JPWO2009025038A1 - 容器口部側面欠陥検査方法及び装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 196
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 61
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 59
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 claims abstract description 85
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 38
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 7
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 4
- 101150040546 PXL1 gene Proteins 0.000 abstract 1
- 210000003205 muscle Anatomy 0.000 description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
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Abstract
Description
特許文献1は、びん口部天面に投光した反射光を1個の光電素子で受光し、その出力信号を増幅度調整可能な増幅器で、最新の所定数のびんのデータの平均値に基づいて、その値が所定値となるように上記増幅器の増幅度を調整するものである。検査中のびんについて、口部天面全周にわたり上記増幅器の出力信号を比較演算し、その異常成分が所定値を越えたとき欠陥信号を出力する。
個々のびんの天面の反射率の違いや投光器の経年劣化に影響されずに安定した検査ができるという特徴を有する。
これにより、今まで自動検査が困難であった天咬出しを高精度で自動的に検査できるようになった。
しかし、前記特許文献1、2に示されるような反射光を用いた検査装置を、口部側面の検査に応用しようとしても、口部側面の場合は欠陥による出力信号の変化が微弱であり、また種々のノイズが多く入る傾向があり、正確な検査は不可能とされていた。
したがって、口部側面の欠陥検査は検査員の目視で行うしかなく、検査員に多大な負担をかけると共に、検査のスピードが遅いために多くの検査員を必要としていた。
本発明は、
回転する容器の口部側面に投光し、その透過光を縦方向に向けたラインセンサで受光して容器の口部側面のしわ筋の検査を行う検査方法であって、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有する場合、
前記取り込みデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインの取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH1)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS1)繰り返し、
差分実施回数(VS1)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL1)より大きい場合に、しわ筋の欠陥ありとして判定することを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法である。
また、ラインデータの絶対値を閾値と比較するものではないので、投光器の明るさや周囲の明るさが変化しても検査精度に影響を及ぼすことがない。
また本発明は、
回転する容器の口部側面に投光し、その透過光を縦方向に向けたラインセンサで受光して容器の口部側面の凹み検査を行う検査方法であって、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定することを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法である。
また、ラインデータの絶対値を閾値と比較するものではないので、投光器の明るさや周囲の明るさが変化しても検査精度に影響を及ぼすことがない。
また本発明は、
請求項1の容器口部側面欠陥検査方法において、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有しない場合、
前記取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定することを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法である。
また本発明は、
請求項1、2又は3の容器口部側面欠陥検査方法において、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを端部から順次サーチし、
そのデータが最初にエッジ信号閾値(EL)に達したアドレス(GE)に所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス(GES)とし、
この検査ゲート開始位置アドレス(GES)に検査ゲート幅値(WID)を加えた検査ゲート終了位置アドレス(GEE)までを、検査を行う範囲である検査ゲートとすることを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法である。
また本発明は、
容器の口部側面に投光する投光器と、
容器の口部側面を透過した透過光を受ける口部の縦方向に向けたラインセンサと、
容器口部が順次全周に亘って投光されるように容器を回転駆動する駆動装置と、
前記ラインセンサからの信号を受けて検査ゲートを検出する検査ゲート検出手段と、
前記検査ゲート検出手段で検出した検査ゲートにおいてしわ筋の欠陥を検出するしわ筋検出手段を有し、
前記しわ筋検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有する場合、
前記取り込みデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインの取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH1)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS1)繰り返し、
