JPWO2009153919A1 - 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム - Google Patents

顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム Download PDF

Info

Publication number
JPWO2009153919A1
JPWO2009153919A1 JP2010517684A JP2010517684A JPWO2009153919A1 JP WO2009153919 A1 JPWO2009153919 A1 JP WO2009153919A1 JP 2010517684 A JP2010517684 A JP 2010517684A JP 2010517684 A JP2010517684 A JP 2010517684A JP WO2009153919 A1 JPWO2009153919 A1 JP WO2009153919A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aberration correction
microscope apparatus
unit
aberration
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010517684A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5381984B2 (ja
Inventor
大内 由美子
由美子 大内
敬 川人
敬 川人
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2010517684A priority Critical patent/JP5381984B2/ja
Publication of JPWO2009153919A1 publication Critical patent/JPWO2009153919A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5381984B2 publication Critical patent/JP5381984B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/02Objectives
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0025Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
    • G02B27/0068Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration having means for controlling the degree of correction, e.g. using phase modulators, movable elements
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/008Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements with means for compensating for changes in temperature or for controlling the temperature; thermal stabilisation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00Image enhancement or restoration
    • G06T5/50Image enhancement or restoration using two or more images, e.g. averaging or subtraction
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B2207/00Coding scheme for general features or characteristics of optical elements and systems of subclass G02B, but not including elements and systems which would be classified in G02B6/00 and subgroups
    • G02B2207/113Fluorescence
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10056Microscopic image
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10Image acquisition modality
    • G06T2207/10141Special mode during image acquisition
    • G06T2207/10148Varying focus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Lenses (AREA)
  • Image Processing (AREA)

Abstract

観察光学系と、観察光学系を介した被観察物の像を撮像して画像を生成する撮像部と、観察光学系内に配置され、観察形態に起因して発生する収差を補正する収差補正部と、撮像部により生成した複数の画像に基づいて、収差補正部による収差補正量を決定する決定部とを備えることにより、顕微鏡装置において、観察形態に起因して発生する収差による光学的な歪みを、顕微鏡の使用状況に即して、適切かつ簡単に補正する。

