JPS641750B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁気デイスクの機械的、磁気的欠陥に
基因するエラー等を検出する為のエラー検出処理
装置にかかる。

磁気デイスクのエラー検査のうち例えばドロツ
プアウト検査は通常次の様に行なわれている。記
録再生ヘツド（以下ヘツドと呼ぶ）に所要の記録
周波数の記録電流を流し、発生する起磁力により
磁気デイスクに所要の記録密度に対応する磁化を
記録した後、該ヘツドにより磁気デイスクの記録
磁化から発生する磁界を出力として再生し更にそ
の再生出力を増幅し、その出力のエンベロープの
最大値（又は平均値）を検出し、そのエンベロー
プの最大値（又は平均値）に対するあるパーセン
ト以下の出力をドロツプアウトエラーとして検出
している。

磁気デイスクの記録密度が増大するに従つて、
記録周波数は高くなり、磁気デイスクの媒体雑音
及び回路雑音は増大し、且つ磁気デイスクの再生
出力は減少する為、信号対雑音比Ｓ／Ｎ比は減少
する。しかるに現在の磁気デイスク検査方式にお
いては、再生された180゜の位相の異なる信号はそ
のまま増巾され、フイルターを通してエラーを検
出する方法をとつている為に高記録密度ではＳ／
Ｎ比が小さい為にエラーの検査精度が悪くなる。

本発明の目的は上述の欠点を除去し、高記録密
度の磁気デイスク等の検査精度を向上させるエラ
ー検出処理装置を提供することにある。

本発明の特徴は、磁気デイスク等から再生した
出力を増巾し、低減波した180゜位相の異なる信
号（以下信号Ａ，信号Ｂとする）の差信号Ａ−Ｂ
及びＢ−Ａを作成し、更にその差信号によりエラ
ー検査を行なうことである。

この方式に従えば、再生信号振巾Ｓは２倍とな
り、一方雑音Ｎは同相分は除去され、逆相分は２
倍となり全体の雑音は同一に保たれるので、Ｓ／
Ｎ比は２倍になり、検査精度は向上する。

本発明は一例として、情報を記録する為の電流
をヘツドに流す記録増幅部、情報を記録再生する
ヘツド、ヘツドより再生された信号出力を増巾
し、低域波する再生増幅部、その再生増幅部か
らの出力の180゜位相の異なつた信号の差信号（Ａ
−Ｂ及びＢ−Ａ）を作成する差信号作成部、差信
号を整流、積分し、平均値（又は最大値）を記憶
し検査基準レベルを作成する検査基準レベル作成
回路、２つの差信号にそれぞれ直流バイアス（エ
ラー検出レベル）を重畳して、それらをそれぞれ
逆の比較端子に入力してパルス化する２つの比較
器、該比較器の出力パルス列中の欠落部分である
エラー部分を検出するエラー検出回路と、正負の
信号のエラーパルスを和として取り出す論理和回
路と、検出されたエラーパルスを処理するエラー
処理回路から構成される装置により実現すること
ができる。

次に本発明を磁気デイスクの検査に適用した実
施例により詳細に説明明する。

第１図は磁気デイスク検査装置に適用した場合
の一実施例のブロツク図である。

検査周波数で記録する記録増幅部１２、ヘツド
１，増幅し低域波する再生増幅部２，再生増幅
された180゜位相の相違した２信号の差信号（Ａ−
Ｂ，Ｂ−Ａ）を作成する差信号作成回路３，７，
これら２つの差信号作成回路の出力信号を整流
し、積分し、エンベロープの平均値（又は最大
値）を記憶し、そのレベルの適当なパーセントの
２つの正負の直流レベル（エラー検出レベル±
Ｖ）を出力する検査基準レベル作成回路部８この
エラー検出基準レベル作成回路８の出力信号（直
流レベル）を、バツフアー回路４を経た前記２つ
の差信号に重畳した２つの信号１０７，１０８
（位相が180゜相違し、且つ正負逆の直流バイアス
レベルをもつ）をそれぞれパルス化することによ
りパルス列を取り出す比較器５，９、これらの比
較器５，９のパルス列中のパルス欠けを検出する
ためのリトリガラブルモノマルチバイブレータを
用いたエラー検出回路６，１０、該エラー検出回
路部６と１０の両方の出力パルスをそのまま両方
ともとり出すための論理和回路１１及びその後の
エラー処理回路により構成される。従つて論理和
回路１１の出力パルスはエラーであり、その位置
を測定し、表示することによつて磁気デイスク上
の欠陥を検出することが出来る。

