JPS645353B2 - - Google Patents

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JPS645353B2
JPS645353B2 JP54071064A JP7106479A JPS645353B2 JP S645353 B2 JPS645353 B2 JP S645353B2 JP 54071064 A JP54071064 A JP 54071064A JP 7106479 A JP7106479 A JP 7106479A JP S645353 B2 JPS645353 B2 JP S645353B2
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JP
Japan
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signal
flat object
timing pulse
counter
value
Prior art date
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JP54071064A
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English (en)
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JPS5539997A (en
Inventor
Gyuntaa Pauri
Gyuntaa Kurauze
Aauin Robu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GEE AA OO G FUYUURU AUTOMATSUIOON UNTO ORUGANIZATSUIOON MBH
Original Assignee
GEE AA OO G FUYUURU AUTOMATSUIOON UNTO ORUGANIZATSUIOON MBH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GEE AA OO G FUYUURU AUTOMATSUIOON UNTO ORUGANIZATSUIOON MBH filed Critical GEE AA OO G FUYUURU AUTOMATSUIOON UNTO ORUGANIZATSUIOON MBH
Publication of JPS5539997A publication Critical patent/JPS5539997A/ja
Publication of JPS645353B2 publication Critical patent/JPS645353B2/ja
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    • G—PHYSICS
    • G07—CHECKING-DEVICES
    • G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
    • G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
    • G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は偏平物体、特に紙幣の状態と本物性
を決定する方法及び装置に関する。
〔従来の技術〕
自動的に証券や紙幣等を調べ分析する際に、一
方ではテストされる物体の分析があまりに精密す
ぎると不必要に高い拒絶率まで達するということ
が一般的に問題となつている。しかしながら他方
では紙幣の状態を非常に表面的に分析すると模造
品や偽造紙幣の検出に悪影響を与える。ことに偽
造紙幣については証券の全体は決して不正改造の
対象とはなつていないということが経験的に示さ
れる。偽造品は常に価額やその他の特定データを
変える様に意図されているので一般的に云つて特
定データを有する部分のみが変更（操作）され
る。
前記変更を検出するために偽造され易い部分の
みを注意深く分析し証券の一般的拒絶率は自動的
機構によつてほぼ所望されるように制御され、他
方、同様に偽造証券や又は偽造された疑いのある
証券は確実に分類される。
証券の偽造や本物性が示す特性の特徴や証券の
特定の部分の模造は極めて難しいことがわかつた