Description

本発明は、観察光学系を備えた顕微鏡装置、および顕微鏡装置に対する制御をコンピュータで実現するための顕微鏡装置制御プログラムに関する。
近年、顕微鏡などの観察装置では、高NA対物レンズを用いた高解像の画像の取得が盛んになっている。このような高解像の画像の取得に際しては、カバーガラスの厚さや浸液の温度依存性による屈折率変化など、観察形態に起因して発生する収差による光学的な歪みのない画像を取得することが求められる。
そこで、特許文献1の発明では、顕微鏡に配置された観察対象である試料と、その顕微鏡の有する対物レンズとの間の距離に基づいて、試料を保護するカバーガラスの厚み、または、試料を保持する透過性を有するシャーレ等の保持部材の厚みに起因する光学的な収差に対する補正量を決定し、決定した収差補正量に対応して、補正環の回転角を決定し、収差を補正している。
特開2005−31507号公報
しかし、上述した特許文献1の発明では、温度依存性による浸液の屈折率変化などが考慮されていないため、決定した収差補正量が適切でない場合がある。
本発明は、顕微鏡装置による観察おいて発生する、観察形態に起因する収差を、顕微鏡装置の使用状況に即して、適切かつ簡単に補正することを目的とする。
本発明の顕微鏡装置は、観察光学系と、前記観察光学系を介した被観察物の像を撮像して画像を生成する撮像部と、観察形態に起因して発生する収差を補正する収差補正部と、前記撮像部により生成した複数の前記画像に基づいて、前記収差補正部による収差補正量を決定する決定部とを備える。
なお、前記決定部は、複数の前記画像に基づいて、前記観察光学系の光軸方向における像強度の広がりに関する対称性を、焦点面前後において解析し、当該解析結果にしたがって前記収差補正量を決定しても良い。
また、前記観察光学系の光軸方向における撮像位置を変更する変更部を備え、前記決定部は、前記撮像位置が異なる状態において前記撮像部により生成した複数の前記画像に基づいて、前記収差補正量を決定しても良い。
また、前記決定部は、複数の前記画像に基づき、前記光軸方向と平行な方向の断面画像を作成し、作成した前記断面画像に基づいて、前記光軸方向における像強度の広がりに関する対称性を解析し、当該解析結果にしたがって前記収差補正量を決定しても良い。
また、前記決定部は、前記収差補正部による収差補正量が異なる状態において前記撮像部により生成した複数の前記画像に基づいて、前記収差補正量を決定しても良い。
また、前記観察光学系は、補正環を有する対物レンズを含み、前記収差補正部は、前記補正環の回転角度を制御することにより前記収差を補正し、前記決定部は、前記収差補正量として、前記回転角度を決定しても良い。
また、前記観察光学系は、波面変換素子を備え、前記収差補正部は、前記波面変換素子を制御することにより前記収差を補正し、前記決定部は、前記収差補正量として、前記波面変換素子の制御量を決定しても良い。
また、複数の前記画像の比較結果と前記収差補正量との適切な対応関係を予め記録する記録部を備え、前記決定部は、前記対応関係に基づいて、前記収差補正量を決定しても良い。
また、前記収差補正部は、前記決定部において決定した前記収差補正量に基づいて、前記収差を補正しても良い。
なお、上記発明に関する構成を、顕微鏡装置に対する制御をコンピュータで実現するための顕微鏡装置制御プログラムに変換して表現したものも本発明の具体的態様として有効である。
第1実施形態の顕微鏡装置1の構成を示す図である。 第1実施形態の顕微鏡装置1の対物レンズ20の詳細を示す図である。 第1実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際の制御部25の動作を示すフローチャートである。 第1実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際の制御部25の動作を示すフローチャートである(続き)。 第1実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際の制御部25の動作を示すフローチャートである(続き)。 第1実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際に生成される画像の一例を示す図である。 第1実施形態の顕微鏡装置1における補正環20Aの自動制御について説明する図である。 第2実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際の制御部25の動作を示すフローチャートである。 第2実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際の制御部25の動作を示すフローチャートである(続き)。 第2実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際に生成される画像の一例を示す図である。 第4実施形態の顕微鏡装置31の構成を示す図である。
<第1実施形態>
以下、図面を用いて第1実施形態について説明する。図1は、第1実施形態の顕微鏡装置1の構成を示す図である。
図1に示すように、顕微鏡装置1は、光源11、コレクタレンズ12、第1リレーレンズ13、開口絞り14、第2リレーレンズ15、視野絞り16、フィールドレンズ17、励起フィルタ18、ダイクロイックミラー19、対物レンズ20、バリアフィルタ21、第2対物レンズ22の各部を備える。開口絞り14は、コレクタレンズ12および第1リレーレンズ13によって光源像が形成される位置の近傍に配置される。また、視野絞り16は、第2リレーレンズ15によって形成されるコレクタレンズ12の前側焦点の共役点近傍位置に配置される。
光源11から射出された光束は、コレクタレンズ12、第1リレーレンズ13、開口絞り14、第2リレーレンズ15、視野絞り16を順に通過し、フィールドレンズ17によって平行光に変換され、励起フィルタ18に入射する。そして、励起フィルタ18で波長選択された光束は、ダイクロイックミラー19で波長選択反射されて、対物レンズ20に入射する。対物レンズ20に入射された光束は、標本Tを照明する。標本Tは、例えば、公知の蛍光試薬で染色された標本である。この標本Tにおいては、励起光(照明光)の強度や照射領域にしたがって、試薬が部分的に励起され、蛍光を発する。標本Tより発せられた蛍光は、対物レンズ20で集光され、ダイクロイックミラー19およびバリアフィルタ21を順に透過する。そして、バリアフィルタ21を透過した光束は、第2対物レンズ22によって結像され、後述する撮像部の撮像面に結像する。
なお、対物レンズ20は、補正環20AとPZT駆動部20Bとを備える。
図2Aは、対物レンズ20の内部断面図である。対物レンズ20は、図2Aに示すように、複数のレンズ群を有し、そのうち補正群Gのレンズ系を矢印aの方向に移動することにより、標本Tを固定するカバーガラスや浸液の温度に依存する屈折率の変化等に起因する収差を補正することができる。図2Bは、対物レンズ20の外観図である。ユーザは、補正環20Aを矢印bの方向に回転することにより、上述した補正群Gを手動でも移動することができる。
また、PZT駆動部20Bは、対物レンズ10に含まれるレンズ系の全体または一部を、光軸方向(z方向)に精度良く駆動するための駆動部である。
顕微鏡装置1は、上述した各構成に加えて、さらに、撮像部23、表示部24、制御部25の各部を備える。撮像部23は、不図示の撮像素子を備え、標本Tの像を撮像して画像を生成する。また、表示部24は、不図示の表示素子を備え、画像やメニューなどを表示する。制御部25は、コンピュータなどから成り、顕微鏡装置1の各部を統括的に制御する。制御部25は、補正環20A、PZT駆動部20B、撮像部23の各部と相互に接続され、これらの各部を自動制御可能である。また、制御部25の出力は表示部24にも接続される。
以上説明した構成の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際の制御部25の動作について、図3から図5のフローチャートを用いて説明する。
ステップS1において、制御部25は、対物レンズ20の補正環20Aを制御して、補正環20Aをα端に調整する。α端は、補正環20Aを自動制御する際の調整幅の一端であり、1回目は、例えば、補正環20Aの時計回りの制限位置とする。
ステップS2において、制御部25は、撮像部23を制御して、2枚の画像を生成する。
ここで、図5のフローチャートを参照して、2枚の画像の生成の詳細を説明する。
ステップS21において、制御部25は、PZT駆動部20Bを制御して、焦点合わせを行う。焦点調節の方法はどのようなものであっても良い。
ステップS22において、制御部25は、PZT駆動部20Bを適当な量だけ制御して、合焦位置より撮像部23側に撮像位置を移動する。なお、PZT駆動部20Bを制御する適当な量とは、焦点深度の1から2倍程度を意味する。
ステップS23において、制御部25は、撮像部23を制御して、1枚目の画像を生成する。図6Aに補正環20Aをα端に調整した状態で生成した1枚目の画像の例を示す。なお、以下では、標本T中の蛍光ビーズが、撮像部23の撮像素子の視野内に入る状態おいて、任意の蛍光ビーズに着目し、その部分のみを切り取った画像を例示する。
ステップS24において、制御部25は、PZT駆動部20Bを制御して、ステップS22と逆方向に、ステップS22の移動量と同量だけ撮像位置を移動する。
ステップS25において、制御部25は、撮像部23を制御して、2枚目の画像を生成する。図6Cに補正環20Aをα端に調整した状態で生成した2枚目の画像の例を示す。なお、図6Bは、補正環20Aをα端に調整し、焦点合わせを行った状態(ステップS21の状態)で生成した画像の例を示す。
ステップS3において、制御部25は、ステップS23およびステップS25で生成した2枚の画像の差分Dαを求める。制御部25は、例えば、2枚の画像の差分Dαとして、2枚の画像のうち対応する位置の画素値の差分をそれぞれ求める。なお、必ずしも全ての画素について差分を求める必要はなく、主要部分が含まれる注目領域の画素のみについて差分を求めても良い。
ステップS4において、制御部25は、対物レンズ20の補正環20Aを制御して、補正環20Aをβ端に調整する。β端は、補正環20Aを自動制御する際の調整幅の他端(上述したα端の反対側の端)であり、1回目は、例えば、補正環20Aの反時計回りの制限位置とする。
ステップS5において、制御部25は、撮像部23を制御して、ステップS2と同様の方法で2枚の画像を生成する。図6Dに補正環20Aをβ端に調整した状態で生成した1枚目の画像の例を示し、図6Fに補正環20Aをβ端に調整した状態で生成した2枚目の画像の例を示す。なお、図6Eは、補正環20Aをβ端に調整し、焦点合わせを行った状態で生成した画像の例を示す。
ステップS6において、制御部25は、ステップS5で生成した2枚の画像の差分Dβを求める。制御部25は、ステップS3と同様の方法で差分Dβを求める。
ステップS7において、制御部25は、対物レンズ20の補正環20Aを制御して、補正環20Aをα端およびβ端の中間位置に調整する。
ステップS8において、制御部25は、撮像部23を制御して、ステップS2と同様の方法で2枚の画像を生成する。
ステップS9において、制御部25は、ステップS8で生成した2枚の画像の差分Dγを求める。制御部25は、ステップS3と同様の方法で差分Dγを求める。
ステップS10において、制御部25は、ステップS9で求めた差分Dγ≒0であるか否かを判定する。そして、制御部25は、差分Dγ≒0であると判定すると一連の処理を終了する。一方、差分Dγ≒0でないと判定すると、制御部25は、ステップS11に進む。
ステップS11において、制御部25は、ステップS3で求めた差分DαとステップS9で求めた差分Dγとの類似度Sαを求めるとともに、ステップS6で求めた差分DβとステップS9で求めた差分Dγとの類似度Sβを求める。制御部25は、例えば、類似度Sαとして、差分Dαおよび差分Dγの分布を比較して、類似度を求める。なお、類似度Sαを求める対象は、必ずしも差分Dαおよび差分Dγの全てである必要はなく、主要部分が含まれる注目領域の画素に相当する差分Dαおよび差分Dγのみを対象として類似度Sαを求めても良い。制御部25は、差分Dβおよび差分Dγに基づいて、類似度Sβについても同様の方法で求める。
ステップS12において、制御部25は、ステップS11で求めた類似度Sα<類似度Sβであるか否かを判定し、類似度Sα<類似度Sβである場合には、ステップS13に進む。一方、類似度Sα<類似度Sβでない場合(類似度Sα≧類似度Sβである場合)には、後述するステップS14に進む。類似度Sα<類似度Sβである場合とは、差分Dγは、差分Dαよりも差分Dβに似ていると見なせる場合であり、現在位置における光軸方向の像の変化が、α端における光軸方向の像の変化よりも、β端における光軸方向の像の変化に似ていると見なせる場合である。一方、類似度Sα<類似度Sβでない場合とは、現在位置における光軸方向の像の変化が、β端における光軸方向の像の変化よりも、α端における光軸方向の像の変化に似ていると見なせる場合である。すなわち、類似度Sα<類似度Sβである場合には、現在位置よりもα端側に、補正環20Aの最適な調整位置があり、類似度Sα<類似度Sβでない場合には、現在位置よりもβ端側に、補正環20Aの最適な調整位置があると見なすことができる。
ステップS13において、制御部25は、現在位置をβ’端として、補正環20Aをα端またはα’端と、β’端との中間位置へ移動する。そして、制御部25は、ステップS8に戻り、ステップS8以降の処理を再び行う。
ステップS14において、制御部25は、現在位置をα’端として、補正環20Aをα’端と、β端またはβ’端との中間位置へ移動する。そして、制御部25は、ステップS8に戻り、ステップS8以降の処理を再び行う。
そして、制御部25は、新たにステップS9で求めた差分Dγに基づいて、類似度Sαおよび類似度Sβを求め、その比較結果に基づいて次の調整位置を決定する。制御部25は、類似度Sαと類似度Sβとを比較し、補正環20Aの最適な調整位置が、現在位置よりもα端側にあるかβ端側にあるかを判定する。そして、判定した端の方向に調整範囲をシフトし、次の調整範囲を決定する。
例えば、1回目の処理において、類似度Sαと類似度Sβとを比較した結果、補正環20Aの最適な調整位置が中間位置よりもα端側にあると判定すると、図7に示すように、現在位置をβ’端に決定する。そして、2回目の処理において、類似度Sαと類似度Sβとを同様に比較した結果、例えば、補正環20Aの最適な調整位置が中間位置よりもβ’端側にあると判定すると、図7に示すように、現在位置をα’端に決定する。制御部25は、このような処理(ステップS1からステップS14)を、差分Dγ≒0である(ステップS10YES)と判定されるまで繰り返し行うことにより、補正環20Aの最適な調整位置を求めることができる。
なお、複数回の処理を繰り返すことにより調整範囲が収束してくると、像のボケが小さくなり判断が困難になる場合がある。この場合は、先に焦点深度の1から2倍としたPZT駆動部20Bを制御する量を、狭く調整しても良い。この範囲は徐々に狭くしても良いし、段階的に狭くしても良い。
以上説明したように、第1実施形態によれば、観察光学系と、観察光学系を介した被観察物の像を撮像して画像を生成する撮像部と、観察光学系内に配置され、観察形態に起因して発生する収差を補正する収差補正部とを備え、撮像部により生成した複数の画像に基づいて、収差補正部による収差補正量、すなわち収差補正部の観察光学系内における適切な位置を決定する。そして、決定した収差補正量に基づいて収差補正部による収差補正を行う。したがって、顕微鏡装置において発生するカバーガラスの厚みや浸液の温度に依存する屈折率の変化等の観察形態に起因する収差を、顕微鏡装置の使用状況に即して、適切かつ簡単に補正することができる。特に、第1実施形態によれば、生細胞など、対物レンズの光軸方向に厚みを有する被観察物に関しても、光学的な歪みを、顕微鏡装置の使用状況に即して、適切かつ簡単に補正することができる。
また、第1実施形態によれば、複数の画像に基づいて、観察光学系の光軸方向における像強度の広がりに関する対称性を、焦点面前後において解析し、解析結果にしたがって収差補正量を決定する。したがって、温度依存性による浸液の屈折率変化などの影響を受けずに適切な収差補正量を決定することができる。
また、第1実施形態によれば、観察光学系の光軸方向における撮像位置を変更する変更部を備え、撮像位置が異なる状態において撮像部により生成した複数の画像に基づいて、収差補正量を決定する。したがって、顕微鏡装置が備える構成を活用して、適切な収差補正量を決定するのに適した画像を生成することができる。
<第2実施形態>
以下、図面を用いて第2実施形態について説明する。なお、第2実施形態は、第1実施形態の変形例であるため、第1実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
第2実施形態の顕微鏡装置の構成は、第1実施形態の顕微鏡装置1と同様である。したがって、以下では第1実施形態と同様の符号を用いて説明する。
図8および図9のフローチャートは第2実施形態の顕微鏡装置1において、補正環20Aを自動制御する際の制御部25の動作を示す。
ステップS31において、制御部25は、第1実施形態のステップS1と同様の方法で、対物レンズ20の補正環20Aを制御して、補正環20Aをα端に調整する。
ステップS32において、制御部25は、撮像部23を制御して、断面画像を生成する。制御部25は、断面画像を生成するために、PZT駆動部20Bを制御して、焦点深度の所定倍の幅を微少間隔でステップ駆動し、撮像位置を変更するたびに、撮像部23を制御して画像を生成する。そして、制御部25は、生成した複数の画像を公知技術と同様の方法で3D構築し、x−z平面の断面画像を生成する。図10Aから図10Cは断面画像の例を示す。
ステップS33において、制御部25は、ステップS32で生成した断面画像の光軸方向の対称度Lαを求める。制御部25は、例えば、断面画像のうち強度が最高である点を通るx方向の直線で断面画像を折り返し、対応する画素の対称度を求めて対称度Lαとする。なお、必ずしも全ての画素について差分を求める必要はなく、主要部分が含まれる注目領域の画素のみについて対称度Lαを求めても良い。
ステップS34において、制御部25は、第1実施形態のステップS4と同様の方法で、対物レンズ20の補正環20Aを制御して、補正環20Aをβ端に調整する。
ステップS35において、制御部25は、撮像部23を制御して、ステップS32と同様の方法で断面画像を生成する。
ステップS36において、制御部25は、ステップS35で生成した断面画像の光軸方向の対称度Lβを求める。制御部25は、ステップS33と同様の方法で対称度Lβを求める。
ステップS37において、制御部25は、第1実施形態のステップS7と同様の方法で、対物レンズ20の補正環20Aを制御して、補正環20Aをα端およびβ端の中間位置に調整する。
ステップS38において、制御部25は、撮像部23を制御して、ステップS32と同様の方法で断面画像を生成する。
ステップS39において、制御部25は、ステップS38で生成した断面画像の光軸方向の対称度Lγを求める。制御部25は、ステップS33と同様の方法で対称度Lγを求める。
ステップS40において、制御部25は、ステップS39で求めた対称度Lγ≒0であるか否かを判定する。そして、制御部25は、対称度Lγ≒0であると判定すると一連の処理を終了する。一方、対称度Lγ≒0でないと判定すると、制御部25は、ステップS41に進む。
ステップS41において、制御部25は、第1実施形態のステップS10と同様の方法で、ステップS33で求めた対称度LαとステップS39で求めた対称度Lγとの類似度Sαを求めるとともに、ステップS36で求めた対称度LβとステップS39で求めた対称度Lγとの類似度Sβを求める。
ステップS42からステップS44において、制御部25は、第1実施形態のステップS12からステップS14様の処理を行う。
なお、図10Bは、補正環20Aが最適な調整位置に調整され、収差が補正されている状態の断面画像の例を示す。また、図10Aおよび図10Cは、補正環20Aが最適な調整位置からずれて調整され、収差が残っている状態の断面画像の例を示す。図10Bの例では、折り返し線F2(強度が最高である点を通るx方向の直線)に対して、強度の分布が略対称であることが分かる。また、図10Aおよび図10Cの例では、折り返し線F1およびF3に対して、強度の分布が非対称であることが分かる。
以上説明したように、第2実施形態によれば、複数の画像に基づき、光軸方向と平行な方向の断面画像を作成し、作成した断面画像に基づいて、光軸方向における像強度の広がりに関する対称性を解析し、解析結果にしたがって収差補正量を決定する。したがって、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
<第3実施形態>
以下、第3実施形態について説明する。なお、第3実施形態は、第1実施形態および第2実施形態の変形例であるため、第1実施形態および第2実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
第3実施形態の顕微鏡装置の構成は、第1実施形態および第2実施形態の顕微鏡装置1と同様である。したがって、以下では第1実施形態と同様の符号を用いて説明する。
第3実施形態の顕微鏡装置1は、制御部25内の不図示のメモリに、補正環20Aの調整位置とその状態で得られる画像とを対応づけたテーブルを予め記録している。テーブルに記録される画像は、第1実施形態で説明した画像(図6Aから図6Fの画像)でも良いし、第2実施形態で説明した断面画像(図10Aから図10Cの画像)でも良い。また、各画像の代わりに第1実施形態の差分Dαや差分Dβ、第2実施形態の対称度Lαや対称度Lβを記録しても良い。
そして、制御部25は、第1実施形態または第2実施形態と同様の方法で画像を生成し、このテーブルと照らし合わせることにより、補正環20Aの最適な調整位置を推測することができる。なお、このテーブルは顕微鏡装置1を使用する使用状況(特に温度、他に湿度、明るさなど)を想定して用意するのが好ましい。通常、顕微鏡装置は一定の環境に調整された実験室などで利用されるため、使用状況を予め想定することは容易である。
以上説明したように、第3実施形態によれば、複数の画像の比較結果と収差補正量との適切な対応関係を予め記録し、記録した対応関係に基づいて、収差補正量を決定する。したがって、テーブルと照らし合わせるという簡単な処理で、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
なお、第1実施形態から第3実施形態では、ユーザにより手動操作可能な補正環20Aを備える構成を例に挙げて説明したが、補正環20Aを備えず、補正群G(図2A参照)のレンズを制御部25によってのみ自動制御可能な構成としても良い。
<第4実施形態>
以下、図面を用いて第4実施形態について説明する。なお、第4実施形態は、第1実施形態から第3実施形態の変形例であるため、第1実施形態から第3実施形態と異なる部分についてのみ説明する。
