JPWO2010100981A1 - 検査用同軸コネクタ - Google Patents

Abstract

耐久性に優れた検査用同軸コネクタを提供する。ハウジング（２５）は、外部導体が挿入される先端部（２６ａ）を有していると共に、該先端部（２６ａ）の径が伸縮可能な構造を有している。プローブ（１０）は、先端部（２６ａ）内を延在している。スリーブ（３０）は、ハウジング（２５）が挿入された筒状部（３１ａ）を有している。磁石（２８）は、レセプタクルが装着されていないときに、先端部（２６ａ）が筒状部（３１ａ）の外部に突出している状態が保持されるように、ハウジング（２５）及びスリーブ（３０）に対して力を及ぼす。磁石（２７）は、レセプタクルが装着されているときに、先端部（２６ａ）の少なくとも一部が筒状部（３１ａ）内に納まっていると共に、該先端部（２６ａ）が筒状部（３１ａ）の内周面に接触することにより該先端部（２６ａ）の径が広がることが規制されている状態が保持されるように、ハウジング（２５）及びスリーブ（３０）に対して力を及ぼす。

Description

本発明は、検査用同軸コネクタに関し、より特定的には、被検査体である相手方レセプタクルに着脱自在な検査用同軸コネクタに関する。

従来の検査用同軸コネクタとしては、特許文献１に記載の同軸コネクタが知られている。以下に、該同軸コネクタについて図面を参照しながら説明する。図９は、特許文献１に記載の同軸コネクタ１０１の断面構造図である。図１０は、同軸コネクタ１０１の先端部分の断面図である。図９及び図１０において、プローブ１１０が突出している方向を上下方向とする。

同軸コネクタ１０１は、図示しない同軸ケーブルの先端に設けられ、図９に示すように、プローブ１１０、コイルばね１２２、ハウジング１２５及びスリーブ１３０を備えている。プローブ１１０は、上下方向に延在しており、同軸ケーブルの中心導体と接続されている。ハウジング１２５は、円筒形の先端部１２６ａを備えており、図示しない同軸ケーブルのシールド導体と接続されている。更に、ハウジング１２５は、溝１２７ａ，１２７ｂを有している。また、前記プローブ１１０は、先端部１２６ａ内を挿通している。

スリーブ１３０は、下部１３１及び上部１３５を備えており、コイルばね１２２及びハウジング１２５を内部に収納している筐体である。下部１３１は、円筒部１３１ａ、鍔部１３１ｂ、ロック片１３２ａ及び突部１３２ｂを備えている。前記ハウジング１２５は、円筒部１３１ａ内を挿通している。鍔部１３１ｂは、円筒部１３１ａの上側の端部において、上下方向に対する垂直方向（すなわち、水平方向）に広がるように設けられた部分であり、上部１３５の下側の端部がかしめられることにより、該上部１３５に対して固定されている。また、ロック片１３２ａは、該ロック片１３２ａの先端に設けられている突部１３２ｂにおいてハウジング１２５の溝１２７ａに係合している。

上部１３５は、下側が開口している円筒形状を有しており、内部にコイルばね１２２及びハウジング１２５を収納している。スリーブ１３０とハウジング１２５とは、上部１３５の側面に沿って、上下方向に相対的にスライド可能である。ただし、通常では、図９（ａ）に示すように、コイルばね１２２により、ハウジング１２５は、下部１３１に接触するように、下側に押さえつけられている。これにより、ハウジング１２５の先端部１２６ａは、円筒部１３１ａの外部に突出している。

以上のような構成を有する同軸コネクタ１０１は、図１０に示すように、相手方レセプタクル２０１に装着される。相手方レセプタクル２０１は、例えば、携帯電話のアンテナと送受信回路との間に設けられるスイッチ付同軸コネクタであり、ケース２０３、外部導体２０５、固定端子２０６及び可動端子２０７を備えている。固定端子２０６はアンテナに接続され、可動端子２０７は送受信回路に接続される。そして、通常では、図１０（ａ）に示すように、固定端子２０６と可動端子２０７とが接触しているので、アンテナと送受信回路とが接続されている。一方、セットメーカーが携帯電話の送受信回路の電気特性をチェックする場合には、図１０（ｃ）に示すように、測定器が接続されたプローブ１１０が上側から下側へとケース２０３の孔２０４に挿入される。これにより、可動端子２０７がプローブ１１０により押し下げられる。その結果、固定端子２０６と可動端子２０７とが離れると共に、プローブ１１０と可動端子２０７とが接続され、送受信回路と測定器とが接続されるようになる。