差分実施回数(VS1)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL1)より大きい場合に、しわ筋の欠陥ありとして判定するものであることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置である。
また本発明は、
容器の口部側面に投光する投光器と、
容器の口部側面を透過した透過光を受ける口部の縦方向に向けたラインセンサと、
容器口部が順次全周に亘って投光されるように容器を回転駆動する駆動装置と、
前記ラインセンサからの信号を受けて検査ゲートを検出する検査ゲート検出手段と、
前記検査ゲート検出手段で検出した検査ゲートにおいて凹みの欠陥を検出する凹み検出手段を有し、
前記凹み検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定するものであることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置である。
また本発明は、
請求項5の容器口部側面欠陥検査装置において、
該検査装置が凹み検出手段を有し、
前記凹み検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有しない場合、
前記取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定するものであることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置である。
また本発明は、
請求項5、6又は7の容器口部側面欠陥検査装置において、
前記検査ゲート検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを端部から順次サーチし、
そのデータが最初にエッジ信号閾値(EL)に達したアドレス(GE)に所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス(GES)とし、
この検査ゲート開始位置アドレス(GES)に検査ゲート幅値(WID)を加えた検査ゲート終了位置アドレス(GEE)までを、検査を行う範囲である検査ゲートとすることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置である。
また、しわ筋・凹みの検出を、単に1ラインごとの異常成分で判定するものではなく、差分実施回数(VS1・VS2)の複数のラインデータを総合して判定を行うので、例えば、軽度の欠陥が広範囲に亘ってある場合や、細い筋が垂直ではなく傾いてある欠陥などでも精度よく検出することができる。
また、ラインデータの絶対値を閾値と比較するものではないので、投光器の明るさや周囲の明るさが変化しても検査精度に影響を及ぼすことがない。
さらに、例えば、容器の中心が回転軸とずれ、容器が回転によってブレるような場合でも、しわ筋・凹み検査を行うべき範囲(検査ゲート)を的確に作成することができ、側面のしわ筋・凹み検査を精度よく行うことが可能となる。
2 投光器
3 ラインセンサ
4 メモリ
5 検査ゲート検出手段
6 しわ筋検出手段
7 凹み検出手段
8 容器
9 口部
10 口部側面
11 しわ筋
12 通常の明るさの部分
13 暗い部分
14 明るい部分
15 凹み
16 検査台
17 素子配列
18 検査ステーション
19 コンベア
20 搬入バイパス
21 フィードウォーム
22 スターホイール
23 搬出バイパス
先ず側面的な位置関係は、図3に示すように、ラインセンサ3の中心線pは俯角4〜10°程度になるようにやや下向きとし、口部側面10の高さのほぼ中心を通るようにするのがよい。投光器2はその発光部の上端が口部天面の高さとほぼ同じになるようにするのがよい。
次に平面的な位置関係は、図4に示すように、ラインセンサの中心線pは、容器口部9の中心線qよりも若干(1〜4mm程度)ずらすことが望ましい。投光器2は、ラインセンサの中心線pと平行に引いた口部9の中心線qにその発光部の端部がほぼ接するようにし、投光器の向きは中心線p、qとほぼ平行にするのがよい。
ステップ101……データ処理指令ONか?
という判定が先ず行われ、YESであると、
ステップ102……データ処理(不良を検出)する
へ進み、検査ゲート検出手段5で検査ゲートが作成されると共に、しわ筋検出手段6、凹み検出手段7で検査が行われる。この後、
ステップ103……不良か?
という判定が行われ、YESであると
ステップ104……不良を記録する
へ進み、コンピュータのメモリに不良の情報が記録され、ステップ105へ進む。NOであると、そのままステップ105へ進む。
ステップ105……次のデータ処理指令
からはステップ101へ戻り、次のびんのラインデータについて上記の処理(ステップ101〜105)が繰り返される。
次に、図9、10に基づいて、ラインセンサの各ラインにおける検査ゲートの検出について説明する。図9は検査ゲート作成のフローチャート、図10は検査ゲート作成例の説明図である。
図9において、
ステップ201……エッジ信号閾値ELを設定する
によってエッジ信号閾値ELが設定される。エッジ信号閾値ELの値は、検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ202……オフセット値OFSを設定する
によってオフセット値OFSが設定される。オフセット値OFSは、最初にエッジ信号閾値(EL)に達したアドレス(検査ゲートエッジアドレスGE)に加えて検査ゲート開始位置アドレスGESを決定するための素子数で、検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ203……検査ゲート幅値WIDを設定する
によって検査ゲート幅値WIDが設定される。ゲート幅値WIDは、検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ204……データのアドレスを設定する
によってデータを格納するメモリのアドレスが設定され、
ステップ205……メモリのアドレスセーブエリアをクリアする
という処理が行われる。この後、メモリより読み出される各アドレスのラインデータについて以下の処理が行われる。
によってラインデータを図10の左端から右方向に向けてサーチする。これは、口部側面の上から下に向かってサーチすることになる。
ステップ207……データがエッジ信号閾値ELを超えるものはあるか?