図11は、第3実施形態の顕微鏡装置31の構成を示す図である。図11に示すように、顕微鏡装置31は、光源32、コレクタレンズ33、視野絞り34、フィールドレンズ35、折り返しミラー36、開口絞り37、コンデンサレンズ38、対物レンズ39、ハーフミラー40、第2対物レンズ41、デフォーマブルミラー42の各部を備える。視野絞り34は、コレクタレンズ33の後側焦点の共役位置近傍に配置される。また、開口絞り37は、コンデンサレンズ38の前側焦点の近傍位置に配置される。
光源32から射出された光束は、コレクタレンズ33によって平行光に変換される。そして、視野絞り34の像はフィールドレンズ35および折り返しミラー36を通過してz方向下向きの光束に変換された後に、開口絞り37を通過し、コンデンサレンズ38によって標本T上に投影される。標本Tからの光束は、対物レンズ39で集光された後に、ハーフミラー40を透過し、結像光としてデフォーマブルミラー42に入射する。デフォーマブルミラー42は、背面のアクチュエータを制御することにより、自由な形状に変更可能な反射型波面変換素子である。デフォーマブルミラー42で波面変換を受け反射された光束は、ハーフミラー40により反射された後に、第2対物レンズ41で結像され、後述する撮像部の撮像面に結像する。
なお、対物レンズ20は、第1実施形態と同様のPZT駆動部39Bを備えるが、第1実施形態のような補正環は備えない。
顕微鏡装置31は、上述した各構成に加えて、さらに、第1実施形態と同様の撮像部23、表示部24、制御部25の各部を備える。ただし、制御部25は、第1実施形態と同様に、PZT駆動部39B、撮像部23の各部と相互に接続されるとともに、デフォーマブルミラー42にも接続され、これらの各部を自動制御可能である。
以上説明した構成の顕微鏡装置31において、制御部25は、第1実施形態から第3実施形態のように補正環20Aを自動制御する代わりに、デフォーマブルミラー42を制御する。制御の具体的な方法は、第1実施形態から第3実施形態と同様である。すなわち、補正環20Aの調整範囲(時計回りの制限位置から反時計回りの制限位置まで)を、デフォーマブルミラー42の形状を調整可能な範囲に置き換えて、第1実施形態から第3実施形態と同様の処理を行うことにより、デフォーマブルミラー42の最適な調整形状を求めることができる。
以上説明したように、第4実施形態によれば、観察光学系に波面変調素子を備え、波面変換素子を制御することにより収差を補正する。そして、収差補正量として、波面変換素子の制御量を決定する。したがって、第1実施形態と同様の効果を得ることができる。
なお、第4実施形態では、対物レンズ39の外に波面変換素子であるデフォーマブルミラー42を備える例を示したが、対物レンズ39の内部に波面変換素子に相当する部材などを備える構成としても良い。例えば、対物レンズ39が有するレンズ群の一部のレンズ表面に波面変換素子を備える構成としても良いし、対物レンズ39が有するレンズ群の一部に、レンズ特性を変更可能な特殊レンズ(例えば、Liquidレンズ等)を備える構成としても良い。
なお、上記各実施形態で説明した処理の一部を、ユーザによる手動操作に基づいて行う構成としても良い。例えば、上記各実施形態で説明した処理をユーザが手動で行うためのガイドを表示部24に表示する構成としても良い。この場合、「補正環をα端に調整してください」や「焦点合わせを行ってください」など、ユーザの操作を促すメッセージを順次表示部24に表示すれば良い。このような表示を行うことにより、ユーザはガイドにしたがって操作を行い、補正環20Aやデフォーマブルミラー42を適切に調整することができる。
また、画像の生成(第1実施形態ステップS2,S5,S8および第2実施形態ステップS32,S35,S38)のみを自動で行い、生成した画像を表示部24に表示する構成としても良い。この場合、ユーザは、表示部24に表示された画像を目視して、補正環20Aやデフォーマブルミラー42の調整量を判断し、操作することができる。
また、調整量の決定(第1実施形態ステップS1からステップS12および第2実施形態ステップS31からステップS42)のみを自動で行い、決定した調整量を表示部24に表示する構成としても良い。この場合、ユーザは、表示部24に表示された調整量にしたがって、補正環20Aやデフォーマブルミラー42を適切に調整することができる。
また、上記各実施形態では、各評価値(第1実施形態の差分Dαおよび差分Dβ、第2実施形態の対称度Lαおよび対称度Lβなど)を画素値に基づいて求める例を示したが、本発明はこの例に限定されない。例えば、PSF(Point Spread Function)、MTF(Modulation Transfer Function)などを利用しても良いし、輝度、コントラスト、解像度などの特性を利用しても良い。さらに、複数のファクターを組み合わせて利用しても良い。
また、上記各実施形態では、撮像部23の撮像素子については特に言及しなかったが、被観察物である標本Tの像を取得可能であれば、エリアセンサであっても良いしラインセンサであっても良い。また、モノクロセンサであっても良いし、カラーセンサであっても良い。なお、撮像部23の撮像素子としてカラーセンサを備える場合には、色情報を利用してより詳細な収差補正を行うことも可能である。
また、上記各実施形態では、標本Tとして、公知の蛍光試薬により染色された蛍光ビーズを例に挙げて説明したが、本発明はこの例に限定されない。例えば、吸収体の標本であっても良いし、ビーズ状以外の形状を有する標本であっても良い。
また、上記各実施形態で説明した顕微鏡装置の構成は一例であり、本発明はこの例に限定されない。例えば、デフォーマブルミラー(第4実施形態、図11参照)以外の波面変換素子を備えた顕微鏡装置にも本発明を同様に適用することができる。また、上記各実施形態で説明した以外の構成を有する顕微鏡装置や、上記各実施形態で説明した以外の検鏡方法を有する顕微鏡装置にも本発明を同様に適用することができる。
1・31…顕微鏡装置、11・32…光源、20・39…対物レンズ、20A…補正環、23…撮像部、24…表示部、25…制御部、42…デフォーマブルミラー

