JPWO2011052336A1 - ガラス組成物及びそれを用いた導体形成用組成物 - Google Patents

ガラス組成物及びそれを用いた導体形成用組成物 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2011052336A1
JPWO2011052336A1 JP2011538319A JP2011538319A JPWO2011052336A1 JP WO2011052336 A1 JPWO2011052336 A1 JP WO2011052336A1 JP 2011538319 A JP2011538319 A JP 2011538319A JP 2011538319 A JP2011538319 A JP 2011538319A JP WO2011052336 A1 JPWO2011052336 A1 JP WO2011052336A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mass
glass
glass composition
composition
conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011538319A
Other languages
English (en)
Inventor
寿文 山元
寿文 山元
卓也 高山
卓也 高山
寛人 今治
寛人 今治
一郎 内山
一郎 内山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nihon Yamamura Glass Co Ltd
Original Assignee
Nihon Yamamura Glass Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nihon Yamamura Glass Co Ltd filed Critical Nihon Yamamura Glass Co Ltd
Publication of JPWO2011052336A1 publication Critical patent/JPWO2011052336A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/062Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight
    • C03C3/07Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing lead
    • C03C3/072Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing lead containing boron
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • C03C8/10Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form containing lead
    • C03C8/12Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form containing lead containing titanium or zirconium
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/14Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions
    • C03C8/18Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions containing free metals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2214/00Nature of the non-vitreous component
    • C03C2214/08Metals

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

本発明は、耐水性に優れるとともに、結晶化しにくく、より低い軟化点を有するガラス組成物を提供する。本発明は、PbO、SiO2、B2O3、Al2O3及びZrO2を含むガラス組成物であって、(1)前記各成分の含有量が、75.5質量%≦PbO<80質量、15質量%<SiO2≦21質量%、1.5質量%≦B2O3≦5質量%、0.5質量%≦Al2O3≦3質量%及び0.5質量%≦ZrO2≦3質量%である、ことを特徴とするガラス組成物に係る。

