JPWO2010109809A1 - 故障予測システムおよび電子機器、故障予測方法 - Google Patents

故障予測システムおよび電子機器、故障予測方法 Download PDF

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Abstract

故障予測システムは、機器から発生する振動を計測する振動計測器と、振動計測器が計測した前記振動の振幅値が所定の閾値を越えた状態で所定の時間以上継続すると、故障予測を行う信号処理器とを有する。また、振動計測器は、機器から発生する振動の振幅値を周波数ごとに計測する。さらに、信号処理器は、振幅値の時間変化に基づいて故障予測を行う。ここで、信号処理器は、振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行い、所定の計測時間ごとの直線の傾きを算出し、直線の傾きの推移に基づき機器の故障を予測する。これらにより、故障予測を行う頻度を高めることなく、装置の動作性能の低下を抑制することができる。

Description

本発明は、故障予測システムに関し、特に電子機器等の故障予測システムに関する。
近年様々な電子機器が、私たちの生活における多くの場面で導入され利用されている。また電子化された情報は、電子機器に組み込まれることで膨大な量となっている。このような電子化された情報や多くの電子機器は、私たちの生活に欠かせないものとなっている。一方、電子機器は多数の機構部品が複雑に構成されているため、稼働中に機構部品が多数回動作によって劣化して破損してしまい故障する場合や、また突発的な衝撃により故障が発生してしまう場合がある。このような故障が起こると、利用者は電子機器が利用できなくなるだけでなく、大切な情報を消失してしまうことにもなりかねない。またこのような故障は、場合によっては私達の生活に経済的に大幅な損失をもたらしてしまうこともある。そのため故障予測システムの開発が、電子機器などの装置において進められている。
このような故障予測システムに関連する文献として、特許文献1に、磁気ディスク装置における障害予測のシステムが記載されている。
図19を用いて、磁気ディスク装置の構成を説明する。図19は、磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。同図に示すようにこの磁気ディスク装置101は、自動増幅調整(AGC:Automatic Gain Control)を備えるリードチャネル106と、メモリ109と、ディスク媒体115と、ヘッド監視部117と、障害予測部118とを少なくとも備える。
AGCとは、ディスク媒体115からサーボデータを読み出した際に、ヘッドから出力される信号を自動増幅する調節機構をいう。例えば、ヘッドが浮上してディスク媒体115から離れると、ヘッド先端に発生している磁界のディスク媒体115への作用が弱まることにより、弱まったヘッドからの出力信号を自動増幅される。障害予測部118は、AGCの信号出力強度が所定の範囲内、つまり正常に読み書きが行える状態時の増幅率であるか否かに基づいて、ヘッドの異常浮上を検出するものである。
次に特許文献1における障害予測の動作について説明する。ヘッド監視部117は、ヘッドの異常浮上回数を測定する一定のタイミングがくると、ディスク媒体115内に設けた一部の測定ゾーンについて、リードチャネル116内に備えられたAGCの値を監視して測定する。
障害予測部118は、ヘッド監視部117において測定をしたAGCの値がディスク媒体115に記録されたAGC基準値よりも大きい場合には、ヘッドが異常浮上しているものとして検出する。そして障害予測部118は、ヘッドの異常浮上累積回数と、定期的に行われる測定時間区分(例えば、測定時の古い順から区分A、B、CおよびD)ごとの異常浮上回数をメモリ109に保存する。障害予測部118は、メモリ9に保存されている測定データから、出荷時からの測定時間区分および異常浮上回数からなるグラフを作成する。そして障害予測部118は、異常浮上回数が増加傾向にあるか、または異常浮上回数の出荷時からの累積回数が閾値を超えていないかを算出する。
障害予測部118は、異常浮上回数が増加傾向にある場合には、メモリ109に記録されている前回測定時のヘッドの異常浮上回数が増加傾向にあるか否か確認する。障害予測部118は、前回測定時もヘッドの異常浮上回数が増加傾向にある場合には、障害が発生する可能性が高いとして警告を発する。
障害予測部118は、異常浮上回数が増加傾向にない場合には、メモリ109に記録されている異常浮上回数の累積回数が閾値を超えているか否か確認する。障害予測部118は、異常浮上回数の累積回数が閾値を超えている場合には、障害が発生する可能性が高いとして警告を発する。
また他の故障予測システムに関連する文献として、特許文献2には軸受からのAE(Acoustic Emission)を検出して異常を診断する、異常検出装置が記載さている。
AEとは、材料が変形したりき裂が発生したりする際に、材料が内部に蓄えていたひずみエネルギーを弾性波として放出する現象のことである。
図20を用いて特許文献2の軸受の異常検出装置の構成を説明する。異常検出装置は、ピークホールド回路206と、基準値発生器207と、比較器208と、AD変換器210と、CPU(中央処理装置)211を備えている。
次に、異常検出の動作について説明する。ピークホールド回路206は、AE信号を検出すると、このAE信号のピーク値を検出して保持し、AD変換器210および比較器208に、ピーク値を出力する。
比較器208は、基準値発生器207が発生する基準値と、ピークホールド回路206からのピーク値とを比較し、ピーク値が基準値を越えたときに、トリガー信号をAD変換器210とCPU211に出力する。
そしてAD変換器210は、比較器208からトリガー信号を受けたときにAE信号が処理可能な状態になり、AE信号をAD変換する。
CPU211も、比較器8からトリガー信号を受けたときにAE信号が処理可能な状態になり、AD変換器210からデジタル化されたAE信号を取り込んで、軸受の異常を診断する。したがってAD変換器210とCPU211は、AE信号のピーク値が基準値を越えたときだけ、AE信号を信号処理する動作をする。
つまりAD変換器210とCPU211は、AE信号のピーク値が基準値を下回っているときには、AE信号を信号処理する動作をしない。すなわち、AD変換器210とCPU211は、AE信号が軸受の異常診断に有効でない値のときには、AE信号を信号処理する動作を行わないため、通常動作性能を低下させず、また故障予測精度が高い故障予測システムを提供することができる。