Claims (10)

  1. 観察光学系と、
    前記観察光学系を介した被観察物の像を撮像して画像を生成する撮像部と、
    観察形態に起因して発生する収差を補正する収差補正部と、
    前記撮像部により生成した複数の前記画像に基づいて、前記収差補正部による収差補正量を決定する決定部と
    を備えたことを特徴とする顕微鏡装置。
  2. 請求項1に記載の顕微鏡装置において、
    前記決定部は、複数の前記画像に基づいて、前記観察光学系の光軸方向における像強度の広がりに関する対称性を、焦点面前後において解析し、当該解析結果にしたがって前記収差補正量を決定する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の顕微鏡装置において、
    前記観察光学系の光軸方向における撮像位置を変更する変更部を備え、
    前記決定部は、前記撮像位置が異なる状態において前記撮像部により生成した複数の前記画像に基づいて、前記収差補正量を決定する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  4. 請求項3に記載の顕微鏡装置において、
    前記決定部は、複数の前記画像に基づき、前記光軸方向と平行な方向の断面画像を作成し、作成した前記断面画像に基づいて、前記光軸方向における像強度の広がりに関する対称性を解析し、当該解析結果にしたがって前記収差補正量を決定する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  5. 請求項1または請求項2に記載の顕微鏡装置において、
    前記決定部は、前記収差補正部による収差補正量が異なる状態において前記撮像部により生成した複数の前記画像に基づいて、前記収差補正量を決定する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  6. 請求項1から請求項5の何れか1項に記載の顕微鏡装置において、
    前記観察光学系は、補正環を有する対物レンズを含み、
    前記収差補正部は、前記補正環の回転角度を制御することにより前記収差を補正し、
    前記決定部は、前記収差補正量として、前記回転角度を決定する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  7. 請求項1から請求項5の何れか1項に記載の顕微鏡装置において、
    前記観察光学系は、波面変換素子を備え、
    前記収差補正部は、前記波面変換素子を制御することにより前記収差を補正し、
    前記決定部は、前記収差補正量として、前記波面変換素子の制御量を決定する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  8. 請求項1から請求項7の何れか1項に記載の顕微鏡装置において、
    複数の前記画像の比較結果と前記収差補正量との適切な対応関係を予め記録する記録部を備え、
    前記決定部は、前記対応関係に基づいて、前記収差補正量を決定する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  9. 請求項1から請求項8の何れか1項に記載の顕微鏡装置において、
    前記収差補正部は、前記決定部において決定した前記収差補正量に基づいて、前記収差を補正する
    ことを特徴とする顕微鏡装置。
  10. 観察光学系と、前記観察光学系を介した被観察物の像を撮像して画像を生成する撮像部と、観察形態に起因して発生する収差を補正する収差補正部とを備えた顕微鏡装置に対する制御をコンピュータで実現するための顕微鏡装置制御プログラムであって、
    前記撮像部により生成した複数の前記画像に基づいて、前記収差補正部による収差補正量を決定する決定ステップと、
    前記収差補正量に基づいて、前記収差補正部の駆動量を制御する収差補正ステップと
    を有することを特徴とする顕微鏡装置制御プログラム。
JP2010517684A 2008-06-17 2009-05-25 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム Active JP5381984B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010517684A JP5381984B2 (ja) 2008-06-17 2009-05-25 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008158033 2008-06-17
JP2008158033 2008-06-17
PCT/JP2009/002296 WO2009153919A1 (ja) 2008-06-17 2009-05-25 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム
JP2010517684A JP5381984B2 (ja) 2008-06-17 2009-05-25 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2009153919A1 true JPWO2009153919A1 (ja) 2011-11-24
JP5381984B2 JP5381984B2 (ja) 2014-01-08

