JPWO2016114257A1 - 電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置 - Google Patents

電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2016114257A1
JPWO2016114257A1 JP2016569358A JP2016569358A JPWO2016114257A1 JP WO2016114257 A1 JPWO2016114257 A1 JP WO2016114257A1 JP 2016569358 A JP2016569358 A JP 2016569358A JP 2016569358 A JP2016569358 A JP 2016569358A JP WO2016114257 A1 JPWO2016114257 A1 JP WO2016114257A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
positive electrode
electrode plate
negative electrode
ray
active material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016569358A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6402308B2 (ja
Inventor
尋史 佐藤
尋史 佐藤
坂田 卓也
卓也 坂田
正治 篠原
正治 篠原
宏 小湊
宏 小湊
陽平 山影
陽平 山影
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba IT and Control Systems Corp
Eliiy Power Co Ltd
Original Assignee
Toshiba IT and Control Systems Corp
Eliiy Power Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba IT and Control Systems Corp, Eliiy Power Co Ltd filed Critical Toshiba IT and Control Systems Corp
Publication of JPWO2016114257A1 publication Critical patent/JPWO2016114257A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6402308B2 publication Critical patent/JP6402308B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/05Accumulators with non-aqueous electrolyte
    • H01M10/058Construction or manufacture
    • H01M10/0585Construction or manufacture of accumulators having only flat construction elements, i.e. flat positive electrodes, flat negative electrodes and flat separators
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/083Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/04Construction or manufacture in general
    • H01M10/0413Large-sized flat cells or batteries for motive or stationary systems with plate-like electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/04Construction or manufacture in general
    • H01M10/0436Small-sized flat cells or batteries for portable equipment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/64Carriers or collectors
    • H01M4/66Selection of materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01MPROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M4/00Electrodes
    • H01M4/02Electrodes composed of, or comprising, active material
    • H01M4/64Carriers or collectors
    • H01M4/66Selection of materials
    • H01M4/661Metal or alloys, e.g. alloy coatings
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10Energy storage using batteries
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Cell Electrode Carriers And Collectors (AREA)
  • Connection Of Batteries Or Terminals (AREA)

Abstract

正電極板1と負電極板2とを絶縁体のセパレータ9に交互に積層した電極積層体Iのセパレータ9の幅方向の一端面から突出する正極活物質5の未塗工部分であるアルミ箔の正極側接続部7を含む電極積層体Iの一端面側の所定の領域に向けてX線を照射してX線画像を撮像するとともに、前記X線画像に前記アルミ箔が写らないようにその強度を調整し、前記X線画像における正極側接続部7との境界である正極活物質5の塗工端の位置と、一端面側の負電極板2の端面の位置とを特定し、前記塗工端の位置と、負電極板2の端面の位置に基づき正電極板1と負電極板2との位置ずれを検出する。