特開2007-335013号公報 特開平7-77459号公報
しかしながら上述のような特許文献1における障害予測システムでは、計測ごとに故障予測の増減の推移や比較を行うために、故障予測を行う頻度が高くなってしまう。そのため装置の演算処理機能に負荷がかかり、装置の通常動作に影響を与え性能を低下してしまう問題点があった。また特許文献2における異常検出装置では、周辺の一時的な機器雑音等に起因した振動、突発的に起こる環境振動などを誤ってエラーカウントしまい、正常にもかかわらず計測を開始してしまうおそれがあった。そのため、故障とは関係のない振動の場合においても、故障予測を行ってしまう。そのため、故障予測を行う頻度が高くなってしまい、演算処理に負荷がかかってしまう問題点があった。
本発明の目的は、故障予測を行う頻度を高めることなく、装置の動作性能の低下を抑制する故障予測システムを提供することにある。
本発明の故障予測システムは、機器から発生する振動を計測する振動計測器と、前記振動計測器が計測した前記振動の振幅値が所定の閾値を越え、かつ所定の時間以上継続すると故障予測を行う信号処理器とを有している。
本発明は、故障予測を行う頻度を高めることなく、装置の動作性能の低下を抑制することができる。
本発明の第1の実施形態に係る故障予測システムの構成図である。 本発明の第1の実施形態に係る故障予測システムのフローチャートである。 振動の周波数スペクトル図である。 本発明の第2の実施形態に係る故障予測システムの構成図である。 本発明の第2の実施形態に係る故障予測システムのフローチャートである。 振動の特定の周波数fにおける振幅推移図である。 本発明の第3の実施形態に係る故障予測システムの構成図である。 本発明の第3の実施形態に係る故障予測システムのフローチャートである。 本発明の第4の実施形態に係る故障予測システムのフローチャートである。 本発明の第4の実施形態に係る故障予測システムのフローチャートである。 本発明の第5の実施形態に係る故障予測システムをコンピュータ装置に内蔵した場合の構成図である。 本発明の第5の実施形態に係る故障予測システムをコンピュータ装置に内蔵した場合、コンピュータ装置の装置メモリを用いた構成図である。 本発明の第5の実施形態に係る故障予測システムをコンピュータ装置に内蔵した場合、外部装置の外部メモリを用いた構成図である。 本発明の第6の実施形態に係る故障予測システムをコンピュータ装置に外付けした場合の構成図である。 本発明の第6の実施形態に係る故障予測システムをコンピュータ装置に外付けした場合、コンピュータ装置の装置メモリを用いた構成図である。 本発明の第6の実施形態に係る故障予測システムをコンピュータ装置に外付けした場合、外部装置の外部メモリを用いた構成図である。 本発明の第7の実施形態に係る故障予測システムをハードディスク装置に内蔵した場合の構成図である。 本発明の第7の実施形態に係る故障予測システムをハードディスク装置に内蔵した場合、ハードディスク装置の装置メモリを用いた構成図である。 実施例に係る記憶装置の故障予測結果である。 特許文献1における磁気ディスク装置の構成図である。 特許文献2における軸受の異常検出装置の構成図である。
[第1の実施形態]本発明の第1の実施形態を、図面を用いて詳細に説明する。
[構成の説明]図1に本発明の故障予測システム1の構成図を示す。本発明の故障予測システム1は、振動計測器3と信号処理器7とメモリ8を備えている。
振動計測器3は、故障予測の対象となる機器の振動を計測する機能を有し、図示していない機器に取り付けられている。機器とはハードディスク装置のように振動を発生するものを備えた電子機器のことをいう。
信号処理器7は、信号変換部4と信号解析部5と信号判定部6を備えている。
信号変換部4は、振動計測器3と信号解析部5に接続され、振動のアナログ信号をデジタル信号へ変換する機能を有する。
信号解析部5は、信号変換部4と接続しており、振動のデジタル信号に対して、振幅値の大きさを周波数の値から見た振動スペクトルにより計測を行う。振動スペクトルとは、図3のように縦軸を振動の振幅値、横軸を周波数としたグラフのことである。そして信号解析部5は、特定の周波数fにおいて、振動の振幅値が所定の閾値を越え、かつ所定の時間以上継続すると、特定の周波数fにおける振幅値の時間変化について解析をする。
信号判定部6は、信号解析部5と接続しており、特定の周波数fにおける振動の振幅値の時間変化に基づいて、故障予測を行う機能を有する。
メモリ8は、信号解析部5と接続している。
[動作の説明]次に、本発明の故障予測システム1の動作を図2のフローチャートを用いて説明する。
S1において、振動計測器3は、機器の周波数と振動振幅値とを計測し、計測した周波数と振動振幅値の信号を信号処理器7の信号変換部4へ送る。次にS2処理を進める。
S2において、信号変換部4は、振動計測器3からの振動のアナログ信号をデジタル信号へ変換し、信号解析部5に送信する。次にS3に処理を進める。
S3において、信号解析部5は、信号変換部4からの振動のデジタル信号に対して、振幅値の大きさを周波数の値から見た振動スペクトルにより解析を行う。次にS4に処理を進める。
S4において、信号解析部5は、図3に示すように例えば特定の周波数fにおける振動の振幅値が所定の閾値Aを超えた場合、次にS5に処理を進める。振動の振幅値が所定の閾値Aを超えない場合は、S1の処理に戻る。
S5において、信号解析部5は振動の振幅値が所定の閾値Aを超えたデータをメモリ8に保存する。
S6において、信号解析部5は特定の周波数fにおいて振動の振幅値が所定の閾値Aを超えた状態で、所定の継続時間である閾値時間B以上経過すると、次にS7に処理を進める。振動の振幅値が閾値Aを越えた状態で、閾値時間B以上継続して経過しなかった場合、S1の処理に戻る。なお、S1の処理に戻る際に、メモリに保存された内容をリセットすることもできる。
ここで振動スペクトルの解析における振幅値の閾値Aは、故障の要因となる振動に対して漏れを少なくなるように、かつ故障とは関係のない振動の故障予測の解析を始めてしまい、機器の通常の動作に影響を与えてしまうことのないように設定される。
同様に振幅値の閾値Aを超えた状態で継続する閾値時間Bについても、故障の要因となる振動に対して漏れを少なくなるように、かつ閾値Bについても、故障とは関係のない振動の故障予測の解析を始めてしまい、機器の通常の動作に影響を与えてしまうことのないように設定される。
そこで振幅値の閾値Aと、閾値Aを超えた状態の継続時間の閾値時間Bは、機器の故障要因に応じて発生する振動に基づいて決定する。実際に機器が故障に至った際の振動スペクトルの振幅値や、振幅値が一定の閾値をこえた状態で継続する時間を実験から周波数ごとに測定し、データベース化した。このデータベースに基づいて、故障の要因となる閾値Aと閾値時間Bは、設定される。なお周波数に応じて故障の要因は異なるため、閾値Aと閾値時間Bは周波数に応じて設定される。
S7において、信号判定部6は特定の周波数fにおける振動振幅値の時間変化に基づいて、故障予測を開始する。
[効果の説明]第1の実施形態における効果について説明する。第1の実施形態における故障予測システム1は、通常動作では図3のように振動解析開始部9は振動スペクトルの振幅値が閾値Aを超えた値で、所定の継続時間である閾値時間B以上継続しているかのみモニタリングしている。つまり故障予測システム1は、故障予測を常に行っているのではなく、第一段階として故障への進行に伴う特徴的な振動を直接抽出する監視を行っている。
これにより故障予測システム1は、故障に至る可能性の高い振動の特定周波数fを抽出することで、故障予測を行う頻度を抑制することが出来る。そのため故障予測システム1は、故障の進行に関与しない機器の振動のデータの取得や解析を行う必要がなく、突発的な振動と故障の進行に伴う振動を区別できる。その結果、故障予測システム1は、正常にも関わらず故障予測の解析を行うことで、対象となる機器の性能が低下することを抑制でき、機器の通常動作における演算処理などの性能を低下させず、負荷を抑えることができる。
[第2の実施形態]本発明の第2の実施形態を、図面を用いて詳細に説明する。
[構成の説明]図4にシステム全体構成図を示す。故障予測システム1は、第1の実施形態と同様に故信号計測器3と信号処理器7とメモリ8を備えている。また信号処理器7は、信号変換部4と信号解析部5と信号判定部6を備えている。各ブロックの接続関係についても、第1の実施形態と同様の接続関係を有している。
第2の実施形態と第1の実施形態との相違点として、信号解析部5は振動解析開始部9と振動振幅値解析部10を有している。
振動解析開始部9は、信号変換部4と接続しており、振動のデジタル信号に対して、振幅値の大きさを周波数の値から見た振動スペクトルにより計測を行う。そして特定の周波数fにおいて、振動の振幅値が所定の閾値を越え、かつ所定の時間以上継続すると、特定の周波数fにおける振動の振幅値の時間変化について解析を開始する。
振動振幅値解析部10は、振動解析開始部9と接続しており、振動の振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行い、所定の計測時間ごとに直線の傾きを算出する。
[動作の説明]次に、第2の実施形態における故障予測システム1の動作を図5のフローチャートを用いて説明する。
S101において、振動計測器3は、機器の周波数と振動振幅値とを計測し、計測した周波数と振動振幅値の信号を信号処理器7の信号変換部4へ送る。次にS102処理を進める。
S102における動作は、第1の実施形態のS2からS6における動作と同様であるため、故障予測解析処理として1つのステップとして示した。なお、第2の実施例では、S102におけるS3からS6に該当する動作は、信号解析部5における信号解析開始部9が処理を行う。そして信号解析開始部9が、特定の周波数fにおいて振動の振幅値が所定の閾値Aを超えた状態で、所定の継続時間である閾値時間B以上経過すると、次にS103に処理を進める。
S103において、振動振幅値解析部10は異常点を除外するために測定する振幅値の下限値と上限値を設定する。次にS104に処理を進める。
S104において、振動振幅値解析部10は、測定した振幅値が下限値以上、上限値以下で設定される範囲以内であるか比較を行う。振幅値が範囲を超えた場合はS105に処理を進める。測定値が範囲を超えない場合は、S106に処理を進める。
S105において、振動振幅値解析部10は、上記の範囲を超えた振幅値を異常データとして除外する。次にS106に処理を進める。
S106において、振動振幅値解析部10は、メモリ8に保存されている特定の周波数fにおける振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行う。次にS107に処理を進める。
S107において、振動振幅値解析部10は、連続する所定の数点ごとの傾きを算出する。次にS108に処理を進める。所定の数点とは、閾値Aや閾値時間Bと同様に実際に機器が故障に至った実験のデータベースに基づいて、故障の要因となる値を設定する。
S108において、振動振幅値解析部10は、所定の時間経過すると特定の周波数fにおける振幅値の故障解析を終了し、S101の処理に戻る。なお、S101の処理に戻る際に、メモリに保存された内容をリセットすることもできる。振動振幅値解析部10は、所定の時間経過していなければ、S109に処理を進める。
S109において、信号判定部6は、判定用閾値と判定用継続回数を各々設定し、直線回帰の傾きの推移から故障判定を行う。図6のように直線回帰による傾きの解析は連続する所定の数点ごとに算出する。
そしてS109において、信号判定部6は、振動振幅値解析部10が算出した連続する所定の数点ごとの傾きが、判定用閾値以上でかつ判定用継続回数を越えた値で観測された場合、S110に処理を進め機器の故障が予測できると判断する。
しかし、S109において、信号判定部6は上記の条件を満たさない場合は、特定の周波数fにおける振幅値の故障解析を終了する。そして、S101の処理に戻る。なお、S101の処理に戻る際に、メモリに保存された内容をリセットすることもできる。
判定用閾値は、特定の周波数fにおける振幅値を計測開始後、最初に算出した所定の数点における傾きa1の指定数倍α倍に設定される。
また判定用継続回数は、測定したデータの連続する所定の数点ごとの傾きが判定用閾値を超えた値で、連続して発生する回数とする。
なお、閾値Aや閾値時間Bと同様に、判定用閾値、判定用継続回数は、実際に機器が故障に至った実験のデータベースに基づいて、故障の要因となる値を設定する。
[効果の説明]第2の実施形態における効果について説明する。第2の実施形態における故障予測システム1は、振動解析開始部9が、特定の周波数fにおいて振動の振幅値が閾値Aを超えた状態で、閾値時間B以上継続すると、機器が故障となる可能性が高いとして故障予測の解析を始める。そして振動振幅値解析部10は、特定の周波数fにおける振動の振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行う。
第2の実施形態における故障予測システム1は、信号判定部6が故障の進行に関与する振動に対して、判定用閾値と判定用継続回数を各々設定し、直線回帰の傾きの推移から故障判定を行うことで、精度の高い故障予測を行うことができる。
また、振動振幅値解析部10は異常点を除外するために測定する振幅値の上限と下限の閾値を設定すること、簡素な算出処理によって雑音等に起因した振動を除外できる。
[第3の実施形態]本発明の第3の実施形態を、図面を用いて詳細に説明する。
[構成の説明]図7にシステム全体構成図を示す。故障予測システム1は、第2の実施形態と同様に故信号計測器3と信号処理器7とメモリ8を備えている。また信号処理器7は、信号変換部4と信号解析部5と信号判定部6を備え、信号解析部5は振動解析開始部9と振動振幅値解析部10を有している。各ブロックの接続関係についても、第2の実施形態と同様の接続関係を有している。
第3の実施形態と第2の実施形態との相違点として、信号解析部5は残差設定部11を有している。残差設定部11は、振動振幅値解析部10と信号判定部6と接続しており、所定の計測時間ごとの傾きから残差閾値を計算し、残差閾値を越えた残差を除外する機能を有する。
[動作の説明]次に、第3の実施形態における故障予測システム1の動作を図8のフローチャートを用いて説明する。
S201において、振動計測器3は、機器の周波数と振動振幅値とを計測し、計測した周波数と振動振幅値の信号を信号処理器7の信号変換部4へ送る。次にS202処理を進める。
S202において、信号変換部4と振動解析開始部9は第2の実施形態のS102における動作と同様の信号解析開始処理を行う。次に、S203に処理を進める。
S203において、振動振幅値解析部10は異常点を除外するために測定する振幅値の下限値と上限値を設定する。次にS204に処理を進める。
S204において、振動振幅値解析部10は、測定した振幅値が下限値以上、上限値以下で設定される範囲以内であるか比較を行う。振幅値が範囲を超えた場合はS205に処理を進める。測定値が範囲を超えない場合は、S206に処理を進める。
S205において、振動振幅値解析部10は、上記の範囲を超えた測定値を異常データとして除外する。次にS206に処理を進める。
S206において、振動振幅値解析部10は、メモリ8に保存されている特定の周波数fにおける振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行う。次にS207に処理を進める。
S207において、振動振幅値解析部10は、連続する所定の数点ごとの傾きを算出する。次にS208に処理を進める。所定の数点とは、閾値Aや閾値時間Bと同様に実際に機器が故障に至った実験のデータベースに基づいて、故障の要因となる値を設定する。
S208において、残差設定部11は前回の測定値までの連続する所定の数点ごとの傾きから、今回の測定値における残差を算出する。次にS209に処理を進める。
ここで残差について説明する。残差とは、図6に示すとおり振動振幅値解析部10が直線回帰により算出した前回の測定値まで連続する所定の数点ごとの傾きから算出された今回の予測値と、実際に測定された今回の測定値との差である。
S209において、残差設定部11は残差閾値を設定する。残差閾値の設定方法について説明する。まず、前回の測定値まで連続する所定の数点ごとの傾きに指定倍数±γ倍を乗じる。指定倍数を乗じた傾きから算出された予測値の範囲を残差閾値とする。
S210において、残差設定部11は、今回の測定値におけるデータで算出された残差が残差閾値の下限値以上、上限値以下の範囲を越えた場合は、S211に処理を進める。今回の測定値で算出された残差が残差閾値を越えない場合は、S212に処理を進める。
なお、上記において残差閾値は指定倍数とされているが、前回の測定値までの連続する所定の数点ごとの傾きに基づいて残差閾値を絶対値を変動することもできる。ただし、S210において残差設定部11は、残差閾値の範囲外である測定値が2点以上連続して計測された場合は、S211に処理を進めない。
閾値Aや閾値時間Bと同様に、残差閾値は、実際に機器が故障に至った実験のデータベースに基づいて、故障の要因となる値を設定する。
S211において、残差設定部11は、残差閾値の範囲外である測定値を除外する。そしてS212に処理を進める。
S212において、振動振幅値解析部10は、所定の時間経過すると特定の周波数fにおける振幅値の故障解析を終了し、S201の処理に戻る。なお、S201の処理に戻る際に、メモリに保存された内容をリセットすることもできる。振動振幅値解析部10は、所定の時間経過していなければ、S213に処理を進める。
S213において、第2の実施形態におけるS109の動作と同様に、信号判定部6は、連続する所定の数点ごとの傾きが、判定用閾値以上でかつ判定用継続回数を越えた値で観測された場合、S214に処理を進め機器の故障が予測できると判断する。
しかし、S213において、信号判定部6は、上記の条件を満たさない場合は、特定の周波数fにおける振幅値の故障解析を終了する。そして、S201の処理に戻る。なお、S1の処理に戻る際に、メモリに保存された内容をリセットすることもできる。
また、第4の実施形態における故障予測システム1の動作は、S212とS213は動作の順番を入れ替えることも可能である。
[効果の説明]第3の実施形態における効果について説明する。第3の実施形態における故障予測システム1は、残差設定部11が前回の測定値までの所定の数点ごとの傾きから、今回の測定値の残差を算出する。そして、残差設定部11は残差閾値を設定し、今回の測定値の残差が残差閾値を越えた場合に除外を行う。
第3の実施形態における故障予測システム1は、残差設定部11が残差閾値を設定することで、雑音等に起因した振動を除外できるため相関係数が高い直線回帰が可能となる。また故障の進行に関与する振動に対して、直線回帰を行い直線の傾きから故障診断を行うことで、精度の高い故障予測を行うことができる。
第3の実施例における故障予測システム1では、残差設定部11は残差閾値の範囲外である測定値が2点以上連続して計算された場合は、測定値の除外は行わない。そのため、故障の要因となる可能性が高い振動による測定値の除外を回避することができる。
[第4の実施形態]本発明の第4の実施形態を、図面を用いて詳細に説明する。
[構成の説明]第4の実施形態は、第3の実施形態と同様な図7のシステム全体構成図で構成されている。
[動作の説明]次に、第4の実施形態における故障予測システム1の動作を図9A、図9Bのフローチャートを用いて説明する。
S301において、振動計測器3は、機器の周波数と振動振幅値とを計測し、計測した周波数と振動振幅値の信号を信号処理器7の信号変換部4へ送る。次にS302処理を進める。
S302において、信号変換部4と振動解析開始部9は第3の実施形態のS202における動作と同様の信号解析開始処理を行う。次に、S303に処理を進める。
S303において、振動振幅値解析部10は異常点を除外するために測定する振幅値の下限値と上限値を設定する。次にS304に処理を進める。
S304において、振動振幅値解析部10は、測定値が下限値以上、上限値以下で設定される範囲以内であるか比較を行う。測定値が範囲を超えた場合はS305に処理を進める。測定値が範囲を超えない場合は、S306に処理を進める。
S305において、振動振幅値解析部10は、上記の範囲を超えた測定を異常データとして除外する。次にS306に処理を進める。
S306において、振動振幅値解析部10は、メモリ8に保存されている特定の周波数fにおける振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行う。次にS307に処理を進める。
S307において、振動振幅値解析部10は、連続する所定の数点ごとの傾きを算出する。次にS308に処理を進める。所定の数点とは、閾値Aや閾値時間Bと同様に実際に機器が故障に至った実験のデータベースに基づいて、故障の要因となる値を設定する。
S308において、残差設定部11は今回の測定値を含めた連続する所定の数点ごとの傾きから、次回に測定される予測値を算出する。次にS309に処理を進める。
S309において、残差設定部11は第3の実施形態と同様に、予測値から次回の測定における残差閾値を算出する。次にS310に処理を進める。
S310において、残差設定部11は次回の測定における予測値と残差閾値とをメモリ8に保存する。
S311において、残差設定部11は前回の測定時にメモリ8に保存している今回の測定における予測値と、今回の測定値におけるデータから残差を算出する。次にS312に処理を進める。
S312において、残差設定部11は今回の測定値で算出された残差が、メモリ8に保存している今回の測定における残差閾値の下限値以上、上限値以下の範囲を超えた場合は、S313に処理を進める。今回の測定値で算出された残差が、メモリ8に保存している残差閾値の範囲を越えない場合は、S314に処理を進める。
なお、上記において残差閾値は指定倍数とされているが、前回の測定値までの連続する所定の数点ごとの傾きに基づいて残差閾値を絶対値を変動することもできる。ただし、S312において残差設定部11は、残差閾値の範囲外である測定値が2点以上連続して計測された場合は、S313に処理を進めない。
S313において、残差設定部11は、残差閾値を超えた測定値を除外する。そしてS314に処理を進める。
S314において、振動振幅値解析部10は、所定の時間経過すると特定の周波数fにおける振幅値の故障解析を終了し、S301の処理に戻る。なお、S301の処理に戻る際に、メモリに保存された内容をリセットすることもできる。振動振幅値解析部10は、所定の時間経過していなければ、S315に処理を進める。
S315において、第3の実施形態におけるS213の動作と同様に、信号判定部6は、連続する所定の数点ごとの傾きが、判定用閾値以上でかつ判定用継続回数を越えた値で観測された場合、S316に処理を進め機器の故障が予測できると判断する。
しかし、S315において、信号判定部6は、上記の条件を満たさない場合は、特定の周波数fにおける振幅値の故障解析を終了する。そして、S301の処理に戻る。なお、S1の処理に戻る際に、メモリに保存された内容をリセットすることもできる。
また、第4の実施形態における故障予測システム1の動作はS314とS315は動作の順番を入れ替えることも可能である。
図9A、図9Bのフローチャートにおける、Aで示したS308からS310の動作の工程は、故障予測システム1を動作させるCPUとは、異なるCPUを利用することができる。例えば、故障予測システム1がCPUを複数個有している場合や、また故障予測システム1が適用される機器のCPUや、故障予測の対象となる機器とは異なる外部装置が有するCPUと接続することで、故障予測システム1を動作させるCPUとは、異なるCPUを利用することができる。
[効果の説明]第4の実施形態における効果について説明する。第4の実施形態における故障予測システム1は、残差設定部11が今回の測定値を含めた連続する所定の数点ごとの傾きから、次回に測定される予測値を算出する。そして残差設定部11は、予測値から次回の測定における残差閾値を算出し、予測値と残差閾値を算出しメモリ8に保存する。
そのため、第4の実施形態における故障予測システム1は、今回の測定値と、メモリ8に保存している予測値の差である残差を算出する。そして、残差とメモリ8に保存している残差閾値とを比較することで、測定値が残差閾値を越えているか判断することができる。予測値と残差閾値を算出してメモリ8に保存する手段と、残差を算出し残差閾値と比較する手段を平行して行うことで、残差閾値外の測定値である雑音等に起因した振動を除外する動作処理を迅速に行うことができる。
また、第4の実施形態における故障予測システム1は、S308からS310の動作における予測値と残差閾値の算出を、故障予測システム1を動作させるCPUとは異なるCPUで行うことで、予測値と残差閾値の算出を迅速に行うことができる。その結果、測定値が残差閾値で定められる範囲であるかの判断も迅速に行うことができる。
[第5の実施形態](故障予測システム1を内蔵した場合)本発明の第5の実施形態として、コンピュータ装置13に搭載される記憶装置2に、本発明の故障予測システム1を適用した場合を説明する。
[構成の説明]図10にシステム全体構成図を示す。故障予測システム1は、故障予測の対象となるコンピュータ装置13の内部に位置し、振動計測器3と信号処理器7とメモリ8を備えている。
コンピュータ装置13は、記憶装置2と制御回路12を備えている。
信号処理器7は、信号変換部4と信号解析部5と信号判定部6とを備えており、各々が第4の実施形態と同様の接続関係と機能を有している。また信号解析部5が備える、振動解析開始部9と振動振幅値解析部10と残差設定部11とについても第4の実施例と同様な接続関係を有している。
相違点として振動計測器3は、コンピュータ装置13の記憶装置2に取り付けられ、信号解析部5の振動振幅値解析部10は、メモリ8と接続している。また信号判定部6は、制御回路12と接続しており、故障と判断すると制御回路12に故障の情報を送信する。
[動作の説明]次に動作について説明する。
動作については、第1の実施形態から第4の実施形態のいずれかの動作で動く。
相違点として、信号判定部6は故障と予測するとコンピュータ装置13の制御回路12に故障の情報を送信する。
また第5の実施形態は故障予測の動作を複数回行うこともできる。信号判定部6が故障を予測できると判断した後、制御回路12は故障を予測できると判断した回数をカウントし、動作が最初に戻る。
