CN102157870B - 磁性射频同轴连接器 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种磁性射频同轴连接器，包括测试夹头及测试座，所述测试夹头由外导体、内导体、第一磁铁及介质体组成，内导体设于外导体圆筒内的轴线上、介质体设于外导体与内导体之间，第一磁铁设于外导体的外圆台阶上，所述测试座由第二磁铁及夹槽组成，第二磁铁设于夹槽的杯口上；被检测产品置于测试座内并固定，随着第二磁铁与第一磁铁的吸合，测试夹头上的外导体、内导体分别与被检测产品的触点完全啮合，完成连接。本发明可实现射频同轴的快速连接，且具有可靠性高、机械性能及电气性能好的优点。

Description

磁性射频同轴连接器
技术领域
本发明涉及电连接器技术领域的磁性连接机构，尤其是一种磁性射频同轴连接器。
背景技术
现有技术的射频同轴转接器，所采用的同轴连接的结构类似，多为螺纹连接，虽然具有结构稳定，性能可靠的优点，但仍然存在连接速度慢、费时费力的缺陷，尤其对于批量生产过程中的产品测试、检验阶段或生产线中的中间连接工序，由于连接速度的原因，导致生产工序的时间延长、生产效率降低、生产成本增加。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术的不足而提供的一种磁性射频同轴连接器，可实现射频同轴的快速连接，且具有可靠性高、机械性能及电气性能好的优点。
实现本发明目的的具体技术方案是：
一种磁性射频同轴连接器，其特点包括测试夹头及测试座，所述测试夹头由外导体、内导体、第一磁铁及介质体组成，外导体为台阶圆筒状，内导体为台阶轴状，第一磁铁为环状，内导体设于外导体圆筒内的轴线上，介质体设于外导体与内导体之间，第一磁铁设于外导体的外圆台阶上，所述测试座由第二磁铁及夹槽组成，第二磁铁为环状，夹槽为底部设有圆孔的杯状，第二磁铁设于夹槽的杯口上；所述测试夹头的外导体穿过测试座第二磁铁的环孔内且第二磁铁与第一磁铁吸合。
本发明可实现射频同轴的快速连接，且具有可靠性高、机械性能及电气性能好的优点。
附图说明
  图1本发明的结构示意图；
图2本发明测试夹头的结构示意图；
图3本发明测试座的结构示意图；
图4本发明的使用状态示意图。
具体实施方式
    参阅图1、图2、图3，本发明包括测试夹头1及测试座2，所述测试夹头1由外导体11、内导体12、第一磁铁13及介质体14组成，外导体11为台阶圆筒状，内导体12为台阶轴状，第一磁铁13为环状，内导体12设于外导体11圆筒内的轴线上，介质体14设于外导体11与内导体12之间，第一磁铁13设于外导体11的外圆台阶上，所述测试座2由第二磁铁21及夹槽22组成，第二磁铁21为环状，夹槽22为底部设有圆孔23的杯状，第二磁铁21设于夹槽22的杯口上；所述测试夹头1的外导体11穿过测试座2第二磁铁21的环孔内且第二磁铁21与第一磁铁13吸合。
本发明是这样使用的：
参阅图2、图3、图4，将被检测产品3置于测试座2杯状夹槽22的圆孔23内并固定，使测试座2置于测试夹头1的位置时，测试夹头1朝测试座2轴向位移且逐渐向测试座2靠近，当测试夹头1的外导体11穿过测试座2第二磁铁21的环孔内且测试夹头1上的外导体11、内导体12分别触及被检测产品3的触点时，由于第一磁铁13与第二磁铁21之间的距离不断缩小、而磁场力不断增加，第二磁铁21与第一磁铁13的吸合，测试夹头1上的外导体11、内导体12分别与被检测产品3的触点完全啮合，完成测试夹头1与被检测产品3的连接，开始实施检测，检测完毕后，在外力的作用下，将测试夹头1从测试座2上移去，即更换被检测产品3，进行下一个被检测产品3的检测工作。

Claims (1)

1.一种磁性射频同轴连接器，其特征在于它包括测试夹头（1）及测试座（2），所述测试夹头（1）由外导体（11）、内导体（12）、第一磁铁（13）及介质体（14）组成，外导体（11）为台阶圆筒状，内导体（12）为台阶轴状，第一磁铁（13）为环状，内导体（12）设于外导体（11）圆筒内的轴线上，介质体（14）设于外导体（11）与内导体（12）之间，第一磁铁（13）设于外导体（11）的外圆台阶上，所述测试座（2）由第二磁铁（21）及夹槽（22）组成，第二磁铁（21）为环状，夹槽（22）为底部设有圆孔（23）的杯状，第二磁铁（21）设于夹槽（22）的杯口上；所述测试夹头（1）的外导体（11）穿过测试座（2）第二磁铁（21）的环孔内且第二磁铁（21）与第一磁铁（13）吸合。
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