JPWO2007032088A1 - 質量分析装置 - Google Patents

質量分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2007032088A1
JPWO2007032088A1 JP2007535366A JP2007535366A JPWO2007032088A1 JP WO2007032088 A1 JPWO2007032088 A1 JP WO2007032088A1 JP 2007535366 A JP2007535366 A JP 2007535366A JP 2007535366 A JP2007535366 A JP 2007535366A JP WO2007032088 A1 JPWO2007032088 A1 JP WO2007032088A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ionization
voltage
power supply
corona discharge
spray nozzle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007535366A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4553011B2 (ja
Inventor
小林 正人
正人 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of JPWO2007032088A1 publication Critical patent/JPWO2007032088A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4553011B2 publication Critical patent/JP4553011B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/168Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission field ionisation, e.g. corona discharge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72Mass spectrometers
    • G01N30/7233Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
    • G01N30/724Nebulising, aerosol formation or ionisation
    • G01N30/726Nebulising, aerosol formation or ionisation by electrical or glow discharge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N30/00Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
    • G01N30/02Column chromatography
    • G01N30/62Detectors specially adapted therefor
    • G01N30/72Mass spectrometers
    • G01N30/7233Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
    • G01N30/724Nebulising, aerosol formation or ionisation
    • G01N30/7266Nebulising, aerosol formation or ionisation by electric field, e.g. electrospray
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/10Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/165Electrospray ionisation

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

ESIとAPCIによるイオン化を同時に行うことのできるイオン化インタフェイスを備えた液体クロマトグラフ質量分析装置において、同一のイオン化室21内に、液体クロマトグラフ部から与えられた液体試料を帯電液滴として噴霧するスプレーノズル22と、移動相溶媒分子をイオン化するためのコロナ放電手段25とを設け、両手段に対して一つの高圧電源41から同時に同一の電圧を印加できる構成とする。また、スプレーノズル22によって生成された帯電液滴を乾燥させるための加熱乾燥ガス供給手段のヒータ27の電力をAPCIによるイオン化に適した値とする。これにより、回路設計の手間や部品点数を抑えて製造コストを低減すると共に、ユーザのパラメータ設定項目を減らして操作性を向上させることができる。

Description

本発明は、質量分析装置に関し、特に、液体クロマトグラフ等から送り込まれた液体試料をイオン化して質量分析部に導入するためのイオン化インタフェイスに関する。
図3は、従来知られている一般的な液体クロマトグラフ質量分析装置(LC/MS)の一例を示す概略構成図である。液体クロマトグラフ部(LC部)10のカラム11から時間的に分離して溶出する試料液は、インタフェイス部(大気圧イオン化インタフェイス)20に導入され、スプレーノズル22からイオン化室21内に噴霧されてイオン化される。発生したイオンを含む微細液滴は、その前方に位置している細管(脱溶媒管)23内に進入し、質量分析部(MS部)30へと送り込まれる。脱溶媒管23は図示しないヒータによって加熱されており、脱溶媒管23内を通過する間に液滴中の溶媒の蒸発が進み、目的イオンの発生が促進される。
MS部30は第1中間室31、第2中間室32及び分析室33の3室から成り、イオン化室21と第1中間室31とは上記脱溶媒管23により、第1中間室31と第2中間室32とは円錐状のスキマー35の頂部に設けられた小径の通過孔(オリフィス)36により連通している。イオン化室21内は略大気圧に維持され、第1中間室31はロータリーポンプによって約1 Torr程度まで、第2中間室32及び分析室33はターボ分子ポンプによってそれぞれ約10-3〜10-4 Torr程度、及び約10-5〜10-6 Torr程度まで排気され、イオン化室21から分析室33に向かって段階的に真空度を高くすることで分析室33を高真空状態に維持している。
脱溶媒管23を通過したイオンは、第1イオンレンズ34によりオリフィス36に収束され、オリフィス36を通り抜けて第2中間室32に導入される。そして、第2イオンレンズ37により収束及び加速されて分析室33へ送られ、特定の質量数(質量/電荷)を有する目的イオンのみが、分析室33内に配置された四重極フィルタ38の長軸方向の空間を通り抜けてイオン検出器39に到達する。そして、イオン検出器39では、到達したイオン数に応じた電流が検出信号として取り出される。
上記構成においてインタフェイス部20は、試料液を加熱、高速気流、高電界等によって霧化させることで、試料液に含まれる各種の試料成分をイオン化するものであり、エレクトロスプレイイオン化(ElectroSpray Ionization:ESI)法や大気圧化学イオン化(Atmospheric Pressure Chemical Ionization:APCI)法が最も広く使用されている。
図4(a)はESI法によるイオン化スプレー部の構成例である。ESIでは、スプレーノズル22の先端部に数kV程度の直流高電圧を印加し、強い不平等電界を発生させる。スプレーノズル22の先端に達した試料液はこの電界により電荷分離し、スプレーノズル22と同軸外周に配設されたネブライズ管(図示略)から噴出されるネブライズガスの助けを受けて、微小な帯電液滴としてイオン化室21内に強制的に噴霧される。イオン化室21内では脱溶媒管23の周囲に設けられた乾燥ガス供給口24から図示しない加熱ガス供給手段によって供給される加熱乾燥ガスが噴霧流に吹き付けられ、それによって液滴中の溶媒の蒸発が進行し、気体イオンの発生が促進される。
図4(b)はAPCI法によるイオン化スプレー部の構成例である。APCIでは、スプレーノズル22の前方に針状の放電電極25を配置しておき、スプレーノズル22の先端を取り囲むように周設したヒータ26中にネブライズガスを利用して試料液を噴霧することで溶媒と試料分子を気化させ、放電電極25からのコロナ放電によりキャリアガスイオン(バッファイオン)を生成して該試料分子を化学反応させることによってイオン化を行う。
一般に、APCIは低極性から中極性、ESIは中極性から高極性化合物のイオン化に有効である。また、ESIではタンパク質を代表とする物質のイオン化の過程で多価イオンを生成するため、装置の質量範囲の上限を越えた、分子量が数万というような化合物の測定も可能である。従って、分析対象の試料の種類や分析目的などによってイオン化法の使い分けが行われる。従来、一般的なLC/MSでは、ESI用スプレー部とAPCI用スプレー部とが交換自在の構成となっており、分析者がイオン化法に応じて適宜スプレー部を交換するようにしている。しかしながら、こうした交換作業は手間が掛かるため、分析効率を落とす一因となっている。
そこで、こうした交換の手間を省くため、両方のイオン化手段を同一のイオン化室内に備えた装置が従来から提案されている。例えば特許文献1及び特許文献2には、ESIとAPCIで共通のスプレーノズルを使用するイオン化インタフェイスが記載されており、該インタフェイスは、スプレーノズルの先端部に直流高電圧を印加することでESIによるイオン化を行うと同時に、該スプレーノズルの先端に設けられた放電電極によるコロナ放電によってAPCIによるイオン化を行うことができるものとなっている。
米国特許第6646257号明細書 国際公開第03/102537号パンフレット
従来、上記のような帯電液滴を生成するスプレーノズル(静電噴霧手段)とコロナ放電を行う放電電極(コロナ放電手段)を備えた装置においては、該静電噴霧手段とコロナ放電手段のそれぞれに対して任意に設定した別の高電圧を供給したり、一つの電源装置から両手段に対して高電圧を交互に供給したりしていた。しかし、それぞれに別の電圧を供給する場合には少なくとも2系統の電圧制御回路が必要となり、高電圧を交互に供給する場合には切り替え回路を設ける必要がある。そのため、回路設計の手間やコストが増加するといった問題や、ユーザのパラメータ選択肢(両手段に印加する電圧の値や、電圧供給の切り替えタイミング等)が増えるために操作が煩雑になる等の問題があった。
また、ESI及びAPCIのいずれの方式によるイオン化を行う場合であっても噴霧流中の液滴を乾燥させる必要があり、従来の2種類のイオン化手段を備えたLC/MSでは、上記通常のESIと同様に加熱ガスの吹き付けを行うことによって溶媒の蒸発を促進している。しかし、このような方式では液滴に対して単位時間当たりに与えることができる熱量が比較的小さく、ESIによるイオン化には適しているが、APCIでは必ずしも十分なイオン化効率が得られない場合があった。そのため、スプレーノズルの前方に別途にヒータを設けることなどによってAPCIによるイオン化効率の向上が図られているが、装置構成が複雑化し製造コストの増大を招くという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みて成されたものであり、その主たる目的とするところは、静電噴霧手段とコロナ放電手段の双方を備えたイオン化インタフェイスを有し、操作性に優れ、且つ低コストに製造可能なLC/MS装置を提供することにある。
上記課題を解決するために成された本発明に係る質量分析装置は、液体試料をイオン化して質量分析部に導入するイオン化インタフェイスを備えた質量分析装置において、
a) 液体試料を帯電液滴として噴霧する静電噴霧手段と、
b) 前記静電噴霧手段の前方に位置し、移動相溶媒分子をイオン化するためのコロナ放電を発生させるコロナ放電手段と、
c) 前記静電噴霧手段及びコロナ放電手段に電圧を供給する電圧供給手段と、
を有し、前記電圧供給手段が、前記静電噴霧手段とコロナ放電手段に対して一つの高圧電源から同じ値の電圧を供給するものであることを特徴とする。
また、本発明の質量分析装置は、上記電圧供給手段が、上記高圧電源に接続される給電ケーブルを筐体内で2方に分岐させる分岐手段を有し、分岐したケーブルの一方をコロナ放電手段に接続すると共に、他方のケーブルは筐体表面に設けられた給電ポートに接続し、上記静電噴霧手段に設けられた給電ケーブルを該給電ポートに着脱自在に接続して成るものとすることが望ましい。
上記のような本発明のLC/MSは、静電噴霧手段とコロナ放電手段の双方に対して同時に同一の電圧を印加する構成であるため、制御回路設計の手間や部品点数を抑えることができ、より低コストに製造することが可能となる。また、ユーザのパラメータ設定項目を減らすことができ、操作を簡略化できるという利点もある。このような本発明の質量分析装置は、ESI及びAPCIによるイオン化を同時に行うものであるため、幅広い試料を対象としたハイスループット分析に好適に用いることができる。
また、上記のような分岐手段を備えたものの場合、該分岐手段から延出する給電ケーブルを高圧電源に接続すると共に、静電噴霧手段から延出する給電ケーブルを該分岐手段に設けられた給電ポートに接続することで上記電圧供給手段を構成することができるため、既存のESIプローブをそのまま利用することができるという利点がある。
本発明の一実施例による大気圧イオン化質量分析装置の大気圧イオン化インタフェイス部の概略構成図。 本実施例の大気圧イオン化質量分析装置の要部の電気的概略構成図。 従来知られている一般的なLC/MS装置の一例を示す概略構成図。 従来の各種のイオン化手段の構成例を示す概略図。
符号の説明
10…LC部
11…カラム
20…インタフェイス部
21…イオン化室
22…スプレーノズル
22a…金属管
23…脱溶媒管
24…乾燥ガス供給口
25…放電電極
26…ヒータ
27…ブロックヒータ
30…MS部
31…第1中間室
32…第2中間室
33…分析室
34…第1イオンレンズ
35…スキマー
36…オリフィス
37…第2イオンレンズ
38…四重極フィルタ
39…イオン検出器
40…制御部
41…高圧電源
42…電源
43…中継ボックス
44…第1ケーブル
45…第2ケーブル
46…第3ケーブル
46a…給電ポート
47…給電ケーブル
以下、本発明に係る大気圧イオン化質量分析装置の一実施例を、図面を参照して説明する。図1は本実施例による大気圧イオン化質量分析装置のイオン化インタフェイス部の概略構成図、図2は本装置の要部の電気的概略構成図である。なお、上記以外の基本的な構成については、図3で説明した従来の一般的なMS装置と同様であるので、説明を省略する。
図1に示すように、イオン化インタフェイス部には、静電噴霧手段であるスプレーノズル22とコロナ放電手段である針状の放電電極25が配設されており、これらは、両手段に対する最適印加電圧が同一になるよう適切な位置に配置されている。更に、イオン化室21と第1中間室31の境界には脱溶媒管23及びイオン化室21に供給される乾燥ガスを加熱するためのブロックヒータ27が設けられている。
このイオン化インタフェイス部は、ESI又はAPCIの両イオン化モードを同時に実行できるように構成されている。すなわち、図2に示すように、数kV以上の高電圧を供給する高圧電源41は、分岐部を有する給電線により放電電極25、及びスプレーノズル22に内装されている金属管22aに接続されており、該高圧電源41のon/offは、MS部の動作全般を司る制御部40により制御される。なお、ブロックヒータ27には電圧可変な電源42が接続されており、該電源42のon/off及び出力電圧も制御部40によって制御される。
本実施例のLC/MSでは、図1に示すように、高圧電源41とスプレーノズル22及び放電電極25との間に高電圧ケーブルの中継ボックス43を設け、該中継ボックス43内で高電圧供給先を分岐させた構成となっている。中継ボックス43からは高圧電源41に対して着脱自在に接続される第1ケーブル44が延出しており、該中継ボックス43の内部では該第1ケーブル44が第2ケーブル45と第3ケーブル46とに分岐されている。第2ケーブル45は放電電極25に接続されており、第3ケーブル46は中継ボックスに設けられた給電ポート46aに接続され、該給電ポート46aを介してスプレーノズル22に設けられた給電ケーブル47と着脱自在に接続される。このような中継ボックス43を設けて高電圧の給電先を分岐させる構成としたことにより、既存のESIプローブを該中継ボックス43に接続することで、該ESIプローブを本実施例のスプレーノズル22としてそのまま利用することができるという効果を奏する。
本実施例に係るLC/MSの分析時の動作を説明する。LC部で分離された試料溶液は、スプレーノズル22後端に接続された試料チューブからスプレーノズル22内に導入される。このとき、高圧電源41で発生した高電圧V1がスプレーノズル22の金属管22a及び放電電極25に対して印加される。
上記金属管22aは試料液が流通するキャピラリ管を囲んでいるため、金属管22aに印加された高電圧によってキャピラリ管の端部に達した試料液は強く帯電し、キャピラリ管の外筒であるネブライズ管(図示略)から噴出するネブライズガスの助けを受けて、帯電液滴として噴霧される。その噴霧流に乾燥ガス供給口24から噴出する加熱乾燥ガスが吹き付けられ、液滴中の溶媒が急速に蒸発して液滴のサイズが小さくなり、それに伴いクーロン反発力によって気体イオンが発生する。
一方、放電電極25の周辺では、上記高電圧V1の印加によるコロナ放電によってバッファイオンが生成され、該バッファイオンと反応することによって噴霧流中の試料分子がイオン化される。なお、APCI法において高いイオン化効率を得るためには、試料液滴を十分に乾燥させる必要があるが、本実施例に係るインタフェイスにおいては、従来のものよりもブロックヒータ27の電力を大きくすることによって、別途ヒータを設けることなく高いイオン化効率を得ることができる。
こうして発生したイオンは、イオン化室21と第1中間室31との間の圧力差により、脱溶媒管23を通して第1中間室31内に吸い込まれる。また、イオン化室21において蒸発しきらずに残った微小な液滴も脱溶媒管23に吸い込まれ、管内でブロックヒータ27に加熱されて溶媒が蒸発し、イオン化が促進される。第1中間室31に到達したイオンは、第1イオンレンズ34により収束され、後段の第2中間室及び分析室へと送られる。
このように本実施例のLC/MSに係るイオン源では静電噴霧手段とコロナ放電手段によって、ESI法によるイオン化とAPCI法によるイオン化が同時に行われるため、ESIに適した成分とAPCIに適した成分の双方を一度の分析で効率よくイオン化することができる。また、上述のように本実施例のLC/MS装置においては、静電噴霧手段とコロナ放電手段に対して一つの高圧電源から同一値の電圧を印加する構成としたことにより、制御回路の設計の手間を省くと共に部品点数を削減して製造コストを抑えることができ、更に、ユーザによるパラメータ設定の手間を低減し、操作性を向上させることができるという効果を奏する。
なお、上記実施例は一例であって、本発明の趣旨の範囲で適宜に変更や修正を行えることは明らかである。例えば、本発明の質量分析装置におけるMS部は、図3に示すような四重極フィルタを備えたものの他、飛行時間型等いずれのタイプの質量分離手段を備えたものであってもよい。また、上記のような中継ボックスを設けず、高圧電源からの給電線を分岐させて静電噴霧手段やコロナ放電手段と直接接続する構成とすることもできる。

Claims (2)

  1. 液体試料をイオン化して質量分析部に導入するイオン化インタフェイスを備えた質量分析装置において、
    a) 液体試料を帯電液滴として噴霧する静電噴霧手段と、
    b) 前記静電噴霧手段の前方に位置し、移動相溶媒分子をイオン化するためのコロナ放電を発生させるコロナ放電手段と、
    c) 前記静電噴霧手段及びコロナ放電手段に電圧を供給する電圧供給手段と、
    を有し、前記電圧供給手段が、前記静電噴霧手段とコロナ放電手段に対して一つの高圧電源から同じ値の電圧を供給するものであることを特徴とする質量分析装置。
  2. 上記電圧供給手段が、上記高圧電源に接続される給電ケーブルを筐体内で2方に分岐させる分岐手段を有し、分岐したケーブルの一方をコロナ放電手段に接続すると共に、他方のケーブルは筐体表面に設けられた給電ポートに接続し、上記静電噴霧手段に設けられた給電ケーブルを該給電ポートに着脱自在に接続して成るものであることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
JP2007535366A 2005-09-16 2005-09-16 質量分析装置 Active JP4553011B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2005/017191 WO2007032088A1 (ja) 2005-09-16 2005-09-16 質量分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2007032088A1 true JPWO2007032088A1 (ja) 2009-03-19
JP4553011B2 JP4553011B2 (ja) 2010-09-29

Family

ID=37864694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007535366A Active JP4553011B2 (ja) 2005-09-16 2005-09-16 質量分析装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7812308B2 (ja)
EP (1) EP1933134A4 (ja)
JP (1) JP4553011B2 (ja)
WO (1) WO2007032088A1 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060255261A1 (en) 2005-04-04 2006-11-16 Craig Whitehouse Atmospheric pressure ion source for mass spectrometry
US8039795B2 (en) * 2008-04-04 2011-10-18 Agilent Technologies, Inc. Ion sources for improved ionization
CN103109347B (zh) * 2010-05-11 2016-12-21 Dh科技发展私人贸易有限公司 用于减少质谱仪的离子引导件中的污染物效应的离子透镜
JP5893756B2 (ja) * 2012-11-29 2016-03-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ ハイブリッドイオン源、質量分析計及びイオンモビリティ装置
TWI488216B (zh) * 2013-04-18 2015-06-11 Univ Nat Sun Yat Sen 多游離源的質譜游離裝置及質譜分析系統
WO2015015641A1 (ja) * 2013-08-02 2015-02-05 株式会社島津製作所 イオン化装置及び質量分析装置
CN105474352B (zh) * 2013-09-05 2017-07-11 株式会社日立高新技术 混合离子源以及质量分析装置
US11266383B2 (en) 2015-09-22 2022-03-08 University Health Network System and method for optimized mass spectrometry analysis
WO2017208417A1 (ja) 2016-06-02 2017-12-07 株式会社島津製作所 イオン化装置及び質量分析システム
CA3066002C (en) * 2016-06-10 2022-10-18 University Health Network Soft ionization system and method of use thereof
CN110024076B (zh) * 2016-11-29 2022-05-10 株式会社岛津制作所 离子化装置以及质谱分析装置
US11049711B2 (en) 2017-06-03 2021-06-29 Shimadzu Corporation Ion source for mass spectrometer
US11488817B2 (en) 2019-07-16 2022-11-01 Thermo Finnigan Mass spectrometry sweep cone cleaning by means of ultrasonic vibration
JP7415879B2 (ja) * 2020-11-10 2024-01-17 株式会社島津製作所 分析用機器及び分析システム

