JPWO2008069250A1 - 細胞物性測定装置 - Google Patents
細胞物性測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2008069250A1 JPWO2008069250A1 JP2008548321A JP2008548321A JPWO2008069250A1 JP WO2008069250 A1 JPWO2008069250 A1 JP WO2008069250A1 JP 2008548321 A JP2008548321 A JP 2008548321A JP 2008548321 A JP2008548321 A JP 2008548321A JP WO2008069250 A1 JPWO2008069250 A1 JP WO2008069250A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- measurement object
- height
- measurement
- hardness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/40—Investigating hardness or rebound hardness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0058—Kind of property studied
- G01N2203/0076—Hardness, compressibility or resistance to crushing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/0058—Kind of property studied
- G01N2203/0089—Biorheological properties
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2203/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N2203/02—Details not specific for a particular testing method
- G01N2203/026—Specifications of the specimen
- G01N2203/0286—Miniature specimen; Testing on microregions of a specimen
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
Description
Claims (4)
- 測定対象物である生体細胞に超音波を入射する振動子と、測定対象物からの反射波を検出する振動検出センサとを有する探触子と、
測定対象物に対し、探触子をXY平面内の任意の位置に相対的に移動させる平面内移動機構と、
測定対象物に対し、探触子をXY平面に対する高さ方向に相対的に移動させる高さ移動機構と、
探触子に増幅器とともに直列に接続され、振動子への入力波形と振動検出センサからの出力波形に位相差が生じるときは、周波数を変化させてその位相差をゼロに補償する位相シフト回路と、
位相差をゼロに補償する周波数変化量が予め任意に設定された周波数変化閾値を超えたときに、探触子が測定対象物に接触したとして接触信号を出力する接触検出部と、
接触信号が出力されたときの高さ移動機構の高さ方向の位置を、探触子が測定対象物に接触した接触高さとして出力する接触高さ出力部と、
測定対象物に対する探触子のXY平面内の移動位置と、その移動位置における接触高さとに基づいて、測定対象物である生体細胞の3次元表面形状を表示する表面形状表示手段と、
を備えることを特徴とする細胞物性測定装置。 - 請求の範囲1に記載の細胞物性測定装置において、
位相差をゼロに補償したときの周波数変化量と硬さとの関係を予め求めておき、探触子の先端を予め任意に定めた測定高さにおいて測定対象物に接触させ、位相差をゼロに補償する周波数変化量から測定対象物の硬さを出力する硬さ出力部と、
測定対象物に対する探触子のXY平面内の移動位置と、その移動位置における測定対象物の硬さとに基づいて、測定対象物である生体細胞の2次元的硬さ分布を表示する硬さ分布表示手段と、
を備えることを特徴とする細胞物性測定装置。 - 請求の範囲1に記載の細胞物性測定装置において、
探触子は、
振動子と振動検出センサとを含む本体部と、
本体部に接続され細長く延び、曲率半径が5μm以上20μm以下の先端部を有する軸状プローブ部と、
を有していることを特徴とする細胞物性測定装置。 - 請求の範囲3に記載の細胞物性測定装置において、
平面内移動機構は、探触子の曲率半径より短い距離の測定ピッチで、測定対象物に対し探触子を移動させることを特徴とする細胞物性測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008548321A JP5273660B2 (ja) | 2006-12-08 | 2007-12-05 | 細胞物性測定装置 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006331934 | 2006-12-08 | ||
JP2006331934 | 2006-12-08 | ||
PCT/JP2007/073521 WO2008069250A1 (ja) | 2006-12-08 | 2007-12-05 | 細胞物性測定装置 |
JP2008548321A JP5273660B2 (ja) | 2006-12-08 | 2007-12-05 | 細胞物性測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2008069250A1 true JPWO2008069250A1 (ja) | 2010-03-25 |
JP5273660B2 JP5273660B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=39492132
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008548321A Expired - Fee Related JP5273660B2 (ja) | 2006-12-08 | 2007-12-05 | 細胞物性測定装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5273660B2 (ja) |
WO (1) | WO2008069250A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101018408B1 (ko) | 2008-06-26 | 2011-03-02 | 한국기계연구원 | 물성 진단 장치 및 방법 |
KR101018409B1 (ko) | 2008-06-26 | 2011-03-02 | 한국과학기술원 | 3차원 물성 진단 장치 및 방법 |
JP5283227B2 (ja) * | 2009-06-05 | 2013-09-04 | 学校法人日本大学 | 椎間板硬度計測装置 |
WO2012076729A2 (en) * | 2010-12-10 | 2012-06-14 | Universität Basel | Method for staging cancer progression by afm |
EP2535151B1 (en) * | 2011-06-17 | 2018-03-28 | Eppendorf Ag | Actuator apparatus with control device |
JP6241338B2 (ja) * | 2014-03-19 | 2017-12-06 | 株式会社Ihi | 応力測定装置及び応力測定方法 |
US20190299310A1 (en) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | Branson Ultrasonics Corporation | Contact Detection Based On Frequency In Ultrasonics |
JP7213491B2 (ja) * | 2019-05-21 | 2023-01-27 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 | 超音波画像構築方法、超音波画像構築装置、超音波画像構築プログラム |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06194113A (ja) * | 1992-12-22 | 1994-07-15 | Nikon Corp | タッチプローブ |
JPH07243846A (ja) * | 1994-01-11 | 1995-09-19 | Nikon Corp | 変位測定プローブ |
WO2003063719A1 (fr) * | 2002-01-29 | 2003-08-07 | Nihon University | Systeme de support chirurgical de decoupage de peau |
-
2007
- 2007-12-05 WO PCT/JP2007/073521 patent/WO2008069250A1/ja active Application Filing
- 2007-12-05 JP JP2008548321A patent/JP5273660B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5273660B2 (ja) | 2013-08-28 |
WO2008069250A1 (ja) | 2008-06-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5273660B2 (ja) | 細胞物性測定装置 | |
CN107449939B (zh) | 采用磁驱峰值力调制原子力显微镜进行的多参数同步测量方法 | |
JP5000076B2 (ja) | 力走査型プローブ顕微鏡 | |
US7997124B2 (en) | Scanning probe microscope | |
CN105910560B (zh) | 一种生物细胞超声原子力显微检测系统和方法 | |
CN104586511B (zh) | 一种气液通用的磁力显微操纵系统及方法 | |
US20110035849A1 (en) | SPM Imaging Apparatus, Probe and Method | |
Brand et al. | Long slender piezo-resistive silicon microprobes for fast measurements of roughness and mechanical properties inside micro-holes with diameters below 100 µm | |
CN101776436A (zh) | 基于石英音叉的纳米测头及试样表面微观形貌测量方法 | |
US9052340B2 (en) | Probe assembly for a scanning probe microscope | |
CN105738254A (zh) | 一种力学生物学耦合测试系统及方法 | |
CN103645347B (zh) | 微纳米尺度动态耦合振动的单点跟踪测量方法 | |
WO2006090593A9 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡用変位検出機構およびこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 | |
CN108508238A (zh) | 基于双驱动afm系统测试单分子力谱装置和方法 | |
US8505111B2 (en) | Cantilever excitation device and scanning probe microscope | |
JPWO2006090594A1 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡用微動機構およびこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 | |
US20110281294A1 (en) | Method and device for measuring adhesion forces | |
CN1232987C (zh) | 液相原子力显微镜探头 | |
US9448393B2 (en) | Method and apparatus for automated scanning probe microscopy | |
RU167852U1 (ru) | Устройство для измерения механических свойств материалов | |
JP2008000214A (ja) | 超音波診断装置および超音波診断画像表示方法 | |
CN2624354Y (zh) | 液相原子力显微镜探头 | |
JP2014190923A (ja) | アクチュエータの位置算出装置、位置算出方法及び位置算出プログラム | |
WO2021044934A1 (ja) | 走査型プローブ顕微鏡及び走査型プローブ顕微鏡の駆動制御装置 | |
Cai et al. | A mini review of the key components used for the development of high-speed atomic force microscopy |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20101202 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20101202 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130129 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130322 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130416 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130508 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |