは、発光層と金属である陰極との間の距離が近い。そのため、発光層で生じた近接場光の一部は陰極の表面で表面プラズモンに変換されて失われ、有機発光ダイオードの光取出し効率が低下する。光取出し効率は、有機発光ダイオードを備えたディスプレイ、照明等の明るさに影響する指標であり、改善するための種々の方法が検討されている。
その結果、金型の形状を所定の形状とすることで、有機発光ダイオードを塗布工程、スタンパ工程及び真空成膜工程を組み合わせて作製した場合でも、有機発光ダイオードが十分な発光特性を示すことができることを見出した。
(1)本発明の一態様に係る金型は、主面に平坦面と、複数の凸部とを有し、前記複数の凸部の平均ピッチは50nm〜5μmであり、前記複数の凸部の平均アスペクト比は0.01〜1であり、前記複数の凸部のうち80%以上は所定の湾曲面を有し、前記所定の湾曲面は、前記所定の湾曲面の任意の点を第1点とし、前記第1点から前記平均ピッチの1/10だけずれた点を第2点とした際に、前記第1点に接する第1接平面に対する前記第2点に接する第2接平面の傾き角が60°以内である。
図1は、本発明の一態様に係る金型を模式的に示す斜視図である。本発明の一態様に係る金型10には、主面10Aに複数の平坦面1a〜1nと、複数の凸部2a〜2nとが設けられている。複数の平坦面1a〜1nは、複数の凸部2a〜2nのうち最隣接する凸部によって囲まれた領域内に配設されている。図1においては、最隣接する凸部の中心点を結ぶと平面視六角形が描かれ、その中央の領域に平坦面が配設されている。複数の凸部2a〜2nは一部で連結している。
断面は、金型10をFIB(Focused Ion Beam)等で凸部2nの中心点2Anを通る断面を切り出して得られる。断面の顕微鏡画像は、その断面を光学顕微鏡で観察して得られる。金型の断面形状が切断により変形する恐れのある場合は、切断に耐えうる材料で凸部表面を覆うかまたは凸部を樹脂等で包埋した上で切断することが好ましい。
平坦面1a〜1nの中心点1Aa〜1Anは、AFMの測定結果に基づき設定する。具体的には、複数の平坦面1a〜1nのそれぞれに平面視内接する内接円を設ける。この内接円の中心を平坦面1a〜1nの中心点1Aa〜1Anとする。
まず、金型10の主面10Aにおける無作為に選択された領域で、一辺が平均ピッチPの30〜40倍の正方形の領域について、AFMイメージを得る。例えば、設計上のピッチが300nm程度の場合、9μm×9μm〜12μm×12μmの領域のイメージを得る。そして、得られた領域内の各凸部の隣接間距離を計測し、計測した隣接間距離を平均することで、領域内の平均ピッチP1を求める。このような処理を無作為に選択された合計25カ所以上の同面積の領域について同様に行い、各領域における平均ピッチP1〜P25を求める。こうして得られた25カ所以上の領域における平均ピッチP1〜P25の平均値が平均ピッチPである。この際、各領域同士は、少なくとも1mm離れて選択されることが好ましく、より好ましくは5mm〜1cm離れて選択される。
平均ピッチPが500nm未満の時、10μm×10μmのAFMイメージ測定範囲内における最頻面積Qは、0.026μm2〜6.5μm2であることが好ましい。
平均ピッチPが500nm以上1μm未満の時、10μm×10μmのAFMイメージ測定範囲内における最頻面積Qは、0.65μm2〜26μm2であることが好ましい。
平均ピッチPが1μm以上の時、50μm×50μmのAFMイメージ測定範囲内における最頻面積Qは、2.6μm2〜650μm2であることが好ましい。
最頻面積Qが好ましい範囲内であれば、周期的な構造は巨視的には格子方位がランダムな多結晶体となるため、金属表面で表面プラズモンが伝播光に変換されて輻射される際に、平面方向に関して輻射光の放出角度がランダムになり、素子から取り出される発光光が異方性を有することを抑制することができる。
面積のランダム性の度合いは、具体的には、以下の条件を満たすことが好ましい。
まず、ひとつのエリアの境界線が外接する最大面積の楕円を描き、その楕円を下記式(1)で表す。
X2/a2+Y2/b2=1・・・(1)
平均ピッチPが500nm以上1μm未満の時、10μm×10μmのAFMイメージ測定範囲内におけるπabの標準偏差は、1.95μm2以上であることが好ましい。
平均ピッチPが1μm以上の時、50μm×50μmのAFMイメージ測定範囲内におけるπabの標準偏差は、8.58μm2以上であることが好ましい。