制御回路12は、故障を予測できると判断した回数が1回目の場合はコンピュータ装置13の利用者には警告の情報を示す。また制御回路12は、故障を予測できると判断した回数が2度目の場合は、インターネットや配線などを通して他の装置にデータを移動し、3度目の場合は故障が起きる可能性が高いとしてコンピュータ装置13の電源を強制終了する。
[効果の説明]第5の実施形態における効果について説明する。第5の実施形態における故障予測システム1は、第4の実施形態までの効果と同様に、コンピュータ装置13の通常動作の性能を低下させず、かつ故障予測精度が高い故障予測システム1を提供することができる。
また図11のように故障予測システム1は、コンピュータ装置13に内蔵することで故障予測の解析によるデータの保存をコンピュータ装置13の装置メモリ14を利用することができる。そのため故障予測システム1は、新たにメモリを設ける必要はなく低コストでコンパクトな構成で上述の効果を達成することができる。
図12のように故障予測システム1は、外部装置15に外部メモリ16を設けることもできる。利用者は故障予測システム1が導入してあるコンピュータ装置13を使用した後に、扱うデータ量に応じて必要な容量の外部メモリ16を設定することができる。そのため利用者は、無駄なコストをかける必要がなく、利用状況に応じて故障予測システム1の外部メモリ16を選択することができる。
また、制御回路12が故障と予測できると判断した回数をカウントして、そのカウント数に応じて、利用者に警告の情報の表示や、他の装置へのデータの移動や、コンピュータ装置13の強制終了を自動的に行う。そのため、利用者が警告の情報に気付かない場合に、故障と予測できると判断した回数がカウントされ危険度が増すと、データの移動やコンピュータ装置13の強制終了などの処理を自動に行うことで、データの安全性が確保される。
[第6の実施形態](故障予測システム1を外付けした場合)[構成の説明]図13にシステム全体構成図を示す。故障予測システム1は、故障予測の対象となるコンピュータ装置13の外部に位置し、コンピュータ装置13と外部から接続している。故障予測システム1は振動計測器3と信号処理器7とメモリ8を備えている。
コンピュータ装置13は、記憶装置2とメモリ8と制御回路12を備えている。
信号処理器7は、信号変換部4と信号解析部5と信号判定部6を備えており、各々が第5の実施形態と同様の接続関係と機能を有している。また信号解析部5が備える、振動解析開始部9と振動振幅値解析部10と残差設定部11とについても第5の実施例と同様な接続関係を有している。
また故障予測システム1の動作については、第5の実施形態と同様であるので省略する。
[効果の説明]第6の実施形態における効果について説明する。第6の実施形態における故障予測システム1は、第5の実施形態の効果と同様に、コンピュータ装置13の通常動作の性能を低下させず、かつ故障予測精度が高い故障予測システム1を提供できる。
また故障予測システム1は、コンピュータ装置13に外部から接続している。そのため故障予測システム1を必要としない利用者は、故障予測システム1をコンピュータ装置13に最初から搭載することによる価格の上昇を抑えることができる。そして利用者は、コンピュータ装置13を利用後に、利用者の必要に応じて故障予測システム1を導入することができる。
また図15のように故障予測システム1は、コンピュータ装置13に内蔵している装置メモリ14を使用することができる。そのため利用者は新たにメモリを必要とすることがないので、低コストでコンパクトな構成で上述の効果を達成することができる。
図16のように故障予測システム1は、外部装置15に外部メモリ16を設けることもできる。利用者は、コンピュータ装置13に故障予測システム1を導入して使用した後に、利用者の扱うデータ量に応じて必要な容量の外部メモリ16を設定することができる。そのため、利用者は無駄なコストをかける必要がなく、利用状況に応じて故障予測システム1の外部メモリ16を選択することができる。
また、第5の実施形態と同様に制御回路12が故障と予測できると判断した回数をカウントして、そのカウント数に応じて、利用者に警告の情報の表示や、他の装置へのデータの移動や、コンピュータ装置13の強制終了を自動的に行う。そのため、利用者が警告の情報に気付かない場合などに、故障と予測できると判断した回数がカウントされ危険度が増すと、データの移動やコンピュータ装置13の強制終了などの処理を自動に行うことで、データの安全性が確保される。
[第7の実施形態](故障予測システム1をハードディスク装置17に適用した場合)本発明の第7の実施形態として、本発明の故障予測システム1を組み込んだハードディスク装置17を説明する。
[構成の説明]図16にシステム全体構成図を示す。故障予測システム1は、故障予測の対象となるハードディスク装置17の内部に位置し、振動計測器3と信号処理器7とメモリ8を備えている。
ハードディスク装置17は、ハードディスク制御回路18を備えている。
信号処理器7は、信号変換部4と信号解析部5と信号判定部6を備えており、各々が第6の実施形態と同様の接続関係と機能を有している。また信号解析部5が備える、振動解析開始部9と振動振幅値解析部10と残差設定部11とについても第6の実施例と同様な接続関係を有している。
相違点として振動計測器3は、ハードディスク装置17に取り付けられ、信号判定部6はハードディスク制御回路18と接続している。信号判定部6は、故障と判断するとハードディスク制御回路18に故障の情報を送信する。
[動作の説明]次に動作について説明する。
また故障予測システム1の動作については、第6の実施形態と同様であるので省略する。
相違点として振動計測器3は、ハードディスク装置17の振動を計測する。また信号判定部6は、故障と予測できると判断するとハードディスク装置17のハードディスク制御回路18に故障の情報を送信する。
また第7の実施形態は、第6の実施形態と同様に故障予測の動作を複数回行うこともできる。信号判定部6が故障を予測できると判断した後、ハードディスク制御回路18は故障を予測できると判断した回数をカウントし、動作が最初に戻る。
ハードディスク制御回路18は、故障を予測できると判断した回数に応じてハードディスク装置17が搭載された機器に警告の情報を送信する。
[効果の説明]第7の実施形態における効果について説明する。第7の実施形態における故障予測システム1は、ハードディスク装置17に組み込まれることによって特定のコンピュータ装置13などに限らず、ハードディスク装置17が搭載される様々な機器に故障予測システム1を適用することができる。