という判定が行われ、NOである場合は、ステップ211の「N番目のラインデータを処理したか?」に進み、YESの場合は、
ステップ208……検査ゲートエッジアドレスGEが算出される
という処理が行われ、最初にELに達したアドレスがGEとなる。
ステップ209……オフセット値により検査ゲート開始位置アドレスGESを算出する
の処理で、検査ゲートエッジアドレスGEにオフセット値OFSを加えたアドレスが検査ゲート開始位置アドレスGESとして設定され、
ステップ210……検査ゲート幅値により検査ゲート終了位置アドレスGEEを算出され、検査ゲートが作成される
によって、検査ゲート開始位置アドレスGESに検査ゲート幅値WIDを加えたアドレスが検査ゲート終了位置アドレスGEEとして設定され、検査ゲート開始位置アドレスGESから検査ゲート終了位置アドレスGEEまでの検査ゲートが作成される。
ステップ211……N番目のラインデータを処理したか?
という判定が行われ、NOの場合は、N番目のラインデータが処理されるまで、206〜211のステップが繰り返される。
ステップ212……取り込んだデータ毎に検査ゲートを作成する(取り込み数N回)
という処理で、N番目のラインデータまで、メモリからラインデータを取り込み、そのラインデータ毎にステップ207〜214の処理を行う。取り込み数Nは予め設定しておくが、容器口部全周のライン数nよりも若干多い数で、好ましくはn+10からnの1.3倍程度である。
ステップ213……取り込んだラインデータ順にデータをセーブする
によって検査ゲートが作成されたラインデータを順番にメモリにセーブし、各ラインデータについてしわ筋検出手段及び凹み検出手段により、しわ筋、凹み検査が行われる。
図11はしわ筋検出のフローチャートである。同図において、
ステップ301……差分フィルタF1を設定する
で差分フィルタF1が設定される。差分フィルタF1は2つのラインの取り込みデータを検査ゲート内において差分するものである。
ステップ302……差分間隔FPを設定する
で差分間隔FPが設定される。これにより、各ラインの取り込みデータはそのFP個先のラインの取り込みデータと差分処理を行うことになる。FPは、例えば3〜10とすることができる。
ステップ303……しわ筋差分閾値TH1を設定する
で、しわ筋差分閾値TH1が設定される。しわ筋差分閾値TH1は検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ304……差分素子数閾値PXL1を設定する
で差分素子数閾値PXL1を設定する。差分素子数閾値PXL1は検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ305……差分実施回数VS1を設定する
で差分実施回数VS1が設定される。これにより、VS1個の差分データが1セットとして取り扱われることになる。VS1は、例えば2〜10とすることができる。
ステップ306……しわ筋判定値TALを設定する
で、しわ筋判定値TALが設定される。しわ筋判定値TALは検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ308……取り込みデータAのラインからFP進んだラインのデータをロードし、取り込みデータBとする
ステップ309……取り込みデータAとTALを比較する
の処理の後、
ステップ310……取り込みデータAがTALより大きいか?