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000088808A (ja) * 1999-10-13 2000-03-31 Hitachi Ltd 質量分析計及びそのイオン源
JP2002157971A (ja) * 1993-06-30 2002-05-31 Hitachi Ltd 質量分析計及び質量分析方法
JP2003215101A (ja) * 2002-01-23 2003-07-30 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析計
JP2004185886A (ja) * 2002-12-02 2004-07-02 Shimadzu Corp 大気圧イオン化質量分析装置
JP2004294453A (ja) * 2004-07-26 2004-10-21 Hitachi Ltd イオン源、質量分析方法及び質量分析計

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5668370A (en) 1993-06-30 1997-09-16 Hitachi, Ltd. Automatic ionization mass spectrometer with a plurality of atmospheric ionization sources
GB2406705B (en) 2002-05-31 2006-09-27 Waters Investments Ltd A high speed combination multi-mode ionization source for mass spectrometers
US6646257B1 (en) 2002-09-18 2003-11-11 Agilent Technologies, Inc. Multimode ionization source

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002157971A (ja) * 1993-06-30 2002-05-31 Hitachi Ltd 質量分析計及び質量分析方法
JP2000088808A (ja) * 1999-10-13 2000-03-31 Hitachi Ltd 質量分析計及びそのイオン源
JP2003215101A (ja) * 2002-01-23 2003-07-30 Shimadzu Corp 液体クロマトグラフ質量分析計
JP2004185886A (ja) * 2002-12-02 2004-07-02 Shimadzu Corp 大気圧イオン化質量分析装置
JP2004294453A (ja) * 2004-07-26 2004-10-21 Hitachi Ltd イオン源、質量分析方法及び質量分析計

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6010016468, Daniel D.Ebeling,et al., ""Corona Discharge in Charge Reduction Electrospray Mass Spectrometry"", Anal. Chem., 20001101, Vol.72, No.21, p.5158−5161 *

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007032088A1 (ja) 2007-03-22
US20090236518A1 (en) 2009-09-24
US7812308B2 (en) 2010-10-12
EP1933134A4 (en) 2009-06-24
EP1933134A1 (en) 2008-06-18
JP4553011B2 (ja) 2010-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4553011B2 (ja) 質量分析装置
JP6263776B2 (ja) インパクタスプレーイオン化源を介した、キャピラリー電気泳動から質量分析計のへのインターフェース化
JP5073168B2 (ja) 質量分析計用の高速組合せマルチモードイオン源
JP6091620B2 (ja) イオン化装置及び質量分析装置
US8637812B2 (en) Sample excitation apparatus and method for spectroscopic analysis
JP2009505375A (ja) 質量分析装置
JPH09190795A (ja) エレクトロスプレー、大気圧化学的イオン化質量分析計およびイオン発生源
JP5589750B2 (ja) 質量分析装置用イオン化装置及び該イオン化装置を備える質量分析装置
JP4415490B2 (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP4752676B2 (ja) 質量分析装置
WO2017056173A1 (ja) イオン源用液体試料導入システム及び分析システム
JP6620896B2 (ja) イオン化装置及び質量分析装置
US20030136904A1 (en) Liquid chromatograph mass spectrometer
JP3846417B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析装置
US11049711B2 (en) Ion source for mass spectrometer
JP2001101992A (ja) 大気圧イオン化質量分析装置
JP4023056B2 (ja) 液体クロマトグラフ質量分析計
JPH06310088A (ja) 質量分析装置イオン源
JP2001043826A (ja) 質量分析装置における大気圧化学イオン化方法
JPH1164289A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
US20060038122A1 (en) Ion source with adjustable ion source pressure combining ESI-, FI-, FD-, LIFDI- and MALDI-elements as well as hybrid intermediates between ionization techniques for mass spectrometry and/or electron paramagnetic resonance spectrometry
JP2001183344A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析計
JP2009025260A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JPH11108895A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP2003107054A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100330

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100526

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20100526

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100622

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100705

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4553011

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723

Year of fee payment: 3