πabの標準偏差が好ましい範囲内であれば、金属表面から所定の角度に輻射される表面プラズモンの素子外部への平面方向に関する放出角度を平均化させる効果に優れ、発光光が異方性を有することを抑制することができる。
まず、任意のエリア(I)における任意の隣接する2つの凸部の中心点を結ぶ直線K0を画く。次に、該エリア(I)に隣接する1つのエリア(II)を選択し、そのエリア(II)における任意の凸部と、その凸部に隣接する3つの凸部の中心点を結ぶ3本の直線K1〜K3を画く。直線K1〜K3が、直線K0を基準に60°ずつ回転させた6本の直線に対して、いずれも3度以上異なる角度を有する場合、エリア(I)とエリア(II)との格子方位が異なる、と定義する。
エリア(I)に隣接するエリアの内、格子方位がエリア(I)の格子方位と異なるエリアが2以上存在することが好ましく、3以上存在することが好ましく、5以上存在することがさらに好ましい。
FFT基本波の最大値と最小値の比が大きい場合は、凸部の格子方位が揃っており、凸部を2次元結晶とみなした場合単結晶性が高い構造と言える。反対に、FFT基本波の最大値と最小値の比が小さい場合は、凸部の格子方位が揃っておらず、凸部を2次元結晶とみなした場合は多結晶構造であると言える。
まず金型10の主面10Aの無作為に選択された25μm2(5μm×5μm)の領域1箇所についてAFM像を得る。ついで、得たAFM像の対角線方向に線を引き、この線と交わった複数の凸部2a〜2nのそれぞれの高さと幅を測定する。凸部の高さは平坦面1a〜1nから凸部の頂部までの距離を意味し、凸部の幅は平面視した際に凸部の中心点を中心とした内接円の直径を意味する。そして、この領域における凸部の高さと幅の平均値を求める。同様の処理を、無作為に選択された合計25カ所の領域について行う。そして得られた25カ所の領域毎の凸部の高さと幅の平均値をさらに平均した値が平均高さと平均幅である。そして、平均高さを平均幅で割った値が、平均アスペクト比である。
凸部2nの湾曲面2Bのどの部分においても、第1接平面t1に対する第2接平面t2の傾き角θが60°以内の関係を満たす場合、凸部2nは所定の湾曲面であるといえる。傾き角θは、45°以内であることが好ましく、30°以内であることがさらに好ましい。
また一般に空隙が生じやすい部分である金型10の複数の凸部2a〜2nと平坦面との境界部3にも、所定の湾曲面2Bに沿って各層の材料が充分供給される。すなわち、境界部3に空隙が生じることも防ぐことができる。
また凸部152nと平坦面との境界部153に、十分な量の材料を供給することができず、空隙が発生しやすくなる。
図8は、図7に示す転写物上に、真空成膜法で層を形成した場合の断面模式図である。図7に示す金型30は、平坦面31と凸部32nの境界部33がなだらかである。そのため、金型30を用いて積層体20の最表面に形成された湾曲面20Aの境界部23Aもなだらかである。形状が急峻に変化する部分は一般に真空成膜時の成膜粒子のつきまわりが大きく変化することが多い。これに対し境界部23Aを含む湾曲面20Aの形状がなだらかであれば、成膜粒子のつきまわりが大きく変化せず、均一な層を形成することができる。図8に示す転写物は、積層体20の主面(最表面)20Aがなだらかである。そのため、真空成膜した層26の外表面26Bは、主面20Aの形状を十分に反映することができる。ここで、「十分に反映」とは、スタンパ工程で形成した形状を完全に反映させることまでは要しない。真空成膜した層26の外表面26Bを構成している凸部の平均ピッチが主面20Aを構成している凸部の平均ピッチに比べて±10%以内であり、かつ、真空成膜した層26の外表面26Bを構成している凸部の平均高さが主面20Aを構成している凸部の平均高さに比べて±10%以内であれば、真空成膜した層26の外表面26Bは、主面20Aの形状を十分に反映していると言うことができる。ここで言う平均ピッチの測定には、上述した平均ピッチPの測定方法を適用できる。また、平均高さの測定には、上述した平均高さHの測定方法を適用できる。
真空成膜した層26が電極である場合は、外表面26Bが主面20Aの形状を十分反映した形状となっている必要はない。この場合でも、主面20Aがなだらかであるため、層26の膜厚が薄くなったり、切断されることはない。
湾曲面22Bや外表面26Bの形状を確認する方法としては、走査型電子顕微鏡(SEM)や透過型電子顕微鏡(TEM)による断面観察や、観察面を被覆している層を除去した後に三次元電子顕微鏡やAFMによって観察する方法が挙げられる。
図10は、本発明の別の態様に係る金型の斜視模式図である。図10に示す金型40は、凸部42a〜42n同士が互いに離間して配置され、1つの平坦面41からなる点が上述の金型10等と異なる。
金型は、電子ビームリソグラフィー、機械式切削加工、レーザーリソグラフィー、レーザー熱リソグラフィー、干渉露光、縮小露光、アルミニウムの陽極酸化法及び粒子マスクを利用した方法等を用いて形成することができる。中でも金型は、粒子マスクを利用した方法を用いて作製することが好ましい。粒子マスクを利用した方法とは、金型の母材の平坦面上に粒子単層膜をエッチングマスクとして形成した後に、エッチング処理を行う方法である。粒子マスクを利用した方法では、粒子直下の母材は、エッチングされず凸部となる。
まず、クロロホルム、メタノール、エタノール、メチルエチルケトンなどの揮発性の高い溶剤のうちの1種以上からなる疎水性の有機溶剤中に、表面が疎水性の粒子を加えて分散液を調製する。また、図15に示すように水槽(トラフ)Vを用意し、その液面上で粒子を展開させるための液体(以下、下層水という場合もある。)として水Wを入れる。
そして、分散液を下層水の液面に滴下する(滴下工程)。すると、分散媒である溶剤が揮発するとともに、粒子が下層水の液面上に単層で展開し、2次元的に最密充填した単粒子膜Fが形成される(単粒子膜形成工程)。
図15で示すように、単粒子膜形成工程により液面上に形成された単粒子膜Fを、ついで、単層状態のままエッチング対象物である基体61上に移し取る(移行工程)。基体61は平面状でもよく、曲面、傾斜、段差等の非平面形状を一部もしくは全部に含んでいても良い。
このように形成された単粒子膜Fは単粒子エッチングマスク62として機能する。単粒子エッチングマスク62が片面に設けられた基体61を、気相エッチングして表面加工する(エッチング工程)。
ドライエッチングの各条件としては、粒子マスクを構成する粒子の材質、原板の材質、エッチングガスの種類、バイアスパワー、ソースパワー、ガスの流量及び圧力、エッチング時間等が挙げられる。平坦面は、初期のエッチングガスの流量を高め、徐々に流量を低減することで得ることができる。また図1に示す金型10のように稜線部を残す場合は、粒子マスクに用いる粒子の硬度を高くすることで得ることができる。
次いで、図14(b)に示す基体61を、奇数回転写する。奇数回転写により、図14(c)に示す転写体71が得られる。具体的には、まず作製した基体61を樹脂で転写する。得られた樹脂転写品の表面に、電鋳等によりNi等の金属メッキを被覆する。金属メッキが被覆されることで、転写体71の硬度が高まり、後述する形状調整等が可能になる。
しかしながら転写体71の表面には、所定の湾曲面が形成されていない場合がある。例えば、凸部72nの頂部に角部72aが形成される場合がある。角部72aは、所定の湾曲面を満たさない部分である。そこで、角部72aを除去し、凸部72nの外表面を所定の湾曲面にする。更なるエッチングは、ウェットエッチングで行ってもドライエッチングで行ってもよい。以下、ドライエッチングの場合について具体的に説明する。
上述の方法で作製した金型は、直接金型として使用してもよいし、作製した金型を原版として作製した複製品を実際に使用する金型として用いてもよい。複製は、作製した金型を偶数回転写することにより作製することができる。具体的には、まず作製した金型を樹脂で転写する。得られた奇数回転写体の表面に、電鋳等によりNi等の金属メッキを被覆する。金属メッキが被覆されることで、奇数回転写体の硬度が高まり、更なる転写を行うことができる。そして、奇数回転写体をさらに転写し、偶数回転写体を作製する。偶数回転写体は、作製した金型と同様の形状となる。最後に偶数回転写体の表面に、電鋳等によりNi等の金属をメッキすることで、金型の複製が完成する。
図12は、本発明の一態様に係る有機発光ダイオード素子100の断面模式図である。有機発光ダイオード素子100は、基体110、第1電極120、発光層133を含む有機半導体層130、第2電極140を順に備える。
図12に示す有機半導体層130は、発光層133に加えて、第1電極120と発光層133の間にホール注入層131、ホール輸送層132を有し、発光層133と第2電極140の間に電子輸送層134、電子注入層135を備える。ホール注入層131、ホール輸送層132、電子輸送層134、電子注入層135のそれぞれは必ずしも備えている必要はなく、無くてもよい。本発明の有機発光ダイオード素子100は本発明の効果を損ねない範囲で、その他の層をさらに備えてもよい。
