JPWO2008044421A1 - 試験装置および制御方法 - Google Patents
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Abstract
Description
1. 出願番号 11/546,926 出願日 2006年10月12日
2. 出願番号 11/546,929 出願日 2006年10月12日
Claims (12)
- 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスを試験する試験プログラムを実行する制御プロセッサと、
前記被試験デバイスに接続され、前記制御プロセッサの指示に応じて前記被試験デバイスを試験する試験ユニットと、
前記制御プロセッサおよび前記試験ユニットに接続され、前記制御プロセッサから前記試験ユニットへと送信される制御命令を中継する中継部と
を備え、
前記中継部は、
前記制御プロセッサから前記試験ユニットに割り当てられたアドレスに対して書き込まれるべき前記制御命令をバッファするバッファ部と、
前記制御プロセッサから受信した、前記制御命令を前記試験ユニットに対して送信すべきタイミングを記憶するタイミング記憶部と、
前記タイミング記憶部に記憶されたタイミングが到達したことに応じて、前記バッファ部にバッファされた前記制御命令を、前記試験ユニットへ送信するバッファ制御部と
を有する試験装置。 - 前記制御プロセッサは、前記制御命令の書き込みに先立って、前記制御命令を前記試験ユニットに対して送信すべきタイミングを、前記中継部に割り当てられたアドレスに対して書き込み、
前記バッファ部は、前記制御プロセッサから受信した、前記タイミングを書き込むタイミング書込コマンドと、前記制御命令を書き込む制御命令書込コマンドとを順次バッファし、
前記バッファ制御部は、前記バッファ部から前記タイミング書込コマンドを取り出したことに応じて前記タイミングが到達するまで、前記タイミング書込コマンドより後に受信した前記制御命令書込コマンドの処理を遅延させる
請求項1に記載の試験装置。 - 前記バッファ制御部は、
前記バッファ部にバッファされた書込コマンドを順次取り出す取出部と、
前記タイミング書込コマンドを取り出したことに応じて当該タイミングを前記タイミング記憶部に記憶させるタイミング書込部と、
前記タイミング記憶部に記憶された前記タイミングの到達を検出する検出部と、
前記タイミングの到達が検出されたことを条件として、前記タイミング書込コマンドの後に受信した前記制御命令書込コマンドを、前記試験ユニットへと送信する送信部と
を含む請求項2に記載の試験装置。 - 当該試験装置は、複数の被試験デバイスを試験するものであり、
前記複数の被試験デバイスのそれぞれに対応して、複数の前記試験ユニットのそれぞれが設けられ、
前記複数の試験ユニットのそれぞれに対応して、複数の前記中継部のそれぞれが設けられる
請求項3に記載の試験装置。 - 被試験デバイスを試験する試験プログラムを実行する制御プロセッサと、前記被試験デバイスに接続され、前記制御プロセッサの指示に応じて前記被試験デバイスを試験する試験ユニットとを備える試験装置を制御する制御方法であって、
前記制御プロセッサから前記試験ユニットに割り当てられたアドレスに対して書き込まれるべき制御命令をバッファし、
前記制御プロセッサから受信した、前記制御命令を前記試験ユニットに対して送信すべきタイミングを記憶し、
前記タイミングが到達したことに応じて、バッファされた前記制御命令を、前記試験ユニットへ送信する
制御方法。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスを試験する試験プログラムを実行する制御プロセッサと、
前記被試験デバイスに接続され、前記制御プロセッサの指示に応じて前記被試験デバイスを試験する試験ユニットと、
前記制御プロセッサおよび前記試験ユニットに接続され、前記制御プロセッサから前記試験ユニットへと送信される制御命令を中継する中継部と
を備え、
前記中継部は、
前記制御プロセッサから指定された、前記試験ユニットの状態を示す状態レジスタを繰返し読み出すポーリング部と、
前記状態レジスタの値が前記制御プロセッサから指定された期待値となったことに応じて、前記状態レジスタの値が前記期待値となった後に前記試験ユニットが処理すべき前記制御命令を前記試験ユニットへ送信する処理制御部と
を有する試験装置。 - 前記制御プロセッサは、前記試験ユニットに割り当てられたアドレス空間内の前記状態レジスタのアドレスおよび前記期待値を、前記中継部に割り当てられたアドレスに対して書き込んだ後、前記試験ユニットに割り当てられたアドレスに前記制御命令を書き込み、
前記中継部は、前記制御プロセッサから受信した、前記状態レジスタのアドレスおよび前記期待値を書き込む条件書込コマンドと、前記制御命令を書き込む制御命令書込コマンドとを順次バッファするバッファ部を更に有し、
前記ポーリング部は、前記バッファ部から前記条件書込コマンドを取得したことに応じて、前記状態レジスタのアドレスを読出アドレスとする読出コマンドを前記試験ユニットへと繰返し発行し、
前記処理制御部は、前記状態レジスタの値が前記期待値となったことに応じて、前記条件書込コマンドより後に受信した前記制御命令書込コマンドを前記試験ユニットへ送信するバッファ制御部を含む
請求項6に記載の試験装置。 - 前記制御プロセッサは、前記状態レジスタのアドレスおよび前記期待値の書き込みにおいて、前記期待値として、前記ポーリング部が読み出した前記状態レジスタの値の各ビットをマスクするか否かを指定するマスク値と、マスクされた前記状態レジスタの値が満たすべき値を示すマスク後期待値とを書き込み、
前記バッファ制御部は、前記状態レジスタの値を前記マスク値によりマスクした値が前記マスク後期待値となったことに応じて、前記条件書込コマンドより後に受信した前記制御命令書込コマンドを前記試験ユニットへ送信する
請求項7に記載の試験装置。 - 前記制御プロセッサは、第1の前記状態レジスタが第1の前記期待値となり、かつ、第2の前記状態レジスタが第2の前記期待値となったことを条件として前記制御命令を前記試験ユニットへ送信する場合において、前記第1の状態レジスタのアドレスおよび前記第1の期待値と、前記第2の状態レジスタのアドレスおよび前記第2の期待値とを前記中継部に割り当てられたアドレスに対して順次書き込んだ後、前記試験ユニットに割り当てられたアドレスに前記制御命令を書き込み、
前記ポーリング部は、前記第1の状態レジスタのアドレスおよび前記第1の期待値を書き込む第1の前記条件書込コマンドを前記バッファ部から取得したことに応じて、前記第1の状態レジスタのアドレスを読出アドレスとする第1の読出コマンドを前記試験ユニットへと繰返し発行し、
前記バッファ制御部は、前記第1の状態レジスタの値が前記第1の期待値となったことに応じて、前記第1の条件書込コマンドより後に受信した、前記第2の状態レジスタのアドレスおよび前記第2の期待値を書き込む第2の前記条件書込コマンドを前記バッファ部から取り出し、
前記ポーリング部は、前記第2の条件書込コマンドを前記バッファ部から取得したことに応じて、前記第2の状態レジスタのアドレスを読み出しアドレスとする第2の読出コマンドを前記試験ユニットへと繰返し発行し、
前記バッファ制御部は、前記第2の状態レジスタの値が前記第2の期待値となったことに応じて、前記第2の条件書込コマンドより後に受信した前記制御命令書込コマンドを前記試験ユニットへ送信する
請求項7に記載の試験装置。 - 前記処理制御部は、前記バッファ部から前記条件書込コマンドが取得されてから予め設定されたタイムアウト時間が経過したことに応じて、前記制御プロセッサに対してタイムアウト割り込みを発行する請求項6に記載の試験装置。
- 前記処理制御部は、前記状態レジスタの値が前記制御プロセッサから指定された期待値となったことに応じて、前記制御プロセッサから後続の前記制御命令を送信させるべく前記制御プロセッサに割り込みを発行する請求項6に記載の試験装置。
- 被試験デバイスを試験する試験プログラムを実行する制御プロセッサと、
前記被試験デバイスに接続され、前記制御プロセッサの指示に応じて前記被試験デバイスを試験する試験ユニットとを備える試験装置を制御する制御方法であって、
前記制御プロセッサから指定された、前記試験ユニットの状態を示す状態レジスタを繰返し読み出し、
前記状態レジスタの値が前記制御プロセッサから指定された期待値となったことに応じて、前記状態レジスタの値が前記期待値となった後に前記試験ユニットが処理すべき前記制御命令を前記試験ユニットへ送信する
制御方法。
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