次に第２図を参照して、第１図に示した本実施
例の動作を説明する。記録増幅器１２により記憶
媒体上へ記録された一定周波数の情報をヘツド１
により再生し、その再生信号を１０１，１０２と
する。再生増幅部２により信号１０１，１０２を
増幅し、低域波し、180゜位相差をもつ出力信号
１０３，１０４を得る。次に信号１０３（Ａ信
号）と信号１０４（Ｂ信号）は差信号作成回路３
及び７に入力され、その出力信号として差信号Ａ
−Ｂ１０５，およびＢ−Ａ１０６を得る。ここで
Ｘの位置においてドロツプアウトエラーがあると
し、エラー検出レベルが50％の場合とする。差信
号１０５及び１０６はバツフアー回路４に入力さ
れると同時に、検査基準レベル作成回路部８に入
力される。検査基準レベル作成回路部８において
両波整流し、積分し、エンベロープの平均値（又
は最大値）を記憶し、その平均値に対する適当な
パーセントの正負の２つの直流レベルを作成し、
バツフアー回路４の出力にその正負の直流レベル
４エラー検査レベル）を重畳する。その結果の信
号が１０７，１０８である。

信号１０７，１０８を比較器５，９にそれぞれ
逆相で入力すると、比較器５の出力信号１０９及
び比較器９の出力信号１１１を得る。この信号１
０９及び１１１のパルスの欠けている部分（エラ
ー部分）を検出するために、それぞれエラー検出
回路部６，１０に信号１０９，１１１が入力さ
れ、その出力として信号１１０，１１２のエラー
パルスを得る。さらにエラー検出回路部６，１０
の出力パルスを論理和回路１１に入力し、最終的
なエラーパルス出力１１３を得る。エラーパルス
出力１１３の位置をエラー処理回路により検出す
れば欠陥の位置が検出できる。

なお本発明は磁気記録再生測定にかぎらず。一
般の周期的連続波内のエラーを検出するときに、
Ｓ／Ｎ比を向上させて、エラー検出の精度を上げ
る場合にも適用できることは言うまでもない。

以上の説明のように、本発明を使用すれば、高
密度記録再生時のＳ／Ｎ比の劣化による磁気デイ
スク欠陥の検査精度を大きく向上させることが出
来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図の各部分の信号波形を示す図、横
軸は時間軸、縦軸は振幅である。 なお図において、１……ヘツド、２……再生増
幅部、３，７……差信号作成回路部、４……バツ
フアー回路、８……検査基準レベル作成回路部、
５，９……比較器、６，１０……エラー検出回路
部、１１……論理和回路、１２……記録増幅部で
ある。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 磁気デイスク検査装置等のエラー検出処理装
   置において、ヘツドからの再生信号を180゜位相差
   をもつ２つの信号Ａ，Ｂとして増幅出力する再生
   増幅部、その２つの信号Ａ，Ｂの差信号Ａ−Ｂを
   作成する第１の差信号作成回路、同様に２つの信
   号Ａ，Ｂの差信号Ｂ−Ａを作成する第２の差信号
   作成回路、これら２つの差信号作成回路に接続し
   その出力である180゜位相差を有する２つの差信号
   Ａ−Ｂ，Ｂ−Ａよりエラー検出するための検査基
   準レベルを作成する検査基準レベル作成回路部
   と、同様に前記差信号作成回路に接続するバツフ
   アー回路と、前記検査基準レベル作成回路とバツ
   フアー回路とに接続し前記２つの差信号のうちの
   １つと前記検査基準レベルを比較してパルス化す
   る第１の比較器と、同じく検査基準レベル作成回
   路とバツフアー回路とに接続し前記２つの差信号
   のうちの他の１つと前記検査基準レベルを比較し
   てパルス化する第２の比較器と、前記第１の比較
   器からの出力パルス列中の欠落パルスを検出する
   第１のエラー検出回路部と、前記第２の比較器か
   らの出力パルス列中の欠落パルスを検出する第２
   のエラー検出回路部と、該第１および第２のエラ
   ー検出回路部からの２つのエラーパルスの論理和
   を行なう論理和回路とにより構成したことを特徴
   とするエラー検出処理装置。