Description

本発明は電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置に関し、特にスタック型のリチウムイオン電池の製造工程に適用して有用なものである。
リチウムイオン二次電池の一種として、正電極板と負電極板とを絶縁体のセパレータを介して交互に積層したスタック構造の電極積層体がある。
図4はスタック構造のリチウムイオン二次電池の正電極板を示す図で、(a)はその平面図、(b)はその側面図、図5は負電極板を示す図で、(a)はその平面図、(b)はその側面図である。図4に記載する通り、正電極板1は、正電極シート3の両面上にそれぞれ正極活物質5を塗布して形成してあり、その端部(図4では左端部)には正極接続端子(図示せず)に接続するための正極側接続部7が形成されている。正極側接続部7は正極活物質5が塗布されていないタブとなっている。正電極シート3は、電気伝導性を有し、表面上に正極活物質5を塗布することができれば、特に限定されないが、アルミ箔が汎用されている。
一方、図5に示すように、負電極板2は、負電極シート4の両面上にそれぞれ負極活物質6を塗布して形成してあり、その端部(図5では右端部)には負極接続端子(図示せず)に接続するための負極側接続部8が形成されている。負極側接続部8は負極活物質6が塗布されていないタブとなっている。負電極シート4は、電気伝導性を有し、表面上に負極活物質6を塗布することができれば、特に限定されないが、銅箔が汎用されている。
かかる正、負電極板1、2は、図6に示すように、例えば、ジグザグ折りした絶縁体のセパレータ9を挟んで相対向するようにセパレータ9の各谷溝9Aに挿入され、その後上下方向から押圧して図7に示すスタック状の電極積層体Iに成型される。
かかる電極積層体Iにおいて、セパレータ9の幅方向の一端部から突出する複数の正極側接続部7およびセパレータ9の他端部から突出する複数の負極側接続部8は、次工程で図示されていない正極接続端子および負極接続端子と接続される。
ところで、電極積層体Iにおける正電極板1と負電極板2間の積層状態でのズレは、例えば電極間でのショート等、種々の問題を生起する原因となる。そこで、各正電極板1と負電極板2との間のズレ量が規定値内に収まるように品質を管理する必要がある。
この点に鑑み、従来からX線を利用して非破壊検査で電極積層体Iにおける電極板(正電極板1と負電極板2)の位置ずれを検出する位置ずれ検出が行われている。
図8は従来技術に係るX線を利用した位置ずれ検出の態様を概念的に示す図であり、(a)は平面的に見た模式図、(b)は端面側から見た模式図である。両図に示すように、セパレータ9の一端面側の所定のA領域(正極側接続部7と正極活物質5との境界部分を含む領域)において電極積層体Iの幅方向(図中のY軸方向)にX線を照射することにより得るX線画像に基づき負電極板2の正極側の端部の位置(負極側接続部8の反対側における負極電極端位置(負極活物質6の塗工端))を検出する。同時に、セパレータ9の他端面側の所定のB領域(負極側接続部8と負極活物質6との境界部分を含む領域)において、同様に電極積層体Iの幅方向(図中のY軸方向)にX線を照射することにより得るX線画像に基づき正電極板1の負極側の端部の位置(正極側接続部7の反対側における正極電極端位置(正極活物質5の塗工端))を検出する。このようにして求めた、負電極板2の正極側接続部7側の端部の位置、正電極板1の負極側接続部8側の端部の位置、正極側接続部7の端部の位置、負極側接続部8の端部の位置等の情報から演算により積層される正電極板1間の距離、積層される負電極板2間の距離、積層される正電極板1と負電極板2との距離を求め、設計値として与えられる基準値と比較して正電極板1と負電極板2との位置ずれを検出する。
なお、X線を利用して電極板の位置を検出する点を開示する公知文献として特許文献1がある。
特開2011−039014号公報
しかしながら、上述の如き従来技術に係る検査方法では、正、負電極板1,2の両端部において2回の同様の検査を行なう必要があり、当然のことながら、検査のタクトタイムが長くなるという問題を有していた。そこで、正、負電極板1,2の何れか一方の端部に対するX線による検査で必要な位置の情報を得ることを試みた。具体的には、A領域(正極側接続部7側)にX線照射することで、正極側のタブである正極側接続部7の先端と、負電極板2における負極側のタブと反対側の端部との距離あるいは、B領域(負極側接続部8側)にX線照射して、負極側のタブである負極側接続部8の先端と、正電極板1における負極側のタブと反対側の端部との距離を検出して位置ずれの検出の可否を調べた。この結果、正極側接続部7はアルミ箔であり、負極側接続部8は銅箔であるので、ともに剛性に乏しく先端部が垂れ下がってしまう。この結果、所望の精度での距離検出は困難であることが判明した。また、一方の電極板における活物質層とタブ部との境界位置と他方の電極板におけるタブと反対側の端部との距離を検出するにしても、X線画像におけるタブ部と活物質層との境目を検出することが困難であった。ただ、試行錯誤する中で、検査用のX線の強度を増大させた場合、アルミ箔で形成された正極側接続部7のX線画像は、所定のA領域の全体的なX線画像から除去する(X線画像としては残さない)ことが可能であるという新たな知見を得た。