また図17のような故障予測システム1は、ハードディスク装置17に内蔵することで故障予測の解析によるデータの保存をハードディスク装置17の装置メモリ14を利用することができる。そのため故障予測システム1は、新たにメモリを設ける必要はなく低コストでコンパクトな構成で上述の効果を達成することができる。
ハード制御回路12は故障と予測できると判断した回数をカウントし、そのカウント数に応じて、ハードディスク装置17が搭載された機器に警告の情報を送信する。そのため機器は、送信された情報の回数に応じて危険度を認識することができ、データの移動などの安全性を確保する処理を行うことが出来る。
本発明の実施例として、コンピュータ装置13に搭載される記憶装置2に、本発明の故障予測システム1を適用した場合を説明する。
図10のシステム全体構成図において、実施を行った。故障予測システム1は、故障予測の対象となるコンピュータ装置13の内部に位置し、振動計測器3と信号処理器7とを備えている。
コンピュータ装置13は記憶装置2と制御回路12を備えている。
信号処理器7は信号変換部4と信号解析部5と信号判定部6とメモリ8とを備えている。
振動計測器3は、コンピュータ装置13の記憶装置2に取り付けられ、故障予測の対象となる機器の振動を計測する機能を有している。
信号変換部4は、振動計測器3と信号解析部5に接続され、振動のアナログ信号をデジタル信号へ変換する機能を有している。
信号解析部5は、振動解析開始部9と振動振幅値解析部10と残差設定部11とを備えている。
振動解析開始部9は、信号変換部4と接続しており、振動のデジタル信号に対して、振幅値の大きさを周波数の値から見た振動スペクトルの計算を行う。そして特定の周波数fにおいて、振動の振幅値が所定の閾値を越え、かつ所定の時間以上継続すると、振幅値について解析を開始する。
振動振幅値解析部10は、振動解析開始部9と接続しており、振動の振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行い、各計測時間ごとに直線の傾きを計算する。
残差設定部11は、振動振幅値解析部10と接続しており、各計測時間ごとの傾きから残差閾値を計算し、残差閾値を越えた残差を除外する機能を有する。
信号判定部6は、信号解析部5とコンピュータ装置13の制御回路12と接続しており、故障と判断すると制御回路12に故障の情報を送信する。
本実施例では、振動計測器3は振動センサ19を用いた。長さが7mm、幅が7mm、高さが5mmの圧電型加速度センサを、記憶装置2の表面中心に設置した。
また振動計測器3は、振動センサ19の代わりに音響マイクロホン20を用いて記憶装置2の振動を計測しても同様の効果を得ることができる。
本実施例で用いた振動センサ19の自己共振周波数は50kHz以上であり、測定する周波数帯域は、1Hzから20kHzとした。計測を開始する振動スペクトルの振幅値の閾値Aは0.5μm、閾値Aを継続するする時間の閾値Bを10秒に設定した。振幅データは5秒間隔で計測し、また直線回帰による傾きは連続する10点ごとに算出し、残差閾値は±5倍とした。
判定条件は、判定用閾値を直線回帰における傾きが初期の傾きに対して10倍に設定し、判定用継続回数を5回とした。振動センサ19の方式、寸法、設置箇所、測定周波数帯域、自己共振周波数、計測開始条件および判定条件は、これに限定されるものでない。
次に、実施例における動作について説明する。
振動計測器3は、振動センサ19により記憶装置2の表面中心における振動を計測し、増幅した振動のアナログ信号を信号処理器7の信号変換部4へ送信した。
信号変換部4において計測した振動のアナログ信号をデジタル信号へ変換し、信号解析部5に送信した。
信号解析部5における振動解析開始部9は信号変換部4からの振動のデジタル信号に対して離散型の高速フーリエ変換処理を適用して、振動スペクトルの振幅値により解析を行った。解析の周波数範囲は1Hzから20KHzとした。その結果、周波数が200Hzにおいて、振動スペクトルの振幅値が閾値Aである0.5μmを超えた値が観測されため、振動解析開始部9はデータをメモリ8に保存した。
次に振動解析開始部9は、200Hzにおいて振動の振幅値が所定の閾値Aである0.5μmを超えたデータが、閾値時間B以上である10秒以上観測されメモリに保存された。
そこで、振動振幅値解析部10は200Hzにおける振幅値の解析を開始し、200Hzにおける振幅値の時間変化のデータをメモリ8に保存した。
振動振幅値解析部10はメモリ8に保存された200Hzにおける振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行い、連続する10点ごとの直線の傾きを算出した。
残差設定部11は各計測時間における残差を算出した。残差設定部11は、直近の連続する10点における直線回帰による傾きから次に測定される予測値を算出し、傾きを±5倍して算出した予測値の範囲を残差閾値とした。そして残差設定部11は、予測値と残差閾値のデータをメモリ8に保存した。
残差設定部11は、測定値とメモリ8に保存された予測値から残差を算出する。残差設定部11は、残差が残差閾値の範囲外である測定値は除外した。
ただし、残差閾値の範囲外である測定値が2点以上連続して計測された場合は、2点とも除外は行わかった。
これにより雑音等に起因した振動値、一過性の振動、突発的に起こる環境振動、計測ミスなどを除外することで相関係数が高い直線回帰が可能となり故障予測精度を高めることができる。
判定用閾値は、振幅値の計測開始後、最初に算出した10点における直線回帰の傾きに対して10倍に設定した。
信号判定部6は測定値の連続した10点における傾きの値が、判定用閾値をこえているかどうか判定した。
信号判定部6は、200Hzにおける振幅値の時間変化の測定を開始後100秒後に、連続した10点の傾きが判定用閾値を超えた状態で、5回以上連続して観測された。そして信号判定部6は、記憶装置2の故障が予測されると判断し、コンピュータ装置13の制御回路12へ故障の情報を送信した。
その後、評価した記憶装置を意図的に連続動作させたところ、計測開始より35分後にハードディスクは読み書きできず故障となった。今回の実施例における実験結果と、他の故障要因に本発明の故障予測システムを適用した実験結果を図18に示す。
本実施例では、故障に起因した特定の周波数fの振動の振幅を直接抽出および計測し、その振幅値の推移は残差を利用して回帰直線の精度を高めている。したがって、記憶装置2の故障予測を高い精度で実現できる。
以上、実施の形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記によって限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
この出願は、2009年3月27日に出願された日本出願特願2009−079079を基礎とする優先権を主張し、その開示の全てをここに取り込む。
1:故障予測システム
2:記憶装置
3:振動計測器
4:信号変換部
5:信号解析部
6:信号判定部
7:信号処理器
8: メモリ
9:振動解析開始部
10:振動振幅値解析部
11:残差設定部
12:制御回路
13:コンピュータ装置
14:装置メモリ
15:外部装置
16:外部メモリ
17:ハードディスク装置
18:ハードディスク制御回路
19:振動センサ
20:音響マイク

Claims (26)

  1. 機器から発生する振動を計測する振動計測器と、
    前記振動計測器が計測した前記振動の振幅値が所定の閾値を越えた状態で所定の時間以上継続すると、故障予測を行う信号処理器と、
    を有していることを特徴とする故障予測システム。
  2. 前記振動計測器は、機器から発生する振動の振幅値を周波数ごとに計測することを特徴とする請求項1に記載の故障予測システム。
  3. 前記信号処理器は、前記振幅値の時間変化に基づいて故障予測を行うことを特徴とする請求項1または2に記載の故障予測システム。
  4. 前記信号処理器は、前記振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行い、所定の計測時間ごとの直線の傾きを算出し、前記直線の傾きの推移に基づき前記機器の故障を予測することを特徴とする請求項3に記載の故障予測システム。
  5. 前記振幅値について下限値と上限値とを設定されており、前記信号処理器は前記下限値以上、前記上限値以下の範囲を超えた前記振幅値を除外することを特徴とする請求項4に記載の故障予測システム。
  6. 前記信号処理器は、
    前記傾きに基づいて所定の計測時間における前記振幅値の予測値と残差閾値を算出し、
    前記所定の計測時間における前記振幅値の測定値と前記予測値との差である残差を算出し、
    前記残差が前記残差閾値における下限値以上、上限値以下の範囲を越えた場合に前記測定値を除外することを特徴とする請求項4または5に記載の故障予測システム。
  7. 前記残差閾値は、前記傾きに基づき算出することを特徴とする請求項6に記載の故障予測システム。
  8. 前記信号処理器は、所定の計測時間における前記振幅値のデータを記憶するメモリを備えていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項記載の故障予測システム。
  9. 請求項1乃至7に記載の前記故障予測システムを内部に備えていることを特徴とする電子機器。
  10. 前記故障予測システムは、メモリを備え、
    前記メモリは、所定の計測時間における前記振幅値のデータを記憶することを特徴とする請求項9に記載の電子機器。
  11. 内部に故障予測システムと接続される装置メモリを備え、
    前記装置メモリは、所定の計測時間における前記振幅値のデータを記憶することを特徴とする請求項9に記載の電子機器。
  12. 前記故障予測システムは、外部装置における外部メモリと接続され、
    前記第3のメモリは、所定の計測時間における前記振幅値のデータを記憶することを特徴とする請求項9に記載の電子機器。
  13. 請求項1乃至7に記載の前記故障予測システムと外部で接続していることを特徴とする電子機器。
  14. 前記故障予測システムは、メモリを備え、
    前記メモリは、所定の計測時間における前記振幅値のデータを記憶することを特徴とする請求項13に記載の電子機器。
  15. 内部に故障予測システムと接続される装置メモリを備え、
    前記装置メモリは、所定の計測時間における前記振幅値のデータを記憶することを特徴とする請求項13に記載の電子機器。
  16. 前記故障予測システムは、外部装置における外部メモリと接続され、
    前記外部メモリは、所定の計測時間における前記振幅値のデータを記憶することを特徴とする請求項13に記載の電子機器。
  17. 前記故障予測システムが故障を予測する動作を複数回行い、故障を予測できると判断した回数に応じてデータの安全性を確保する処理を行うことを特徴とする請求項8乃至15のいずれか1項記載の電子機器。
  18. 前記安全性を確保する処理は、警告情報を表示することを特徴とする請求項17に記載の電子機器。
  19. 前記安全性を確保する処理は、データを外部の装置に移動させることを特徴とする請求項17に記載の電子機器。
  20. 前記安全性を確保する処理は、強制終了を行うことを特徴とする請求項17に記載の電子機器。
  21. 機器から発生する振動を計測する第1の工程と、
    前記振動の振幅値が所定の閾値を越え、かつ前記振幅値が所定の閾値を越えた状態で所定の時間以上継続すると、故障予測を行う第2の工程と、
    を備えていることを特徴とする故障予測方法。
  22. 前記第2の工程は、前記振幅値の時間変化に基づいて故障予測を行うことを特徴とする請求項21に記載の故障予測方法。
  23. 前記第2の工程は、前記振幅値について時間を独立変数とした直線回帰を行い、所定の計測時間ごとの直線の傾きを算出する工程と、
    前記直線の傾きの推移に基づき前記機器の故障を予測する工程と、
    を備えていることを特徴とする請求項に記載22の故障予測方法。
  24. 前記第2の工程は、前記振幅値について下限値と上限値とを設定し、下限値以上、上限値以下の範囲を超えた前記振幅値を除外する工程を備えていることを特徴とする請求項23に記載の故障予測方法。
  25. 前記第2の工程は、
    前記傾きに基づいて所定の計測時間における前記振幅値の予測値と残差閾値とを算出する工程と、
    前記所定の計測時間における前記振幅値の測定値と前記予測値との差である残差を算出する工程と
    前記残差が前記残差閾値における下限値以上、上限値以下の範囲を越えた場合に前記測定値を除外する工程と、
    を備えていることを特徴とする請求項23または24に記載の故障予測方法。
  26. 前記第2の工程は、
    前記傾きに基づき所定の計測時間における前記振幅値の予測値と残差閾値とを算出する工程と、
    前記予測値と前記残差閾値とをメモリに保存する工程と、
    前記所定の計測時間における前記振幅値の測定値と前記予測値との差である残差を算出する工程と、
    前記残差が前記残差閾値における下限値以上、上限値以下の範囲を越えた場合に前記測定値を除外することを特徴とする請求項23または24に記載の故障予測方法。
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