JPWO2015189955A1 - Multilayer substrate manufacturing method and multilayer substrate - Google Patents

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直之 齋藤
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峰進 樋口
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Abstract

多層基板の製造方法は、平板形状のコア基材の少なくとも一方の面にパターン化された第1の導電層を形成してコア基板を形成するコア基板形成工程と、前記コア基板の両面側に絶縁材料からなる絶縁基材を配し、さらにその外側に金属膜を配する積層工程と、前記コア基板、前記絶縁基材、前記金属膜を真空加圧により互いに押しつけるプレス工程と、前記金属膜をパターン化して第2の導電層を形成するパターン形成工程とを備え、前記プレス工程にて、前記コア基材を断面波形形状となるように複数箇所を撓ませる。A manufacturing method of a multilayer substrate includes a core substrate forming step of forming a core substrate by forming a patterned first conductive layer on at least one surface of a flat-plate-shaped core base material; A stacking step of disposing an insulating base material made of an insulating material and further disposing a metal film on the outside thereof; a pressing step of pressing the core substrate, the insulating base material, and the metal film against each other by vacuum pressure; and the metal film And forming a second conductive layer by patterning, and in the pressing step, the core base material is bent at a plurality of locations so as to have a corrugated cross section.

Description

本発明は、基板製造方法に関し、より詳しくは、導電層が形成されたコア基材と絶縁基材とを積層してプレスする工程を含む多層基板の製造方法及び多層基板に関する。   The present invention relates to a substrate manufacturing method, and more particularly, to a multilayer substrate manufacturing method and a multilayer substrate including a step of laminating and pressing a core base material on which a conductive layer is formed and an insulating base material.

配線パターンとして形成された導電層を基板の両面及び内部に複数有するいわゆる多層基板が知られている。この多層基板は、両面に導電層を有するコア基板に対して絶縁基材と金属膜を両側からそれぞれ積層してプレスして製造される。プレスして絶縁基材が硬化した際に、絶縁基材内に気泡による空洞が生じてしまうことがある。このような空洞をボイドあるいはかすれという。このボイドはコア基板の両面に導電層がない部分で生じることが多く、それはこの部分で絶縁基材が硬化後に他の部分に比べて厚くなってしまうことが原因と考えられている。導電層がない部分が厚くなるのは、プレス時にコア基板に対して導電層がある部分とない部分で圧力が不均一にかかってしまい、導電層がない部分が低圧力となってしまうためである。このような現象は、実装リフロー時に層間剥離を誘発させたり、耐絶縁劣化特性を低下させるなど、基板の信頼性品質を損なう恐れがある。   A so-called multilayer substrate having a plurality of conductive layers formed as wiring patterns on both sides and inside of the substrate is known. This multilayer substrate is manufactured by laminating an insulating base material and a metal film from both sides to a core substrate having a conductive layer on both sides and pressing it. When the insulating base material is cured by pressing, voids may be generated in the insulating base material. Such a cavity is called void or blur. This void often occurs in a portion where there is no conductive layer on both surfaces of the core substrate, which is considered to be caused by the fact that the insulating base becomes thicker than the other portions after curing in this portion. The part without the conductive layer becomes thick because the pressure is applied unevenly between the part with and without the conductive layer against the core substrate during pressing, and the part without the conductive layer becomes low pressure. is there. Such a phenomenon may impair the reliability quality of the substrate, such as inducing delamination during mounting reflow or reducing the resistance to insulation deterioration.

上記ボイドやかすれを防止するため、導電層がない部分に対応した部分に凸部を形成した凸状部材を積層してプレスする方法が知られている(例えば特許文献1参照)。この方法では、プレス時の圧力の不均一化を抑制し、ボイドやかすれが発生しないようにしている。他の方法としては、金属膜の外側にフィルムをさらに積層することで、プレス時の真空を利用することで金属膜をフィルムごと撓ませ、導電層がない部分に入り込ませて圧力をこの部分にかけるものがある。   In order to prevent the voids and fading, a method of laminating and pressing a convex member in which a convex portion is formed in a portion corresponding to a portion without a conductive layer is known (see, for example, Patent Document 1). In this method, pressure nonuniformity during pressing is suppressed, and voids and blurring are prevented from occurring. As another method, by laminating a film on the outside of the metal film, the metal film is bent together with the film by using the vacuum during pressing, and the pressure is applied to this part by entering the part without the conductive layer. There is something to hang.

しかしながら、特許文献1の方法では、積層時に凸状部材が必要となるので、その厚みの分多層基板の製造枚数が減少してしまう。またコア基板の導電層のデザインに応じた位置に凸部が形成された凸状部材を用意する必要がある。近年、スマートフォンに代表されるようにマザーボード及びモジュール基板は高密度化、複雑化しているため、それぞれに応じて凸状部材を用意することは現実的ではない。   However, in the method of Patent Document 1, since a convex member is required at the time of lamination, the number of manufactured multilayer substrates is reduced by the thickness. Moreover, it is necessary to prepare a convex member having a convex portion formed at a position corresponding to the design of the conductive layer of the core substrate. In recent years, as represented by smartphones, mother boards and module boards have become denser and more complicated, so it is not realistic to prepare convex members according to each.

