TWI399551B

TWI399551B - Burner device and burner method

Info

Publication number: TWI399551B
Application number: TW98121618A
Authority: TW
Original assignee: Senao Networks Inc
Priority date: 2009-06-26
Filing date: 2009-06-26
Publication date: 2013-06-21
Also published as: TW201100820A

Description

燒機裝置及燒機方法

本發明是有關於一種出貨檢驗技術，特別是指一種燒機(BURN IN)裝置及燒機方法。

一般來說，電子產品在出廠前，除了進行各項功能的運作檢測，還會再予以燒機測試，以確保在使用者面前呈現較佳的產品穩定度。

傳統的燒機方式，是使產品上電(power on)，並於烤箱內運作一段時間。然而，產品可能存在多種運作模式，若是上電後不輸入運作指令，就只會進入其中一種預定模式，而難以燒機測試其他模式，造成燒機不完全。雖然，對於低單價產品來說，這樣的燒機測試已足夠支持。但是，其仍不足以支持結構更為精密的高單價產品，例如：局端的網路交換機。

此外，燒機的同時，通常需要利用記憶體來記錄測試訊息，且隨著燒機時間拉長，記憶體消耗更大。如果產品本身是一種具有有限記憶體空間的嵌入式系統，那麼燒機後的系統運作效能可能會因此受到相當程度的影響。

因此，本發明之目的，即在提供一種燒機裝置及燒機方法，可以增加測試覆蓋(coverage)率，並降低因記錄測試訊息而消耗的記憶體空間。

於是，本發明燒機裝置，適用於一個具有至少一待測元件的電子產品中，包含：複數測試單元，每一測試單元用以測試該電子產品的其中一待測元件；一主控單元，用以電連接該等測試單元，並根據一待測項目來指定其中一個測試單元進行測試，且該指定的測試單元會在測試完成後送出成功或失敗的測試結果；及複數訊息傳收單元，每一訊息傳收單元電連接其中一個測試單元，並接收對應測試單元的測試結果，而據以發出一燒機訊息；其中，該燒機訊息包括該待測項目的目前累計測試次數，以及該待測項目的目前累計測試成功次數。

而本發明燒機方法，適用於燒機測試多個待測元件，包含以下步驟：(A)利用一主控單元，根據一待測項目來指定複數測試單元的其中一個，且每一測試單元會對應一個待測元件；(B)利用該指定的測試單元，測試對應的待測元件，並在測試完成後送出成功或失敗的測試結果；及(C)利用一訊息傳收單元，接收該指定測試單元的測試結果，並據以發出一燒機訊息；其中，該燒機訊息包括該待測項目的目前累計測試次數，以及該待測項目的目前累計測試成功次數。

有關本發明之前述及其他技術內容、特點與功效，在以下配合參考圖式之一個較佳實施例的詳細說明中，將可清楚的呈現。

參閱圖1，本發明燒機裝置110之較佳實施例，適用於一電子產品100中，包含彼此電連接的一處理模組1、一記憶單元2及一時脈產生器3。而該處理模組1包括一主控單元11，以及分別與主控單元11電連接的複數個測試單元12、複數個訊息傳收單元13及一存取單元14。該存取單元14會電連接所有訊息傳收單元13，且每一訊息傳收單元13會電連接其中一個測試單元12。

較佳地，本例的處理模組1是一個用以燒機的控制軟體，主控單元11相當於控制軟體的主要程式，而該等測試單元12、該等訊息傳收單元13與存取單元14都是控制軟體的子程式。

主控單元11負責主導整個燒機流程，並指定其中一個測試單元12來測試該電子產品100中的一待測元件120。每一測試單元12會在測試完成後，提供測試結果給對應的訊息傳收單元13。各訊息傳收單元13進而將收到的測試結果，轉換成一燒機訊息並發出。且存取單元14會將燒機訊息填寫到記憶單元2內，且是根據時脈產生器3輸出的一時脈信號來填寫。

本例中，電子產品100是指一以CAVIUM處理器設計的路由器(Router)，待測元件120是一CAVIUM處理器、一雙倍資料速率同步動態隨機存取記憶體(DDR)、一網路切換器或其他。

參閱圖2，更詳細來說，本發明燒機方法之較佳實施例包含以下步驟：

步驟70：將電子產品100送入維持於一預定溫度的一烤箱內，例如攝氏40度。

步驟71：電子產品100上電，使得時脈產生器3輸出該時脈信號來作為處理模組1所有元件的運作依據，也會根據該時脈信號來產生一變動的參考時間。

本例中，此參考時間是呈遞增的變動。當然，遞減的變換設計是本發明具有通常知識者可輕易完成。

步驟72：存取單元14受主控單元11控制，從記憶單元2取出一些燒機測試用的資料。這些資料能反映目前測試的進度，主要有五大類：(M1)本次的待測項目；(M2)本次的測試時間長度；(M3)目前為止，該待測項目的累計測試次數；(M4)目前為止，該待測項目的累計測試成功次數；及(M5)目前為止，該待測項目的累計測試失敗次數。

步驟73：主控單元11根據存取單元14所取出的(M1)待測項目，指定一個測試單元12，並根據(M2)測試時間長度決定該指定測試單元12的運作時間。

步驟74：在指定的測試單元12運作之前，主控單元11會令訊息傳收單元13發出一啟動訊息給存取單元14。

步驟75：存取單元14受主控單元11控制，從時脈產生器3接收該參考時間，並將該參考時間和該啟動訊息填寫到記憶單元2。

步驟76：指定的測試單元12受主控單元11控制，而開始測試對應(M1)待測項目的待測元件120。

舉例來說，當(M1)是指DDR，那麼主控單元11會啟動對應的測試單元12來測試該DDR，且持續一段相當於(M2)的時間。

步驟77：指定的測試單元12完成測試後，會將成功或失敗的測試結果通知對應訊息傳收單元13。且在測試失敗時，測試結果會載有失敗原因。

步驟78：訊息傳收單元13將測試結果，轉換成一燒機訊息並發出。

步驟79：存取單元14受主控單元11控制，從時脈產生器3接收該參考時間，並將該參考時間和該燒機訊息填寫到記憶單元2，即填寫：(M6)燒機測試的結果。

並且，存取單元14也會對應地更改記憶單元2的記錄資料，亦即：(M3)累計的測試次數、(M4)累計的測試成功次數，及(M5)累計的測試失敗次數。

請注意，因為參考時間會變動，所以步驟75和79所接收的參考時間不會相同。

步驟80：電子產品100關機來結束此次的燒機測試，並重覆步驟71~80，直到每一待測元件120的(M3)累計測試次數都達到一預定值。

較特別的是，步驟78中，訊息傳收單元13並不是直接將測試結果當做燒機訊息，而是會對應處理模組1所包括的一查表單元15，以位元組(byte)為單位來發出呈編碼形式的燒機訊息。例如，查表單元15會先預設：成功測試結果的對應燒機訊息為”0000-0000”；第一種失敗原因的對應燒機訊息為”0000-0001”；第二種失敗原因的對應燒機訊息為”0000-0010”；以此類推，因此簡化了存取單元14填入記憶單元2的資料內容，而大幅縮減記憶空間的消耗。

當然，較佳地，步驟79中，存取單元14也可以只將代表「失敗」的燒機訊息和參考時間填入，而忽略「成功」的訊息，以進一步減少記憶單元2的使用量。

並且，在另一實施例中，如果主控單元11在執行步驟73前，發現在維持相同(M1)待測項目的情況下，和前一次燒機測試相比，(M3)、(M4)和(M5)等累計次數都沒有變動，那麼流程會跳到步驟77，使指定的測試單元12重送測試結果。

再者，測試單元12能夠對相關待測元件120做多樣的測試，以盡量致能待測元件120的各種運作模式。且該等測試單元12的數目不小於該電子產品100之待測元件120的數目。值得注意的是，當測試單元12的數目增加，本實施例燒機裝置110能測試電子產品100內的更多元件，所以測試覆蓋率較習知為高。

此外，其他實施例中，電子產品100也可以不限於路由器。且基於多數電子產品100的結構類似，都具有處理器或是DDR等功能，所以不需大幅修改燒機控制軟體(即本例的處理模組1)，就能適用於多項電子產品100。

綜上所述，本實施例燒機裝置110能改變測試結果的記錄方式，而減少記憶單元2的消耗。並且，可彈性地增加測試單元12的數目來提高測試覆蓋率，又能支援多項電子產品100，故確實能達成本發明之目的。

惟以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以此限定本發明實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍及發明說明內容所作之簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發明專利涵蓋之範圍內。

100‧‧‧電子產品

70‧‧‧送入烤箱的步驟

110‧‧‧燒機裝置

71‧‧‧上電且產生參考時間的步驟

120‧‧‧待測元件

1‧‧‧處理模組

72‧‧‧取出測試進度之資料的步驟

11‧‧‧主控單元

12‧‧‧測試單元

73‧‧‧指定測試單元的步驟

13‧‧‧訊息傳收單元

14‧‧‧存取單元

74‧‧‧發出啟動訊息的步驟

15‧‧‧查表單元

2‧‧‧記憶單元

75‧‧‧填寫參考時間和啟動訊息的步驟

3‧‧‧時脈產生器

76‧‧‧開始測試的步驟

77‧‧‧通知測試結果的步驟

78‧‧‧發出燒機訊息的步驟

79‧‧‧填寫參考時間和燒機訊息的步驟

80‧‧‧關機的步驟

圖1是一方塊圖，說明本發明燒機裝置之實施例；及圖2是一流程圖，說明本發明燒機方法之實施例。