ここで、同軸コネクタ１０１の相手方レセプタクル２０１への装着の詳細について説明する。図１０（ａ）に示すように、同軸コネクタ１０１の先端部１２６ａの先端には、該先端部１２６ａの中心方向へと突出する突部１２６ｂが設けられている。これにより、先端部１２６ａの内径は、外部導体２０５の外径よりも小さくなっている。ただし、先端部１２６ａは、その径が伸縮可能な構造を有している。故に、同軸コネクタ１０１の相手方レセプタクル２０１への装着途中では、先端部１２６ａの内部に外部導体２０５が挿入されることにより、図１０（ｂ）に示すように、先端部１２６ａの径は、図１０（ａ）の状態よりも広がっている。

更に、同軸コネクタ１０１が下側に押し下げられると、図１０（ｃ）に示すように、突部１２６ｂが外部導体２０５の外周に形成された溝２０５ａに係合すると共に、先端部１２６ａが外部導体２０５の上面２０５ｂに接触する。スリーブ１３０が下側に押し下げられる力によって上面２０５ｂが先端部１２６ｂに及ぼす反発力が、コイルばね１２２が縮み始めるのに必要な力より大きくなると、コイルばね１２２が縮んで、スリーブ１３０がハウジング１２５に対して下側にスライドする。これにより、先端部１２６ａがスリーブ１３１の円筒部１３１ａ内に収まり、円筒部１３１ａの内周面が先端部１２６ａの外周面に圧接することにより、突部１２６ｂが溝２０５ａに強固に係合するようになる。更に、円筒部１３１ａの内周面が先端部１２６ａの外周面に圧接することにより、先端部１２６ａの径が広がりすぎて、先端部１２６ａが塑性変形してしまうことが防止されている。

ところで、前記同軸コネクタ１０１は、以下に説明するように、耐久性の点において問題を有していた。より詳細には、同軸コネクタ１０１が相手方レセプタクル２０１に装着された場合には、図９（ｂ）に示すように、スリーブ１３１は、ハウジング１２５に対して下側にスライドする。この場合、コイルばね１２２は、図９（ａ）の状態よりも縮んだ状態となるので、ハウジング１２５は、下側へと押し下げられるようにコイルばね１２２から力を受ける。その結果、コイルばね１２２の力により、同軸コネクタ１０１が相手方レセプタクル２０１から簡単に外れてしまうおそれがある。

そこで、同軸コネクタ１０１では、図９（ｂ）の状態を保持するために、ロック片１３２ａの先端に設けられている突部１３２ｂが、ハウジング１２５に設けられている溝１２７ｂに係合している。これにより、同軸コネクタが相手方レセプタクル２０１に装着された状態において、コイルばね１２２の力により、同軸コネクタ１０１が、図９（ｂ）の状態から図９（ａ）の状態に戻ることを防止している。

しかしながら、同軸コネクタ１０１では、図９に示すように、スリーブ１３０がハウジング１２５に対して上下方向にスライドすると、突部１３２ｂは、ハウジング１２５の側面上を摺動することになる。同軸コネクタ１０１が相手方レセプタクル２０１に繰り返し着脱されると、ハウジング１２５及び突部１３２ｂが削られて削りかすが発生する。このような削りかすがハウジング１２５と突部１３２ｂとの間に入り込むと、スリーブ１３０が円滑にスライドしなくなってしまう。以上のように、同軸コネクタ１０１は、耐久性の点において問題を有していた。

国際公開第２００７／０８０６６３号パンフレット

そこで、本発明の目的は、耐久性に優れた検査用同軸コネクタを提供することである。

本発明の一形態に係る検査用同軸コネクタは、外部導体を有する被検査体である相手方レセプタクルに着脱自在な検査用同軸コネクタにおいて、前記外部導体が挿入される筒状の先端部分を有していると共に、該先端部分の径が伸縮可能な構造を有しているハウジングと、前記ハウジングと絶縁された状態で前記先端部分内を延在しているプローブと、前記ハウジングが挿入された筒状部分を有しているスリーブと、前記相手方レセプタクルが装着されていないときに、前記先端部分が前記筒状部分の外部に突出している第１の状態が保持されるように、前記ハウジング及び前記スリーブに対して力を及ぼす第１の磁石と、前記相手方レセプタクルが装着されているときに、前記先端部分の少なくとも一部が前記筒状部分内に収まっていると共に、該先端部分が該筒状部分の内周面に接触することにより該先端部分の径が広がることが規制されている第２の状態が保持されるように、前記ハウジング及び前記スリーブに対して力を及ぼす第２の磁石と、を備えていること、を特徴とする。

本発明によれば、耐久性に優れた検査用同軸コネクタを得ることができる。

本発明の一実施形態に係る検査用同軸コネクタの断面構造図である。 図１の検査用同軸コネクタの外観斜視図である。 図１の検査用同軸コネクタの分解斜視図である。 図１の検査用同軸コネクタの分解斜視図である。 図１の検査用同軸コネクタの分解斜視図である。 図１の検査用同軸コネクタの分解斜視図である。 相手方レセプタクルへの装着前、装着途中及び装着後における検査用同軸コネクタの先端部分の断面構造図である。 相手方レセプタクルへの装着前後における検査用同軸コネクタの断面構造図である。 特許文献１に記載の検査用同軸コネクタの断面構造図である。 図９の検査用同軸コネクタの先端部分の断面図である。