また他の方法として上述したフィルムをさらに積層する方法は、金属膜がフィルムごと撓んだ状態となり、基板表面の平坦度が悪化することになる。このことは将来的にエッチングレジストであるドライフィルムの金属膜への密着を阻害することになり、エッチング処理により回路不良を生じてしまう。また撓んだ金属膜で回路を形成するので、部品実装時にワイヤボンディング不良を生じる原因となる。   Moreover, the method of further laminating the above-described film as another method is that the metal film is bent together with the film, and the flatness of the substrate surface is deteriorated. This will hinder the adhesion of the dry film, which is an etching resist, to the metal film in the future, resulting in a circuit failure due to the etching process. In addition, since the circuit is formed of a bent metal film, it causes a wire bonding failure when mounting a component.

特開2009−177021号公報JP 2009-177021 A

本発明は、上記従来技術を考慮したものであり、ボイドやかすれが生じることのない多層基板の製造方法及び多層基板を提供することを目的としている。   The present invention has been made in consideration of the above-described prior art, and an object of the present invention is to provide a method for manufacturing a multilayer substrate and a multilayer substrate that do not cause voids or blurring.

前記目的を達成するため、本発明では、平板形状のコア基材の少なくとも一方の面にパターン化された第1の導電層を形成してコア基板を形成するコア基板形成工程と、前記コア基板の両面側に絶縁材料からなる絶縁基材を配し、さらにその外側に金属膜を配する積層工程と、前記コア基板、前記絶縁基材、前記金属膜を真空加圧により互いに押しつけるプレス工程と、前記金属膜をパターン化して第2の導電層を形成するパターン形成工程とを備え、前記プレス工程にて、前記コア基材を断面波形形状となるように複数箇所を撓ませることを特徴とする多層基板の製造方法を提供する。   In order to achieve the above object, in the present invention, a core substrate forming step of forming a core substrate by forming a patterned first conductive layer on at least one surface of a flat core substrate, and the core substrate A laminating step of disposing an insulating base material made of an insulating material on both sides of the substrate and further disposing a metal film on the outer side thereof; A pattern forming step of patterning the metal film to form a second conductive layer, and in the pressing step, the core base material is bent at a plurality of locations so as to have a corrugated cross section. A method for manufacturing a multilayer substrate is provided.

好ましくは、前記コア基板形成工程にて、前記コア基材の弾性率は、前記積層工程にて積層されるべき前記絶縁基材の弾性率より低い。   Preferably, in the core substrate forming step, the elastic modulus of the core base material is lower than the elastic modulus of the insulating base material to be laminated in the laminating step.

好ましくは、前記コア基板形成工程にて、前記第1の導電層を形成する前に前記コア基材の表面全域に平滑剤を配する平滑処理を施し、該平滑剤は、一分子内にOH基又はOH生成基、アジド基、トリアジン環の全てが含まれている。   Preferably, in the core substrate forming step, before the first conductive layer is formed, a smoothing treatment is performed to dispose a smoothing agent over the entire surface of the core base material, and the smoothing agent has OH in one molecule. All groups or OH-forming groups, azide groups, and triazine rings are included.

また、前記コア基材の両面側にそれぞれ前記絶縁基材が配され、前記第1の導電層は、前記コア基材の両面を製品毎に区画して形成された製品領域内に形成され、該製品領域は前記コア基材から突出して設けられた枠により囲まれて形成され、前記コア基材は、前記枠を介して前記製品領域と区分けされた捨て領域を有し、前記捨て領域には、前記第1の導電層が非形成であることを特徴とする多層基板を提供する。   Further, the insulating base material is disposed on both sides of the core base material, and the first conductive layer is formed in a product region formed by dividing both surfaces of the core base material for each product, The product region is formed by being surrounded by a frame provided so as to protrude from the core base material, and the core base material has a waste region separated from the product region through the frame, Provides a multilayer substrate wherein the first conductive layer is not formed.

本発明によれば、プレス工程にて、コア基材が断面波形形状となるように複数箇所を撓ませるため、上下方向からかかる圧力に対してコア基材は均一に圧力を受けることになる。すなわちコア基材が圧力を均一に受けるので、絶縁基材はその全域において均一に圧力をかけられることになる。このためボイドが発生することを防止でき、かすれも防止できる。   According to the present invention, in the pressing step, a plurality of locations are bent so that the core base material has a corrugated cross-sectional shape. Therefore, the core base material is uniformly subjected to pressure applied from above and below. That is, since the core base material receives the pressure uniformly, the insulating base material can be uniformly pressed over the entire area. For this reason, generation | occurrence | production of a void can be prevented and a blur can also be prevented.

