JPWO2015045869A1 - 分析装置及び分析方法 - Google Patents
分析装置及び分析方法Info
- Publication number
- JPWO2015045869A1 JPWO2015045869A1 JP2015539089A JP2015539089A JPWO2015045869A1 JP WO2015045869 A1 JPWO2015045869 A1 JP WO2015045869A1 JP 2015539089 A JP2015539089 A JP 2015539089A JP 2015539089 A JP2015539089 A JP 2015539089A JP WO2015045869 A1 JPWO2015045869 A1 JP WO2015045869A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- flow path
- laser
- laser light
- heating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N31/00—Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods
- G01N31/12—Investigating or analysing non-biological materials by the use of the chemical methods specified in the subgroup; Apparatus specially adapted for such methods using combustion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/44—Sample treatment involving radiation, e.g. heat
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
- G01N33/0036—Specially adapted to detect a particular component
- G01N33/004—Specially adapted to detect a particular component for CO, CO2
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
- G01N33/0036—Specially adapted to detect a particular component
- G01N33/0042—Specially adapted to detect a particular component for SO2, SO3
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B6/00—Heating by electric, magnetic or electromagnetic fields
- H05B6/02—Induction heating
- H05B6/22—Furnaces without an endless core
- H05B6/24—Crucible furnaces
Abstract
Description
また、本発明に係る分析方法は、試料収容部内で試料を加熱し、それにより生じるガスを分析する分析方法において、前記試料に電磁誘導による誘導電流を生じさせる誘導電流生成機構と、前記試料にレーザ光を照射するレーザ照射機構とを同時に作用させて、前記試料を加熱することを特徴とする。
このように誘導電流生成機構とレーザ照射機構とを同時に作用させることで効率良く試料を加熱することができる理由としては、レーザが照射された部分が局所的に溶解し、この溶解した部分が電磁誘導により撹拌されて、その他の部分の溶解を助長することにより、試料全体が溶けやすくなるからであると考えられる。
また、供給流路から試料収容部内に酸素を供給しているので、試料収容部内に生じたダストや高温ガス等は、供給流路内に進入しにくく、透過窓の汚れや破損を防ぐことができる。
また、レーザ光が直線状流路を通って試料に照射されるので、ミラー等の光学部品を使用することなく透過窓を通ったレーザ光を直接試料へ導くことができる。
X ・・・試料
1 ・・・るつぼ
2 ・・・加熱炉
3 ・・・ガス分析計
41 ・・・流路形成部材
411・・・透過窓
L ・・・供給流路
L1 ・・・第1流路(直線状流路)
L2 ・・・第2流路
5 ・・・誘導加熱機構(誘導電流生成機構)
51 ・・・コイル
6 ・・・レーザ加熱機構(レーザ照射機構)
61 ・・・レーザ光源
なお、設置台8は、図示しないシリンダー機構により、るつぼ1内の試料Xが加熱炉2内で加熱される加熱位置と、るつぼ1を設置台8から着脱する着脱位置との間で昇降移動するように構成されている。
なお、本実施形態のフィルタ23は、前記ガス流出路22の流入口221から炉本体21の管軸に向かって僅かに離間して設けられており、るつぼ1内で試料Xが燃焼することにより生じたガスが、このフィルタ23を介してガス流出路22に流れるように構成されている。
なお、本実施形態では、レーザ光源61に45W〜200Wの出力を得られる半導体レーザを用いている。
これにより、試料Xは、30秒間に亘って、誘導加熱機構5とレーザ加熱機構6とによって同時に加熱されることになる。なお、加熱する時間は30秒に限られず、試料Xによって所望の時間に設定することができる。
Claims (4)
- 試料収容部内で試料を加熱し、それにより生じるガスを分析する分析装置において、
前記試料に電磁誘導による誘導電流を生じさせる誘導電流生成機構と、
前記試料にレーザ光を照射するレーザ照射機構とを具備し、
前記誘導電流生成機構と前記レーザ照射機構とが前記試料に同時に作用することを特徴とする分析装置。 - 前記試料収容部内に酸素を供給する供給流路が形成された流路形成部材をさらに具備し、
前記流路形成部材に前記レーザ光を透過する透過窓が形成されており、前記透過窓を通過したレーザ光の光路が、前記供給流路の流路方向に沿って当該供給流路内に形成されていることを特徴とする請求項1記載の分析装置。 - 前記供給流路が、一端が前記試料に向かって開口するとともに、他端に前記透過窓が形成された直線状流路を有することを特徴とする請求項2記載の分析装置。
- 試料収容部内で試料を加熱し、それにより生じるガスを分析する分析方法において、
前記試料に電磁誘導による誘導電流を生じさせる誘導電流生成機構と、前記試料にレーザ光を照射するレーザ照射機構とを同時に作用させて、前記試料を加熱することを特徴とする分析方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013198729 | 2013-09-25 | ||
JP2013198729 | 2013-09-25 | ||
PCT/JP2014/073903 WO2015045869A1 (ja) | 2013-09-25 | 2014-09-10 | 分析装置及び分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015045869A1 true JPWO2015045869A1 (ja) | 2017-03-09 |
JP6494517B2 JP6494517B2 (ja) | 2019-04-03 |
Family
ID=52743013
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015539089A Expired - Fee Related JP6494517B2 (ja) | 2013-09-25 | 2014-09-10 | 分析装置及び分析方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9606090B2 (ja) |