という判定が行われる。取り込みデータAがTALより大きい部分を有する場合(YESの場合)はしわ筋の可能性ありとしてステップ311に進み、NOの場合はしわ筋の可能性なしとしてステップ314に進む。
ステップ311……F1を使用して取り込みデータAと取り込みデータBを差分する
によって、検査ゲート内における取り込みデータA、Bの電圧の差分データが作成される。
ステップ312……差分データがTH1より大きいか?
という判定が行われ、YESの場合はステップ313に進み、NOの場合はステップ314に進む。YESの場合、
ステップ313……TH1より大きいデータの素子数を算出し、セーブする
という処理が行われた後、
ステップ314……次のラインデータをロードし、取り込みデータAとし、FP進んだラインデータをロードし、取り込みデータBとする
の処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ311における「取り込みデータA」の次のラインのラインデータである。その後、
ステップ315……VS1回比較したか?
の判定が行われる。これは、VS1回分の差分データからしわ筋の判定を行うためのものである。NOの場合はステップ309〜316が繰り返され、YESの場合は、
ステップ316……VS1回分のTH1より大きいデータの素子数をロードし、全てを加算し、差分総素子数としてセーブする
の処理を行う。これは、VS1回分の各差分データにおいて、電圧がしわ筋差分閾値TH1より大きい素子数をカウントし、VS1回分を合計し、メモリにセーブする処理である。その後、
ステップ317……次のラインデータをロードし、取り込みデータAとする
という処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ308における「取り込みデータA」の次のラインデータである。その後、
ステップ318……所定のラインデータをロードし、取り込みデータAとしたか?
の判定が行われる。ここで、所定のラインデータとは、容器口部全周の全てのラインデータについてステップ316の処理が行われるように、任意に定めればよく、例えば容器全周のライン数がNの場合、Nよりも若干進んだラインのラインデータとすることが望ましい。ステップ318でNOの場合は、ステップ308〜ステップ317の処理が繰り返され、YESの場合はステップ319に進む。なお、ステップ316〜318の処理は、ステップ309の比較処理がVS1回行われるごとに行われる。
ステップ319……全ての差分総素子数をロードする
によって、ステップ316でセーブされた全ての差分総素子数をロードし、
ステップ320……全ての差分総素子数の中にPXL1より大きいものがあるか?
の判定が行われる。全ての差分総素子数の中に差分素子数閾値PXL1より大きいものが1つでもあれば、しわ筋ありと判定され、1つもなければ良品(しわ筋なし)と判定される。
図14は凹み検出のフローチャートである。同図において、
ステップ401……差分フィルタF2を設定する
で差分フィルタF2が設定される。差分フィルタF1は2つのラインデータを検査ゲート内において差分するものである。
ステップ402……差分ずらし値隔FTを設定する
で差分ずらし値FTが設定される。これにより、各ラインデータは、それよりもFT素子数だけ右方向又は左方向にずらしたラインデータと差分処理を行うことになる。FTは、例えば5〜20とすることができる。
ステップ403……凹み差分閾値TH2を設定する
で、凹み差分閾値TH2が設定される。凹み差分閾値TH2は検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ404……差分素子数閾値PXL2を設定する
で差分素子数閾値PXL2を設定する。差分素子数閾値PXL2は検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ405……差分実施回数VS2を設定する
で差分実施回数VS2が設定される。これにより、VS2個の差分データが1セットとして取り扱われることになる。VS2は、例えば2〜10とすることができる。
ステップ406……しわ筋判定値TALを設定する
で、しわ筋判定値TALが設定される。しわ筋判定値TALは検査する容器の種類により、予め定めておく。
ステップ408……取り込みデータAを素子配列でFP横にずらした(FP素子数だけ横にずらした)データをロードし、取り込みデータBとする
ステップ409……取り込みデータAとTALを比較する
の処理の後、
ステップ410……取り込みデータAがTALより小さいか?
という判定が行われる。YESの場合は凹みの可能性ありとしてステップ411に進み、NOの場合(取り込みデータAにTALよりも大きい部分があるとき)は凹みの可能性なしとしてステップ414に進む。なお、取り込みデータAにTALよりも大きい部分があるときは、前記のしわ筋検出が行われる。
ステップ411……F2を使用して取り込みデータAと取り込みデータBを差分する
によって、検査ゲート内における取り込みデータA、Bの電圧の差分データが作成される。
ステップ412……差分データがTH2より大きいか?
という判定が行われ、YESの場合はステップ413に進み、NOの場合はステップ414に進む。YESの場合、
ステップ413……TH2より大きいデータの素子数を算出し、セーブする
という処理が行われた後、
ステップ414……次のラインデータをロードし、取り込みデータAとし、これをFT横にずらしたデータをロードし、取り込みデータBとする
の処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ411における「取り込みデータA」の次のラインデータである。その後、
ステップ415……VS2回比較したか?
の判定が行われる。これは、VS2回の差分データからしわ筋の判定を行うためのものである。NOの場合はステップ409〜414が繰り返され、YESの場合は、
ステップ416……VS2回分のTH2より大きいデータの素子数をロードし、全てを加算し、差分総素子数としてセーブする
の処理を行う。これは、VS2回分の各差分データにおいて、電圧が凹み差分閾値TH2より大きい素子数をカウントし、VS2回分を合計し、メモリにセーブする処理である。その後、
ステップ417……次のラインデータをロードし、取り込みデータAとする
という処理が行われる。ここでいう「次のラインデータ」とは、ステップ408における「取り込みデータA」の次のラインデータである。その後、
ステップ418……所定のラインデータをロードし、取り込みデータAとしたか?
の判定が行われる。ここで、所定のラインデータとは、容器口部全周の全てのラインデータについてステップ416の処理が行われるように、任意に定めればよく、例えば容器全周のライン数がNの場合、Nよりも若干進んだラインのラインデータとすることが望ましい。ステップ418でNOの場合は、ステップ408〜ステップ417の処理が繰り返され、YESの場合は、
ステップ419……全ての差分総素子数をロードする
によって、ステップ416でセーブされた全ての差分総素子数をロードし、
ステップ420……全ての差分総素子数の中にPXL2より大きいものがあるか?
の判定が行われる。全ての差分総素子数の中に差分素子数閾値PXL2より大きいものが1つでもあれば、凹みありと判定され、1つもなければ良品(凹みなし)と判定される。
Claims (8)
- 回転する容器の口部側面に投光し、その透過光を縦方向に向けたラインセンサで受光して容器の口部側面のしわ筋の検査を行う検査方法であって、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有する場合、
前記取り込みデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインの取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH1)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS1)繰り返し、
差分実施回数(VS1)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL1)より大きい場合に、しわ筋の欠陥ありとして判定することを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法。 - 回転する容器の口部側面に投光し、その透過光を縦方向に向けたラインセンサで受光して容器の口部側面の凹み検査を行う検査方法であって、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定することを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法 - 請求項1の容器口部側面欠陥検査方法において、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有しない場合、
前記取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定することを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法 - 請求項1、2又は3の容器口部側面欠陥検査方法において、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを端部から順次サーチし、
そのデータが最初にエッジ信号閾値(EL)に達したアドレス(GE)に所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス(GES)とし、
この検査ゲート開始位置アドレス(GES)に検査ゲート幅値(WID)を加えた検査ゲート終了位置アドレス(GEE)までを、検査を行う範囲である検査ゲートとすることを特徴とする容器口部側面欠陥検査方法。 - 容器の口部側面に投光する投光器と、
容器の口部側面を透過した透過光を受ける口部の縦方向に向けたラインセンサと、
容器口部が順次全周に亘って投光されるように容器を回転駆動する駆動装置と、
前記ラインセンサからの信号を受けて検査ゲートを検出する検査ゲート検出手段と、
前記検査ゲート検出手段で検出した検査ゲートにおいてしわ筋の欠陥を検出するしわ筋検出手段を有し、
前記しわ筋検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有する場合、