また、コア基材の弾性率を絶縁基材の弾性率より低くすることで、プレス工程で圧力がかかったときにコア基材は絶縁基材よりも圧力の影響を受けて圧力を均一に受けるように追従し、その形状を変化させる。このため、絶縁基材はコア基材とプレス機との間でその全域で均一に押圧され、ボイドの発生を防止できる。またかすれも防止できる。   In addition, by making the elastic modulus of the core base material lower than that of the insulating base material, the core base material is more uniformly affected by the pressure than the insulating base material when pressure is applied during the pressing process. To follow and change its shape. For this reason, an insulating base material is uniformly pressed in the whole area between a core base material and a press, and generation | occurrence | production of a void can be prevented. Also, it can prevent fading.

また、コア基板形成工程にてコア基材の表面全域に平滑剤を配することで、コア基材の表面が平滑化される。このため、プレス工程にて絶縁基材がコア基材の表面に接して流動しやすくなり、コア基材の全域に絶縁基材が行き渡る。このため、ボイドの発生をさらに抑制できる。なお、コア基材の表面を平滑化してしまうとコア基材と第1の導電層との接着性(めっき付着性)が低下するおそれがあるが、一分子内にOH基又はOH生成基、アジド基、トリアジン環の全てが含まれている平滑剤を利用することで、金属からなる第1の導電層とコア基材との接着性能が向上することが分かっている。このため第1の導電層との接着性を向上させるために通常行っているコア基材表面の粗面化処理が不要となる。   Moreover, the surface of a core base material is smooth | blunted by arrange | positioning a smoothing agent to the whole surface of a core base material in a core board | substrate formation process. For this reason, an insulating base material comes into contact with the surface of a core base material in a press process, and becomes easy to flow, and an insulating base material spreads over the whole area of a core base material. For this reason, generation | occurrence | production of a void can further be suppressed. In addition, if the surface of the core base material is smoothed, the adhesiveness (plating adhesion) between the core base material and the first conductive layer may be reduced, but OH group or OH generating group in one molecule, It has been found that the use of a smoothing agent containing all of an azide group and a triazine ring improves the adhesion performance between the first conductive layer made of metal and the core substrate. For this reason, the roughening process of the core base material surface normally performed in order to improve adhesiveness with a 1st conductive layer becomes unnecessary.

本発明に係る多層基板の製造方法を示すフローチャートである。3 is a flowchart showing a method for manufacturing a multilayer substrate according to the present invention. コア基板の概略平面図である。It is a schematic plan view of a core substrate. 図1のA−A断面図である。It is AA sectional drawing of FIG. 積層工程を示す概略図である。It is the schematic which shows a lamination process. プレス工程を示す概略図である。It is the schematic which shows a press process. パターン形成工程を示す概略図であり、且つ本発明に係る多層基板の概略図である。It is the schematic which shows a pattern formation process, and is the schematic of the multilayer substrate which concerns on this invention.

図1に示すフローチャートを図2〜図6を参照して説明する。   The flowchart shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS.

本発明に係る多層基板の製造方法は、コア基板形成工程から始まる(ステップS1)。このコア基板形成工程では、図2及び図3に示すようなコア基板1を形成する。具体的には、平板形状のコア基材2の少なくとも一方の面(図の例では両方の面)に第1の導電層3を形成する。第1の導電層3は例えばアディティブ法やサブトラクティブ法を用いて導体パターンとして形成されている。なお、図2ではパターン化された第1の導電層3は省略している。ここでコア基板1は製品基板となるべき複数(図の例では6個)の製品領域4を一つのコア基材2に有して形成されている。したがって、コア基板1から複数の製品基板を得ることができる。コア基材2のうち、製品領域4以外の領域は捨て領域6となっている。   The multilayer substrate manufacturing method according to the present invention starts with a core substrate forming step (step S1). In this core substrate forming step, the core substrate 1 as shown in FIGS. 2 and 3 is formed. Specifically, the first conductive layer 3 is formed on at least one surface (both surfaces in the illustrated example) of the flat core substrate 2. The first conductive layer 3 is formed as a conductor pattern using, for example, an additive method or a subtractive method. In FIG. 2, the patterned first conductive layer 3 is omitted. Here, the core substrate 1 is formed by having a plurality of product regions 4 (six in the example in the figure) product regions 4 to be product substrates in one core base material 2. Therefore, a plurality of product substrates can be obtained from the core substrate 1. Of the core substrate 2, the area other than the product area 4 is a discarded area 6.