Family

ID=41433845

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010517684A Active JP5381984B2 (ja) 2008-06-17 2009-05-25 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム

Country Status (3)

Country Link
US (2) US9261699B2 (ja)
JP (1) JP5381984B2 (ja)
WO (1) WO2009153919A1 (ja)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5624808B2 (ja) * 2010-06-21 2014-11-12 オリンパス株式会社 撮像装置
US9122049B2 (en) * 2010-12-30 2015-09-01 Pelco, Inc. Optical compensation in surveillance domes
JP5736783B2 (ja) * 2011-01-13 2015-06-17 ソニー株式会社 顕微鏡装置及び球面収差補正方法
JP6112872B2 (ja) 2013-01-18 2017-04-12 キヤノン株式会社 撮像システム、画像処理方法、および撮像装置
JP6196825B2 (ja) * 2013-07-09 2017-09-13 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、及び、試料の屈折率測定方法
EP3035104B1 (en) 2014-12-15 2019-02-20 Olympus Corporation Microscope system and setting value calculation method
JP6555811B2 (ja) 2015-07-16 2019-08-07 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、特定方法、及び、プログラム
DE102017105928A1 (de) 2017-03-20 2018-09-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren zum Abbilden eines Objektes
DE102017105926A1 (de) 2017-03-20 2018-09-20 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren und Mikroskop zum Abbilden eines Objektes
JP6957204B2 (ja) * 2017-05-30 2021-11-02 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、制御方法、及び、プログラム
DE102017223014A1 (de) * 2017-12-18 2019-06-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Bestimmung der Dicke einer Probenhalterung im Strahlengang eines Mikroskops
WO2020240639A1 (ja) * 2019-05-24 2020-12-03 株式会社ニコン 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム
JP7197431B2 (ja) * 2019-05-31 2022-12-27 株式会社エビデント 光学機器の調整方法、光学システム
EP4254038A1 (en) * 2020-11-16 2023-10-04 Nikon Corporation Microscope
US20230003964A1 (en) * 2021-06-24 2023-01-05 Fei Deutschland Gmbh Systems and methods for motorized adjustment of objective lens correction collar

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4441831B2 (ja) * 1999-09-16 2010-03-31 株式会社ニコン 顕微鏡装置
JP4554174B2 (ja) * 2003-07-09 2010-09-29 オリンパス株式会社 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム
JP4615886B2 (ja) * 2004-04-01 2011-01-19 オリンパス株式会社 走査型光学顕微鏡
AU2007253839B2 (en) * 2006-05-16 2013-11-28 Essilor International (Compagnie Generale D'optique) High-order aberration correction for optimization of human visual function
JP2008167447A (ja) * 2006-12-27 2008-07-17 Suss Microtec Test Systems Gmbh プローバで画像を記録するための装置および方法
JP2008276070A (ja) * 2007-05-02 2008-11-13 Olympus Corp 拡大撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10241314B2 (en) 2019-03-26
WO2009153919A1 (ja) 2009-12-23
US20160116727A1 (en) 2016-04-28
US9261699B2 (en) 2016-02-16
JP5381984B2 (ja) 2014-01-08
US20110141260A1 (en) 2011-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5381984B2 (ja) 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム
JP6411472B2 (ja) レーザスキャニング顕微鏡、および特に高解像度のスキャニング顕微鏡法で結像収差を修正する方法
JP5287252B2 (ja) レーザ走査共焦点顕微鏡
CN103048779B (zh) 用于确定并校正显微镜成像光路中球差的装置和方法
EP3742216A1 (en) Optical arrangement for oblique plane microscopy
JP7109423B2 (ja) ライトシート顕微鏡
JP6708667B2 (ja) ビーム整形及び光シート顕微鏡検査のためのアセンブリ及び方法
US10379329B2 (en) Microscope system and setting value calculation method
EP2333602B1 (en) Spherical aberration correction for non-descanned applications
JP2017044871A (ja) 走査型顕微鏡
US9366849B2 (en) Microscope system and method for microscope system
US20160252715A1 (en) Drive control method for objective lens and fluorescence microscope system
JP6178656B2 (ja) 補償光学素子の設定方法及び顕微鏡
WO2018087820A1 (ja) 画像群生成装置、球面収差補正算出装置、顕微鏡、プログラム及び球面収差補正算出方法
JP2005275199A (ja) 3次元共焦点顕微鏡システム
JP2006301541A (ja) 走査型蛍光観察装置
CN109073873B (zh) 图像取得装置以及图像取得方法
JP6928757B2 (ja) 光学顕微鏡における画像処理のためのシステムおよび方法
US10823675B2 (en) Microscope, observation method, and a storage medium
US11500188B2 (en) Microscope with focusing system
JP2008026643A (ja) レーザ走査型顕微鏡
JP4391806B2 (ja) 光学顕微鏡
JP2010286799A (ja) 走査型顕微鏡
JP7081318B2 (ja) 顕微鏡、方法、及びプログラム
JP6708289B2 (ja) 顕微鏡、観察方法、及び制御プログラム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120420

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120508

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130423

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130621

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130903

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130916

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5381984

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250