Description

本発明は、新規なガラス組成物とそれを用いた導体形成用組成物に関する。例えば、太陽電池等の導体(電気的導体)を形成するために用いられる導体形成用組成物に関する。
電子機器、電子部品等の小型化、薄型化等に伴い、導体(配線)の細線化が進んでいるが、これに従って導体に添加される粉末ガラスにも微粉化が要求されるようになっている。このため、粉末ガラスにおいては、その平均粒径に加え、粒度分布も重要になる。最近では、求められる配線幅が20μmを切ることも珍しくなく、この場合は数ミクロン以下の平均粒径が要求されるうえ、最大粒径の制御も必要となる。
分級機等を用いて乾式で作製される粉末ガラスは、分級点を微粉側にするほどに回収できる製品量は減っていく。このため、微粉の粉末ガラスを作製する場合、工業的には水、アルコール等を用いた湿式粉砕が必要である。しかしながら、アルコール中での粉砕は、ガラス粉末表面に吸着したアルコールが焼成中に揮発したり、焼成後も揮発しきれずにカーボンとして残るため、導体特性に悪影響を及ぼすことも少なくない。このため、特に導体形成用に用いる粉末ガラスは、溶媒として水を用い、水中で粉砕できることが重要な特性となる。
ところが、水中で微粉末のガラスを作製することは、必然的に長時間にわたってガラスを水中に浸漬させることになるため、ガラスに十分な耐水性がない場合は、ガラス中の成分が水中へ溶け出し、特性が変化するおそれがある。すなわち、ガラスの組成の違いによって、水中でのガラスの重量減少率が異なるため、ガラスを水に晒すことができる時間も異なる。例えば、水中でのガラスの重量減少率が大きなガラスでは、ガラスの特性を維持しながら粉砕できる時間が比較的短い時間に制限されてしまい、それゆえに微細化が困難となる。本発明者の研究によれば、水中で十分な微粉砕を行うには、水中での重量減少率を0.04%以下に抑える必要があることが判明している。
従来、PbO系ガラス組成物としては、PDP前面基板を被覆する誘電体ガラス組成物が開示されている(特許文献1)。このガラス組成物によれば、安定した透明性、優れた電気絶縁性等を有するとされている。また、プラズマディスプレーパネル用ブラックストライプ材料形成用ガラス組成物が開示されている(特許文献2)。このガラス組成物は耐湿性の高い組成であるため、湿式混合プロセスに供しても粉末表面が変質せず、発泡のない焼成膜を得ることができる。その他にも、PbOを68〜89質量%含むSiO−B−Al−PbO系の低融点ガラスが開示されており、太陽電池用の導電性ペーストに使用される(特許文献3)。
とりわけ、太陽電池の導体形成用として使用する場合においては、短時間で焼成するというプロセス上の特徴があるために、フリットとしては粘度が加熱時に素早く低下し、金属粉末間を濡れ広がり易いことが必要である。このため、焼成加熱時において結晶化しにくいガラス組成物であることが求められる。また、加熱時の粘性を下げる手段としては融点を下げることが好ましく、特に軟化点が500℃以下にあることが理想的である。これにより、短時間での焼成においても導体の焼結性向上に寄与することできる。
このような用途に用いるガラス組成物としては、例えば約15〜約75mol%のPbO、及び約5〜約50mol%のSiOを含むガラス組成物が開示されている(特許文献4)。 また、SiOを13〜35%、Bを0.5〜10%、PbOを50〜82%、ZnOを1〜19%を含む低融点ガラスが知られている(特許許文献5)。
特開2001−335341 特開2000−351650 特開2009−99781 特開2008−520094 特開2005−187298
しかしながら、これらの従来技術のガラス組成物では種々の問題があり、さらなる改善の余地が残されている。例えば、特許文献1によると、PbOが74重量%以上で水中粉砕が困難となると記載されているが、PbO含有量を少なくすれば軟化点が上昇するという問題がある。また、特許文献2のガラス組成物においても、PbO含有量は75重量%以下と規定されているが、太陽電池等の導体(電気的導体)の形成のためにはさらに軟化点を下げなければ実用化が困難である。また、特許文献3のガラス組成物では耐水性についてさらなる改善が必要である。特許文献4及び特許文献5に記載のガラス組成物は、熱処理により結晶化しやすいという性質がある。
従って、本発明の主な目的は、耐水性に優れるとともに、結晶化しにくく、より低い軟化点を有するガラス組成物を提供することにある。
本発明者は、従来技術の問題点に鑑みて鋭意研究を重ねた結果、特定のガラス組成を採用することにより上記目的を達成できることを見出し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は、下記のガラス組成物及びそれを用いた導体形成用組成物に係る。
1. PbO、SiO、B、Al及びZrOを含むガラス組成物であって、
前記各成分の含有量が、
75.5質量%≦PbO<80質量、
15質量%<SiO≦21質量%、
1.5質量%≦B≦5質量%、
0.5質量%≦Al≦3質量%
0.5質量%≦ZrO≦3質量%
であることを特徴とするガラス組成物。
2.質量比B/(Al+ZrO)が0.4〜5であることを特徴とする、前記項1に記載のガラス組成物。
3. 非結晶化型である、前記項1に記載のガラス組成物。
4. 粒度D50が0.3〜2.5μm、かつ、Dmaxが10μm以下の粉末状である、前記項1に記載のガラス組成物。
5. 前記項1〜4のいずれか記載のガラス組成物及び導電性粒子を含む導体形成用組成物。
6. さらに溶剤及びバインダーの少なくとも1種を含む、前記項5に記載の導体形成用組成物。
7. 太陽電池の導体を形成するために用いる、前記項5に記載の導体形成用組成物。
本発明のガラス組成物によれば、耐水性に優れることから、ガラス特性を大幅に変化させることなく、水を溶媒として用いた湿式粉砕が可能になる。その結果、微細なガラス粉末を工業的にも大量に安価に製造することができる。同時に、溶媒としてアルコールを使用しなくて済むので、ガラス組成物を導体形成用に使用する場合にはアルコール残留による悪影響を未然に回避することができる。
また、本発明のガラス組成物は、結晶化が抑制されているため、短時間での焼成でも導体の接着性が確保できる。しかも、半導体に適用する場合は、構成元素が比較的少ない組成であるために半導体の特性に与える影響が小さく、また導体の細線化にも対応できる。
このようなガラス組成物は、導電性粒子と混合して用いることにより、導体形成用組成物として用いることができ、各種の導体の形成に幅広く使用することができる。とりわけ、太陽電池の導体の形成に好適に用いることができる。
本発明のガラス組成物(本発明ガラス組成物)は、PbO、SiO、B、Al及びZrOを含むガラス組成物であって、
前記各成分の含有量が、
75.5質量%≦PbO<80質量、
15質量%<SiO≦21質量%、
1.5質量%≦B≦5質量%、
0.5質量%≦Al≦3質量%
0.5質量%≦ZrO≦3質量%
であることを特徴とする。
PbO
PbOは軟化点を調整するための成分であり、同じ軟化点調整元素であるアルカリ金属酸化物と異なり、耐水性への影響が少ない。PbOの含有量は、75.5質量%以上であり、80質量%未満とし、好ましくは76質量%以上79.5質量%以下とする。PbO含有量が80質量%以上になると結晶化が抑制できなくなり、耐水性も悪くなる。また、PbO含有量が75.5質量%未満では軟化点が500℃を超える。
SiO
SiOはガラスの耐水性を向上させるのに有効な成分である。また、被接着体がシリコン半導体の場合、シリコンと同じ元素であるのでよりなじみやすいという利点もある。このような見地より、SiOの含有量は、15質量%を超え、21質量%以下とし、好ましくは15.5質量%以上20.5質量%以下とする。より好ましくは、SiOの含有量は19質量%未満とする。SiO含有量が15質量%以下では十分な耐水性が得られず、したがって長時間の微粉砕に耐えられない。一方、SiO含有量が21質量%を超える場合は軟化点が高くなりすぎて500℃以下にならない。

は、結晶化を抑制する役割をもつ成分である。すなわち、Bを所定量含有させることによりZrOやAlを含有する高PbO含有ガラス組成物であっても結晶化を効果的に抑制することができる。従って、Bの含有量は、1.5質量%以上5質量%以下とし、好ましくは2質量%以上5質量%以下とする。Bの含有量が5質量%を超える場合はガラスの耐水性が弱まり、微粉砕に適さなくなる。Bの含有量が1.5質量%未満では結晶化を抑制することができない。
Al
Alは少量の添加でガラスの結晶化を抑制する働きがある。Alの含有量は、0.5質量%以上3質量%以下とし、好ましくは0.5質量%以上1.5質量%以下とする。Al含有量が0.5質量%未満では十分に結晶化を抑制することはできない。また、Al含有量が3質量%を超えると結晶化を促進させる。
ZrO
ZrOはAlと併用することでガラスの耐水性を向上することができる。その結果、水中で長時間微粉砕を行うことが可能となり、サブミクロンオーダーの微粉も得ることが可能になる。ZrOの含有量は0.5質量%以上3質量%以下とし、好ましくは0.5質量%以上2.5質量%以下とし、より好ましくは0.5質量%以上2.0質量%以下とする。ZrO含有量が3質量%を超えるとガラスの結晶化が促進される。ZrO含有量が0.5質量%未満の場合は所望の耐水性が得られなくなる。
/(Al +ZrO )比
本発明ガラス組成物では、質量比B/(Al+ZrO)が0.4以上5以下とすることが好ましく、特に1以上4以下とすることがより好ましい。また、例えば後記の実施例に示すように、1.3〜2.1とすることもできる。上記範囲内に設定することによって、高PbO含有ガラス組成物であっても結晶化しにくく、耐水性も優れたガラス組成物を得ることができる。上記の質量比が0.4未満の場合、AlとZrO添加による結晶化を抑制することができないことがある。上記の質量比が5を超えるとガラスの耐水性が低下するおそれがある。
本発明ガラス組成物では、本発明の効果を妨げない範囲内で他の成分が含まれていても良い。例えば、MgO、CaO、SrO、BaO、Y、La、Gd、Bi、TiO等の少なくとも1種が含まれていても良い。この場合、これらの成分は質量%で合量2%以下まで含有しても良く、より好ましくは1%以下とする。但し、導体形成用組成物としては、ガラスの耐水性を低下させるアルカリ金属酸化物、ガラスの結晶化を促進するZnO、環境等に影響を及ぼすCdO、As、Sbは含有させないことが好ましい。
結晶化温度等
本発明ガラス組成物は、非結晶化型であることが好ましい。すなわち、後記の試験例1(1)に示す示差熱分析にて800℃以下の温度範囲内の昇温で結晶化による発熱ピークが存在しないことが望ましい。このような物性を有するガラス組成物であれば、導体形成等の際の焼成温度の範囲内での結晶化を効果的に抑制することができ、短時間での焼成でも導体との接着性を確保することができる。
また、本発明のガラス組成物の軟化点は500℃以下、特に450℃以上500℃以下であることが好ましい。軟化点を500℃以下に制御することにより、短時間で焼成できる等の効果が得られる。
また、本発明のガラス組成物の耐水性は、後記の試験例1に示す重量減少率(以下、単に「重量減少率」という。)で0.04%以下、特に0.035%以下、さらには0.03%以下であることが好ましい。重量減少率を0.04%以下に制御した場合には、より高い耐水性を得ることができる結果、水を溶媒として用いた湿式粉砕によっても物性が大きく変化せずに微細な粉末を提供することが可能になる。
平均粒径等
本発明のガラス組成物の形態は限定的ではないが、通常は粉末状(粉末状ガラス組成物)であることが好ましい。この場合の粒度は、ガラス組成物の用途、使用方法等に応じて適宜設定することができる。例えば、導体形成用に用いる場合は、粒度D50が0.3〜2.5μm、かつ、Dmaxが10μm以下とすることが好ましい。この範囲に設定することにより、線幅20μm程度の導体の細線化により確実に対応することができる。D50が0.3μm未満は、工業的に粉砕法により製造できる限界を超える。D50が2.5μm以上になると、乾式法でも有利に製造することができるためガラスに耐水性は要求されない。Dmaxが10μmを超えると導体の細線化に対応できない。
導体形成用組成物
本発明のガラス組成物は、従来のガラス組成物と同様の用途に使用することができ、例えば導体形成用、焼結助剤等が挙げられる。特に、導体形成用として好適に用いることができる。具体的には、前記の粉末状ガラス組成物及び導電性粒子を含む導体形成用組成物として好適に用いることができる。
粉末状ガラス組成物としては、前記のような粒度を有するガラス粉末を好適に用いることができる。すなわち、D50が0.3〜2.5μm、かつ、Dmaxが10μm以下の粉末状のガラス組成物を好適に用いることができる。
本発明の導体形成用組成物の固形分中における粉末状ガラス組成物の含有量は、所望の導電性等に応じて適宜設定すれば良いが、通常は1〜15質量%程度とすれば良い。
導電性粒子は、特に限定されず、例えば金属粒子、グラファイト粒子等を用いることができる。金属としては、例えば銀、銅、金、ニッケル、アルミニウム等のほか、これらを含む合金又は金属間化合物を用いることができる。これらは、用途等に応じて適宜選択することができる。例えば、太陽電池の半導体(特にシリコン)に接続する導体を形成する場合は、銀及びアルミニウムの少なくとも1種を好適に用いることができる。
導電性粒子の平均粒径は、形成する導体の形状等に応じて変更することができるが、通常は0.1〜10μm程度とすれば良い。また、導電性粒子の形状も限定されず、例えば球状、フレーク状等のいずれの形状であっても良い。
本発明の導体形成用組成物の固形分中における導電性粒子(粉末)の含有量は、通常85〜99質量%程度とすれば良い。
また、導電性粒子と粉末状ガラス組成物との比率は、所望の導電性等に応じて適宜設定することができるが、通常は導電性粒子と粉末状ガラス組成物との合計を100質量%として、
導電性粒子85〜99質量%及び粉末ガラス組成物が1〜15質量%程度の比率とするのが好ましく、特に導電性粒子90〜99質量%及び粉末ガラス組成物は1〜10質量%とすることがより好ましい。
本発明の導体形成用組成物は、粉末状であっても良いが、特にペースト状(導電性ペースト)の形態で好適に用いることができる。すなわち、1)溶剤及びバインダーの少なくとも1種、2)本発明の粉末状ガラス組成物及び3)導電性粒子(粉末)を含むペーストが好ましい。例えば、一般的なペーストとしては、セルロース系樹脂、アルキッド樹脂等をターピネオール、カルビトール、セルソルブ等の有機溶剤に溶解して得られた溶液を有機ビヒクルとして用い、さらに必要に応じて分散剤、表面処理剤等の添加剤を配合することもできる。そして、その固形分含有量は通常60〜90質量%程度とすれば良い。また、この他にも、例えば感光性ペーストも調製することができる。この場合、主としてベースポリマー、光重合性多官能モノマー(又はオリゴマー)、光重合開始剤、その他の添加物を含むビヒクル中に本発明の粉末状ガラス組成物及び導電性粒子(粉末)を均一分散させれば良い。
このように、本発明の導体形成用組成物は、導電性ペーストとして用いることもでき、各種の導体(特に電極及び電気配線の少なくとも1種)の形成に適している。例えば、太陽電池の導体(特に電極及び配線の少なくとも1種)の形成に好適に用いることができる。また、太陽電池に用いる半導体としては、多結晶シリコン、単結晶シリコン、アモルファスシリコン、化合物半導体等の各種があるが、この中でも、多結晶シリコン、単結晶シリコン及びアモルファスシリコンのいずれかのシリコン系半導体を用いた太陽電池(シリコン系太陽電池)において、シリコン系半導体に接続する電極又は配線の形成に好適である。すなわち、本発明の導体形成用組成物は、シリコン系半導体に対してより高い接着強度で接合することができる。
導電性ペーストを用いて導体を形成する方法としては、例えば導電性ペーストにより塗膜を形成する工程及び前記塗膜を焼成する工程を含む方法により実施することができる。塗膜を形成する方法自体は公知の方法に従えば良く、例えばスクリーン印刷等の各種印刷方法のほか、塗布、スプレー等の方法により実施することができる。塗膜を形成した後、焼成前においては、必要に応じて乾燥しても良い。焼成する際の焼成温度は、例えば導電性ペーストの組成、導電性ペーストの適用部位、用途等により異なるが、例えば太陽電池の導体を形成する場合等は600〜800℃程度とすれば良い。また、焼成雰囲気は、導電性粒子の種類等に応じて、例えば大気中、不活性ガス雰囲気、還元性雰囲気等の中から適宜選択すれば良い。
本発明ガラス組成物の製造方法
本発明ガラス組成物の製造方法としては、特に限定されない。まず、原料としては、本発明ガラス組成物のガラス成分の供給源となる化合物を出発原料として使用すれば良い。例えば、BのためにHBO、B等を用いることができる。また例えば、AlのためにAl(OH)、Al等を用いることができる。他の成分についても、SiO、ZrOを等のように、各種酸化物、炭酸塩、硝酸塩等の通常に用いられる出発原料を採用することができる。そして、これらを所定の割合で含有する混合物を出発原料として用い、これらを溶融することにより本発明ガラス組成物を得ることができる。
本発明ガラス組成物の製造方法としては、例えば1)原料化合物を混合することにより混合物を得る第1工程及び2)得られた混合物を溶融することにより溶融物を得る第2工程を含む製造方法によって、本発明ガラス組成物を得ることができる。
第1工程では、本発明ガラス組成物の組成・比率となるように前記の出発原料を秤量し、混合することにより混合物を調製する。この場合、各成分の原料の混合順序等は特に制限されず、同時に配合しても良いし、所定の化合物から順番に配合しても良い。また、原料は、通常は粉末の形態で供給される。このような原料粉末は、各成分を含む原料を公知の方法で粉砕、混合等を実施することにより得ることができる。