各製品領域4の周囲は枠5で囲まれている。枠5は、コア基材2から突出するように設けられ、各製品領域4と捨て領域6との境界の役割を果たしている。捨て領域6では、コア基材2の表面が露出した状態となっている。製品領域4には、上述したように導電層3が形成されている。製品領域4には、両面側に導電層3が配されていない両面セクション12と、片面側のみに導電層3が配されていない片面セクション13とが形成されている。   Each product region 4 is surrounded by a frame 5. The frame 5 is provided so as to protrude from the core substrate 2, and plays a role of a boundary between each product region 4 and the disposal region 6. In the discard area 6, the surface of the core substrate 2 is exposed. In the product region 4, the conductive layer 3 is formed as described above. In the product region 4, a double-sided section 12 in which the conductive layer 3 is not disposed on both sides and a single-sided section 13 in which the conductive layer 3 is not disposed only on one side are formed.

次に、積層工程を行う(ステップS2)。この積層工程では、図4に示すように、コア基板1の両面側に絶縁材料からなる絶縁基材7を配し、さらにその外側に金属膜8を配する。絶縁基材7は例えばプリプレグであり、このプリプレグはエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂から形成されている。絶縁基材7もコア基材2と同様、平板形状である。なお、絶縁基材7にはガラスクロス(不図示)が略全域に亘って埋設されている。ガラスクロスはガラス繊維の糸で織った布であり、シート形状を有している。   Next, a lamination process is performed (step S2). In this lamination process, as shown in FIG. 4, an insulating base material 7 made of an insulating material is disposed on both sides of the core substrate 1, and a metal film 8 is disposed on the outer side thereof. The insulating base material 7 is a prepreg, for example, and this prepreg is formed from a thermosetting resin such as an epoxy resin. The insulating base material 7 has a flat plate shape like the core base material 2. Note that a glass cloth (not shown) is embedded in the insulating base material 7 over substantially the entire area. The glass cloth is a cloth woven with glass fiber yarns and has a sheet shape.

一方で金属膜8は銅箔である。支持板9は絶縁基材7やコア基材2と同様平板形状であり、剛性のあるSUS(ステンレス)板である。コア基板1に対しては、支持板9が最も外側となるように積層される。   On the other hand, the metal film 8 is a copper foil. The support plate 9 has a flat plate shape like the insulating substrate 7 and the core substrate 2, and is a rigid SUS (stainless steel) plate. The core board 1 is laminated so that the support plate 9 is on the outermost side.

次に、プレス工程を行う(ステップS3)。このプレス工程では、図5に示すように、コア基板1、絶縁基材7、金属膜8を真空加圧により互いに押しつける。具体的には、プレス機(不図示)を用いて支持板9を押圧し、加熱により絶縁基材7を流動させる。これにより、コア基板1の第1の導電層3がない部分(両面セクション12や片面セクション13)や捨て領域6の隅々まで絶縁基材7を行き渡らせる。   Next, a pressing process is performed (step S3). In this pressing step, as shown in FIG. 5, the core substrate 1, the insulating base material 7, and the metal film 8 are pressed against each other by vacuum pressurization. Specifically, the support plate 9 is pressed using a press machine (not shown), and the insulating base material 7 is caused to flow by heating. Thereby, the insulating base material 7 is spread all over the part of the core substrate 1 where the first conductive layer 3 is not present (the double-sided section 12 and the single-sided section 13) and every corner of the disposal region 6.

このとき、コア基材2を断面波形形状となるように複数箇所を撓ませる。すなわちコア基材2を変形させる。このコア基材2の変形は、プレス機の押圧により押圧力がコア基材2に伝達することで行われる。このようなコア基材2の変形によって、上下方向からかかる圧力に対してコア基材2は均一に圧力を受けることになる。コア基材2が圧力を均一に受けるので、絶縁基材7はその全域において均一に圧力をかけられることになる。詳しくいえば、上下方向からの押圧によって絶縁基材7が流動するが、捨て領域6などのコア基材2の表面が露出している領域は第1の導電層8や枠5がある部分に比べて低圧となっている。この部分では絶縁基材7が圧密とならなくなってしまうが、真空加圧によりコア基材2が変形することで、押圧方向に対してほぼ均等な圧力を受けるようになる。このためボイドが発生することを防止でき、かすれも防止できる。   At this time, the core base material 2 is bent at a plurality of locations so as to have a corrugated cross section. That is, the core substrate 2 is deformed. The deformation of the core base material 2 is performed by transmitting a pressing force to the core base material 2 by pressing of a press. Due to the deformation of the core base material 2, the core base material 2 receives a uniform pressure with respect to the pressure applied from above and below. Since the core base material 2 receives the pressure uniformly, the insulating base material 7 can be uniformly pressurized over the entire area. More specifically, the insulating base material 7 flows by pressing from above and below, but the area where the surface of the core base material 2 is exposed, such as the discarded area 6, is a portion where the first conductive layer 8 and the frame 5 are located. Compared to low pressure. In this portion, the insulating base material 7 does not become consolidated, but the core base material 2 is deformed by the vacuum pressurization, so that a substantially uniform pressure is received in the pressing direction. For this reason, generation | occurrence | production of a void can be prevented and a blur can also be prevented.