（検査用同軸コネクタの構造）
以下に、本発明の一実施形態に係る検査用同軸コネクタの構造について、図１及び図２を参照して説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る検査用同軸コネクタ１の断面構造図である。図２は、検査用同軸コネクタ１の外観斜視図である。以下、この検査用同軸コネクタ１の詳細について説明する。図１及び図２において、プローブ１０が突出している方向を上下方向とする。

検査用同軸コネクタ１は、図１に示すように、プローブ１０、ブッシング２０、吸着リング２２、ハウジング２５、磁石２７，２８及びスリーブ３０を備えている。プローブ１０は、図１に示すように、プランジャ１１、コイルばね１２及びバレル１３にて構成されている。プランジャ１１は、図１に示すように、上側の端部に平坦部分を有するベリリウム銅製のピンである。バレル１３は、下側に開口を有する真鍮製の筒状の部材である。バレル１３の内部には、プランジャ１１及びコイルばね１２が挿入されている。これにより、プランジャ１１は、下側から押さえつけられた場合、コイルばね１２が縮んで上側に退避することができる。

また、バレル１３の上側には、同軸ケーブル４０の中心導体４１がはんだ付けされている。プランジャ１１の上側の端部近傍の外周面は、バレル１３の円筒部分の内周面に接触しているので、プランジャ１１と中心導体４１とがバレル１３を介して電気的に接続されている。

ハウジング２５は、図１に示すように、ディスク２１、上部２５ａ及び下部２５ｂにより構成されている。上部２５ａは、相対的に大きな径を有する導電性部材（例えば、ベリリウム銅）からなる筒状体である。上部２５ａには、後述する開口部２９が設けられている。下部２５ｂは、上部２５ａの下側において該上部２５ａと一体的に設けられており、相対的に小さな径を有する導電性部材（例えば、ベリリウム銅）からなる筒状体である。上部２５ａ及び下部２５ｂは、同軸ケーブル４０のシールド導体４２にアダプタ４３を介して電気的に接続されている。

下部２５ｂは、先端部２６ａ及び突部２６ｂを含んでいる。先端部２６ａは、図１において、下部２５ｂがスリーブ３０から外部に突出している部分であり、相手方レセプタクル２０１の外部導体２０５が挿入される。なお、相手方レセプタクル２０１については既に説明を行ったので、説明を省略する。先端部２６ａは、該先端部２６ａの径が伸縮可能な構造を有している。具体的には、図２に示すように、先端部２６ａには、上下方向に延在する切込みＳが設けられている。これにより、先端部２６ａのばね性により、切込みＳが広がることにより、先端部２６ａは、水平方向に広がることができる。また、突部２６ｂは、先端部２６ａの内周面において、先端部２６ａの中心方向に突出するように設けられている。

ディスク２１は、磁性体材料からなる円盤状の部材であり、図１に示すように、ハウジング２５の上部２５ａの上側の開口をふさぐように設けられている。

吸着リング２２は、磁性体材料からなる円環状の部材であり、図１に示すように、ハウジング２５の上部２５ａの周囲に取り付けられている。

ブッシング２０は、樹脂等の絶縁体からなる筒状体である。ブッシング２０には、図１に示すように、プローブ１０が挿入されて固定されている。ブッシング２０の先端からは、プローブ１０の先端が突出している。

更に、プローブ１０が挿入されたブッシング２０は、図１に示すように、筒状のハウジング２５に挿入されて固定されている。ブッシング２０は絶縁体により構成されているので、プローブ１０とハウジング２５とは絶縁されている。また、プランジャ１１は、ハウジング２５の先端部２６ａ内を延在していると共に、該先端部２６ａから、突出している。

スリーブ３０は、下部３１、上部３５及びヨーク２３により構成されており、プローブ１０、ハウジング２５及び磁石２７，２８を内蔵する筐体である。下部３１は、相対的に径の小さな真鍮製の筒状体であり、筒状部３１ａ、鍔部３１ｂ、先端部３１ｃ及び筒状部３１ｄにより構成されている。筒状部３１ａには、図１に示すように、ハウジング２５の下部２５ｂが挿通している。筒状部３１ａの先端からは、ハウジング２５の先端部２６ａが突出している。

鍔部３１ｂは、筒状部３１ａの上側の端部が、水平方向に広がって形成された部分である。先端部３１ｃは、先端部２６ａの径が広がりすぎて先端部２６ａが塑性変形しないように、該先端部２６ａの広がりを規制する。筒状部３１ｄは、筒状部３１ａよりも大きな径を有した円筒であり、鍔部３１ｂの上側に延在するように設けられている。

上部３５は、相対的に径の大きな真鍮製の筒状体であり、図１に示すように、下部３１の上側に取り付けられる。より詳細には、図１に示すように、上部３５は、筒状部３１ｄが挿入されると共に、該上部３５の下側の端部が、鍔部３１ｂにかしめられることにより、下部３１に固定されている。また、上部３５には、後述する開口部３６が設けられている。ハウジング２５は、図１に示すように、下部３１内に収納されていると共に、上部３５の内周面に沿って上下方向にスライド可能である。

ヨーク２３は、磁性体材料からなる上部３５の蓋であり、内部には磁石２７が取り付けられている。ヨーク２３は、図１及び図２に示すように、開口が設けられた円筒形状を有しており、該開口が下側を向くように上部３５に取り付けられている。よって、磁石２７は、ヨーク２３の下側を向く面に取り付けられていることになる。また、ヨーク２３の下側を向く面は、ディスク２１に対向しているので、磁石２７は、ディスク２１と対向している。

磁石２８は、円環状をなしており、筒状部３１ｄの上側において上部３５の内周面に取り付けられている。これにより、磁石２８は、吸着リング２２と対向している。

（検査用同軸コネクタの組立て手順）
次に、検査用同軸コネクタ１の組立て手順について図２ないし図６を参照しながら説明する。図３ないし図６は、検査用同軸コネクタ１の分解斜視図である。

まず、図３に示すように、下側からバレル１３にコイルばね１２及びプランジャ１１を挿入し、プローブ１０を組み立てる。次に、図４に示すように、上側から該プローブ１０をブッシング２０の中心孔に挿入する。次に、上側からブッシング２０をハウジング２５の中心孔に挿入する。次に、ハウジング２５を吸着リング２２に挿入し、上部２５ａ下に吸着リング２２を固定する。吸着リング２２と上部２５ａとは、圧入によって固定されてもよいし、また、接着剤により固定されてもよい。

次に、下部３１の筒状部３１ｄ上に、磁石２８を固定する。磁石２８は、接着剤により筒状部３１ｄに固定される。そして、上側からハウジング２５を下部３１の中心孔に挿入する。

次に、図５に示すように、ハウジング２５の上部２５ａ、吸着リング２２及び磁石２８を覆うように上部３５を被せ、上部３５の下側の端部を鍔部３１ｂにかしめて接合一体化する。ここで、図６に示すように、同軸ケーブル４０の中心導体４１（図１参照）を上部３５の開口部３６及びハウジング２５の開口部２９から挿入してバレル１３の溝部１３ａにはんだ付けする。これにより、中心導体４１は、バレル１３及びコイルばね１２を介してプランジャ１１と電気的に接続される。また、同軸ケーブル４０のシールド導体４２（図１参照）と接続されているアダプタ４３をハウジング２５の開口部２９に嵌合させ、リング４４をアダプタ４３の外周部にかしめる。これにてシールド導体４２がアダプタ４３を介してハウジング２５と電気的に導通状態となる。なお、図１に示すように、同軸ケーブル４０の一端には、図示しない測定器への接続用コネクタ４５（図１参照）が設けられている。

次に、図６に示すように、磁石２７をヨーク２３に接着剤等で固定する。最後に、図６に示すように、ディスク２１をハウジング２５の上面に載置し、ヨーク２３を上部３５の上部に嵌合一体化させる。

（検査用同軸コネクタの動作）
次に、検査用同軸コネクタ１の動作について図７及び図８を参照して説明する。図７は、被検査体である相手方レセプタクル２０１への装着前、装着途中及び装着後における検査用同軸コネクタ１の先端部分の断面構造図である。図８は、相手方レセプタクル２０１への装着前後における検査用同軸コネクタ１の断面構造図である。

まず、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１に装着される前の状態（以下、第１の状態と称す）について説明する。図８（ａ）に示すように、吸着リング２２は、磁石２８に接触している。これにより、吸着リング２２は、磁石２８に吸着されている。そして、吸着リング２２は、ハウジング２５に取り付けられているので、ハウジング２５は、吸着リング２２と磁石２８との吸着力により下側に引き付けられる。その結果、上部２５ａの下側を向く下面２５ｃは、鍔部３１ｂの上側を向く面に接触するようになる。これにより、ハウジング２５は、スリーブ３０に対して位置決めされ、先端部２６ａは、所定の長さだけスリーブ３０の筒状部３１ａから突出するようになる。

なお、第１の状態では、磁石２８がハウジング２５及びスリーブ３０に及ぼす力は、磁石２７がハウジング２５及びスリーブ３０に及ぼす力よりも大きくなるように、ディスク２１、吸着リング２２、磁石２７及びヨーク２３が選択される。これにより、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１に装着されていない場合には、先端部２６ａが筒状部３１ａの外部に突出している状態が、磁石２８及び吸着リング２２により保持されるようになる。