ので、本物性に関して最も確実な判定が行なわれ
る証券の部分がより詳細に調べられるなら、既に
のべた原理もまた、偽造の認定に対しても応用で
きる。本物性を判断するために主要でない残りの
部分の検査はより大きな公差を以つて行つても、
本物性の指摘にあまり影響することはない。証券
の検査から離れて、この原理は紙等の品質制御等
にも応用されてよく、この場合、異つた表示部分
に対して異つた品質の程度が必要である。
この点に関して光幕を縦方向に通過するテープ
を調べる方法がドイツ特許明細書（公告公報）第
2426866号に記述されている。互いに隣接して配
設された数個のフオトダイオードからなる受光器
はテープの巾と共にテープの表面被覆における欠
陥部分や傷を記録する。この方法において傷を通
過する光は傷のないテープの部分を通過する光と
は異なる。
紙幣や証券の特徴を別々に又は組み合わせてテ
ストし、その本物性を検出し、その状態を決定す
るためにいくつかの特許が知られている。ドイツ
特許明細書（公開公報）第1449212号及び1524694
号がこの分野において知られている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
公知のテスト手段の共通の欠点は調べられるべ
き特徴が証券の全表面にわたつて有効な１つの公
差によつてテストされるということである。公差
の程度を増加し又はより厳密でない評価手段を採
用することによつて公知の手段の場合にも拒絶率
を低下させることが可能である。しかしながら、
このような手段は本物性や模造性の認定の正確さ
を犠牲にすることによつてのみ行なわれる。従
来、公知のいくつかの手段の場合、マスクを採用
することによつて（例えば公開公報第1449212号）
テスト物体のある部分を除外することが可能であ
る。しかしながら、このような手段は紙幣を（マ
スク装備して）送る間に動的測定を行うことには
適さない。このようにしてテストから除外された
表面部分はそれ以上如何なる方法によつても走査
されず、従つて誤まりやこれらのマスクされた部
分内の非合法的改造が全く検出されないことにな
る。
従つて、この発明の目的は偏平物体、例えば
紙、証券、紙幣等の状態及び／または本物性に関
してテストでき拒絶率と所望部分の正確な分析と
が互に影響を与えることなく同等にセツトされ調
べられる偏平物体の状態および／または本物性を
決定する方法及び装置を提供することである。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕
この発明によると物体が表面の大部分が走査さ
れるテスト段を通過し、他方、物体が走査機構を
通過するときこの走査機構から発生する信号が分
析用電子回路において編集され適当な制限値と比
較され所定の公差を越えたとき欠陥分部を示す信
号を発生する。
この発明によると全走査表面から決められた位
置と大きさの少なくとも１つの表示部分を選択す
ること及びこの表面部分に適当な電気信号をこの
部分のために選択された制限値と比較することに
よつて前記物体の状態及び／または本物性が判断
される。
〔発明の効果〕
この発明によると、主として偏平物体のの異な
つた領域における１つ及び同じ状態あるいは本物
性（真偽）が異なる評価により判定できる。
印刷すべき物及び印刷物または他の方法で処理
されまたは処理されるべき紙葉の品質管理をする
場合に、通常の印刷のために占める領域が注目度
の少ない表面領域よりも入念に評価される。異な
る濃度または表面整合により印刷すべき紙葉の場
合、印刷されない箇所で特に紙葉の傷が特に目立
つ部分が検査から除外されるかまたは単に粗く検
査される。完成品が検査後にも高い要求を満足さ
せるにもかかわらず処理のために使用される紙葉
の拒絶率は相当に低下できる。
使用される紙幣の状態及び真偽を検査する場
合、例えば最も偽造され易い連続番号を有する紙
幣領域または最早有効に流通できない紙幣（損
券）に銀行が廃棄しるし（印）を付ける部分を検
査する場合には、この発明の実施例では連続番号
及び廃棄処分印孔を有する部分を含む窓を介して
紙幣が検査される。このような紙幣の状態の一般
的な評価はそれ程厳密に行われないけれども連続
番号及び廃棄処分印孔を含む領域において傷が最
も少ない場合であつても仕訳される。
異なる通過または異なる紙幣の場合には連続番
号又は廃棄処分印孔が紙幣の異なつた部分に設け
られるので、異なつた窓を異なつた種類の紙幣に
割当てることがこの発明を一層に改善できる。異