第2工程では、混合物を溶融することにより溶融物を得る。溶融に際しては、原料組成等に応じてガラス溶融温度を設定すれば良いが、通常は900〜1300℃程度(好ましくは900〜1100℃)で実施すれば良い。得られた溶融物は、必要に応じて、溶融物からそのまま粉末を製造する工程に供しても良い。例えば、溶融物を冷却ロールにて冷却しながらフレーク状粉末を得ることができる。また例えば、溶融物を冷却した後、必要に応じて粉砕、分級等の処理することにより粉末を得ることもできる。このようにして、本発明ガラス組成物は、粉末状として好適に提供することができる。
粉末状とする場合の平均粒径(D50)は限定的ではないが、通常は50μm以下の範囲内において使用形態、用途等に応じて適宜調節することができる。特に、本発明のガラス組成物では、耐水性に優れているので、前記のように微細粉末を水を用いた湿式粉砕で調製することができる。すなわち、溶媒として水を用いた湿式粉砕により本発明のガラス組成物を粉砕することによりD50が0.3〜2.5μm、かつ、Dmaxが10μm以下の微粉末を得ることができる。特に、溶媒として水を用いた湿式粉砕により本発明のガラス組成物を粉砕することにより、重量減少率0.04%以下を維持しながら、D50が0.3〜2.5μm、かつ、Dmaxが10μm以下の微粉末を得ることができる。
以下に実施例及び比較例を示し、本発明の特徴をより具体的に説明する。ただし、本発明の範囲は、実施例に限定されない。
実施例1〜8及び比較例1〜8
表1及び表2に示す組成となるよう原料を調合し、混合した後、約900〜1100℃の温度で1〜2時間溶融した。得られた溶融物をステンレス鋼製の冷却ロールにて急冷し、ガラスフレーク(試料)をそれぞれ作製した。
試験例1
実施例及び比較例で得られた試料について、ガラス転移点、軟化点、結晶化温度及び耐水性を下記の方法に従って調べた。その結果を表1及び表2に示す。
(1)ガラス転移点、軟化点及び結晶化温度
理学電機(株)社製DTA(型名「TG−8120」)を用いて、試料を大気雰囲気下において20℃/分の昇温速度で示差熱分析を行い、それぞれ接線法により求めた。なお、試料は、ガラスフレークを乳鉢でできるだけ細かくすり潰し、約50mgで測定した。測定範囲は室温から800℃までとした。特に、結晶化温度については、800℃以下の範囲において結晶化による発熱ピークが存在しなかった場合は非結晶化型のガラス組成物と判断した。
(2)耐水性
耐水性は、重量減少率で評価した。重量減少率は、日本光学硝子工業会規格の「光学ガラスの化学的耐久性の測定方法(粉末法)」に則り、測定した。より具体的には以下の方法1)〜10)の手順により実施した。
1)フレークを乳鉢で粉砕し、補助網ふるい710μmを通過した粉末から、標準網ふるい600μmを通過し、425μmにとどまる大きさの粉末を採取する。
2)ガラスの比重グラムの試料(約6g)の粉末を50mlビーカーに入れ、15mlのイソプロピルアルコール(IPA)を加え、傾斜法によりガラス微粉を除去する。
3)この洗浄を5回繰り返し、120〜130℃の空気浴中で60分間乾燥する。
4)ガラスの比重グラムの試料(約6g)を、溶出用かご(白金製の標準ふるい177〜210μmからなる)に採取し、軽く振動した後、ふた付秤量びんの中にいれ精秤する。
5)丸底フラスコにpH6.5〜7.5の純水を約80ml入れ、冷却管を付け加熱装置の中で10分間保持する。
6)試料を入れた溶出用かごを、丸底フラスコの中に静かに挿入し、99℃以上に保持された加熱装置の中で60分間保持した後、取り出す。
7)約80mlのIPAで溶出用かごを洗浄する。
8)前記7)の作業を3回繰り返した後、120〜130℃の空気浴中で60分間乾燥する。
9)シリカゲルデシケータ中で60分間放冷後、ふた付秤量びんの中に入れ、精秤する。
10)前記4)〜9)の操作を2回繰り返し、2回の平均値を求める。
Figure 2011052336
Figure 2011052336
試験例2
実施例及び比較例で得られた試料から得られたガラス微粉末を用いて導電性ペーストを調製し、その接着強度を調べた。その結果を表1及び表2に示す。
まず、ガラス微粉末は、耐水性の悪いものも比較評価できるように乾式で作製した。すなわち、ボールミルで平均粒径が5〜10μmとなるまで粉砕し、気流式分級機で平均粒径(D50)が2.5μm、トップサイズ(最大径)(Dmax)が10μm以下になるように篩い分けした。次いで、前記ガラス微粉末を用いて導電性ペーストを調製した。導電性ペーストは、銀粒子(平均粒径:1μm程度)100重量部に対して前記ガラス微粉末を3重量部添加した。これにビヒクルを添加し、三本ロールで混練することにより固形分約85質量%のAgペーストを調製した。なお、前記ビヒクルとしては、ターピネオールにエチルセルロースを15重量%溶解させたものを使用した。
得られた導電性ペーストを用いて、シリコンウエハ上にスクリーン印刷により印刷し、150℃で乾燥させた後、800℃で焼成して電極膜(導体)を形成した。得られた電極膜について、その接着強度を測定した。接着強度の測定は、電極膜の上からセロハンテープを押し付けた後、セロハンテープを引き剥がした後でも、導体がウエハ上に剥がれずに密着できているかで評価した。セロハンテープによる剥がしテストでも導体が剥がれなかったものを「○」、剥がれたものを「×」と評価した。その結果を表1及び表2に示す。
表1及び表2の結果からも明らかなように、比較例1〜8においては、結晶化して導体の密着強度が低下する、軟化点が高くて導体の密着性が得られない、耐水性が不十分であるなど、導体添加用ガラス組成物としては適用し得ないことがわかる。これに対し、実施例1〜8は、いずれの物性の点からみても、導体添加用ガラスとして好適に使用できることがわかる。

Claims (7)

  1. PbO、SiO、B、Al及びZrOを含むガラス組成物であって、前記各成分の含有量が、
    75.5質量%≦PbO<80質量、
    15質量%<SiO≦21質量%、
    1.5質量%≦B≦5質量%、
    0.5質量%≦Al≦3質量%
    0.5質量%≦ZrO≦3質量%
    であることを特徴とするガラス組成物
  2. 質量比B/(Al+ZrO)が0.4〜5である、請求項1に記載のガラス組成物。
  3. 非結晶化型である、請求項1に記載のガラス組成物。
  4. 粒度D50が0.3〜2.5μm、かつ、Dmaxが10μm以下の粉末状である、請求項1に記載のガラス組成物。
  5. 請求項1〜4のいずれかに記載のガラス組成物及び導電性粒子を含む導体形成用組成物。
  6. さらに溶剤及びバインダーの少なくとも1種を含む、請求項5に記載の導体形成用組成物。
  7. 太陽電池の導体を形成するために用いる、請求項5に記載の導体形成用組成物。
JP2011538319A 2009-10-29 2010-09-30 ガラス組成物及びそれを用いた導体形成用組成物 Pending JPWO2011052336A1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009249185 2009-10-29
JP2009249185 2009-10-29
PCT/JP2010/067052 WO2011052336A1 (ja) 2009-10-29 2010-09-30 ガラス組成物及びそれを用いた導体形成用組成物

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2011052336A1 true JPWO2011052336A1 (ja) 2013-03-21

Family

ID=43921764

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011538319A Pending JPWO2011052336A1 (ja) 2009-10-29 2010-09-30 ガラス組成物及びそれを用いた導体形成用組成物

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPWO2011052336A1 (ja)
WO (1) WO2011052336A1 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101350960B1 (ko) * 2012-01-13 2014-01-16 한화케미칼 주식회사 글래스 프릿, 이를 포함하는 도전성 페이스트 조성물 및 태양전지
JP2013212949A (ja) * 2012-04-02 2013-10-17 Nippon Electric Glass Co Ltd 電極形成用ガラス及びこれを用いた電極形成材料
JP5943295B2 (ja) * 2012-06-22 2016-07-05 日本電気硝子株式会社 電極形成用ガラス及びこれを用いた電極形成材料
JP6112384B2 (ja) * 2012-07-31 2017-04-12 日本電気硝子株式会社 電極形成用ガラス及びこれを用いた電極形成材料
DE102017200413A1 (de) 2016-02-02 2017-08-03 Schott Ag Röntgen- und Gamma-Strahlen abschirmendes Glas

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03187949A (ja) * 1989-12-16 1991-08-15 Mitsubishi Electric Corp 非晶質シールガラス
JPH04362039A (ja) * 1991-06-06 1992-12-15 Nippon Electric Glass Co Ltd 磁気ヘッド用低融点ガラス
JPH0826769A (ja) * 1994-07-14 1996-01-30 Nippon Electric Glass Co Ltd 磁気ヘッド接着用ガラス
JP4138366B2 (ja) * 2001-05-29 2008-08-27 株式会社オハラ 光学ガラス
DE10203226A1 (de) * 2002-01-28 2003-09-04 Schott Glas Optisches Glas
JP4907331B2 (ja) * 2006-12-25 2012-03-28 京セラ株式会社 光電変換素子用導電性ペースト、光電変換素子、および光電変換素子の作製方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011052336A1 (ja) 2011-05-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5522900B2 (ja) 電極形成用導電性組成物及び太陽電池の形成方法
EP2566826B1 (en) Thick-film pastes containing lead-tellurium-lithium- oxides, and their use in the manufacture of semiconductor devices
JP2013089600A (ja) 厚膜銀ペーストと半導体デバイスの製造においてのその使用
US9087937B2 (en) Glass composition and its use in conductive silver paste
EP3026674B1 (en) Composition for forming solar cell electrode, and electrode produced from composition
JP2018078120A (ja) 酸化アンチモンを含有する厚膜組成物および半導体デバイスの製造におけるその使用
CN103177791B (zh) 一种太阳能电池用铝导电浆料及其制备方法
JP2011525887A (ja) 光起電力電池用導体に用いるガラス組成物
KR101020143B1 (ko) 비스무트계 봉착 재료 및 비스무트계 페이스트 재료
TW201115592A (en) Glass compositions used in conductors for photovoltaic cells
KR20120025972A (ko) ZnO계 글래스 프릿 조성물 및 이를 이용한 태양전지의 후면 전극용 알루미늄 페이스트 조성물
JP2015506066A (ja) メタルラップスルーシリコン太陽電池のための導電性銀ペースト
JPWO2011052336A1 (ja) ガラス組成物及びそれを用いた導体形成用組成物
CN104513012A (zh) 玻璃粉末材料
WO2013023181A1 (en) Silver paste with no or poor fire-through capability and use thereof for a solar cell metallisation
US20120168689A1 (en) Lead-free conductive paste composition
JP6351332B2 (ja) 低融点ガラス組成物を含む導体形成用組成物
JP5784004B2 (ja) 鉛ガラス組成物及びそれを含む導体形成用組成物
CN105731809A (zh) 一种加热丝用绝缘材料及其制备与应用方法
WO2013031957A1 (ja) 導体形成用無鉛ガラス組成物
JP2019085307A (ja) ガラス組成物、ガラス粉末、導電ペーストおよび太陽電池
JP6902398B2 (ja) 導体形成用Sb系ガラス組成物及びその製造方法
JP2018517271A (ja) 太陽電池電極形成用組成物及び当該組成物から製造された電極
JP2003267750A (ja) 抵抗体被覆用ガラス組成物
CN116092722B (zh) 一种片式电阻正面电极浆料及其制备方法及片式电阻