そこで、X線の強度を増加させてアルミ箔で形成された正極側接続部7のX線画像を消すことにより、所定のA領域のX線画像だけで位置ずれを検出することに思い至った。
本発明は、上記知見に基づき、電極板の一端部のX線画像情報のみで電極板の位置ずれを適切かつ高精度に検出することにより当該検査のタクトタイムを短縮することができる電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成する本発明の第1の態様は、アルミ箔で形成した正電極シートの両面上にそれぞれ正極活物質を塗布して形成した正電極板と、他の金属箔で形成した負電極シートの両面上にそれぞれ負極活物質を塗布して形成した負電極板と絶縁体のセパレータを介して交互に積層した電極積層体の前記セパレータの幅方向の一端面から突出する前記正極活物質の未塗工部分である前記アルミ箔の正極側接続部を含む前記電極積層体の一端面側の所定の領域に向けてX線を照射してX線画像を撮像するとともに、前記X線画像に前記アルミ箔が写らないように前記X線の強度を調整し、前記X線画像における前記正極側接続部との境界である正極活物質の塗工端の位置と、前記一端面側の負電極板の端面の位置とを特定し、前記塗工端の位置と、前記一端面側の負極電極板の端面の位置に基づき前記正電極板と前記負電極板との位置ずれを検出することを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法にある。
本態様によれば、電極積層体の幅方向の一端側である正極側の一箇所でX線画像を得ているので、電極板の位置ずれ検査におけるタクトタイムを従来より短縮することができる。ここで、検査に当たって基準としている位置には、正極側接続部との境界である正極活物質の塗工端および負電極板の正極側接続部の側の端面が含まれる。すなわち、何れもリジッドな部位の位置であるばかりでなく、かかる位置検出のノイズとなる可能性があるアルミ箔である正極側接続部はX線画像から除去することで、検出基準となる位置をX線画像上で明確に特定できるので、位置ずれも正確に検出することができる。
本発明の第2の態様は、第1の態様に記載する電極板の位置ずれ検出方法において、前記X線は、X線管における管電圧を70kV以上、管電流を280μA以上として得る強度であることを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法にある。
本態様によれば、アルミ箔である正極側接続部を所定のX線画像から確実に除去することができる。
本発明の第3の態様は、アルミ箔で形成した正電極シートの両面上にそれぞれ正極活物質を塗布して形成した正電極板と、他の金属箔で形成した負電極シートの両面上にそれぞれ負極活物質を塗布して形成した負電極板とを絶縁体のセパレータを介して交互に積層した電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置において、前記電極積層体の前記セパレータの幅方向の一端面から突出する前記正極活物質の未塗工部分である前記アルミ箔を挟んで配設されたX線照射部及びX線検出部と、演算処理部と、を有するとともに、前記X線照射部は、前記電極積層体の前記セパレータの幅方向の一端面から突出する前記正極活物質の未塗工部分である前記アルミ箔の正極側接続部を含む前記電極積層体の一端面側の所定の領域に前記アルミ箔を透過する強度のX線を照射し、前記X線検出部は、照射された前記X線を入射して前記所定の領域の画像を表すX線画像信号を生成し、前記演算処理部は、前記X線画像信号に基づき、前記正極側接続部との境界である正極活物質の塗工端の位置と、前記一端面側の負電極板の端面の位置とを特定し、前記一端面側の塗工端の位置と、前記負極電極板の端面の位置に基づき正電極板と負電極板との前記電極積層体との位置ずれを検出する演算処理部を内蔵してることを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置にある。
本態様によれば、電極積層体の幅方向の一端側である正極側の一箇所に相対向して配設されたX線照射部およびX線検出部で所定のX線画像を得ているので、電極板の位置ずれ検査におけるタクトタイムを従来より短縮することができる。ここで、検査に当たってX線検出部における演算処理部でのズレ量の基準としている位置には、正極側接続部との境界である正極活物質の塗工端および負電極板の正極側の端面が含まれる。すなわち、何れもリジッドな位置であるばかりでなく、かかる位置検出のノイズとなる可能性があるアルミ箔である正極側接続部はX線画像から除去することで、検出基準となる位置をX線画像上で明確に特定できるので、ズレ量も正確に検出することができる。
本発明の第4の態様は、第3の態様に記載する電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置において、前記X線照射部においてX線を照射するX線管は、管電圧を70kV以上、管電流を280μA以上としたことを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置にある。
本態様によれば、アルミ箔である正極側接続部を所定のX線画像から確実に除去することができる。
本発明によれば、電極積層体の幅方向の一端側である正極側の一箇所でX線画像を得ているので、電極板の位置ずれ検査におけるタクトタイムを従来より短縮することができる。
本発明の実施の形態に係るX線検査装置をその検査態様とともに概念的に示す説明図である。 本形態に係る位置ずれ検出方法により得られる正極側接続部側におけるX線画像の説明図である。 図2の場合の実際のX線画像を示す写真である。 スタック構造のリチウムイオン二次電池の正電極板を示す図で、(a)はその平面図、(b)はその側面図である。 スタック構造のリチウムイオン二次電池の負電極板を示す図で、(a)はその平面図、(b)はその側面図である。 ジグザグ折りしたセパレータの各谷溝に電極板を挿入する場合の態様を示す説明図である。 スタック構造の電極積層体を示す斜視図である。 従来技術に係るX線を利用したズレ量検出の態様を概念的に示す図であり、(a)は平面的に見た模式図、(b)は端面側から見た模式図である。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。なお、図4〜図8と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
図1は、本発明の実施の形態に係るX線検査装置をその検査態様とともに概念的に示す説明図である。同図に示すように、本形態におけるX線検査装置10は、X線を図中のY軸方向に照射するX線照射部11およびX線照射部11が照射したX線を入射するX線検出部12とを有する。ここで、X線照射部11は、電極積層体Iのセパレータ9の幅方向(X軸方向)の一端面から突出する正極活物質5(例えば図4参照、以下同じ)の未塗工部分である正極側接続部7を挟んで一方側と反対側に配設されている。本形態における正極側接続部7はアルミ箔で形成されている。
かくしてX線照射部11は、電極積層体Iのセパレータ9の幅方向の一端面から突出する正極活物質5の未塗工部分であるアルミ箔の正極側接続部7を含む電極積層体Iの一端面側の所定の領域A(図8参照、以下同じ)に電極板の幅方向(図中のY軸方向)に向けてアルミ箔を透過する強度のX線を照射する。具体的には、X線照射部11のX線管における管電圧を70kV以上、管電流を280μA以上とする。この強度のX線であれば、アルミ箔である正極側接続部7を所定のX線画像から確実に除去することができるからである。
一方、X線検出部12は、照射されたX線を入射して所定の領域Aの画像を表すX線画像信号を生成するとともに、内蔵している演算処理部12Aにおいて所定の演算を行い、正、負電極板1,2の相対的なズレ量を演算するなど、電極板に関する位置ずれ検出を行う。
かかる位置ずれの検出に関連し、図2を追加して、具体的に説明する。図2は、X線検出部12で得られる正極側接続部側における所定の領域AのX線画像の説明図である。同図に示すように、当該X線画像では、アルミ箔である正極側接続部7の画像が完全に除去されている。X線がアルミ箔を完全に透過しているからである。なお、図2中には、点線で正極側接続部7を示している。また、正電極板1と負電極板2との間にはセパレータ9が存在しているが、図2に示すX線画像にセパレータは写り込まない。これは、セパレータ9が薄く、セパレータを構成する材料であるポリプロピレンなどがX線画像には写りにくいためである。この場合の実際のX線画像を表す写真を図3に示す。
X線検出部12では、入射したX線に基づき生成したX線画像信号に基づき、正極側接続部7との境界である正極活物質5の塗工端の位置P1と、一端面側の負電極板2の端面の位置P2とを特定する。その後、位置P1,P2との差から正電極板1と負電極板2との電極積層体Iにおける相対的なズレ量を演算する。ここで、演算処理部12Aには、設計値に基づく位置P1,P2の許容誤差が予め記憶されているので、正電極板1と負電極板2との間でのズレ量が許容値内に収まっているか否かの判定も行っている。
本形態によれば、電極積層体Iの幅方向の一端側である正極側の一箇所に相対向して配設されたX線照射部11およびX線検出部12で所定のX線画像を得ているので、正、負電極板1、2の位置ずれ検査におけるタクトタイムを従来より短縮することができる。ここで、検査に当たってX線検出部における演算処理部でのズレ量の基準としている位置は、正極側接続部7との境界である正極活物質5の塗工端および負電極板2の正極側の端面である。すなわち、何れもリジッドな位置であるばかりでなく、かかる位置検出のノイズとなる可能性があるアルミ箔である正極側接続部7はX線画像から除去されているので、検出基準となる位置P1,P2をX線画像上で明確に特定できる。この結果、位置ずれも正確に検出することができる。また、積層された各負電極板2の端面の位置P2を算出するとともに各負電極板2の位置P2間でのずれ量の最大値を算出して、所定の基準値内であるか否かを判断し、負電極板2間での位置ずれ検出も行うことができる。さらに、積層された各正電極板1の正極側接続部7との境界である正極活物質5の塗工端の位置P1を算出して、各正電極板1の位置P1間でのずれ量の最大値を算出して、所定の基準値内であるか否かを判断して、正電極板1間での位置ずれ検出も行うことができる。
本発明は二次電池、特にスタック構造を有するリチウムイオン電池の製造を行う産業分野において有効に利用することができる。
I 電極積層体
1 正電極板
2 負電極板
3 正電極シート
4 負電極シート
5 正極活物質
6 負極活物質
7 正極側接続部
8 負極側接続部
9 セパレータ
10 X線検査装置
11 X線照射部
12 X線検出部
12A 演算処理部

Claims (4)

  1. アルミ箔で形成した正電極シートの両面上にそれぞれ正極活物質を塗布して形成した正電極板と、他の金属箔で形成した負電極シートの両面上にそれぞれ負極活物質を塗布して形成した負電極板と絶縁体のセパレータを介して交互に積層した電極積層体の前記セパレータの幅方向の一端面から突出する前記正極活物質の未塗工部分である前記アルミ箔の正極側接続部を含む前記電極積層体の一端面側の所定の領域に向けてX線を照射してX線画像を撮像するとともに、前記X線画像に前記アルミ箔が写らないように前記X線の強度を調整し、
    前記X線画像における前記正極側接続部との境界である正極活物質の塗工端の位置と、前記一端面側の負電極板の端面の位置とを特定し、前記塗工端の位置と、前記一端面側の負極電極板の端面の位置に基づき前記正電極板と前記負電極板との位置ずれを検出することを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法。
  2. 請求項1に記載する電極板の位置ずれ検出方法において、
    前記X線は、X線管における管電圧を70kV以上、管電流を280μA以上として得る強度であることを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法。
  3. アルミ箔で形成した正電極シートの両面上にそれぞれ正極活物質を塗布して形成した正電極板と、他の金属箔で形成した負電極シートの両面上にそれぞれ負極活物質を塗布して形成した負電極板とを絶縁体のセパレータを介して交互に積層した電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置において、
    前記電極積層体の前記セパレータの幅方向の一端面から突出する前記正極活物質の未塗工部分である前記アルミ箔を挟んで配設されたX線照射部及びX線検出部と、演算処理部と、を有するとともに、
    前記X線照射部は、前記電極積層体の前記セパレータの幅方向の一端面から突出する前記正極活物質の未塗工部分である前記アルミ箔の正極側接続部を含む前記電極積層体の一端面側の所定の領域に前記アルミ箔を透過する強度のX線を照射し、
    前記X線検出部は、照射された前記X線を入射して前記所定の領域の画像を表すX線画像信号を生成し、
    前記演算処理部は、前記X線画像信号に基づき、前記正極側接続部との境界である正極活物質の塗工端の位置と、前記一端面側の負電極板の端面の位置とを特定し、前記一端面側の塗工端の位置と、前記負極電極板の端面の位置に基づき正電極板と負電極板との前記電極積層体との位置ずれを検出する演算処理部を内蔵してることを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置。
  4. 請求項3に記載する電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置において、
    前記X線照射部においてX線を照射するX線管は、管電圧を70kV以上、管電流を280μA以上としたことを特徴とする電極積層体における電極板の位置ずれ検出装置。
JP2016569358A 2015-01-13 2016-01-12 電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置 Active JP6402308B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015004462 2015-01-13
JP2015004462 2015-01-13
PCT/JP2016/050682 WO2016114257A1 (ja) 2015-01-13 2016-01-12 電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016114257A1 true JPWO2016114257A1 (ja) 2017-10-19
JP6402308B2 JP6402308B2 (ja) 2018-10-10

Family

ID=56405802

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016569358A Active JP6402308B2 (ja) 2015-01-13 2016-01-12 電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6402308B2 (ja)
KR (1) KR101956348B1 (ja)
CN (1) CN107112578B (ja)
TW (1) TWI660536B (ja)
WO (1) WO2016114257A1 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106091999B (zh) * 2016-07-26 2018-08-21 东莞新能源科技有限公司 一种极片错位的检测方法和装置
JP2019067645A (ja) * 2017-10-02 2019-04-25 オートモーティブエナジーサプライ株式会社 電池の検査方法
JP6563469B2 (ja) * 2017-12-15 2019-08-21 本田技研工業株式会社 電極接合方法及び電極接合装置
CN108180826B (zh) * 2017-12-20 2023-12-22 深圳湾新科技有限公司 一种锂电池卷绕层边界的检测设备及检测方法
KR102217201B1 (ko) 2018-03-29 2021-02-18 주식회사 엘지화학 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법
KR102629119B1 (ko) 2018-05-02 2024-01-26 에스케이온 주식회사 전극판 정렬 상태 검사 시스템 및 방법
CN108982534B (zh) * 2018-08-22 2020-12-04 合肥工业大学 一种铝箔输送位置和状态自动检测装置及其检测方法
KR102236815B1 (ko) * 2020-10-16 2021-04-06 박영호 이차전지 전극 탭의 누락 및 접힘 결함 검출장치
CN220895561U (zh) * 2021-03-08 2024-05-03 株式会社Lg新能源 电极组件的制造装置
CN113078422B (zh) * 2021-03-23 2022-11-04 东莞新能安科技有限公司 电芯及用电设备
DE102021117152A1 (de) 2021-07-02 2023-01-05 Volkswagen Aktiengesellschaft Verfahren zur Bestimmung einer Ablagegenauigkeit einer Mehrzahl von Elektrodenblättern in einem Stapel
JP7429722B2 (ja) * 2022-01-25 2024-02-08 プライムプラネットエナジー&ソリューションズ株式会社 蓄電デバイスの箔位置特定方法及び蓄電デバイスの箔間距離算出方法
DE102023202492B3 (de) 2023-03-21 2024-03-28 Volkswagen Aktiengesellschaft Verfahren zur Prüfung eines Batterieelementestapels bezüglich der Lage von Batterieelementschichten

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004022206A (ja) * 2002-06-12 2004-01-22 Toshiba It & Control Systems Corp 電池検査装置
JP2011040371A (ja) * 2009-08-14 2011-02-24 Sb Limotive Co Ltd 二次電池用電極板及びこれを含む二次電池
JP2011039014A (ja) * 2009-08-06 2011-02-24 Toshiba It & Control Systems Corp 電池検査装置
JP2012164620A (ja) * 2011-02-04 2012-08-30 Toshiba It & Control Systems Corp 電池検査装置及び電池検査方法
JP2013187193A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Samsung Sdi Co Ltd 二次電池および二次電池の製造方法
JP2014011114A (ja) * 2012-07-02 2014-01-20 Toyota Industries Corp 蓄電装置及び電極組立体の製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005056602A (ja) * 2003-08-05 2005-03-03 Seimi Chem Co Ltd リチウム二次電池用正極活物質粉末およびその評価方法
JP2008282644A (ja) * 2007-05-10 2008-11-20 Toyota Motor Corp 燃料電池に用いられる膜電極接合体の劣化判定
JP4716138B2 (ja) * 2008-01-11 2011-07-06 トヨタ自動車株式会社 電極巻取装置、帯状電極と帯状セパレータとのずれ検知方法、当該ずれ量測定方法、当該ずれ量補正方法、および、電極巻取方法
JP2010096548A (ja) * 2008-10-14 2010-04-30 Nissan Motor Co Ltd 非水電解質二次電池検査装置
JP5559618B2 (ja) * 2010-06-21 2014-07-23 株式会社日立パワーソリューションズ タブ付き電極材を内装した筒型電池のタブ検査方法、その検査方法に用いるタブ検査装置、及びタブマーキング装置
CN103163549A (zh) * 2011-12-19 2013-06-19 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于微通道板拼接的大面积x射线脉冲探测装置
JP5502132B2 (ja) * 2012-04-20 2014-05-28 Ckd株式会社 検査装置
JP6287108B2 (ja) * 2013-11-25 2018-03-07 住友金属鉱山株式会社 X線分析用非水系電解質二次電池

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004022206A (ja) * 2002-06-12 2004-01-22 Toshiba It & Control Systems Corp 電池検査装置
JP2011039014A (ja) * 2009-08-06 2011-02-24 Toshiba It & Control Systems Corp 電池検査装置
JP2011040371A (ja) * 2009-08-14 2011-02-24 Sb Limotive Co Ltd 二次電池用電極板及びこれを含む二次電池
JP2012164620A (ja) * 2011-02-04 2012-08-30 Toshiba It & Control Systems Corp 電池検査装置及び電池検査方法
JP2013187193A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Samsung Sdi Co Ltd 二次電池および二次電池の製造方法
JP2014011114A (ja) * 2012-07-02 2014-01-20 Toyota Industries Corp 蓄電装置及び電極組立体の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6402308B2 (ja) 2018-10-10
WO2016114257A1 (ja) 2016-07-21
TW201640729A (zh) 2016-11-16
KR20170102973A (ko) 2017-09-12
CN107112578A (zh) 2017-08-29
CN107112578B (zh) 2019-07-05
KR101956348B1 (ko) 2019-03-08
TWI660536B (zh) 2019-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6402308B2 (ja) 電極積層体における電極板の位置ずれ検出方法およびその装置
KR102217201B1 (ko) 전극조립체의 얼라인 검사 장치 및 그를 이용한 전극조립체의 얼라인 검사 방법
JP2015176701A (ja) 蓄電装置及び蓄電装置の製造方法
JP2015170402A (ja) タブリードの検査方法及びタブリードの検査装置
JP2020017483A (ja) 蓄電装置の溶接検査方法
JP2016038995A (ja) 蓄電装置および蓄電装置の製造方法
JP2016012549A (ja) 電極積層体のセパレータの位置ずれ検出方法およびその装置
JP6772687B2 (ja) 電極積層体の検査方法
JP2015065178A (ja) フィルム外装電池の製造方法
JP2016062728A (ja) 電極組立体の異物検出方法および電極組立体の異物検出装置
JP6248751B2 (ja) 蓄電装置の検査方法
CN116499399A (zh) 蓄电设备的箔位置确定方法和蓄电设备的箔间距离计算方法
JP6922328B2 (ja) 電極組立体の製造方法
JP2007035288A (ja) 鉛蓄電池の検査方法
JP2009105193A (ja) キャパシタユニットの検査方法
JP2018190509A (ja) 蓄電装置の検査方法
JP6819449B2 (ja) 蓄電装置の検査方法
JP5655773B2 (ja) 電極材料の塗布量測定方法
JP2009059869A (ja) キャパシタの検査方法
KR102537425B1 (ko) 적층 전극체, 수지 고정 적층 전극체, 및 전고체 전지
JP2014007196A (ja) 電子部品の製造方法、および電子部品の製造装置
JP6507558B2 (ja) 電池アッセンブリ及び電池アッセンブリの接続状態の診断装置
JP2017208294A (ja) 電極の検査方法
JP2020013706A (ja) 蓄電装置及び蓄電装置の製造方法
JP2023177103A (ja) 電極積層体の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170712

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170712

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170719

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170802

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180613

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180710

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6402308

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250