なつた種類の紙幣を混在して処理する場合に適正
な窓が常に各紙幣に割当てられ、従つて適正な検
査結果が保証できる。
別々に決定される基準を基礎に行なわれる窓の
割り当ては異なつた種類の紙幣のフオーマツトが
相違することが明らかな場合、直接にフオーマツ
トに従つてなされる。ドイツの紙幣はこの例であ
る。１つの通貨の異なつた種類の紙幣は同じフオ
ーマツトである場合、一種の紙幣に特有な基本色
又は他の明白に区別可能な特徴が使用される。紙
幣の本物性をテストするとき、本物性に関する異
なつた特徴が常にテストされるので、これを基に
して窓が割り当てられた特徴は全ての場合、偽造
に対する保護の見地からはその質は低い。なぜな
らば、一方ではこの特徴の変更操作によつてしば
しば間違つた窓が割当てられることになり、しか
しながら他方、１枚の紙幣と次の紙幣とで異なる
ものであつて紙幣の異なつた部分に配設される本
物性に関する各種の特徴の検査は紙幣の値に基づ
くときには明白に否定的なものとなるからであ
る。
〔実施例〕
以下図面を参照してこの発明の実施例を説明す
る。説明を簡単にするために、紙幣の表面内の傷
のテストについて記述し、連続番号を含む部分と
取消孔を含む部分とにおける傷の評価、判定につ
いてはより注意深く述べられる。同様にして、他
の特徴、例えば被テスト物の不透明さ、色の存在
又は不存在、螢光性、磁性の存在等が検査の目的
として使用できるということが当著者によつては
明らかである。異なつた窓が被テスト物の検査に
対して使用されてもよいことは明らかである。
第１図はこの発明のテスト回路の実施例を示め
すブロツク図である。テストされるべき物体は紙
幣であり、同種の紙幣は一連のテストによつて処
理されることがまず考えられる。異なつた種類の
紙幣のテストについて、より詳細に説明する。第
１図に示すように、テスト部の走査機構１は送信
機（発光機）３とこれと向い合つて配設された受
信機（受光機）２とからなる光幕装置である。送
信機３は１またはそれ以上の光源６からなり、受
信機は沢山の感光素子４たとえば光ダイオードか
らなる。光ダイオードの数は被検査紙幣５の幅及
び長さ並びに紙幣の規格外れ及び紙幣の欠陥が所
望の精度で分析できるように決定される。紙幣５
が第１図に示されたように光幕を通過するなら、
対応する輪郭は受信機に生じ電気信号を発生しそ
の内容は実際のフオーマツト（サイズ）を決める
ためのユニツト７で使用される。理想的すなわち
予定フオーマツトの電気データはユニツト８に記
録され、ユニツト９を介して、テストされるべき
紙幣の型によつて自動的または手動的に前以て選
択される。紙幣が光幕１を通り過ぎたあと理想値
（基準値）そして、実際の値は比較器１０によつ
て比較され、“良”フオーマツトまたは“不良”
フオーマツト信号はこの比較の結果に従つて発生
される。第１図に示した装置によると、紙幣の低
方端は、受信機２の最下方に配設された光ダイオ
ードがカバーされるように滑り面（図示せず）上
を移動する。
ユニツト９の基準値、即ちフオーマツトを予備
選択すると同時に各フオーマツトに特定された幕
表面部分（有効面）がユニツト１２内により前も
つて決められ、この有効面は特に欠陥部分に対し
て検査される。有効面の数及び大きさ並びに位置
は解決されるべき書く問題（例えば使用不能とす
るキヤンセルパターンの検査）及びフオーマツト
に従つて決められる。フオーマツトの決定に平行
して光ダイオード４からの電気信号は紙幣の欠陥
が選択有効面の内部にあるかを検査するために検
査ユニツト１３に入力される。欠陥の寸法がユニ
ツト１４に記憶された臨界値を越えると、比較器
１１は“不良条件”信号を出力する。
紙幣のフオーマツトのテストは第２図を参照し
て詳細に説明される。
テストフオーマツトは光幕に導入される紙幣の
長さと幅が互いに独立に決められ得られた値が記
録された理想値とそれぞれ比較される、紙幣の寸
法が製造公差のために変化するので所定の実際値
がその範囲内にあらればならない。紙幣の各種の
値による、長さと幅の公差範囲を提供することが
必要である。
長さを決定するための測定ユニツトはユニツト
１７によつて生じるＸタイミングパルスの期間に
よつて決定される。紙幣が光幕を通過する期間の
Ｘタイミングパルスのインパルスの数が加えられ
ると、インパルスの総計は紙幣の長さの測定とな
る。測定の精度はＸタイミングパルスの期間TX
によつて決定される。送信機と受信機とからなる
光幕は明確化のために再び第２図に示された。受
信機は互いに隣接して配設されたｎ個の光ダイオ
ードを有するダイオードの列からなる。紙幣が入
ることはユニツト１８に記録される。
開始部または終端部で欠け、または抜け部分を
有する紙幣の場合、紙幣の幅をあらわす光ダイオ
ードの完全な数は暗くならないので数個の選択さ
れた光ダイオードからなるOR回路接続は紙幣が
入ることや出ることを決めるために使われる。よ
り複雑な回路をさらに必要とするであろう全光ダ
イオードの分析は必要ではない。
ゲート１９は紙幣が入つたことを示す信号によ
つて開らかれるのでＸタイミングパルスはカウン
タ３４にむかつて進む。紙幣が光幕１を離れるな
ら、そしてこれは上述のように、いくつかのOR
接続された光ダイオードによつて決るのであるが
Ｘパルスはゲート１９によつてカウンタから分離
される。カウンタ３４のカウンタ位置は比較器２
０によつて最少および最大予定または理想値と比
較される。ユニツト２１に記録された値はテスト
が始まる前に、テストされるべき紙幣のフオーマ
ツトによつて、ユニツト９（第１図）を経て選択
される。たとえば、カウンタ位置が所定公差範囲
内にあるなら紙幣の長さの点で各Ｘタイミングパ
ルスで生じる紙幣の幅の決定については、紙幣が
光幕１に入つた後で暗くなつた光ダイオード４の
数を決めることによつて、基本的には実行され
る。紙幣の長さの最小識別距離は期間Txで決定
され、紙幣の幅の最小識別距離はダイオードの互
いの距離すなわち幅単位ごとのフオトダイオード
の数によつて決定される。
幅の決定値は紙幣加入信号によつてユニツト１
８に送られる。加入信号の助けによつて加入パル
スにつづく第１のＸタイミングパルスはゲート２
３を介してシフトレジスタ２４へ送られ、全ての
光ダイオード４の信号値が互いに平行に中間的に
記録される。シフトレジスタ２４へデータを送つ
た直後に、Δtに達する期間ユニツト２５で遅延
されたＸタイミングパルスはゲート２６に送られ
そうすることによつてユニツト２７に発生したＹ
タイミングパルスを発生し、これはシフトレジス
タからデータを連続的に読み出させる。
後に続くＸタイミングパルスが一列のダイオー
ドから新しい値をシフトレジスタ２４に送る以前
にデータの読み出しは完成しなければならない。
すなわち光ダイオードの数によつて掛けられたＹ
タイミングパルスの期間ＴはＸタイミングパルス
の期間Txよりも小さくなくてはならず、系とΔt
による遅延期間は考慮に入れられない。
Ｙタイミングパルスはシフトレジスタ２４から
読み出される連続ダイオード信号（SDS）ととも
に次のゲート２８に送られ、これはＹタイミング
パルスを次段のカウンタ２９へと送る。これら
は、連続ダイオード信号が論理“１”状態を示
し、すなわち、ダイオード列の適当なダイオード
が紙幣によつてカバーされている場合に生じる。
到達したカウンタ位置は紙幣の幅の測定となり、
その後ユニツト３１に記録された最小最大予定値
を有する比較器３０と比較される。この比較が正
の結果を示すなら、比較器３０に接続されたカウ
ンタは“１”にセツトされる。次の正の結果で、
カウンタ３２のカウンタ位置は１だけ増加する。
紙幣の幅は、ユニツト３３で前もつて選択できる
正の結果の最小数が紙幣が光幕１を通過した後で
記録されるならば、良とみなされる。
紙幣における孔、しわ、裂け目から生じる誤ま
つた判断は幅決定の大きさによつて回避される。
このあとで、その位置や寸法がテストされるべ
き特定の紙幣のフオーマツトによつて決められる
べき紙幣の所定領域内でいかにして欠陥が決定で
きるかが第３ａ，３ｂ，４図を参照して述べられ
る。
まず、望ましい領域の決定については、特別な
実施例を参照して説明される。
第３ａ図は、２個の斜線のついた表面部３５
ａ，３５ｂを有する紙幣５を示す。斜線部の寸法
と位置は連続数を含む紙幣の部分を頂度カバーす
るようにそれぞれ選択される。図に示すように、
連続数の位置が変化するために、一種類の紙幣か
ら他の種類へと変化する異なつた位置に配設され
るべき表面領域は座標点によつて決定できる。Ｘ
軸上では、これらは点X1，X2，X3，X4であり、
Ｙ軸上では点Y1，Y2，Y3，Y4である。
欠陥の可能性があるという見地から、表面部３
５ａ，３５ｂを分析するために、座標軸から得ら
れた情報を電子的に分析できる信号へと変換する
ことが必要である。
これを行なうためには、一般的に以下に説明さ
れるように、座標点X0で示される紙幣の立ち上
がり端が入つてくるときＸカウンタは開始する。
各軸上の点X1からX4に対して得られるカウンタ
位置は、紙幣がさらに光幕を通つて通過するとき
カウンタに接続されたメモリに対するアドレスと
して使用される。メモリはその出口の１つで軸上
点X1からX4とは独立に第３ａ図に示された信号
パターン３６を発生するようにプログラムされ
る。同様にして、信号パターン３７は第２のプロ
グラム可能なメモリの助けによつて軸上の点Y1
からY4に対して決定される。最終的には信号パ
ターン３６と３７は所謂電子窓を形成し、この窓
は、これによつて取り出された表面部分の分析を
可能とする。
電子窓を形成するスイツチング装置は第４図に
示される。第４図によると、Ｘタイミングパルス
（第２図と比較して）は紙幣加入の後にあらわれ、
カウンタ３８へと送られる。カウンタは軸上の点
X1（第３図と比較して）をあらわすカウンタ位置
に達するならＸ軸とプログラムされたメモリ３９
は、たとえばその出口４０ａで論理“1'へとスイ
ツチされる。メモリに接続されたマルチプレクサ
４２は前置選択スイツチ９（第２図）によつて、
それが信号線４０ａをAND回路４３に接続され
るだけのように、制御される。残りのメモリ４０
ｂ，４０ｃ…は他の種類の紙幣のためのものであ
り、ユニツト９で対応する前置選択によつてマル
チプレクサ４２を介して要求に従つてAND回路
４３へと接続される。信号パターン３６は、第３
図に示すように、Ｘタイミングパルスを介して紙
幣の動きと対応するカウンタ３８のカウンタ位置
が連続して増加したときメモリ３９の出口４０ａ
に現われる。紙幣が光幕を通過した後、Ｘタイミ
ングパルスはブロツクされ、カウンタ３８は０に
戻り、信号パターン３６を発生するプロセスは次
の紙幣に関して開始する。
第４図に従うと、紙幣の加入後に発生するＹタ
イミングパルスはカウンタ４４に送られる。計算
過程に対する最初の値は紙幣の低端部をあらわす
座標軸点Y0に対応するカウンタ位置である。紙
幣の低端部はダイオード列の第１の光ダイオード
のレベルにある滑り表面上を常に動くものと考え
られる。座標軸点Y1からY4を現わすカウンタ位
置にカウンタ４４が達したとき、Ｙ軸に関してプ
ログラムされた適当なＹタイミングパルスメモリ
４５は第３ａ図に示す信号パターンを発生する。
フオーマツトに従つて選択されたマルチプレクサ
４６の信号線４１ａを介して信号パターンは最終
的にAND回路４３に送られる。一列のダイオー
ドが調べられたあと、カウンタ４４は０に戻る。
残りのメモリ出力４１ｂ，４１ｃ…は、これまで
に述べられたものと類似の他のフオーマツトが与
えられる。
欠陥を分析するために、上述の信号パターン３
６，３７はAND回路接続４３を介してAND回路
４９へと送られる。
Ｙタイミングパルスとユニツト５０で否定され
た一連のダイオード信号はAND回路４９の２個
の入力に送られる。欠陥がすでに説明されたよう
に両方信号パターンが論理“１”をあらわす選択
された表面部分存在するなら一連のダイオードの
信号は否定のために論理“１”を有し、すなわ
ち、Ｙタイミングパルスはこの場合AND回路４
９を介して欠陥用カウンタ５１へと送られる。計
算されるパルスの数は欠陥が表面にひろがつてい
ることの測定に使われる。紙幣が通過したあと
で、カウンタ５１のカウンタ位置は比較器５２を
介してユニツト５３内の前以つてセツトされた制
限値と比較される。それから比較器５２は欠陥の
程度に応じて“良”“不良”信号を発生する。
これまで述べてきた実施例は所定の表面部分内
での欠陥の認定を説明していた。
示されるように、第３ａ図に点線によつて示さ
れるこの場合あまり重要ではない２個の表面部分
４７ａ，４７ｂが斜線部分３５ａ，３５ｂに加え
て分析される。前述の部分内に欠陥があるのなら
この分析は欠陥の寸法によつて誤つた結果へと導
びかれることとなろう。
かかる誤りを除くために、第３ｂ，４図に関し
て以下に簡単に述べられるような附加回路が設け
られる。
第３ｂ図に示されるように、紙幣５の全表面は
たとえば４個の部分に分割され、この場合に関係
があり表面部分３５ａ，３５ｂを含む部分はＡ，
Ｂによつて示される。もし欠陥が紙幣の第１の半
分が通過するときＡ部分内にのみ記録され、紙幣
の第２の半部分が通過するときＢ部分にのみ記録
されるなら、かかる表面部分は紙幣の連続番号が
含まれている表面部分のみが分析される。
さらに要求される信号パターンは第４図に示す
ようにユニツト５４によつて発生される。Ｘ、Ｙ
タイミングパルスはこのユニツトに送られる。さ
らに、このユニツトはその部分がフオーマツトに
よるようにセツトできるように“対検物予備選
択”ユニツト９へ接続される。すでに述べられた
信号パターンに加えてAND回路４３に送られる
信号パターンの発生が第３ｂ図に示される。Ｙタ
イミングパルスによつて駆動される信号パターン
３７に平行に、信号パターン５５はＸタイミング
パルスが軸上点XAをあらわすカウンタ位置に達
するまで中断されることなく発生する。信号パタ
ーン軸上点YAで論理“１”状態に変化し、従つ
て部分Ａが最初に選択される。軸上点XAから信
号パターン５６は発生し、これによつて軸上点
YAに達するまで論理“１”状態を示し、したが
つて部分Ｂが選択される。
これまで述べてきた実施例は所定表面部分内で
欠陥を検出し、それぞれあらかじめ選択された表
面部分によつてそれらを評価し判断するための方
法を示した。
第５図に示すように、信号３６，３７を変化す
ることによつて、他の場合の応用にもあてはまる
ように簡単な方法としてマスクが使用される。第
５図に示すように紙幣の矩形窓部分は取消孔の存
在を決定できる信号５７，５８によつて、すでに
説明されたものと同様な方法で調べられる。信号
５７，５８によつて形成される窓部分は、孔が円
形であるのに、矩形であるため、所望の検査が必
要でない部分も調べられる。しかしながら、矩形
の窓はずつと構成しやすいので、孔の実際の形か
らとずれていることは意識的に黙認される。
取消孔の決定と評価とは第４図に述べられたと
同一の回路構成によつて行なわれる。
この説明では、“窓部分”についてのみ述べら
れてきた。残りの表面部分を分析するためには、
すべに述べられた回路構成が使用でき、第４図に
述べられたものと基本的には対応し、これと対応
する信号パターンとによつて窓の外側にある表面
部分もまた調べられる。
たとえば紙の不透明さを考慮に入れ明るさの値
を処理するとき必要となるフオトセル信号の処理
の時に、ある信号レベルが考慮される場合には、
光ダイオード４からの信号は相当する閾値（図示
せず）が加えられた比較器によつて処理される。
若し窓部分を取りかこむ表面部分を分析するため
に使われる閾値の他の閾値がその窓部分を分析す
るために使われるなら各種の評価がその効果にお
いて互いに影響することなく所望の表面部分の分
析が可能となる。明るさの値（欠陥部分、不透明
部分等）を分析することのかわり色の値を決定す
ることが必要なら、光ダイオード４及び１または
光源３の前に適当なフイルタ装置を設けることに
よつて、これを考慮することが可能である。非光
学的特性を分析するためには、“光幕”は検出さ
れるべき特性または特徴を検出することのできる
“幕”によつて置換されねばならない。従つて磁
気特性の分析は一例のフオトセルまたは光源列の
かわりにたとえば一列の磁気ヘツドを設けること
によつて行われる。
光幕を任意の順序で通過する紙幣の価値又は通
貨のような各種の単位を有する被検物の検査は被
検物、即ち紙幣の表面が光幕によつて走査され、
それによつて得られる光量により表面フオーマツ
トが自動的に選択できる。従つて光幕は先ず紙幣
のフオーマツトを決め、一方紙幣の全表面状態を
特徴づけるダイオード信号が読み出し／書き込み
メモリに一時的記録される。そのフオーマツトが
決定されると、そのフオーマツトに対して与えら
れる多数の走査ラインはフリー状態となり、それ
から読出し／書込みメモリの内容が次の紙幣が搬
入されるまでにクリアされる。従つて紙幣は所定
の表面部分の内側と外側の欠陥について時間おく
れをもつて調べられ、これは前述のように行なわ
れる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明にかかる方法を行うための概
略的な回路のブロツク図、第２図は対象物のフオ
ーマツトを決定するための詳細な回路図、第３
ａ，３ｂ図はフオーマツトに従つてある回路部分
の選択を例示するための紙幣の概略図、第４図は
決められた表面部分内における、異常を決めるた
めの回路図、第５図は第３ａ，３ｂ図に示した紙
幣の他の例を示す概略図である。 ２０，３０，３３……比較器、２４……シフト
レジスタ、２８……ゲート、２９，３２，３４，
３８，４４……カウンタ、３９，４５……メモ
リ、４２，４６……マルチプレクサ、４３，４９
……AND回路、５３……制御値ユニツト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １ 紙幣等の偏平物体が検査ユニツトを通過さ
    れ、走査装置により走査されることにより、走査
    装置により発生される電気信号が評価回路におい
    て処理され、所定の閾値と比較され、所定の偏差
    が生じた時に信号が発生される偏平物体の状態及
    び本物性を決定する方法において、偏平物体の全
    面領域が並列配置された検査通路によつて包括さ
    れ、前記全面領域内において所定の座標によつて
    限定される少くとも１つのサブ領域がサイズ及び
    位置に従つて選択され、前記サブ領域及び前記全
    面領域の残りの領域が１つ及び同じ物理的特性に
    関して検査され、前記サブ領域は前記全面領域の
    残り領域の検査よりも最も敏感な基準に従つて検
    査されることを特徴とする偏平物体の状態及び本
    物性を決定する方法。 ２ 前記偏平物体は光源によつて照明され、前記
    偏平物体を通過する光が前記偏平物体によつて変
    調され、前記偏平物体の搬送方向に直交する方向
    に配列された光電ダイオードによつて受光される
    請求の範囲第１項記載の方法。 ３ 前記光電ダイオードが前記偏平物体によつて
    覆われると、前記ダイオードは論理１信号を出力
    し、前記ダイオードが前記偏平物体によつて覆わ
    れなく、または前記偏平物体の欠如部分が走査さ
    れると、前記ダイオードが論理０信号を出力する
    請求の範囲第２項記載の方法。 ４ 長さ及び幅に従つて偏平物体の全面領域を検
    査するために、前記長さに対応するＸタイミング
    パルスが前記偏平物体の搬送速度に同期して発生
    し、偏平物体の前縁が前記ダイオードを覆い始め
    るとカウンタをインクリメントし、ダイオード列
    が偏平物体によつて覆われている期間において全
    てのダイオードの信号がＸタイミングパルスが発
    生する毎にシフトレジスタに並列に装荷され、配
    列方向のダイオードの数により前記Ｘタイミング
    パルスを分割して得られる長さに等しい長さを有
    するＹタイミングパルスが発生され、Ｙタイミン
    グパルスは１つのＸタイミングパルスの期間に前
    記シフトレジスタから全てのダイオード信号の直
    列読み出しを制御する請求の範囲第４項記載の方
    法。 ５ 偏平物体がダイオード列を通過した後にＸタ
    イミングパルスカウンタのカウント値が最少及び
    最大閾値と比較され、偏平物体の長さを決定する
    請求の範囲第４項記載の方法。 ６ Ｙタイミングパルスはゲートを介してＹタイ
    ミングパルスカウンタに接続され、直列ダイオー
    ド信号が論理１としてゲートに入力されている限
    り、ＹタイミングパルスはＹタイミングパルスカ
    ウンタをインクリメントし、Ｘタイミングパルス
    の期間中０から出発したＹタイミングパルスカウ
    ンタのカウント値は最少値及び最大値と比較さ
    れ、偏平物体の幅を決定する請求の範囲第４項ま
    たは第５項記載の方法。 ７ 規定限界内の偏平物体幅の測定値は固定の閾
    値と比較される請求の範囲第６項記載の方法。 ８ Ｘタイミングパルス及びＹタイミングパルス
    は別々に計数され、カウント値が選択された部分
    領域の角部の座標に対応するある値に達すると、
    Ｘ信号パターン及びＹ信号パターンが論理０レベ
    ルから論理１レベルに設定され、これらの信号は
    第1ANDゲートによつて結合される請求の範囲第
    ４項記載の方法。 ９ Ｘ信号パターン及びＹ信号パターンに加え
    て、第1ANDゲートには第３信号が記憶され、こ
    の第３信号はＸタイミングパルス及びＹタイミン
    グパルスに応じて、偏平物体のある部分内の部分
    領域の発生を抑制する信号である請求の範囲第８
    項記載の方法。 １０ 前記選択部分領域の座標はプログラマブル
    記憶手段に装荷される請求の範囲第８項記載の方
    法。 １１ 選択部分領域内の欠陥部分を決定するため
    に、第2ANDゲートが設けられ、この第2ANDゲ
    ートの入力はＸ及びＹ信号パターン、Ｙタイミン
    グパルス及び否定シリアルダイオード信号
    （SDS）に結合され、前記第2ANDゲートの出力
    は欠陥部分用カウンタに接続され、１つの部分領
    域に関連するカウント値は閾値と比較される請求
    の範囲第８項記載の方法。 １２ 前記プログラマブル記憶手段はマルチプレ
    クサによつてアドレスできる種々部分領域の座標
    を含んでいる請求の範囲第１０項記載の方法。 １３ 部分領域は被検査物体の種類に応じて選択
    される請求の範囲第１２項記載の方法。 １４ 前記被検査物体の種類はこの物体のサイズ
    によつて決定される請求の範囲第１３項記載の方
    法。 １５ 前記被検査物体の種類はこの物体の光学的
    特性に応じて決定される請求の範囲第１３項記載
    の方法。 １６ 偏平物体の移動方向に直交する方向に配列
    される複数のセンサを含むセンサ手段と、前記セ
    ンサに結合される分析電子回路とにより構成さ
    れ、前記電子回路はシフトレジスタ及びこのシフ
    トレジスタに結合される評価回路により構成さ
    れ、前記シフトレジスタは前記偏平物体の移動に
    同期するＸタイミングパルス発生器によつて制御
    され、前記センサによつて発生される信号値を並
    列に記憶し、Ｙタイミングパルス発生器による制
    御により前記信号値を直列的に読出すよう動作
    し、前記信号値は欠陥部分が存在すれば第１論理
    状態に設定され、そうでなければ第２論理状態に
    設定され、前記Ｘタイミングパルスの期間Txは
    nTYの値以上であり、但し、ｎは配列方向のセン
    サの数、TYはＹタイミングパルスの期間であり、
    前記評価回路は最初に前記偏平物体の全領域にお
    ける欠陥を示し、次に前記偏平物体の所定のサブ
    領域に生じる欠陥を示し、Ｙタイミングパルス、
    前記シフトレジスタの直列出力信号及び前記偏平
    物体の選択サブ領域の走査を示す信号に応答する
    入力を有するAND回路、前記サブ領域内の欠陥
    用カウンタ及び前記カウンタの出力に接続され、
    欠陥計数値を所定の閾値と比較し、欠陥指示を感
    度標準として発生する比較器によつて構成される
    偏平物体の状態及び本物性を決定する装置。 １７ 前記選択サブ領域のＸ座標が記憶でき、前
    記選択サブ領域内において論理１を示すＸ信号パ
    ターンが送られる出力を有するプログラマブルメ
    モリに接続されるＹタイミングパルス用カウンタ
    と、前記選択サブ領域のＹ座標が記憶でき、前記
    選択座標範囲において論理１を示すＹ信号パター
    ンが送られる出力を有するプログラマブルメモリ
    に接続されるＹタイミング用カウンタと、サブ領
    域を選択するためにＸ及びＹパターンが装荷され
    る他のAND回路とを更に含む請求の範囲第１６
    項記載の装置。 １８ 前記Ｘ及びＹ信号パターンは被検査偏平物
    体のフオーマツトに応ずる信号ラインを介して、
    前記Ｘ及びＹ信号パターンに対して設けられる他
    のAND回路に、前記信号を伝送するマルチプレ
    クサに伝送される請求の範囲第１７項記載の装
    置。 １９ 前記他のAND回路は区域選択用ユニツト
    に接続され、このユニツトはＹタイミングパルス
    によつて制御され、前記選択表面部のＹ座標部に
    おいて論理１を示し、それ以外において論理０を
    示す信号パターンを発生する請求の範囲第１７項
    又は第１８項記載の装置。 ２０ 前記シフトレジスタの出力はＹタイミング
    パルスが入力され、ポジテイブ走査結果を計数す
    る第１カウンタが接続される出力を有するゲート
    に接続され、前記第１カウンタは前記偏平物体の
    幅を検査する比較器に接続され、この比較器は前
    記第１カウンタの結果が前記偏平物体の幅の最少
    制限値と最大制限値との間にあればパルスを第２
    カウンタに出力し、前記第２カウンタは全幅測定
    の結果を計数し、計数合計は走査が完了した後に
    他の制限値と比較される請求の範囲第１６項乃至
    第１９項のいずれか１の装置。 ２１ Ｘタイミングパルスは前記偏平物体が走査
    装置を通過する間計数され、カウンタ出力信号は
    偏平物体の長さを検査するために比較器におい
    て、走査が完了した後に最少及び最大長さに対す
    る所定制限値と比較される請求の範囲第１６項乃
    至第２０項記載のいずれか１に記載の装置。
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