EP (1) | EP3051287B1 (ja) |
JP (1) | JP6494517B2 (ja) |
CN (2) | CN111537669A (ja) |
WO (1) | WO2015045869A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6644086B2 (ja) | 2015-12-07 | 2020-02-12 | 株式会社堀場製作所 | 分析装置 |
KR20170093637A (ko) * | 2016-02-05 | 2017-08-16 | 한국전자통신연구원 | 이종 네트워크 환경에서 미디어 전송 스트림 버퍼링 방법 및 이를 이용한 영상 수신 장치 |
CN109254108B (zh) * | 2017-07-12 | 2023-02-17 | 株式会社堀场制作所 | 分析装置和分析方法 |
CN108593416B (zh) * | 2018-04-08 | 2020-09-08 | 国家纳米科学中心 | 微纳粒子检测系统及方法 |
DE102018207165A1 (de) * | 2018-05-08 | 2019-11-14 | GEOMAR Helmholtz Centre for Ocean Research Kiel | Vorrichtung zum Behandeln von Proben für eine quantitative Elementaranalyse bezüglich C, N und/oder S sowie Zufuhreinrichtung, Verwendung, System und Verfahren |
EP3957979A4 (en) | 2019-05-15 | 2023-01-11 | HORIBA, Ltd. | SAMPLE ANALYSIS APPARATUS |
CN110715846B (zh) * | 2019-07-12 | 2024-02-20 | 中国原子能科学研究院 | 一种钠燃烧实验装置及获取极低浓度钠气溶胶的方法 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02264861A (ja) * | 1989-04-05 | 1990-10-29 | Horiba Ltd | 高周波燃焼炉 |
JPH10203812A (ja) * | 1997-01-22 | 1998-08-04 | Kawasaki Steel Corp | 金属シリコンの精製方法 |
JP2000028580A (ja) * | 1998-07-10 | 2000-01-28 | Horiba Ltd | 金属試料中の元素分析装置 |
JP2000321265A (ja) * | 1999-05-14 | 2000-11-24 | Horiba Ltd | 元素分析装置 |
JP2001305122A (ja) * | 2000-04-21 | 2001-10-31 | Horiba Ltd | 元素分析装置 |
JP2008008793A (ja) * | 2006-06-29 | 2008-01-17 | Tohoku Univ | 高温融体導電材料の熱物性測定方法及び測定装置 |
JP2008151590A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Japan Atomic Energy Agency | ガス分析装置 |
WO2011102137A1 (ja) * | 2010-02-18 | 2011-08-25 | Jfeスチール株式会社 | 金属試料中の硫黄の分析方法および分析装置 |
JP2012047737A (ja) * | 2010-08-12 | 2012-03-08 | Leco Corp | 燃焼炉自動清掃機 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3569660A (en) * | 1968-07-29 | 1971-03-09 | Nat Res Dev | Laser cutting apparatus |
JPS586906B2 (ja) * | 1979-08-15 | 1983-02-07 | 株式会社 堀場製作所 | 金属中ガス分析装置 |
US4582686A (en) * | 1982-11-04 | 1986-04-15 | Horiba, Ltd. | Apparatus for analyzing elements contained in metal compositions |
EP0300465B1 (en) * | 1987-07-20 | 1995-10-11 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Laser machining apparatus |
IT1237628B (it) * | 1989-10-03 | 1993-06-12 | Michele Gennaro De | Metodo per misurare l'efficienza di una combustione e apparecchio per attuare il metodo. |
JPH03197835A (ja) | 1989-12-26 | 1991-08-29 | Yokogawa Electric Corp | レーザ光を用いた元素分折装置 |
JP2964697B2 (ja) | 1991-04-25 | 1999-10-18 | 日本電気株式会社 | 大気圧中における固体表面変化の観察・分析方法およびその装置 |
DE4206002A1 (de) * | 1992-02-27 | 1993-09-02 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zum erzeugen eines musters in der oberflaeche eines werkstuecks |
US5844149A (en) | 1996-09-19 | 1998-12-01 | Nkk Corporation | Method for analyzing solid specimen and apparatus therefor |
US6627155B1 (en) * | 1998-06-12 | 2003-09-30 | Horiba, Ltd. | Combustion furnace system for analyzing elements in a sample |
JP4157215B2 (ja) | 1999-03-15 | 2008-10-01 | 株式会社堀場製作所 | 元素分析装置のガス抽出炉 |
DK1228366T3 (en) | 1999-10-11 | 2015-07-06 | Keep It Technologies As | Full historical time-temperature indicator system |
CN100547113C (zh) * | 2007-06-13 | 2009-10-07 | 华中科技大学 | 激光感应复合熔覆制备材料涂层的方法及装置 |
CN101672836A (zh) | 2009-08-20 | 2010-03-17 | 聚光科技(杭州)有限公司 | 一种toc分析方法及装置 |
CN102713557B (zh) * | 2009-11-03 | 2015-04-15 | 7685297加拿大有限公司 | 用于制备用于化学分析的样品的系统和方法 |
-
2014
- 2014-09-10 CN CN202010279957.XA patent/CN111537669A/zh active Pending
- 2014-09-10 JP JP2015539089A patent/JP6494517B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2014-09-10 US US15/022,334 patent/US9606090B2/en active Active
- 2014-09-10 CN CN201480051838.1A patent/CN105556303A/zh active Pending
- 2014-09-10 EP EP14847785.4A patent/EP3051287B1/en active Active
- 2014-09-10 WO PCT/JP2014/073903 patent/WO2015045869A1/ja active Application Filing
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02264861A (ja) * | 1989-04-05 | 1990-10-29 | Horiba Ltd | 高周波燃焼炉 |
JPH10203812A (ja) * | 1997-01-22 | 1998-08-04 | Kawasaki Steel Corp | 金属シリコンの精製方法 |
JP2000028580A (ja) * | 1998-07-10 | 2000-01-28 | Horiba Ltd | 金属試料中の元素分析装置 |
JP2000321265A (ja) * | 1999-05-14 | 2000-11-24 | Horiba Ltd | 元素分析装置 |
JP2001305122A (ja) * | 2000-04-21 | 2001-10-31 | Horiba Ltd | 元素分析装置 |
JP2008008793A (ja) * | 2006-06-29 | 2008-01-17 | Tohoku Univ | 高温融体導電材料の熱物性測定方法及び測定装置 |
JP2008151590A (ja) * | 2006-12-15 | 2008-07-03 | Japan Atomic Energy Agency | ガス分析装置 |
WO2011102137A1 (ja) * | 2010-02-18 | 2011-08-25 | Jfeスチール株式会社 | 金属試料中の硫黄の分析方法および分析装置 |
JP2012047737A (ja) * | 2010-08-12 | 2012-03-08 | Leco Corp | 燃焼炉自動清掃機 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
PALANCO S: "Analytical control of liquid steel in an induction melting furnace using a remote laser induction pl", J ANAL AT SPECTROM, vol. 19, no. 4, JPN6018030992, April 2004 (2004-04-01), pages 462 - 467, ISSN: 0003984260 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2015045869A1 (ja) | 2015-04-02 |
CN105556303A (zh) | 2016-05-04 |
EP3051287A4 (en) | 2017-04-19 |
EP3051287B1 (en) | 2020-08-05 |
EP3051287A1 (en) | 2016-08-03 |
US9606090B2 (en) | 2017-03-28 |
CN111537669A (zh) | 2020-08-14 |
US20160231298A1 (en) | 2016-08-11 |
JP6494517B2 (ja) | 2019-04-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6494517B2 (ja) | 分析装置及び分析方法 | |
JP5459867B2 (ja) | 分析方法および分析システム | |
JP5646957B2 (ja) | 流体流れの可視化装置および可視化方法 | |
JP2021015289A (ja) | 光学要素を洗浄するための制御された流体流 | |
TW200628902A (en) | Coordinates detection apparatus and subject inspection apparatus | |
TW200710483A (en) | Method and apparatus for repairing a liquid crystal panel | |
KR101460874B1 (ko) | 암모니아 화합물 농도 계측 장치 및 암모니아 화합물 농도 계측 방법 | |
JP2010038560A (ja) | 元素分析装置および元素分析方法 | |
JP2021152555A (ja) | ラマン散乱光取得装置、これを備える組成分析装置、及びガスタービンプラント | |
JP2010038557A (ja) | 元素分析装置および元素分析方法 | |
JPWO2020110408A1 (ja) | ガスクロマトグラフシステム | |
KR20180018716A (ko) | 광처리 장치 및 광처리 방법 | |
JP6644086B2 (ja) | 分析装置 | |
JPWO2014115364A1 (ja) | 試料加熱装置及び元素分析計 | |
JP2013134229A (ja) | ガス分析装置 | |
US20140248720A1 (en) | Device for determining the temperature of a substrate | |
JP5324130B2 (ja) | 光照射装置 | |
JP2008114228A (ja) | レーザ加工機 | |
JP2006320813A (ja) | 紫外線照射型硬化装置 | |
JP5031401B2 (ja) | 排ガス分析計 | |
JP2012202984A (ja) | 渦流探傷プローブおよび渦流探傷装置 | |
JP2012012255A (ja) | Co除去システム、及び、co除去方法 | |
JP2008246450A (ja) | ドライ洗浄装置及びドライ洗浄方法 | |
JP2001305122A (ja) | 元素分析装置 | |
ATE506723T1 (de) | Frequenzstabilisierter gaslaser |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170822 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180809 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181002 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190226 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190305 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6494517 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |