JPWO2014080500A1 - 部品実装機 - Google Patents

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Abstract

部品供給装置からのトレイ、またはウェハパレットの抜出の有無を判別可能な部品実装機を提供することを課題とする。部品実装機1は、ウェハパレット50が抜き差し可能に収容されるスロットSを有するマガジン51を有する部品供給装置5と、部品供給装置5が着脱可能に取り付けられる実装機本体4と、スロットSに対するウェハパレット50の抜出を監視する抜出監視センサ70と、を備える。実装機本体4は、抜出監視センサ70からの信号を基にスロットSに対するウェハパレット50の抜出履歴を判別する制御装置33を有する。

Description

本発明は、マウンタやチップボンディング装置など、部品(電子部品、チップ)を基板に実装する部品実装機に関する。
特許文献1には、ウェハカセットが開示されている。ウェハの収容部には、光センサが配置されている。同文献記載のウェハカセットによると、収容部における、ウェハの有無を検出することができる。
特開昭63−289828号公報
ここで、ウェハは、多数のチップを有している。多数のチップは、吸着ノズルにより、ウェハカセットから取り出され、基板に装着される。複数のウェハ間において、多数のチップの位置は一定ではない。このため、ウェハごとに、多数のチップのうち最初に吸着されるチップの位置(吸着開始位置)を、設定する必要がある。
最初から収容部にあるウェハについては、既に吸着開始位置が設定済みである。一方、途中から収容部にあるウェハ(交換されたウェハ)については、吸着開始位置を設定する必要がある。
ところが、同文献記載のウェハカセットは、ウェハからのチップの取出しに先だって、ウェハの有無を確認しているだけである。このため、収容部に対するウェハの抜出履歴を検出することができない。したがって、ウェハの交換判定ができない。すなわち、収容部にあるウェハが、最初から収容部にあるウェハなのか、それとも途中から収容部にあるウェハなのか、判定することができない。このため、交換されたウェハがあっても気付かずに処理を進めてしまうおそれがある。この場合、チップ認識エラーが発生する可能性がある。また、間違ったチップを基板に装着してしまい、不良品を生産してしまう可能性がある。このような事態を回避するためには、ウェハカセットに搭載されている全てのウェハについて、毎回、吸着開始位置を設定し直す必要がある。
電子部品供給装置の場合も同様である。すなわち、電子部品供給装置のトレイには、多数の電子部品が載置されている。従来の電子部品供給装置の場合、トレイの交換判定ができない。このため、全てのトレイについて、吸着開始位置の設定作業を行う必要がある。また、全てのトレイについて、トレイに電子部品が載置されていることを確認する必要がある。また、トレイに電子部品が載置されている場合、当該電子部品の種類を、確認する必要がある。
そこで、本発明は、部品供給装置からのトレイ、またはウェハパレットの抜出の有無を判別可能な部品実装機を提供することを目的とする。
(1)上記課題を解決するため、本発明の部品実装機は、電子部品が搭載されたトレイ、またはウェハが搭載されたウェハパレットが抜き差し可能に収容されるスロットを有するマガジンを有する部品供給装置と、該部品供給装置が取り付けられる実装機本体と、を備える部品実装機であって、さらに、前記スロットに対する前記トレイまたは前記ウェハパレットの抜出を監視する抜出監視センサを備え、前記実装機本体は、該抜出監視センサからの信号を基に該スロットに対する該トレイまたは該ウェハパレットの抜出履歴を判別する制御装置を有することを特徴とする。
本発明の部品実装機によると、実装機本体の制御装置は、抜出監視センサからの信号を基に、スロットに対するトレイ、またはウェハパレット(以下、適宜、「トレイ等」と称す。)の抜出履歴(過去の抜出の有無)を判別することができる。すなわち、トレイ等の抜出履歴を検出することができる。このため、トレイ等の交換判定をすることができる。したがって、スロットにあるトレイ等が、最初からスロットにあるトレイ等なのか、それとも途中からスロットにあるトレイ等なのか、判定することができる。よって、マガジンに搭載されている全てのトレイ等について、部品(電子部品、ウェハのチップ)の吸着開始位置を設定し直す必要がない。交換されたトレイ等についてのみ、吸着開始位置を設定すればよい。
また、マガジンに搭載されている全てのトレイ等について、トレイ等に部品が載置されていることを確認する必要がない。交換されたトレイ等についてのみ、部品の有無を確認すればよい。また、交換されたトレイ等についてのみ、トレイ等に載置されている部品の種類を、確認すればよい。
(2)好ましくは、上記(1)の構成において、前記部品供給装置は、前記スロットに対する前記トレイまたは前記ウェハパレットの抜出履歴を表示する抜出履歴保持部を有し、前記抜出監視センサは、該抜出履歴保持部を検出可能な検出エリアを設定する構成とする方がよい。本構成によると、抜出監視センサが抜出履歴保持部を検出することにより、スロットに対するトレイ等の抜出の有無を判別することができる。
(3)好ましくは、上記(2)の構成において、前記スロットに対する前記トレイまたは前記ウェハパレットの抜出がなかった際の前記抜出履歴保持部の位置を非抜出位置、該スロットに対する該トレイまたは該ウェハパレットの抜出があった際の該抜出履歴保持部の位置を抜出位置として、前記部品供給装置は、該スロットから該トレイまたは該ウェハパレットが抜き出される際の抜出荷重を利用して、該非抜出位置から該抜出位置に該抜出履歴保持部を移動させ、該トレイまたは該ウェハパレットの抜出があった該スロットに再び該トレイまたは該ウェハパレットが差し込まれても該抜出履歴保持部を該抜出位置に保持する保持部移動機構を有する構成とする方がよい。
保持部移動機構は、抜出荷重を利用(例えば、抜出荷重の伝達方向を変化させるなど)して、抜出履歴保持部を移動させる。すなわち、保持部移動機構は、メカニカルな機構により、抜出履歴保持部を非抜出位置から抜出位置に、移動させる。また、保持部移動機構は、メカニカルな機構により、抜出履歴保持部を抜出位置に保持する。
このため、本構成によると、部品供給装置に電力が供給されていない状態(非通電状態)において、スロットに対するトレイ等の抜出があった場合であっても、抜出履歴保持部を非抜出位置から抜出位置に、移動させることができる。また、非通電状態において、トレイ等抜出後のスロットに、トレイ等が再挿入された場合であったも、抜出履歴保持部を抜出位置に保持することができる。すなわち、非通電状態であっても、トレイ等の抜出履歴を記録することができる。このため、例えば、部品供給装置が実装機本体から取り外されている状態であっても、トレイ等の抜出履歴を記録することができる。また、例えば、部品供給装置が実装機本体に取り付けられているものの、実装機本体の電源が入っていない状態であっても、トレイ等の抜出履歴を記録することができる。
(3−1)好ましくは、上記(3)の構成において、さらに、前記抜出位置にある全ての前記抜出履歴保持部を、該抜出位置から前記非抜出位置に、一度に移動させる保持部リセット機構を備える構成とする方がよい。本構成によると、実装機本体の制御装置が、スロットに対するトレイ等の抜出の有無を判別した後、保持部リセット機構により、全ての抜出履歴保持部を非抜出位置に一度に揃えることができる。
(4)好ましくは、上記(2)または(3)の構成において、前記スロットは、複数配置され、前記抜出履歴保持部は、複数の該スロットに対応して、複数配置され、前記抜出監視センサは、単数配置され、前記部品供給装置は、複数の該抜出履歴保持部と共に前記マガジンを昇降可能なマガジン昇降機構を有し、該抜出監視センサの前記検出エリアは、該マガジンの昇降に伴って、複数の該抜出履歴保持部が通過する保持部通過位置に、設定されている構成とする方がよい。
本構成によると、複数の抜出履歴保持部の軌道上に検出エリアが設定されている。このため、相対的には、抜出履歴保持部の軌道上を動く検出エリアにより、複数の抜出履歴保持部を、走査することができる。したがって、単一の抜出監視センサにより、全ての抜出履歴保持部を検出することができる。
また、既存の部品供給装置には、上下方向に積層された複数のトレイ等を所定の高度から搬出するために、マガジン昇降機構が配置されている。当該マガジン昇降機構は、複数の抜出履歴保持部を動かす際に、流用することができる。このように、本構成によると、既存の部品供給装置に対する汎用性が高くなる。
(5)好ましくは、上記(1)の構成において、前記スロットは、複数配置され、前記抜出監視センサは、複数の該スロットに対応して、複数配置されている構成とする方がよい。本構成によると、部品供給装置に抜出履歴保持部を配置する必要がない。このため、部品供給装置の構造が簡単になる。また、本構成によると、複数の抜出履歴保持部を走査する必要がない。このため、トレイ等の抜出の有無を判別するのに要する時間を、短縮化することができる。
本発明によると、部品供給装置からのトレイ、またはウェハパレットの抜出の有無を判別可能な部品実装機を提供することができる。
図1は、第一実施形態のチップボンディング装置の右側面図である。 図2は、同チップボンディング装置のブロック図である。 図3は、図1の枠III内の拡大図である。 図4は、ウェハパレットの斜視図である。 図5は、同チップボンディング装置のウェハ供給装置のマガジンの右側面図である。 図6は、図5のVI−VI方向断面図である。 図7は、同チップボンディング装置のウェハ供給装置のマガジンの、ウェハパレット抜出時における右側面図である。 図8は、図7のVIII−VIII方向断面図である。 図9は、同チップボンディング装置のウェハ供給装置の抜出履歴保持部付近の、ウェハパレット挿入時における、上から見た断面図である。 図10は、同チップボンディング装置のウェハ供給装置の、マガジン挿入時における、右から見た断面図である。 図11は、同チップボンディング装置のウェハ供給装置の、パレット交換検出時における、右から見た断面図である。 図12は、同チップボンディング装置のウェハ供給装置の抜出履歴保持部付近の、保持部リセット時における、上から見た断面図である。 図13は、第二実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置の、パレット交換検出時における、右から見た断面図である。 図14は、その他の実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置の抜出履歴保持部付近のウェハパレット抜出前の断面図である。
1:チップボンディング装置(部品実装機)。
2:ベース。
3:モジュール、30:基板搬送装置、302:クランプ部、303:基板搬送部、31:XYロボット、310:Y軸スライダ、311:X軸スライダ、312:Y軸ガイドレール、313:X軸ガイドレール、314:X軸モータ、315:Y軸モータ、32:装着ヘッド、320:吸着ノズル、322:Z軸モータ、323:θ軸モータ、33:制御装置、330:演算部、331:記憶部、332:入出力インターフェイス、34:デバイスパレット、35:基板昇降装置。
4:装置本体(実装機本体)。
5:ウェハ供給装置(部品供給装置)、50:ウェハパレット、51:マガジン、510:保持部移動孔、510a:回動軸、510b:非抜出位置ストッパ、510c:抜出位置ストッパ、511:ガイドリブ、52:マガジン昇降機構、520:昇降テーブル、521:ボールねじ部、521a:シャフト、521b:ナット、522:Z軸モータ、53:パレット搬送部、530:搬送モータ、54:ハウジング、540:パレット出入口、541:マガジン交換口、542:扉、55:アーム、56:抜出履歴保持部、560:被検出部、561:入力斜面、57:保持部移動機構、570:直線動部材、570a:入力斜面、570b:出力斜面、571:回動部材、571a:内端、571b:外端、58:保持部リセット機構、580:ガイドレール、581:リセットバー、582:リセットモータ。
60:ウェハグリップリング、61:ウェハシート、62:ウェハ、620:チップ。
70:抜出監視センサ、71:入出力インターフェイス。
9:台車。
B:基板、F:フロア、F1:抜出荷重、P1:抜出位置、P2:非抜出位置、P3:吸着開始位置、S:スロット。
以下、本発明の部品実装機をチップボンディング装置として具現化した実施の形態について説明する。
<第一実施形態>
[チップボンディング装置の構成]
まず、本実施形態のチップボンディング装置の構成について説明する。図1に、本実施形態のチップボンディング装置の右側面図を示す。なお、モジュール3のハウジングを透過して示す。図1に示すように、チップボンディング装置1は、装置本体4と、ウェハ供給装置5と、抜出監視センサと、を備えている。装置本体4は、本発明の「実装機本体」の概念に含まれる。ウェハ供給装置5は、本発明の「部品供給装置」の概念に含まれる。
(装置本体4)
装置本体4は、ベース2と、モジュール3と、を備えている。ベース2は、工場のフロアFに配置されている。モジュール3は、ベース2の上面に配置されている。モジュール3は、基板搬送装置30と、XYロボット31と、装着ヘッド32と、制御装置と、デバイスパレット34と、基板昇降装置35と、を備えている。
基板搬送装置30は、クランプ部302、基板搬送部303と、を備えている。基板搬送部303は、一対のコンベアベルトを備えている。基板搬送部303は、基板Bを左右方向に搬送可能である。クランプ部302は、一対のクランプ片を備えている。クランプ部302は、基板搬送部303の上側に配置されている。
基板昇降装置35は、基板搬送部303の下側に配置されている。基板昇降装置35は、基板搬送部303から、基板Bを持ち上げることができる。チップが装着される際、基板Bは、クランプ部302と基板昇降装置35とにより、上下方向から挟持、固定される。
XYロボット31は、Y軸スライダ310と、X軸スライダ311と、左右一対のY軸ガイドレール312と、上下一対のX軸ガイドレール313と、を備えている。なお、X方向は左右方向に、Y方向は前後方向に、Z方向は上下方向に、各々、対応している。
左右一対のY軸ガイドレール312は、モジュール3のハウジング内部空間の上面に配置されている。Y軸スライダ310は、左右一対のY軸ガイドレール312に、前後方向に摺動可能に取り付けられている。上下一対のX軸ガイドレール313は、Y軸スライダ310の前面に配置されている。X軸スライダ311は、上下一対のX軸ガイドレール313に、左右方向に摺動可能に取り付けられている。
装着ヘッド32は、X軸スライダ311に取り付けられている。このため、装着ヘッド32は、XYロボット31により、前後左右方向に移動可能である。装着ヘッド32には、吸着ノズル320が取り付けられている。吸着ノズル320は、装着ヘッド32に対して、上下方向に移動可能である。また、吸着ノズル320は、自身の軸周りに回転可能である。デバイスパレット34は、モジュール3のハウジングの前部に配置されている。デバイスパレット34には、後述するウェハ供給装置5が着脱可能である。
図2に、本実施形態のチップボンディング装置のブロック図を示す。図2に示すように、制御装置33は、演算部330と、記憶部331と、入出力インターフェイス332と、を備えている。入出力インターフェイス332は、X軸モータ314、Y軸モータ315、Z軸モータ322、θ軸モータ323と電気的に接続されている。なお、X軸モータ314は、X軸スライダ311駆動用である。Y軸モータ315は、Y軸スライダ310駆動用である。Z軸モータ322は、吸着ノズル320昇降用である。θ軸モータ323は、吸着ノズル320回転用である。
(ウェハ供給装置5)
図3に、図1の枠III内の拡大図を示す。図1、図3に示すように、ウェハ供給装置5は、デバイスパレット34の前側に配置されている。ウェハ供給装置5は、複数のウェハパレット50と、マガジン51と、マガジン昇降機構52と、パレット搬送部53と、ハウジング54と、左右一対のアーム55と、抜出履歴保持部56と、保持部移動機構と、保持部リセット機構と、を備えている。
ハウジング54は、直方体箱状を呈している。ハウジング54は、台車9の上面に搭載されている。ハウジング54の後壁には、パレット出入口540が開設されている。一方、ハウジング54の前壁には、マガジン交換口541が開設されている。マガジン交換口541には、開閉式の扉542が配置されている。
マガジン51は、前後両端に開口を有する角筒状を呈している。マガジン51は、ハウジング54の内部に収容されている。マガジン51の左壁右面と右壁左面とには、各々、複数のガイドリブ511が配置されている。ガイドリブ511は、前後方向(ウェハパレット50の移動方向)に延在している。複数のガイドリブ511は、上下方向(ウェハパレット50の積層方向)に並んで配置されている。上下方向に隣り合う一対のガイドリブ511間には、スロットSが区画されている。スロットSには、左右一対のガイドリブ511間に架設された状態で、ウェハパレット50が収容されている。ウェハパレット50は、左右一対のガイドリブ511を、前後方向に摺動可能である。ウェハパレット50の構成については、後で詳しく説明する。
マガジン昇降機構52は、昇降テーブル520と、ボールねじ部521と、Z軸モータ522(図2参照)と、を備えている。ボールねじ部521は、シャフト521aと、ナット521bと、を備えている。Z軸モータ522の駆動力でナット521bを回転させることにより、シャフト521aを上下方向に移動させることができる。昇降テーブル520は、シャフト521aの上端に配置されている。昇降テーブル520の上面には、マガジン51が載置されている。マガジン51は、昇降テーブル520と共に、上下方向に移動可能である。
左右一対のアーム55は、ハウジング54から、後側に向かって突設されている。左右一対のアーム55は、パレット出入口540の左右両側に配置されている。ウェハ供給装置5が装置本体4に装着されている状態において、一対のアーム55の後端は、デバイスパレット34の上縁に架設されている。この状態においては、図2に示すように、装置本体4とウェハ供給装置5とが電気的に接続されている。このため、装置本体4の電源により、ウェハ供給装置5を稼働することができる。
パレット搬送部53は、左右一対のコンベアベルトを備えている。搬送対象のウェハパレット50は、一対のコンベアベルト間に架設される。コンベアベルトが搬送モータ530(図2参照)で駆動されることにより、ウェハパレット50は、前後方向に移動可能である。
図4に、ウェハパレットの斜視図を示す。図4に示すように、ウェハパレット50の上面には、ウェハグリップリング60が載置されている。ウェハグリップリング60には、水平方向に伸張された状態で、ウェハシート61が配置されている。ウェハシート61には、ウェハ62が貼り付けられている。ウェハ62は、多数の個片状のチップ620からなる。多数のチップ620は、円形状のウェハ62が格子状に裁断されることにより、形成されている。多数のチップ620には、各々、集積回路(図略)が形成されている。
図5に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置のマガジンの右側面図を示す。なお、マガジン内部の構成を細線で示す。図6に、図5のVI−VI方向断面図を示す。
図5、図6に示すように、マガジン51の右壁の前側には、スロットSごとに、保持部移動孔510が開設されている。保持部移動孔510は、前後方向に長い長孔状を呈している。抜出履歴保持部56は、保持部移動孔510に、前後方向に移動可能に収容されている。ただし、抜出履歴保持部56は、保持部移動孔510に対して、左右方向に移動不可能である。
抜出履歴保持部56の右面(外面)には、円形の被検出部560が凹設されている。抜出履歴保持部56の左面(内面)には、入力斜面561が配置されている。入力斜面561は、左後−右前方向(左側から荷重が加わる場合に、当該荷重の方向を変換して、抜出履歴保持部56を後側に移動させる方向)に延在している。保持部移動孔510の後端に抜出履歴保持部56が当接している位置が、抜出位置P1である。一方、保持部移動孔510の前端に抜出履歴保持部56が当接している位置が、非抜出位置P2である。
保持部リセット機構58は、上下一対のガイドレール580と、リセットバー581と、を備えている。ガイドレール580は、前後方向に延在している。上側のガイドレール580は、最上端の保持部移動孔510の上側に配置されている。一方、下側のガイドレール580は、最下端の保持部移動孔510の下側に配置されている。リセットバー581は、上下一対のガイドレール580間に架設されている。リセットバー581は、上下一対のガイドレール580に対して、前後方向に摺動可能である。図6に示すように、リセットバー581は、抜出履歴保持部56の後側に配置されている。リセットバー581を前側に動かすことにより、全ての抜出履歴保持部56を、前側に動かすことができる。つまり、全ての抜出履歴保持部56を、一度に非抜出位置P2に揃えることができる。なお、リセットバー581は、ギア(図略)を介して、図2に示すリセットモータ582に連結されている。すなわち、リセットバー581は、リセットモータ582により駆動される。
図6に示すように、保持部移動機構57は、直線動部材570を備えている。直線動部材570は、保持部移動孔510に、左右方向に移動可能に収容されている。ただし、直線動部材570は、保持部移動孔510に対して、前後方向に移動不可能である。
直線動部材570の左面(内面)には、入力斜面570aが配置されている。入力斜面570aは、右後−左前方向(後側から荷重が加わる場合に、当該荷重の方向を変換して、直線動部材570を右側に移動させる方向)に延在している。一方、直線動部材570の右面(外面)には、出力斜面570bが配置されている。出力斜面570bは、左後−右前方向(左側から荷重が加わる場合に、当該荷重の方向を変換して、抜出履歴保持部56を後側に移動させる方向)に延在している。出力斜面570bと、入力斜面561と、は互いに摺動可能である。
(抜出監視センサ70)
図2に示すように、抜出監視センサ70は、入出力インターフェイス71を介して、制御装置33に、電気的に接続されている。図3に示すように、抜出監視センサ70は、ハウジング54の右壁の左面(内面)に配置されている。抜出監視センサ70の検出エリアは、マガジン51の昇降に伴って、抜出位置P1(詳しくは抜出位置P1に配置された抜出履歴保持部56の被検出部560)が通過する位置(保持部通過位置)に、設定されている。
[チップボンディング装置の動き]
次に、本実施形態のチップボンディング装置の基板生産時の動きについて簡単に説明する。まず、図2に示す制御装置33がZ軸モータ522を駆動することにより、図3に示すマガジン51を昇降させる。そして、所望のウェハパレット50の高度を、パレット出入口540の高度に揃える。次に、図2に示す制御装置33が搬送モータ530を駆動することにより、図3に示すように、所望のウェハパレット50を、デバイスパレット34上側の所定位置まで、移動させる。続いて、図2に示す制御装置33がX軸モータ314、Y軸モータ315、Z軸モータ322、θ軸モータ323を適宜駆動することにより、図1に示す吸着ノズル320が、図4に示すチップ620を、ウェハ62から、図1に示す基板Bの所定座標まで搬送する。なお、吸着ノズル320によるチップ620の搬送は、図4に示す吸着開始位置P3のチップ620から、所定の順番で実行される。このようにして、基板生産時においては、基板Bにチップ620が装着される。
[ウェハパレット交換時の動き]
次に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハパレット交換時の動きについて説明する。ウェハパレット50の交換は、段取り替えの際(上述した基板生産の前)に行われる。
図7に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置のマガジンの、ウェハパレット抜出時における右側面図を示す。なお、マガジン内部の構成を細線で示す。図8に、図7のVIII−VIII方向断面図を示す。図9に、同ウェハ供給装置の抜出履歴保持部付近の、ウェハパレット挿入時における、上から見た断面図を示す。なお、図9は、図8に対応している。
まず、作業者は、図3に示す扉542を開く。次に、作業者は、マガジン交換口541を介して、ハウジング54の内部から外部に、マガジン51を取り出す。続いて、作業者は、図7に白抜き矢印で示すように、所望のウェハパレット50(本例では最上段のウェハパレット50)を、マガジン51の前側(抜出履歴保持部56側)から、抜き出す。
作業者がウェハパレット50を抜き出す際、図8に示すように、後側からの抜出荷重F1は、ウェハパレット50から直線動部材570に、入力斜面570aを介して、左側から伝達される。伝達された荷重F2により、直線動部材570は、右側に移動する(図6参照)。左側からの荷重F2は、直線動部材570から抜出履歴保持部56に、出力斜面570b、入力斜面561を介して、前側から伝達される。伝達された荷重F3により、抜出履歴保持部56は、後側に移動する(図6参照)。このように、作業者がウェハパレット50を抜き出すと、メカニカルな機構のみにより(電気的な機構を用いずに)、抜出履歴保持部56は、非抜出位置P2から抜出位置P1に、移動する。
図9に示すように、作業者が新しいウェハパレット50をマガジン51に挿入すると、ウェハパレット50は、抜出履歴保持部56の左側(内側)を、前側から後側に通過する。ここで、図9に示すように、直線動部材570は、右側に移動したままである(図6参照)。このため、直線動部材570は、ウェハパレット50に干渉しない。したがって、新しいウェハパレット50が挿入されても、抜出履歴保持部56は、抜出位置P1に保持されたままである。つまり、古いウェハパレット50の抜出履歴は、保持されたままである。
図10に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置の、マガジン挿入時における、右から見た断面図を示す。なお、図10は、図3に対応している。最後に、作業者は、図10に示すように、マガジン交換口541を介して、ウェハパレット50交換済みのマガジン51を、ハウジング54の内部に挿入する。
[ウェハパレット交換検出時の動き]
次に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハパレット交換検出時の動きについて説明する。図11に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置の、パレット交換検出時における、右から見た断面図を示す。なお、図11は、図3に対応している。
図2に示す制御装置33は、Z軸モータ522を駆動することにより、図3に示すマガジン51を昇降させる。この際、抜出監視センサ70の検出エリアを、抜出位置P1が通過する。ここで、新しいウェハパレット50が挿入されたスロットSの抜出履歴保持部56は、抜出位置P1に移動している。抜出監視センサ70は、抜出位置P1の抜出履歴保持部56の被検出部560を、検出する。一方、抜出監視センサ70は、非抜出位置P2の抜出履歴保持部56の被検出部560を、検出しない。抜出監視センサ70からの信号を基に、図2に示す制御装置33の演算部330は、最上段のスロットSについてのみ、古いウェハパレット50の抜出があったこと、つまり新しいウェハパレット50の挿入があったことを判別する。記憶部331は、当該判別結果を格納する。
ここで、図4に示す吸着開始位置P3の座標は、ウェハグリップリング60に対するウェハシート61の張設の程度により、変動する。演算部330は、記憶部331の判別結果を参照して、新しく挿入されたウェハパレット50のウェハ62に対してのみ、吸着開始位置P3の再設定を行う。
また、演算部330は、新しく挿入されたウェハパレット50に対してのみ、チップ620の確認作業を行う。確認作業は、撮像装置(図略。例えばCCD(Charge−Coupled Device)カメラ)でウェハパレット50に配置されたIDを読み取ることにより、実行する。
図12に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置の抜出履歴保持部付近の、保持部リセット時における、上から見た断面図を示す。なお、図12は、図8に対応している。
図2に示す制御装置33は、リセットモータ582を駆動することにより、図7に示すリセットバー581を、前側に移動させる。そして、最上段の抜出履歴保持部56を、抜出位置P1から非抜出位置P2に復帰させる。具体的には、図12に示すように、リセットバー581の移動による荷重F4は、リセットバー581から抜出履歴保持部56に、後側から伝達される。伝達された荷重F5により、抜出履歴保持部56は、抜出位置P1から非抜出位置P2に移動する。また、荷重F5は、抜出履歴保持部56から直線動部材570に、入力斜面561、出力斜面570bを介して、右側(外側)から伝達される。伝達された荷重F6により、直線動部材570は、左側(内側)に移動する。
なお、抜出履歴保持部56のリセットは、図2に示す演算部330が新しいウェハパレット50の挿入があったことを判別し、記憶部331が当該判別結果を格納した後で実行される。
[作用効果]
次に、本実施形態のチップボンディング装置の作用効果について説明する。本実施形態のチップボンディング装置1によると、図2、図11に示すように、制御装置33は、抜出監視センサ70からの信号を基に、スロットSに対するウェハパレット50の抜出の有無を判別することができる。すなわち、ウェハパレット50の抜出履歴を検出することができる。このため、ウェハパレット50の交換判定をすることができる。したがって、スロットSにあるウェハパレット50が、最初からスロットSにあるウェハパレット50なのか、それとも途中からスロットSにあるウェハパレット50なのか、判定することができる。よって、マガジン51に搭載されている全てのウェハパレット50について、図4に示すウェハ62のチップ620の吸着開始位置P3を設定し直す必要がない。交換されたウェハパレット50についてのみ、吸着開始位置P3を設定すればよい。
また、マガジン51に搭載されている全てのウェハパレット50について、ウェハパレット50にウェハ62が載置されていることを確認する必要がない。交換されたウェハパレット50についてのみ、ウェハ62の有無を確認すればよい。また、交換されたウェハパレット50についてのみ、ウェハパレット50に載置されているチップ620の種類を、確認すればよい。
また、本実施形態のチップボンディング装置1によると、図8に示すように、保持部移動機構57は、抜出荷重F1を利用して、抜出履歴保持部56を移動させる。すなわち、保持部移動機構57は、メカニカルな機構により、抜出履歴保持部56を非抜出位置P2から抜出位置P1に、移動させる。また、図9に示すように、保持部移動機構57は、メカニカルな機構により、抜出履歴保持部56を抜出位置P1に保持する。
このため、図7に示すように、ウェハ供給装置5に電力が供給されていない状態(非通電状態)において、スロットSに対するウェハパレット50の抜出があった場合であっても、抜出履歴保持部56を非抜出位置P2から抜出位置P1に、移動させることができる。また、非通電状態において、ウェハパレット50抜出後のスロットSに、ウェハパレット50が再挿入された場合であったも、抜出履歴保持部56を抜出位置P1に保持することができる。すなわち、非通電状態であっても、ウェハパレット50の抜出履歴を記録することができる。このため、例えば、図1に示す台車9(ウェハ供給装置5)が装置本体4から取り外されている状態であっても、ウェハパレット50の抜出履歴を記録することができる。また、例えば、台車9(ウェハ供給装置5)が装置本体4に取り付けられているものの、装置本体4の電源が入っていない状態であっても、ウェハパレット50の抜出履歴を記録することができる。
また、本実施形態のチップボンディング装置1は、図7、図12に示すように、保持部リセット機構58を備えている。このため、図2に示す制御装置33が、スロットSに対するウェハパレット50の抜出の有無を判別した後、全ての抜出履歴保持部56を非抜出位置P2に一度に揃えることができる。
また、本実施形態のチップボンディング装置1によると、図3に示すように、抜出位置P1の軌道上に、抜出監視センサ70の検出エリアが設定されている。このため、相対的には、抜出位置P1の軌道上を動く検出エリアにより、抜出位置P1を、走査することができる。したがって、単一の抜出監視センサ70により、抜出位置P1に存在する全ての抜出履歴保持部56を検出することができる。
また、既存のウェハ供給装置5には、所望のウェハパレット50の高度をパレット出入口540の高度に揃えるために、マガジン昇降機構52が配置されている。当該マガジン昇降機構52は、上記抜出位置P1を上下方向に移動させる際に、流用することができる。このように、本実施形態のチップボンディング装置1によると、既存のウェハ供給装置5に対する汎用性が高くなる。
<第二実施形態>
本実施形態のチップボンディング装置と、第一実施形態のチップボンディング装置との相違点は、抜出検出センサが複数配置されている点である。ここでは、相違点についてのみ説明する。
図13に、本実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置の、パレット交換検出時における、右から見た断面図を示す。なお、図11と対応する部位については、同じ符号で示す。図13に示すように、抜出監視センサ70は、マガジン51の右壁の左面(内面)に配置されている。抜出監視センサ70は、スロットSごとに配置されている。抜出監視センサ70は、抜出履歴保持部56を介してではなく、ウェハパレット50の有無を、常時、直接監視している。援用する図2に示す制御装置33の記憶部331は、抜出監視センサ70から伝送される抜出検出結果を記憶している。
本実施形態のチップボンディング装置と、第一実施形態のチップボンディング装置とは、構成が共通する部分に関しては、同様の作用効果を有する。本実施形態のチップボンディング装置によると、ウェハ供給装置5に抜出履歴保持部56を配置する必要がない。このため、ウェハ供給装置5の構造が簡単になる。また、本実施形態のチップボンディング装置によると、前出図11に示すように、抜出監視センサ70が複数の抜出履歴保持部56を走査する必要がない。抜出監視センサ70は、ウェハパレット50の有無を常時監視している。このため、ウェハパレット50の抜出の有無を判別するのに要する時間を、短縮化することができる。
<その他>
以上、本発明の部品実装機の実施の形態について説明した。しかしながら、実施の形態は上記形態に特に限定されるものではない。当業者が行いうる種々の変形的形態、改良的形態で実施することも可能である。
保持部移動機構57は特に限定しない。図14に、その他の実施形態のチップボンディング装置のウェハ供給装置の抜出履歴保持部付近のウェハパレット抜出前の断面図を示す。なお、図8と対応する部位については、同じ符号で示す。
図14に示すように、保持部移動機構57は、回動部材571を備えている。保持部移動孔510には、回動軸510aと、非抜出位置ストッパ510b、抜出位置ストッパ510cと、が配置されている。回動部材571は、回動軸510aを中心に、水平方向に回動可能である。非抜出位置ストッパ510bは、回動部材571を非抜出位置P2に保持している。一方、抜出位置ストッパ510cは、回動部材571を抜出位置P1に保持している。
スロットSからウェハパレット50が抜き出されると、ウェハパレット50が、回動部材571の内端571aを、図14における反時計回り方向に駆動する。このため、回動部材571の外端571bは、非抜出位置P2から抜出位置P1まで、回動する。
このように、保持部移動機構57が、回動部材571を備えていてもよい。また、保持部移動機構57が、直線動部材570と回動部材571とを備えていてもよい。また、保持部移動機構57が、スプリングやギアを備えていてもよい。
抜出監視センサ70の種類は特に限定しない。例えば、レーザセンサ、光電センサ、超音波センサ、近接センサ、ファイバセンサ、撮像センサ(CCDカメラ、CMOS(Complementary Metal−Oxide Semiconductor)カメラ)などを、抜出監視センサ70として用いることができる。抜出監視センサ70として撮像装置を用いる場合、抜出位置P1および非抜出位置P2を含むように、視野(検出エリア)を設定してもよい。この場合、制御装置33は、抜出位置P1に抜出履歴保持部56があり、かつ非抜出位置P2に抜出履歴保持部56がないことを基に、スロットSに対するウェハパレット50の抜出があったことを、判別することができる。
上記実施形態においては、図3に示すように、抜出監視センサ70を、ウェハ供給装置5に配置した。しかしながら、抜出監視センサ70を装置本体4に配置してもよい。この場合、抜出監視センサ70から、抜出履歴保持部56(非抜出位置P2、抜出位置P1)を検出するための検出窓を、ハウジング54の右壁に開設してもよい。
上記実施形態においては、図1に示すように、本発明の部品実装機をチップボンディング装置1として具現化した。しかしながら、本発明の部品実装機を電子部品実装機(マウンタ)として具現化してもよい。この場合、部品供給装置を、トレイフィーダとして具現化してもよい。トレイフィーダの構成は、ウェハ供給装置5と同様である。ウェハ供給装置5のウェハパレット50の代わりに、トレイフィーダには、トレイが配置されている。トレイには、基板Bに装着する電子部品が載置されている。
上記実施形態においては、図12に示す抜出履歴保持部56のリセットを、自動で行った。しかしながら、作業者が手動で行ってもよい。具体的には、作業者が、図7に示すリセットバー581を、前側に移動させることにより、抜出履歴保持部56を、抜出位置P1から非抜出位置P2に復帰させてもよい。このように、作業者がリセットバー581を移動させると、リセットバー581を駆動する電源の確保が不可能な場合であっても、抜出履歴保持部56を、抜出位置P1から非抜出位置P2に、移動させることができる。
上記実施形態においては、図4に示すように、ウェハ62が載置されたウェハパレット50を、図3に示すマガジン51のスロットSに収容した。しかしながら、ウェハ62が貼り付けられた円形のフレームを、図3に示すマガジン51のスロットSに収容してもよい。すなわち、フレームの円形孔を覆うようにテープを張設し、当該テープにウェハ62を貼り付けてもよい。この場合、フレームは、本発明の「ウェハパレット」の概念に含まれる。
本発明の部品実装機を電子部品実装機(マウンタ)として具現化すると、新しいトレイに対してのみ、選択的に、吸着開始位置P3の設定、電子部品の有無、部品種の確認などの作業を実行することができる。このため、全トレイに対してこれらの作業を行う場合と比較して、作業負荷を軽減することができる。

Claims (5)

  1. 電子部品が搭載されたトレイ、またはウェハが搭載されたウェハパレットが抜き差し可能に収容されるスロットを有するマガジンを有する部品供給装置と、
    該部品供給装置が取り付けられる実装機本体と、
    を備える部品実装機であって、
    さらに、前記スロットに対する前記トレイまたは前記ウェハパレットの抜出を監視する抜出監視センサを備え、
    前記実装機本体は、該抜出監視センサからの信号を基に該スロットに対する該トレイまたは該ウェハパレットの抜出履歴を判別する制御装置を有することを特徴とする部品実装機。
  2. 前記部品供給装置は、前記スロットに対する前記トレイまたは前記ウェハパレットの抜出履歴を表示する抜出履歴保持部を有し、
    前記抜出監視センサは、該抜出履歴保持部を検出可能な検出エリアを設定する請求項1に記載の部品実装機。
  3. 前記スロットに対する前記トレイまたは前記ウェハパレットの抜出がなかった際の前記抜出履歴保持部の位置を非抜出位置、該スロットに対する該トレイまたは該ウェハパレットの抜出があった際の該抜出履歴保持部の位置を抜出位置として、
    前記部品供給装置は、該スロットから該トレイまたは該ウェハパレットが抜き出される際の抜出荷重を利用して、該非抜出位置から該抜出位置に該抜出履歴保持部を移動させ、該トレイまたは該ウェハパレットの抜出があった該スロットに再び該トレイまたは該ウェハパレットが差し込まれても該抜出履歴保持部を該抜出位置に保持する保持部移動機構を有する請求項2に記載の部品実装機。
  4. 前記スロットは、複数配置され、
    前記抜出履歴保持部は、複数の該スロットに対応して、複数配置され、
    前記抜出監視センサは、単数配置され、
    前記部品供給装置は、複数の該抜出履歴保持部と共に前記マガジンを昇降可能なマガジン昇降機構を有し、
    該抜出監視センサの前記検出エリアは、該マガジンの昇降に伴って、複数の該抜出履歴保持部が通過する保持部通過位置に、設定されている請求項2または請求項3に記載の部品実装機。
  5. 前記スロットは、複数配置され、
    前記抜出監視センサは、複数の該スロットに対応して、複数配置されている請求項1に記載の部品実装機。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6466184B2 (ja) * 2015-01-28 2019-02-06 株式会社Fuji 部品管理システム
CN105197531B (zh) * 2015-10-10 2018-04-03 江苏比微曼智能科技有限公司 下料装置
KR102173658B1 (ko) * 2016-11-30 2020-11-03 주식회사 원익아이피에스 기판처리시스템
CN110063095B (zh) * 2016-12-19 2021-02-05 株式会社富士 元件安装机
JP7046635B2 (ja) * 2018-02-16 2022-04-04 株式会社ディスコ カセット
KR102189998B1 (ko) * 2019-06-10 2020-12-11 주식회사 진영코퍼레이션 공작물 자동 공급 장치
JP7403043B2 (ja) * 2019-12-25 2023-12-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 部品供給システムおよび部品実装システムならびに部品供給方法
CN117280883A (zh) * 2021-05-17 2023-12-22 雅马哈发动机株式会社 晶圆供应装置及元件移载装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09223896A (ja) * 1996-02-16 1997-08-26 Sharp Corp 電子部品実装機の部品管理システム
JPH10261893A (ja) * 1997-03-18 1998-09-29 Sanyo Electric Co Ltd 電子部品供給方法及び装置
JP2007194249A (ja) * 2006-01-17 2007-08-02 Yamaha Motor Co Ltd 表面実装機
JP4863929B2 (ja) * 2007-05-21 2012-01-25 富士機械製造株式会社 トレイ型電子部品供給装置のパレット入替システム及びパレット入替方法
JP4930884B2 (ja) * 2007-06-12 2012-05-16 富士機械製造株式会社 トレイ型部品供給装置
JP4989439B2 (ja) * 2007-12-17 2012-08-01 富士機械製造株式会社 トレイ部品供給装置

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