このようなプレス工程でのコア基材2の変形は次のようにして具体的に実現することができる。すなわち、コア基材2として、絶縁基材7の弾性率(引張り弾性率特性)より低い弾性率の材料を用いる。例えば、ポリイミドやPET(ポリエチレンテレフタレート)、あるいはPEN(ポリエチレンナフタレート)である。これらの材料は、温度100℃〜200℃でも最小弾性率が3GPa〜5GPaであり、通常のプリプレグたる絶縁基材7よりも弾性率は低い。このような材料を用いることでコア基材2はかなりの可撓性を有することになり、プレス工程での変形が促進されることになる。   The deformation of the core substrate 2 in such a pressing process can be specifically realized as follows. That is, a material having an elastic modulus lower than the elastic modulus (tensile elastic modulus characteristic) of the insulating substrate 7 is used as the core substrate 2. For example, polyimide, PET (polyethylene terephthalate), or PEN (polyethylene naphthalate). These materials have a minimum elastic modulus of 3 GPa to 5 GPa even at a temperature of 100 ° C. to 200 ° C., and the elastic modulus is lower than that of the insulating base material 7 which is a normal prepreg. By using such a material, the core substrate 2 has considerable flexibility, and deformation in the pressing process is promoted.

このように、コア基材2の弾性率を絶縁基材7の弾性率より低くすることで、プレス工程で圧力がかかったときにコア基材2は絶縁基材7よりも圧力の影響を受けて圧力を均一に受けるように追従し、その形状を変化させる。このため、絶縁基材7はコア基材2とプレス機との間でその全域で均一に押圧され、ボイドの発生を防止できる。またかすれも防止できる。   Thus, by making the elastic modulus of the core base material 2 lower than that of the insulating base material 7, the core base material 2 is more affected by the pressure than the insulating base material 7 when pressure is applied in the pressing process. To follow the pressure evenly and change its shape. For this reason, the insulating base material 7 is uniformly pressed in the whole area between the core base material 2 and a press machine, and generation | occurrence | production of a void can be prevented. Also, it can prevent fading.

次に、パターン形成工程を行う(ステップS4)。このパターン形成工程では、図6に示すように、金属膜8をパターン化して第2の導電層10を形成する。具体的には、まず支持板9を除去し、露出した金属膜8に対して印刷法または写真法により所定回路のマスク形成を行った後、塩化第二鉄等のエッチング液により不要な部分の金属膜8を除去する。いわゆるサブトラクティブ法である。これにより第2の導電層10が形成される。   Next, a pattern formation process is performed (step S4). In this pattern forming step, the second conductive layer 10 is formed by patterning the metal film 8 as shown in FIG. Specifically, first, the support plate 9 is removed, and a mask of a predetermined circuit is formed on the exposed metal film 8 by a printing method or a photographic method. The metal film 8 is removed. This is a so-called subtractive method. Thereby, the second conductive layer 10 is formed.

このようにして、本発明に係る多層基板11が製造される。すなわち多層基板11は、コア基材2の両面側にそれぞれ絶縁基材7が配されて形成されている。コア基材2の表面は複数の製品領域4と捨て領域6が形成され、これらは枠5にて区分けされている。換言すれば、枠5は製品領域4と捨て領域6との境界として機能している。製品領域4には導体パターンとしての第1の導電層3が形成されている。さらに、製品領域4には両面セクション12と片面セクション13とが形成されている。将来的には枠5内の製品領域4を含む部分が製品基板として多層基板11から切断されて形成される。一方で捨て領域6には第1の導電層3は形成されていない。   In this way, the multilayer substrate 11 according to the present invention is manufactured. That is, the multilayer substrate 11 is formed by disposing the insulating base material 7 on both sides of the core base material 2. On the surface of the core substrate 2, a plurality of product areas 4 and a discard area 6 are formed, and these are divided by a frame 5. In other words, the frame 5 functions as a boundary between the product area 4 and the discard area 6. A first conductive layer 3 as a conductor pattern is formed in the product region 4. Furthermore, a double-sided section 12 and a single-sided section 13 are formed in the product region 4. In the future, a part including the product region 4 in the frame 5 is cut from the multilayer substrate 11 as a product substrate. On the other hand, the first conductive layer 3 is not formed in the discarded region 6.

多層基板11は、絶縁基材7内にコア基板1の側面のみを露出させて埋設した構成となっている。コア基板1のコア基材2は、断面が波形形状となっていて、その表面は凹凸を繰り返して撓んでいる。一方で、絶縁基材7の露出している両面は平滑である。すなわち、コア基材2の表裏面と多層基板11の表裏面とは平行ではなく、非平行である。このように非平行であるため、プレス工程時にプレス機からの押圧を均一に受けることができている。これは上述したように、第1の導電層3が形成されている領域(製品領域4)と形成されていない領域(捨て領域6)があるようなコア基板1を積層する多層基板11を製造する際にボイドやかすれを防止する観点で有効である。なお、製品領域4内にも第1導電層3が形成されていない部分(両面セクション12や片面セクション13)もあるため、この部分においてもコア基材2は撓んで均一に押圧を受けるように変形する。特に製品領域4内での両面セクション12や片面セクション13でのボイド発生を抑制できることは、製品基板の歩留まりの観点からも有効である。   The multilayer substrate 11 has a configuration in which only the side surface of the core substrate 1 is exposed and embedded in the insulating base material 7. The core base material 2 of the core substrate 1 has a corrugated cross section, and the surface is bent with unevenness repeatedly. On the other hand, both exposed surfaces of the insulating substrate 7 are smooth. That is, the front and back surfaces of the core substrate 2 and the front and back surfaces of the multilayer substrate 11 are not parallel but non-parallel. Thus, since it is non-parallel, the press from a press machine can be received uniformly at the time of a press process. As described above, this manufactures the multilayer substrate 11 on which the core substrate 1 is laminated such that the region where the first conductive layer 3 is formed (product region 4) and the region where the first conductive layer 3 is not formed (discard region 6). This is effective from the viewpoint of preventing voids and blurring. In addition, since there is a part (double-sided section 12 or single-sided section 13) where the first conductive layer 3 is not formed in the product region 4, the core base material 2 is bent and is uniformly pressed in this part. Deform. In particular, the ability to suppress the generation of voids in the double-sided section 12 and the single-sided section 13 in the product region 4 is also effective from the viewpoint of the yield of product substrates.

なお、コア基板形成工程にて、第1の導電層3を形成する前にコア基材2の表面全域に平滑剤を配する平滑処理を施してもよい。このように平滑処理を施すことで、コア基材2の表面が平滑化される。このため、プレス工程にて絶縁基材7がコア基材2の表面に接して流動しやすくなり、コア基材2の全域に絶縁基材7が行き渡る。このため、ボイドの発生をさらに抑制できる。近年基板の薄型化が進み、絶縁基材7が硬化時の反りを軽減させるためにガラス転移点が高く、流動性の低いものが用いられる傾向にある。このため第1の導電層3の側面に密に沿うように絶縁基材7が行き渡らないことが懸念されている。しかしコア基材2の表面に平滑処理を施すことで、絶縁基材7をコア基材2の全面に行き渡らせることができるようになる。   In the core substrate forming step, a smoothing process may be performed in which a smoothing agent is disposed on the entire surface of the core substrate 2 before the first conductive layer 3 is formed. By performing the smoothing process in this way, the surface of the core substrate 2 is smoothed. For this reason, the insulating base material 7 becomes easy to flow in contact with the surface of the core base material 2 in the pressing step, and the insulating base material 7 spreads over the entire area of the core base material 2. For this reason, generation | occurrence | production of a void can further be suppressed. In recent years, the thickness of the substrate has been reduced, and the insulating base material 7 tends to use a glass having a high glass transition point and low fluidity in order to reduce warpage during curing. For this reason, there is a concern that the insulating base material 7 does not spread so as to closely follow the side surface of the first conductive layer 3. However, by subjecting the surface of the core substrate 2 to a smoothing process, the insulating substrate 7 can be spread over the entire surface of the core substrate 2.

平滑剤としては、一分子内にOH基又はOH生成基、アジド基、トリアジン環の全てが含まれているものを用いる。このような化合物からなる平滑剤を用いることで、第1の導電層3とコア基材2との接着性(めっき付着性)を低下することなく、逆に接着性能が向上することが分かっている。このため第1の導電層3の接着性を向上させるために通常行っているコア基材2表面の粗面化処理が不要となる。すなわち平滑処理をすれば、例えば銅めっき処理のような簡単な製法で第1の導電層3を形成できる。   As the smoothing agent, one containing all of OH group or OH generating group, azide group and triazine ring in one molecule is used. By using a smoothing agent made of such a compound, it has been found that the adhesion performance is improved without decreasing the adhesion (plating adhesion) between the first conductive layer 3 and the core substrate 2. Yes. For this reason, the roughening process of the surface of the core base material 2 normally performed in order to improve the adhesiveness of the 1st conductive layer 3 becomes unnecessary. That is, if the smoothing process is performed, the first conductive layer 3 can be formed by a simple manufacturing method such as a copper plating process.

ここで、平滑剤としては、以下のような化学式のものが用いられる。   Here, as the smoothing agent, one having the following chemical formula is used.