前記取り込みデータAと、そのラインよりも所定の差分間隔(FP)進んだラインの取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の差分閾値(TH1)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS1)繰り返し、
差分実施回数(VS1)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL1)より大きい場合に、しわ筋の欠陥ありとして判定するものであることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置。 - 容器の口部側面に投光する投光器と、
容器の口部側面を透過した透過光を受ける口部の縦方向に向けたラインセンサと、
容器口部が順次全周に亘って投光されるように容器を回転駆動する駆動装置と、
前記ラインセンサからの信号を受けて検査ゲートを検出する検査ゲート検出手段と、
前記検査ゲート検出手段で検出した検査ゲートにおいて凹みの欠陥を検出する凹み検出手段を有し、
前記凹み検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定するものであることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置。 - 請求項5の容器口部側面欠陥検査装置において、
該検査装置が凹み検出手段を有し、
前記凹み検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインの取り込みデータAがしわ筋判定値(TAL)より大きい部分を有しない場合、
前記取り込みデータAと、該取り込みデータAを差分ずらし値(FT)の素子数だけ前記ラインセンサの素子配列の横方向にずらした取り込みデータBを検査ゲート内において差分処理し、その差分データが所定の凹み閾値(TH2)より大きいデータの素子数を求め、
この操作を前記取り込みデータAの次のラインについて、その次のラインについて、というように、次々に所定の差分実施回数(VS2)繰り返し、
差分実施回数(VS2)終了時における前記素子数の合計である差分総素子数が所定の差分素子数閾値(PXL2)より大きい場合に、凹みの欠陥ありとして判定するものであることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置。 - 請求項5、6又は7の容器口部側面欠陥検査装置において、
前記検査ゲート検出手段が、
前記ラインセンサの各ラインのラインデータを端部から順次サーチし、
そのデータが最初にエッジ信号閾値(EL)に達したアドレス(GE)に所定のオフセット値(OFS)を加えたアドレスを検査ゲート開始位置アドレス(GES)とし、
この検査ゲート開始位置アドレス(GES)に検査ゲート幅値(WID)を加えた検査ゲート終了位置アドレス(GEE)までを、検査を行う範囲である検査ゲートとすることを特徴とする容器口部側面欠陥検査装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2007/066249 WO2009025038A1 (ja) | 2007-08-22 | 2007-08-22 | 容器口部側面欠陥検査方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2009025038A1 true JPWO2009025038A1 (ja) | 2010-11-18 |
JP4676500B2 JP4676500B2 (ja) | 2011-04-27 |
Family
ID=40377949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007540848A Active JP4676500B2 (ja) | 2007-08-22 | 2007-08-22 | 容器口部側面欠陥検査方法及び装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4676500B2 (ja) |
WO (1) | WO2009025038A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5108991B1 (ja) * | 2012-02-27 | 2012-12-26 | 東洋ガラス株式会社 | ガラス容器口リップ部傷の検査方法及び装置 |
JP7220104B2 (ja) | 2019-03-20 | 2023-02-09 | 東洋ガラス株式会社 | 容器検査装置 |
CN118425176A (zh) * | 2024-07-02 | 2024-08-02 | 洛阳市杨森工业控制技术有限公司 | 一种瓷瓶关键部位视觉检测线 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2002039960A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Hitachi Ltd | パターン欠陥検査方法及びその装置 |
-
2007
- 2007-08-22 WO PCT/JP2007/066249 patent/WO2009025038A1/ja active Application Filing
- 2007-08-22 JP JP2007540848A patent/JP4676500B2/ja active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4676500B2 (ja) | 2011-04-27 |
WO2009025038A1 (ja) | 2009-02-26 |
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