次に、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１に装着される過程について説明する。検査用同軸コネクタ１の相手方レセプタクル２０１への装着は、上部３５をつまんで、該上部３５を押し下げることにより行われる。図７（ａ）に示すように、検査用同軸コネクタ１の先端部２６ａの先端には、該先端部２６ａの中心方向へと突出する突部２６ｂが設けられている。そのため、先端部２６ａの内径は、外部導体２０５の外径よりも小さくなっている。ただし、先端部２６ａは、その内径が伸縮可能な構造を有している。故に、検査用同軸コネクタ１の相手方レセプタクル２０１への装着途中では、先端部２６ａの内部に外部導体２０５が挿入されることにより、図７（ｂ）に示すように、先端部２６ａの内径は、図７（ａ）に示す第１の状態よりも広がっている。

更に、検査用同軸コネクタ１が下側に押し下げられると、図７（ｃ）に示すように、プランジャ１１の先端は、可動端子２０７を下側に押し下げる。これにより、固定端子２０６と可動端子２０７とは離れる。その結果、可動端子２０７は、プランジャ１１、コイルばね１２及びバレル１３を介して同軸ケーブル４０の中心導体４１と導通状態となる。

また、図７（ｃ）の状態において、突部２６ｂが外部導体２０５の外周に形成された溝２０５ａに係合すると共に、先端部２６ａが外部導体２０５の上面２０５ｂに接触する。スリーブ３０が下側に押し下げられる力によって上面２０５ｂが先端部２６ｂに及ぼす反発力が、吸着リング２２と磁石２８との間の吸着力より大きくなると、吸着リング２２と磁石２８とが離れ、スリーブ３０がハウジング２５に対して下側にスライドし、ディスク２１がヨーク２３に吸着される。これにより、先端部２６ａが下部３１の筒状部３１ａ内に収まり、筒状部３１ａの内周面が先端部２６ａの外周面に圧接することにより、突部２６ｂが溝２０５ａに強固に係合するようになる。更に、筒状部３１ａの内周面が先端部２６ａの外周面に圧接することにより、先端部２６ａの内径が広がりすぎて、先端部２６ａが塑性変形してしまうことが防止される。以上の動作により、検査用同軸コネクタ１は、ディスク２１がヨーク２３に吸着されることによって、相手方レセプタクル２０１に装着された状態（以下、第２の状態と称す）が保持されるようになる。

次に、検査用同軸コネクタ１を相手方レセプタクル２０１から離脱させる場合には、前記とは逆の手順により、即ち、上部３５の外周部を指でつまんで上側に引き抜けばよい。上部３５を引き上げる力が、磁石２７による力よりも大きくなると、スリーブ３０が上側に移動してディスク２１とヨーク２３との吸着が解除される。そして、下部３１の鍔部３１ｂは、慣性力により、ハウジング２５の下面２５ｃに当接するまで上側に移動する。更に、吸着リング２２と磁石２８とが接触し、吸着リング２２と磁石２８との間に吸着力が発生する。この際、先端部２６ａは、筒状部３１ａの外部に突出するので、先端部２６ａと筒状部３１ａとの接触が解除されて該先端部２６ａの径が広がる。これにより、突部２６ｂが溝２０５ａから離脱することになる。そして、相手方レセプタクル２０１においては、可動端子２０７は、自身の弾性にて上側に変位し、固定端子２０６との接続状態に復帰する。

次に、先端部２６ａに外部導体２０５が挿入されるのに必要な力Ｆ１と、図８（ａ）の状態において磁石２８が発生する力Ｆ２と、図８（ｂ）の状態において磁石２７が発生する力Ｆ３との関係について説明する。

まず、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１に装着される際には、ユーザは、力Ｆ１以上の力でスリーブ３０を下側に押さえつける必要がある。これにより、先端部２６ａに外部導体２０５が挿入される。なお、力Ｆ２の大きさは、力Ｆ１よりも大きい必要がある。力Ｆ２の大きさが、力Ｆ１よりも小さい場合には、先端部２６ａに外部導体２０５が挿入される前に、磁石２８と吸着リング２２の吸着が解除され、スリーブ３０が下側にスライドしてしまうからである。この場合、検査用同軸コネクタ１を相手方レセプタクル２０１に装着できない。そこで、本願発明者は、力Ｆ１の大きさが４Ｎとなり、力Ｆ２の大きさが６Ｎとなるように、検査用同軸コネクタ１を設計した。

先端部２６ａに外部導体２０５が挿入されると、ユーザは、力Ｆ２以上の力でスリーブ３０を下側に押さえつける。これにより、吸着リング２２と磁石２８との吸着が解除されて、先端部２６ａは、筒状部３１ａ内に収まり、検査用同軸コネクタ１は、相手方レセプタクル２０１に装着される。

一方、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１から離脱される際には、ユーザは、力Ｆ３よりも大きな力で上側にスリーブ３０を引き上げる必要がある。これにより、磁石２７が発生する力Ｆ３よりも、ユーザの引き上げる力が大きくなり、ディスク２１とヨーク２３との吸着が解除される。そして、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１から離脱する。本願発明者は、力Ｆ３の大きさが３Ｎとなるように設計した。これにより、ユーザは、３Ｎ以上の力を加えることにより、検査用同軸コネクタ１を相手方レセプタクル２０１から離脱させることができる。

また、検査用同軸コネクタ１では、第１の状態において、磁石２８がハウジング２５及びスリーブ３０に及ぼす力（すなわち、力Ｆ２）は、第２の状態において、磁石２７がハウジング２５及びスリーブ３０に及ぼす力（すなわち、力Ｆ３）よりも大きい。具体的には、力Ｆ２は、６Ｎに設定され、力Ｆ３は、３Ｎに設定されている。

（効果）
以上のように構成された検査用同軸コネクタ１によれば、以下に説明するように、同軸コネクタ１０１に比べて、高い耐久性を得ることができる。より詳細には、同軸コネクタ１０１では、図９に示すように、突部１３２ｂがハウジング１２５に対して摺動するので、同軸コネクタ１０１の相手方レセプタクル２０１への着脱が繰り返されると、突部１３２ｂやハウジング１２５が削れて削りかすが発生していた。このような削りかすは、突部１３２ｂとハウジング１２５との間に入り込んで、スリーブ１３０の円滑なスライドを阻害していた。

更に、突部１３２ｂがハウジング１２５に対して摺動すると、突部１３２ｂ及び溝１２７ａ，１２７ｂが削れてしまう。そのため、突部１３２ｂと溝１２７ａ，１２７ｂとが強く係合しなくなってしまう。以上のように、同軸コネクタ１０１は、耐久性に問題を有していた。

一方、検査用同軸コネクタ１では、図８（ｂ）に示すように、相手方レセプタクル２０１が装着された第２の状態を保持するために、磁石２７によりハウジング２５を上側に引き上げている。そのため、検査用同軸コネクタ１の相手方レセプタクル２０１への着脱の際に、ハウジング２５とスリーブ３０とが殆ど摺動しないので、ハウジング２５とスリーブ３０との間に削りかすが発生することがない。よって、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１に繰り返し着脱されても、スリーブ３０の円滑なスライドが阻害されることがなくなる。以上より、検査用同軸コネクタ１によれば、同軸コネクタ１０１に比べて、高い耐久性を得ることができる。

なお、本願発明者は、検査用同軸コネクタ１及び同軸コネクタ１０１を作製し、検査用同軸コネクタ１及び同軸コネクタ１０１の耐久試験を行った。従来の同軸コネクタ１０１では、突部１３２ｂとハウジング１２５との間にワックスを塗布した場合において、１００００回程度の着脱で不具合が発生し、突部１３２ｂとハウジング１２５との間にワックスを塗布しない場合において、３００回程度の着脱で不具合が発生した。一方、検査用同軸コネクタ１は、２００００回以上の相手方レセプタクル２０１への着脱に耐えうることが確認された。以上より、耐久試験により、検査用同軸コネクタ１は、同軸コネクタ１０１に比べて高い耐久性を有していることがわかる。

また、同軸コネクタ１０１では、耐久性を向上させるために、突部１３２ｂとハウジング１２５との間にワックスを塗布する必要があった。しかしながら、検査用同軸コネクタ１では、ハウジング２５とスリーブ３０とが押し付けられた状態で摺動しないので、ワックスが不要となる。

また、検査用同軸コネクタ１では、図８（ｂ）に示すように、相手方レセプタクル２０１に装着された第２の状態において、ディスク２１とヨーク２３とが接触し、ディスク２１と磁石２７とは接触していない。これにより、以下に説明するように、ハウジング２５とスリーブ３０とが安定して吸着するようになる。

より詳細には、ディスク２１及びヨーク２３は、強磁性体材料により構成されている。故に、図８（ｂ）に示すように、ディスク２１とヨーク２３とが接触すると、矢印φに示すような磁束が発生する。この場合、磁石２７がディスク２１に接触しているときが、ディスク２１とヨーク２３とは最も強力に吸着する。故に、ディスク２１とヨーク２３とが接触していると共に、ディスク２１と磁石２７とが接触していることが好ましい。一方、ディスク２１とヨーク２３とが接触していないと、ディスク２１とヨーク２３との間の吸着力は、ディスク２１とヨーク２３とが接触している場合の吸着力に比べて、極端に小さくなっている。磁石２７とディスク２１との間に隙間があってもディスク２１とヨーク２３とが接触していれば、吸着力の低下は僅かであり、また、その吸着力は、安定したものとなる。

実際の製品では、磁石２７がヨーク２３に接着剤を介して固定されており、該接着剤の厚みのばらつきにより、磁石２７の下面の位置がばらつく。また、焼成済みの磁石２７の面精度は悪くこの精度によっても磁石２７の下面の位置がばらつく。このように、製造ばらつき等により、ディスク２１とヨーク２３とが接触していると共に、ディスク２１と磁石２７とが接触している状態を作り込むことは困難である。したがって、ディスク２１とヨーク２３とが完全に接触するように、接着剤のばらつき、磁石２７の面精度を考慮して、磁石２７の下面とディスク２１との間に僅かな隙間を設けて、ディスク２１、ヨーク２３及び磁石２７の寸法を設定している。磁石２７は、高精度な研磨加工を行ってそのばらつきを低減している。磁石２７とディスク２１との間に隙間を設けることにより、高精度な研磨加工等を行う必要もない。

また、検査用同軸コネクタ１では、以下に説明するように、磁力の弱い磁石２７を用いることが可能となる。より詳細には、例えば、検査用同軸コネクタ１において、吸着リング２２及び磁石２８の代わりに、図９に示したようなコイルばね１２２を用いることが考えられる（以下、コイルばね１２２が適用された検査用同軸コネクタ１を比較例と称す）。該比較例では、図８（ｂ）に示すような第２の状態では、コイルばね１２２は、縮んだ状態となる。よって、比較例では、第２の状態において、ディスク２１と磁石２７とは、コイルばね１２２が伸びようとする力によって容易に離れないように吸着する必要がある。よって、比較例では、磁力の大きい高価な磁石２７を用いる必要があった。

一方、検査用同軸コネクタ１では、第２の状態において、吸着リング２２と磁石２８とは離れている。そのため、吸着リング２２と磁石２８との間には、殆ど吸着力が働かない。よって、検査用同軸コネクタ１では、比較例に比べて、ディスク２１と磁石２７との吸着力は、小さくてもよい。そのため、検査用同軸コネクタ１では、磁力の小さい安価な磁石２７を用いることができる。

また、検査用同軸コネクタ１では、以下に説明するように、設計が容易となる。より詳細には、前記比較例では、第２の状態において、コイルばね１２２は、縮んでいるので、ディスク２１と磁石２７とを引き離そうとする。よって、ディスク２１と磁石２７は、コイルばね１２２が伸びようとする力によって容易に離れない程度の力で吸着している必要がある。そのため、比較例では、コイルばね１２２が伸びようとする力を考慮して、ディスク２１と磁石２７とを設計する必要があった。

一方、検査用同軸コネクタ１では、第２の状態では、吸着リング２２と磁石２８とは離れているので、吸着リング２２と磁石２８との間には、殆ど吸着力は働かない。したがって、検査用同軸コネクタ１では、コイルばね１２２が伸びようとする力、及び、吸着リング２２と磁石２８との吸着力を考慮することなく、ディスク２１と磁石２７とを設計することができる。よって、検査用同軸コネクタ１では、設計が容易となる。

また、検査用同軸コネクタ１では、以下に説明するように、耐久性が向上する。より具体的には、図９に示す同軸コネクタ１０１では、コイルばね１２２は、相手方レセプタクル２０１への着脱の際に、伸縮を繰り返す。そのため、コイルばね１２２は、徐々に塑性変形して、弾力性を失っていく。一方、検査用同軸コネクタ１では、コイルばね１２２の代わりに、吸着リング２２及び磁石２８が用いられている。磁石２８には、永久磁石が用いられるので、長年の使用によっても、磁石２８の磁力は殆ど低下しない。よって、検査用同軸コネクタ１では、図９に示す同軸コネクタ１０１に比べて、相手方レセプタクル２０１への着脱に必要な力の大きさが繰り返しの使用によって変化しない。すなわち、検査用同軸コネクタ１は、同軸コネクタ１０１に比べて高い耐久性を有している。

また、検査用同軸コネクタ１では、第１の状態において、磁石２８がハウジング２５及びスリーブ３０に及ぼす力は、第２の状態において、磁石２７がハウジング２５及びスリーブ３０に及ぼす力よりも大きい。これにより、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１に装着される際の力は、検査用同軸コネクタ１が相手方レセプタクル２０１から離脱される際の力よりも大きくなる。よって、ユーザは、相対的に大きな力で検査用同軸コネクタ１を相手方レセプタクル２０１に押し込むことにより、手応えを感じながら、検査用同軸コネクタ１を相手方レセプタクル２０１に装着できる。更に、ユーザは、相対的に小さな力で、簡単に検査用同軸コネクタ１を相手方レセプタクル２０１から離脱させることができる。

（その他の実施形態）
なお、検査用同軸コネクタは、前記実施形態に係る検査用同軸コネクタ１に限定されるものではなく、その要旨の範囲内で種々に変更することができる。

検査用同軸コネクタ１では、スリーブ３０にヨーク２３及び磁石２７を取り付け、ハウジング２５にディスク２１を取り付けているが、ヨーク２３、磁石２７及びディスク２１の取り付け位置はこれに限らない。例えば、ハウジング２５にヨーク２３及び磁石２７を取り付け、スリーブ３０にディスク２１を取り付けてもよい。ただし、ハウジング２５に平板状のディスク２１を圧入する方が、ハウジング２５に円筒状のヨーク２３を圧入するよりも簡単であるので、スリーブ３０にヨーク２３及び磁石２７を取り付け、ハウジング２５にディスク２１を取り付けることが好ましい。

また、検査用同軸コネクタ１では、スリーブ３０に磁石２８を取り付け、ハウジング２５に吸着リング２２を取り付けているが、吸着リング２２及び磁石２８の取り付け位置はこれに限らない。例えば、ハウジング２５に磁石２８を取り付け、スリーブ３０に吸着リング２２を取り付けてもよい。

また、ディスク２１及び吸着リング２２の代わりに磁石が設けられていてもよい。

また、検査用同軸コネクタ１では、ディスク２１と磁石２７とは比較的近接して設けられているが、これらは離して設けられていてもよい。

なお、図７（ｃ）の状態では、先端部２６ａは、筒状部３１ａ内に完全に収まっているが、必ずしも筒状部３１ａ内に完全に収まっている必要はない。外部導体２０５の径が大きい場合には、先端部２６ａの径が大きく広がって、先端部２６ａが筒状部３１ａ内に完全に収まらない場合がある。故に、先端部２６ａの少なくとも一部が、筒状部３１ａに収まってさえいればよい。

本発明は、検査用同軸コネクタに有用であり、特に、耐久性に優れている。

１ 検査用同軸コネクタ
１０ プローブ
１１ プランジャ
２１ ディスク
２２ 吸着リング
２３ ヨーク
２５ ハウジング
２５ａ，３５ 上部
２５ｂ，３１ 下部
２５ｃ 下面
２６ａ 先端部
２６ｂ 突部
２７，２８ 磁石
３０ スリーブ
３１ａ 筒状部
３１ｂ 鍔部
３１ｃ 先端部

Claims (6)

1. 外部導体を有する被検査体である相手方レセプタクルに着脱自在な検査用同軸コネクタにおいて、
   前記外部導体が挿入される筒状の先端部分を有していると共に、該先端部分の径が伸縮可能な構造を有しているハウジングと、
   前記ハウジングと絶縁された状態で前記先端部分内を延在しているプローブと、
   前記ハウジングが挿入された筒状部分を有しているスリーブと、
   前記相手方レセプタクルが装着されていないときに、前記先端部分が前記筒状部分の外部に突出している第１の状態が保持されるように、前記ハウジング及び前記スリーブに対して力を及ぼす第１の磁石と、
   前記相手方レセプタクルが装着されているときに、前記先端部分の少なくとも一部が前記筒状部分内に収まっていると共に、該先端部分が該筒状部分の内周面に接触することにより該先端部分の径が広がることが規制されている第２の状態が保持されるように、前記ハウジング及び前記スリーブに対して力を及ぼす第２の磁石と、
   を備えていること、
   を特徴とする検査用同軸コネクタ。
2. 前記ハウジングに取り付けられている第１の磁性体部材を、
   更に備え、
   前記第１の磁石は、前記第１の磁性体部材に対向するように前記スリーブに取り付けられていること、
   を特徴とする請求項１に記載の検査用同軸コネクタ。
3. 前記第２の磁石は、前記スリーブに取り付けられており、
   前記ハウジングは、
   前記第２の磁石に対向している第２の磁性体部材を、
   含んでいること、
   を特徴とする請求項１又は請求項２のいずれかに記載の検査用同軸コネクタ。
4. 前記スリーブは、
   前記第２の磁石が取り付けられている第３の磁性体部材を、
   含み、
   前記第２の状態において、前記第２の磁性体部材と前記第３の磁性体部材とが接触していること、
   を特徴とする請求項３に記載の検査用同軸コネクタ。
5. 前記第２の状態において、前記第２の磁石と前記第２の磁性体部材との間には隙間が存在していること、
   を特徴とする請求項４に記載の検査用同軸コネクタ。
6. 前記第１の状態において、前記第１の磁石が前記ハウジング及び前記スリーブに及ぼす力は、前記第２の状態において、前記第２の磁石が該ハウジング及び該スリーブに及ぼす力よりも大きいこと、
   を特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の検査用同軸コネクタ。

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