Figure 2015189955
Figure 2015189955

ここで、Rは炭化水素基であり、Rはアルコキシシリル基を含む基である。また、QはN又はNR(R)である(R、Rは炭化水素基)。このような化学式で示される化合物の例としては、6−アジド−2,4−ビス(エタノールアミノ)−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(ヘキサノールアミノ)−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(デカノールアミノ)−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3,4−ビスヒドロキフェニル)アミノ)−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(2,2−ジヒドロキシメチル)エチルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(トリスメタノールメチル)メチルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−(1,2−ジヒドロキシプロピル)アミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−トリエトキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン(TE−MAZ)、6−アジド−2,4−ビス(3−メチルエチルケトキシミノシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−メチルエチルケトキシミノシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−トリイソプロポキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−トリアセトキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−トリイソプロペノオキシシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−トリイソプロポキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−トリベンゾキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(ジエタノールアミノ)−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(ジヘキサノールアミノ)−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(ジデカノールアミノ)−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(3−トリエトキシシリルプロピル)アミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(6−トリエトキシシリルへキシル)アミノ−1,3,5−トリアジン、6−アジド−2,4−ビス(10−トリエトキシシリルドデシル)アミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(N,N−ジエタノール)アミノ−1,3,5−トリアジン(DEA−DAZ)、2,4−ジアジド−6−(N,N−ジデカノール)アミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(3,4−ビスヒドロキフェニル)アミノ)−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(2,2−ジヒドロキシメチル)エチルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(トリスメタノールメチル)メチルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(1,2−ジヒドロキシプロピル)アミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(3−トリエトキシシリルプロピル)アミノ−1,3,5−トリアジン(TE−DAZ)、2,4−ジアジド−6−ビス(3−メチルエチルケトキシミノシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−ビス(3−メチルエチルケトキシミノシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(3−トリイソプロポキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(3−トリアセトキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(3−トリイソプロペノオキシシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(3−トリイソプロポキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(3−トリベンゾキシシリル)プロピルアミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−ビス(ジヒドロキシエチル)アミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(N,N−ジヘキサノール)アミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(N,N−ジデカノール)アミノ−1,3,5−トリアジン、2,4−ジアジド−6−(N,N−ビス(3−トリエトキシシリルプロピル)アミノ−1,3,5−トリアジン(BTE−DAZ)、2,4−ジアジド−6−(N,N−ビス(6−トリエトキシシリルヘキシル)アミノ−1,3,5−トリアジン、6−(11−トリエトキシシリルウンデシル)アミノ−1,3,5−トリアジン−2,4−ジアジド(TEU−DAZ)、6−(3−ジエトキシメチルシリルプロピル)アミノ−1,3,5−トリアジン−2,4−ジアジド(DEM−DAZ)、6−(4−トリエトキシシリルブチル)アミノ−1,3,5−トリアジン−2,4−ジアジド(TEB−DAZ)等が挙げられる。Here, R 1 is a hydrocarbon group, and R 2 is a group containing an alkoxysilyl group. Q is N 3 or NR 3 (R 4 ) (R 3 and R 4 are hydrocarbon groups). Examples of the compound represented by such a chemical formula include 6-azido-2,4-bis (ethanolamino) -1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (hexanolamino) -1. , 3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (decanolamino) -1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (3,4-bishydroxyphenyl) amino) -1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (2,2-dihydroxymethyl) ethylamino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (trismethanolmethyl) ) Methylamino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4- (1,2-dihydroxypropyl) amino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (3- Triethoxysilyl) pro Ruamino-1,3,5-triazine (TE-MAZ), 6-azido-2,4-bis (3-methylethylketoximinosilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4 -Bis (3-methylethylketoximinosilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (3-triisopropoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 6 -Azido-2,4-bis (3-triacetoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (3-triisopropenooxysilyl) propylamino-1, 3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (3-triisopropoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (3 -Tribenzoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (diethanolamino) -1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (di) Hexanolamino) -1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (didecanolamino) -1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (3-triethoxy Silylpropyl) amino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (6-triethoxysilylhexyl) amino-1,3,5-triazine, 6-azido-2,4-bis (10-triethoxysilyldodecyl) amino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (N, N-diethanol) amino-1,3,5-triazine (DEA-DAZ), 2, 4-diazide 6- (N, N-didecanol) amino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (3,4-bishydroxyphenyl) amino) -1,3,5-triazine, 2,4 -Diazido-6- (2,2-dihydroxymethyl) ethylamino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (trismethanolmethyl) methylamino-1,3,5-triazine, 2, 4-diazido-6- (1,2-dihydroxypropyl) amino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (3-triethoxysilylpropyl) amino-1,3,5-triazine ( TE-DAZ), 2,4-diazido-6-bis (3-methylethylketoximinosilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6-bis (3-methylethylke) Ximinosilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (3-triisopropoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (3 -Triacetoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 2,4-diazide-6- (3-triisopropenooxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 2,4-diazide -6- (3-triisopropoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (3-tribenzoxysilyl) propylamino-1,3,5-triazine, 2 , 4-diazido-6-bis (dihydroxyethyl) amino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (N, N-dihexanol) amino-1,3 , 5-triazine, 2,4-diazido-6- (N, N-didecanol) amino-1,3,5-triazine, 2,4-diazido-6- (N, N-bis (3-triethoxysilyl) Propyl) amino-1,3,5-triazine (BTE-DAZ), 2,4-diazido-6- (N, N-bis (6-triethoxysilylhexyl) amino-1,3,5-triazine, 6 -(11-Triethoxysilylundecyl) amino-1,3,5-triazine-2,4-diazide (TEU-DAZ), 6- (3-diethoxymethylsilylpropyl) amino-1,3,5- Triazine-2,4-diazide (DEM-DAZ), 6- (4-triethoxysilylbutyl) amino-1,3,5-triazine-2,4-diazide (TEB-DAZ) and the like can be mentioned.