複数の凸部142a〜142nの平均ピッチは50nm〜5μmであり、50nm〜500nmであることが好ましい。平均ピッチは、金型における平均ピッチと同様の方法で求めることができる。凸部142a〜142nの平均ピッチがこの範囲内であれば、金属電極である第2電極の表面140Aに表面プラズモンとして捕捉されたエネルギーを効率的に輻射し、光として取り出すことができる。
金属表面の伝播型表面プラズモンは、入射した電磁波(近接場光など)により生じる自由電子の疎密波が表面電磁場を伴うものである。平坦な金属表面に存在する表面プラズモンの場合、表面プラズモンの分散曲線と光(空間伝播光)の分散直線とは交差しない。そのため、表面プラズモンのエネルギーを光として取り出すことはできない。これに対し、金属表面に二次元周期構造があると、二次元周期構造によって回折された表面プラズモンの分散曲線が空間伝播光の分散曲線と交差するようになる。その結果、表面プラズモンのエネルギーを輻射光として素子の外部に取り出すことができる。
このように、二次元周期構造が設けられていると、表面プラズモンとして失われていた光のエネルギーを取り出せる。取り出されたエネルギーは、空間伝播光として第2電極140の表面から輻射される。このとき第2電極140から輻射される光は指向性が高く、その大部分が取出し面に向かう。そのため、取出し面から高強度の光が出射し、取出し効率が向上する。
第2電極140の厚さは特に限定はされない。例えば20〜2000nmであり、好ましくは50〜500nmである。20nmより薄いと反射率が低くなり正面輝度が低下し、500nmより厚いと成膜時の熱や放射線によるダメージ、膜応力による機械的ダメージが有機発光層133等の有機物からなる層に蓄積する。
たとえばホール注入層131を構成する材質(ホール注入材料)としては、たとえば、4,4’,4”−tris(N,N−2−naphthylphenylamino)triphenylamine(2−TNATA)等の化合物などが挙げられる。
ホール輸送層132を構成する材質(ホール輸送材料)としては、たとえば、N,N’−ジフェニル−N,N’−ビス(1−ナフチル)−(1,1’−ビフェニル)−4,4’−ジアミン(NPD)、銅フタロシアニン(CuPc)、N,N’−Diphenyl−N,N’−di(m−tolyl)benzidine(TPD)等の芳香族アミン化合物などが挙げられる。
発光層133を含めた有機半導体層の全体の厚さは、通常、30〜500nmである。
第1電極120を構成する透明導電体は、特に限定されず、透明導電材料として公知のものが使用できる。たとえばインジウム−スズ酸化物(Indium Tin Oxide(ITO))、インジウム−亜鉛酸化物(Indium Zinc Oxide(IZO))、酸化亜鉛(Zinc Oxide(ZnO))、亜鉛−スズ酸化物(Zinc Tin Oxide(ZTO))等が挙げられる。第1電極120の厚さは、通常、50〜500nmである。
用途にもよるが、一般に、基体110は可視光透過率の高いものを使用する。透過率は可視光の範囲(波長380nm〜800nm)でスペクトルに偏りを与えず、透過率70%以上、好ましくは80%以上、より好ましくは90%以上のものを用いる。
本発明の一態様に係る有機発光ダイオードの製造方法は、基体上に透明な第1電極を有する電極付き基体の第1電極が形成された面に、発光層を含む有機半導体層と第2電極とを、塗布工程とその後の真空成膜工程とにより形成する有機発光ダイオードの製造方法である。塗布工程と真空成膜工程との間には、上述の金型を塗布工程で形成した塗布層の最外面に押し当て、金型の主面の形状の反転形状を塗布層の最外面に形成するスタンパ工程を有する。
電極付き基体は、透明な基体上に透明な第1電極を形成する。基体及び第1電極は、上述のものを用いることができる。
基体上に第1電極を形成する方法は、公知の手法を用いることができる。例えば、ITO等の透明電極用材料をスパッタにより基体上に形成することができる。また市販の電極付き基体を購入してもよい。
塗布工程では、有機半導体層を構成する層のうち一部の層、または全ての層を塗布により形成する。一般に塗布工程においては前工程までで既に成膜されている各層を侵すことのないように塗布液の溶媒を選択する必要があるため、塗布によって成膜する層の数が増えるほど適切な溶媒の選択が難しくなる。したがって塗布工程では、有機半導体層を構成する層のうち、発光層まで形成することが好ましい。
スタンパ工程は、いわゆるインプリント法によって凹凸形状を形成する方法である。塗布工程で形成された塗布層に金型を押し付けると、金型の形状に沿って塗布層を構成する塗布液が追従する。塗布液は、形状を維持できる程度の粘度を有するため、金型を外した後もその形状は維持される。
また、塗布液が乾燥、蒸発した後であっても、成膜層をなす材料にガラス転移点が存在する場合は、成膜層をガラス転移点以上に加熱した状態で金型を押し付けることによって形状を賦与することが可能である。
上述のように、本発明の一態様に係る金型は、所定の湾曲面を有する複数の凸部と平坦面を有する。そのため、発光層133に金型を押し付けた際に、所定の湾曲面に沿って発光層133に加わる力が分散される。その結果、発光層133の層厚が極端に薄くなることや発光層133が切断されること等を避けることができる。
真空成膜工程では、有機半導体層を構成する層のうち塗布工程で形成しなかった層と第2電極を真空成膜法により形成する。
真空成膜法としては、真空蒸着法、スパッタリング法、CVD(化学気相成長法)等を用いることができる。有機層へのダメージを少なくするためには、真空成膜法として真空蒸着法を用いることが好ましい。
Claims (10)
- 主面に平坦面と、複数の凸部とを有し、
前記複数の凸部の平均ピッチは50nm〜5μmであり、前記複数の凸部の平均アスペクト比は0.01〜1であり、
前記複数の凸部のうち80%以上は、所定の湾曲面を有し、
前記所定の湾曲面は、前記所定の湾曲面の任意の点を第1点とし、前記第1点から前記平均ピッチの1/10だけずれた点を第2点とした際に、
前記第1点に接する第1接平面に対する前記第2点に接する第2接平面の傾き角が60°以内である金型。 - 前記主面における前記平坦面の占める面積率が5〜50%である請求項1に記載の金型。
- 前記平坦面と、前記所定の湾曲面を有する凸部とが、前記所定の湾曲面の条件を満たすように連結されている請求項1または2のいずれかに記載の金型。
- 前記複数の凸部を構成する前記所定の湾曲面は少なくとも1つ以上の変曲部を有し、
前記変曲部のうち最も前記平坦面に近い第1変曲部から前記平坦面までの最近接距離が、前記複数の凸部の平均ピッチの1/10以上である請求項3に記載の金型。 - 前記複数の凸部はハニカム格子を形成し、
前記複数の凸部の頂部は、前記平坦面に対して垂直な方向からの平面視で、前記ハニカム格子を構成する六角形の頂点に位置する請求項1〜4のいずれか一項に記載の金型。 - 前記六角形の頂点に位置する凸部は、前記六角形の隣接する頂点に位置する凸部との間に稜線部を有し、
前記稜線部の少なくとも一部は、前記稜線部を繋ぐ凸部より前記平坦面側に存在する請求項5に記載の金型。 - 前記稜線部の最も前記平坦面に近い部分の前記平坦面からの高さは、前記稜線部を繋ぐ凸部の前記平坦面からの高さに対して50%〜90%である請求項6に記載の金型。
- 基体上に透明な第1電極を有する電極付き基体の前記第1電極が形成された面に、発光層を含む有機半導体層と第2電極とを、塗布工程とその後の真空成膜工程とにより形成する有機発光ダイオードの製造方法であって、
前記塗布工程と前記真空成膜工程との間に、請求項1〜7のいずれか一項に記載の金型を前記塗布工程で形成した塗布層の最外面に押し当て、前記金型の主面の形状の反転形状を前記塗布層の最外面に形成するスタンパ工程を有することを特徴とする有機発光ダイオードの製造方法。 - 基体と、透明な第1電極と、発光層を含む有機半導体層と、第2電極とを順に有し、
前記第2電極の前記有機半導体層側の面は、平坦面と、前記平坦面から前記基体に向かって突出した複数の凸部とを有し、
前記複数の凸部の平均ピッチは50nm〜5μmであり、前記複数の凸部の平均アスペクト比は0.01〜1であり、
前記複数の凸部のうち80%以上は所定の湾曲面を有し、
前記所定の湾曲面は、前記所定の湾曲面の任意の点を第1点とし、前記第1点から前記凸部の中心点に向かって前記平均ピッチの1/10だけずれた点を第2点とした際に、
前記第1点に接する第1接平面に対する前記第2点に接する第2接平面の傾き角が60°以内であることを特徴とする有機発光ダイオード。 - 前記第2電極の前記有機半導体層側の面における前記平坦面の占める面積率が5〜50%である請求項9に記載の有機発光ダイオード。
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