JPWO2007020862A1 - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(1)高い空間分解能で以てサンプルを観察できること。
(2)サンプルに照射されるレーザ光の集束径を小さく絞ること。
(3)サンプル上の狙った位置に正確にレーザ光を照射可能であること。
(4)レーザ照射や観察のための光学系がイオンの検出効率を妨げないこと。
a)オペレータがサンプル上の分析部位を決めるために所定範囲を肉眼により又は撮影画像により観察するための、観察用光学系を含むサンプル観察手段と、
b)前記サンプル観察手段により観察可能な所定範囲を外れた所定位置にイオン化を行うためのレーザ光を集光照射する、レーザ集光光学系を含むレーザ照射手段と、
c)サンプルを保持し、前記サンプル観察手段を用いた観察により決定されたサンプル上の分析部位が前記レーザ照射手段によりレーザ光が照射される所定位置まで来るように前記サンプルを移動させるためのサンプル搬送手段と、
を備えることを特徴としている。
11…照射用窓
12…観察用窓
13…ステージ
14…サンプルプレート
15…サンプル
15a…分析部位
16…イオン輸送光学系
17…質量分析器
18…検出器
20…レーザ照射部
21…レーザ光
21a…レーザ光照射範囲
22…レーザ集光光学系
23…CCDカメラ
23a…観察視野
24…観察用光学系
30…ステージ駆動機構
301…x軸ガイド
302…y軸ガイド
303…レール
304、305…ストッパ
31…ステージ駆動部
32…制御部
33…操作部
34…表示部
40…気密室
41…試料導入管
42…透過照明部
43…イオントラップ
44…真空ポンプ
Claims (8)
- サンプルにレーザ光を照射して該サンプルに含まれる成分をイオン化し、発生したイオンを質量数により分離して検出する質量分析装置において、
a)オペレータがサンプル上の分析部位を決めるために所定範囲を肉眼により又は撮影画像により観察するための、観察用光学系を含むサンプル観察手段と、
b)前記サンプル観察手段により観察可能な所定範囲を外れた所定位置にイオン化を行うためのレーザ光を集光照射する、レーザ集光光学系を含むレーザ照射手段と、
c)サンプルを保持し、前記サンプル観察手段を用いた観察により決定されたサンプル上の分析部位が前記レーザ照射手段によりレーザ光が照射される所定位置まで来るように前記サンプルを移動させるためのサンプル搬送手段と、
を備えることを特徴とする質量分析装置。 - 前記サンプル搬送手段は、前記レーザ照射手段によるサンプル上のレーザ照射寸法以下の位置精度で以てサンプルを搬送するものであることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 前記サンプル搬送手段は、前記サンプルを載置するステージと、該ステージを所定範囲で移動させるステージ駆動手段と、前記サンプル観察手段を用いた観察時にサンプル上の任意の位置が分析部位として指定されたとき、該分析部位が前記レーザ光が照射される所定位置に到達するまでの制御量を算出し、その算出された制御量に基づいて前記ステージ駆動手段を動作させる制御手段と、を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の質量分析装置。
- 前記サンプル観察手段は、前記所定範囲をその略鉛直上方から観察するものであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析装置。
- 前記レーザ照射手段は、前記所定位置に集光照射するレーザ光の集束径が可変であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の質量分析装置。
- 前記サンプル搬送手段により前記サンプルを移動させながら該サンプルにレーザ光を照射して分析を実行することで、前記サンプル観察手段を用いた観察により指定されたサンプル上の任意の領域について、任意の質量を有する分子に対応した信号の有無や強度の二次元分布情報を取得することを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の質量分析装置。
- レーザ脱離イオン化法(LDI)によるイオン化を行うものであることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の質量分析装置。
- マトリクス支援レーザ脱離イオン化法(MALDI)によるイオン化を行うものであることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の質量分析装置。
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