1:コア基板、2:コア基材、3:第1の導電層、4:製品領域、5:枠、6:捨て領域、7:絶縁基材、8:金属膜、9:支持板、10:第2の導電層、11:多層基板、12:両面セクション、13:片面セクション 1: Core substrate, 2: Core base material, 3: First conductive layer, 4: Product region, 5: Frame, 6: Discarded region, 7: Insulating base material, 8: Metal film, 9: Support plate, 10 : Second conductive layer, 11: multilayer substrate, 12: double-sided section, 13: single-sided section

Claims (4)

平板形状のコア基材の少なくとも一方の面にパターン化された第1の導電層を形成してコア基板を形成するコア基板形成工程と、
前記コア基板の両面側に絶縁材料からなる絶縁基材を配し、さらにその外側に金属膜を配する積層工程と、
前記コア基板、前記絶縁基材、前記金属膜を真空加圧により互いに押しつけるプレス工程と、
前記金属膜をパターン化して第2の導電層を形成するパターン形成工程とを備え、
前記プレス工程にて、前記コア基材を断面波形形状となるように複数箇所を撓ませることを特徴とする多層基板の製造方法。
A core substrate forming step of forming a core substrate by forming a patterned first conductive layer on at least one surface of a flat core substrate;
Laminating step of disposing an insulating base material made of an insulating material on both sides of the core substrate and further disposing a metal film on the outside thereof;
A pressing step of pressing the core substrate, the insulating base, and the metal film together by vacuum pressing;
A pattern forming step of patterning the metal film to form a second conductive layer,
A method of manufacturing a multilayer substrate, wherein a plurality of locations are bent in the pressing step so that the core base material has a corrugated cross section.
前記コア基板形成工程にて、前記コア基材の弾性率は、前記積層工程にて積層されるべき前記絶縁基材の弾性率より低いことを特徴とする請求項1に記載の多層基板の製造方法。   The multilayer substrate manufacturing method according to claim 1, wherein, in the core substrate forming step, an elastic modulus of the core base material is lower than an elastic modulus of the insulating base material to be laminated in the laminating step. Method. 前記コア基板形成工程にて、前記第1の導電層を形成する前に前記コア基材の表面全域に平滑剤を配する平滑処理を施し、
該平滑剤は、一分子内にOH基又はOH生成基、アジド基、トリアジン環の全てが含まれていることを特徴とする請求項1に記載の多層基板の製造方法。
In the core substrate forming step, before the first conductive layer is formed, a smoothing treatment is performed to dispose a smoothing agent over the entire surface of the core base material,
2. The method for producing a multilayer substrate according to claim 1, wherein the smoothing agent contains all of an OH group, an OH generating group, an azide group, and a triazine ring in one molecule.
前記コア基材の両面側にそれぞれ前記絶縁基材が配され、
前記第1の導電層は、前記コア基材の両面を製品毎に区画して形成された製品領域内に形成され、
該製品領域は前記コア基材から突出して設けられた枠により囲まれて形成され、
前記コア基材は、前記枠を介して前記製品領域と区分けされた捨て領域を有し、
前記捨て領域には、前記第1の導電層が非形成であることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の多層基板の製造方法を用いて製造された多層基板。
The insulating base material is disposed on each side of the core base material,
The first conductive layer is formed in a product region formed by dividing both surfaces of the core base material for each product,
The product region is formed by being surrounded by a frame provided protruding from the core substrate,
The core base material has a discarded area separated from the product area via the frame,
The multilayer substrate manufactured by using the method for manufacturing a multilayer substrate according to claim 1, wherein the first conductive layer is not formed in the discard region.
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