JPS6411171B2 - - Google Patents

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JPS6411171B2
JPS6411171B2 JP15364481A JP15364481A JPS6411171B2 JP S6411171 B2 JPS6411171 B2 JP S6411171B2 JP 15364481 A JP15364481 A JP 15364481A JP 15364481 A JP15364481 A JP 15364481A JP S6411171 B2 JPS6411171 B2 JP S6411171B2
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voltage
circuit
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capacitor
input
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Shigeo Kuboki
Kazuo Kato
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Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5856525A publication Critical patent/JPS5856525A/ja
Publication of JPS6411171B2 publication Critical patent/JPS6411171B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12Analogue/digital converters
    • H03M1/34Analogue value compared with reference values
    • H03M1/38Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
    • H03M1/46Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はアナログデイジタル変換器およびその
変換方法に関する。
高速高精度のアナログデイジタル変換器として
特開昭55−4116号公報にあるような逐次比較型ア
ナログデイジタル変換器が知られている。逐次比
較型アナログデイジタル変換器はデイジタルデー
タに応じてアナログの基準電圧を発生し、このア
ナログ基準電圧とデイジタル変換されるべき入力
電圧とを比較し、該比較結果に応じて制御回路に
より上記デイジタルデータを変更することにより
上位ビツトより順次その論理値を決定するもので
ある。このアナログデイジタル変換器はさらに高
い変換精度が必要であると共に、LSI化した場
合、そのLSIのチツプサイズが小さいことが必要
である。
デイジタル変換の精度である変換可能なデイジ
タルのビツト数を増大するには、デイジタルデー
タに応じて発生する基準電圧の分解能を高めるこ
とが必要である。この基準電圧を発生する電圧発
生回路は抵抗値の等しい多数の抵抗の直列回路を
有し、該直列回路に一定電圧が印加されたことに
より、上記抵抗で該一定電圧を抵抗分割すること
により多くの種類の基準電圧を発生する。このよ
うな構成の電圧発生回路において基準電圧の分解
能を上げるには、上記分割抵抗の数を増すことが
必要である。しかしこの方法では、1ビツト分だ
け分解能を増すのに2倍の数の分割抵抗が必要と
なる。例えば8ビツトの分解能を得るには256個
の分割抵抗が必要であり、1ビツト分だけ分解能
を上げ、9ビツトの分解能を得るには2倍の数の
512個の分割抵抗が必要である。このように1ビ
ツト分の分解能を上げるには2倍の数の分割抵抗
が必要となる。
このことはアナログデイジタル変換器をLSIに
て作る場合、電圧発生回路の作成に必要なチツプ
面積が非常に大きくなることを意味する。さらに
1ビツト分の分解能を上げる毎に電圧発生回路の
チツプ面積は2倍となるので、このチツプ面積の
増大はアナログデイジタル変換器全体のチツプ面
積を増大させ、コストアツプとなる。さらに、基
準電圧の面積の増大に共なつて分割抵抗に加わる
パツケージケースからの機械的応力のバラツキの
要因が多くなり、一様な抵抗値の分割抵抗を得る
ことが困難となる等の理由でデイジタル変換精度
の向上の障害となる。
本発明の目的は、チツプ面積が小さいにもかか
わらず高い精度のデイジタル変換能力を有するア
ナログデイジタル変換器を提供することである。
本発明には、従来より使用されている電圧発生
回路を使用したアナログデイジタル変換器に、分
割抵抗の数を増すことなく、基準電圧の分解能を
上げることができるように電荷を分配できる少な
くとも2個のコンデンサが設けられている。電圧
発生回路の他数の出力の内の1つをデイジタルデ
ータに応じて選択する第1のスイツチング回路を
介して第1のコンデンサに印加し、さらに上記電
圧発生回路の他数の出力の内の1つをデイジタル
データに応じて選択する第2のスイツチング回路
を介して第2のコンデンサに印加する。第1のコ
ンデンサの容量に対し、第2のコンデンサの容量
を一定の関係にし、さらに第1と第2のコンデン
サの一端を接続する。第1のコンデンサの端子電
圧を第1のスイツチング回路により所定の値に設
定した後、この第1コンデンサに接続されている
第2のコンデンサへの印加電圧を変更することに
より第1のコンデンサの端子電圧を微調整し、高
分解能の多くの種類の基準電圧が発生するのと同
様の効果を得る。アナログデイジタル変換器の基
準電圧としてこの電圧を使用することにより、分
割抵抗の数を増すことなく高精度のデイジタル変
換を可能となる。
第1図は本発明のアナログデイジタル変換器の
1実施例を示すブロツク図である。本発明の理解
を助けるために、従来の方式で3ビツトの精度を
出し、本発明の改良によりさらに2ビツト分精度
をアツプさせた5ビツトのアナログデイジタル変
換器を示す。しかし、従来の方式は3ビツトに限
定されものではなく、現在の技術では8ビツトあ
るいは10ビツトのものが安価に作成でき、本発明
を使用すれば2ビツト〜4ビツトの精度の向上が
可能となる。
1 アナログデイジタル変換器の基本構成 電圧発生回路10は抵抗R0〜R7からなる
直列回路を有する。これら抵抗R1〜R6は一
定値の抵抗R〔Ω〕であり、抵抗R0はR/2
〔Ω〕、抵抗R7は3R/2〔Ω〕である。電圧発
生回路10に一定電圧V0を印加することによ
り各抵抗の接続点N0〜N7には抵抗値で分圧
された電圧が発生し、該各電圧はスイツチング
回路14に印加される。
制御回路32の出力であるデイジタルデータ
A4〜A0の内上位グループを構成するA4〜
A2ビツトに応じてスイツチ回路14は電圧発
生回路10の出力の内の1つを選択し、出力
VR1として、スイツチ動作を行なうMOSトラ
ンジスタTR2へ印加する。
一方電圧発生回路10の出力の1部はスイツ
チ回路16へも印加され、該スイツチ回路16
は制御回路32の出力の下位グループA1,A
0に応じて電圧発生回路の出力の内の1つを選
択し、出力VR2としてコンデンサ20を充電
する。
デイジタル変換されるべきアナログ入力電圧
VIN〔V〕はスイツチ動作を行なうトランジス
タTR1を介してコンデンサ18を充電する。
アナログ入力電圧VINとスイツチ回路14の
出力VR1の電圧は、インバータ22,26、
増幅器28、コンデンサ24、MOSトランジ
スタTR3,TR4とからなる比較回路30に
より比較され、その比較結果Xが制御回路32
へ入力される。制御回路32は該比較結果Xに
基づき新たなデイジタルデータA4〜A0を発
生する。この動作を繰返すことによりデイジタ
ルデータA4〜A0の各ビツトは順に決定さ
れ、A0ビツトまで決定された時、デイジタル
変換は完了する。
2 スイツチ回路14の詳細回路 第1図のスイツチ回路14は、既によく知ら
れた回路であり、第2図にその詳細回路を示
す。トリー状に配置されMOSトランジスタに
より構成されたスイツチ52〜78がデイジタ
ルデータA4〜A2およびインバータ80〜8
4により作られた信号により選択的に導通す
る。これにより、接続点N7〜N0の各電圧の
内の1つが選択され、電圧VR1として出力さ
れる。
3 スイツチ回路16の詳細回路 第3図は第1図のスイツチ回路16の詳細回
路である。インバータ86,88とANDゲー
ト90〜96はデコーダを形成し、MOSトラ
ンジスタ90〜104の内の1つをデイジタル
データの下位ビツトA1、A0によつて選択的に
導通する。
4 制御回路32の詳細回路 第1図に示す制御回路32の詳細回路を第4
図〜第7図に示す。第4図は同期信号Φ1,Φ
2の発生回路であり、クロツクゼエネレータ1
10の出力に応じてNORゲート112,11
8、インバータ116、遅延回路114,12
0が動作する。第5図は第4図に示す同期信号
Φ1,Φ2の発生回路の動作波形図であり、(A)
はクロツクゼネレータ110の出力、(B)は同期
信号Φ2の波形、(C)は同期信号Φ1の波形を示
す。同期信号Φ1,Φ2が論理値“1”でオー
バラツプするのを防止するため、遅延回路11
4,120が設けられていて、同期信号Φ2が
論理値“0”になつた後、遅延回路120で遅
延されてNORゲート118へ“0”が入力さ
れ、その結果Φ1が遅れて“1”となる。一
方、同期信号Φ1が“0”になつた時、その
“0”は遅延回路114により遅れてNORゲー
ト112へ入力され、その結果、同期信号Φ2
は遅れて“1”となる。以上の動作により同期
信号Φ1,Φ2の“1”状態は互いにオーバラ
ツプすることがない。
第6図は第1図のMOSトランジスタTR1〜
TR4を制御する信号φ1,φ2の発生回路で
ある。次に説明する第7図で作られた信号SQ
0が入力されると信号Φ2に同期してANDゲ
ート134を介してフリツプフロツプ138が
リセツトされ、ANDゲート132を動作状態
とする。従つて信号Φ1に基づいて信号φ1が
作られる。一方ORゲート140の出力φ2も
信号Φ2に基づいて作られる。次に第7図で説
明する信号SQ2が発生すると、信号Φ2に同
期してフリツプフロツプ138はセツトされ
る。この結果ANDゲート132は不動作とな
り出力φ1は“1”から“0”に変る。一方
ORゲート140の出力φ2は信号Φ2に無関
係に“1”の状態を続ける。第7図に制御回路
32の主回路を示す。図で、同期信号Φ1,Φ
2に基づいて動作する5ビツトのシフトレジス
タ146の出力が総て“0”の状態でNORゲ
ート150の出力によりANDゲート144は
動作状態となる。この状態で端子142よりス
タート信号が印加されると、シフトレジスタ1
46に“1”が入力され、以下同期信号Φ1,
Φ2によりこの信号はシフトレジスタを構成す
る各回路を順にシフトされる。このシフト信号
の出力SQ0〜SQ5はレジスタ170へ印加さ
れる。一方比較器30の出力XはDタイプフリ
ツプフロツプ152とANDゲート154〜1
62とを介してレジスタ170のリセツト端子
へ入力される。シフトレジスタ146の出力
SQ0〜SQ5とANDゲート154〜162の
出力に応じてレジスタ170の内容が定まり、
デイジタルデータA4〜A0が決定される。シ
フトレジスタ146の出力SQ5が“1”とな
るとデイジタル変換が終了し、端子148にデ
イジタル変換を終了したことを表わす信号が現
われる。
第8図は制御回路32の動作説明図であり、
第9図はデイジタル変換動作の説明図である。
図に示す如く、実施例に示すデイジタル変換器
の動作は大きく分けてシーケンスNo.0〜6の7
つに分けることができる。以下これら第1〜9
図を使用し、シーケンスNo.0より順に説明する
が、この前に各シーケンスに共通である第1図
のスイツチ回路の出力VR1とアナログ入力
VINの比較動作を説明する。
5 比較動作 第10図は第1図の部分拡大図であり、比較
動作を説明するために電圧の関係を記入したも
のである。尚コンデンサ180はインバータ2
2の入力端に生じた寄生容量である。
5.1 インバータ22,26の入出力電圧の固定
制御回路32より信号φ1がトランジスタ
TR3,TR4を導通させるとインバータ2
2,26の入出力端は短絡される。その結果
インバータ22,26の入出力端はインバー
タ22,26が固有に有している閾値電圧に
なる。インバータ22,26の閾値を各々
VS1,VS2とすると、コンデンサ180の
端子電圧VLはVS1となる。一方コンデンサ
24の端子電圧は閾値電圧VS1とVS2の差
電圧となる。このようにして信号φ1に基づ
きインバータ22,26の入出力端の電圧は
その閾値電圧に固定される。尚インバータ2
2の閾値電圧は比較器30の閾値電圧とな
る。
5.2 アナログ電圧VINのサンプリング 信号φ1でMOSトランジスタTR1が導通
し、コンデンサ18にアナログ入力VINに
応じた電荷が充電される。上述の如くコンデ
ンサ180の端子電圧VLはインバータ22
の閾値電圧VS1に固定されるので、コンデ
ンサ18の端子電圧VJは入力電圧VINと閾
値電圧VS1との差電圧VN=VIN−VS1と
なる。つまり信号φ1がMOSトランジスタ
TR1,TR3,TR4に印加されるとインバ
ータ22の入力端は閾値電圧となり、コンデ
ンサ18には入力電圧VINと比較器30の
閾値電圧との差電圧が保持される。尚スイツ
チング回路16の出力VR2は一定値に保た
れているので、コンデンサ20の端子電圧
VKは電圧VR2と比較器30の閾値電圧と
の差の電圧となる。
5.3 入力電圧VINとスイツチング回路14の出
力VR1との比較動作 次に信号φ1の論理値が“0”に変ること
によりTR1,TR3,TR4がしや断状態と
なり、その後信号φ2の発生によりMOSト
ランジスタTR2が導通する。これによりコ
ンデンサ18へ電圧VR1が印加される。こ
のとき、電圧VR1が入力電圧VINより大き
い場合、コンデンサ180の端子電圧VLは
比較器の閾値電圧VSより大きくなる。この
ため比較出力Xは論理値“1”となる。一方
電圧VR1が入力電圧VINより小さいとき、
コンデンサ180の端子電圧VLが比較器3
0の閾値電圧VS1より小さくなり、比較器
の出力Xは論理値“0”となる。
5.4 電圧VR2の変更に基づく基準電圧の補正 上記比較動作ではコンデンサ20への印加
電圧VR2は固定であり、電圧VR1のみを
入力電圧VINの比較対象とした。しかし次
に電圧VR2を変動させた場合について説明
する。先ずφ1によりMOSトランジスタTR
1,TR3,TR4を導通させこれにより、
比較器の閾値電圧VS1と入力電圧VINとの
差電圧をコンデンサ18に保持する。次にト
ランジスタTR1,TR3,TR4を不導通と
しさらにφ2によりトランジスタTR2を導
通する。ここまでは前回と同様である。ここ
でTR2への印加電圧VR1が入力電圧VIN
より低いのでコンデンサ180の端子電圧
VLは比較器30の閾値電圧VS1より小さ
い。ここで第2のスイツチ回路16の出力
VR2を増大させる。これにより比較器30
の入力電圧であるVLは上昇する。従つてこ
の上昇したVLが比較器30の閾値電圧VS1
を越えたかどうかが判断される。今コンデン
サ20の容量をコンデンサ18の半分にした
場合、コンデンサ180を無視すればVR2
の変化分に基づくコンデンサ20の端子電圧
の変化分がコンデンサ18の端子電圧の変化
分の半分となるようにコンデンサ18と20
の電荷は分配され、比較器20の入力端電圧
を上昇させる。このようにコンデンサ20の
端子電圧を上昇させ、コンデンサ20と18
の充電電荷を再分配することにより、比較器
の入力電圧VLを変更することができる。こ
の変更はスイツチ回路14の出力VR1を変
更したのと同様の効果を生む。電圧VR1を
変更するのに対する電圧VR2を変更する場
合の利点は第1図の電圧発生回路の電圧変化
幅より小さい幅で比較器30の入力電圧VL
を変更できることである。またコンデンサ2
0と18との容量関係を1対2、1対4、1
対8などのように適切に選択することによ
り、この比較器30の電圧変更幅を適切に制
御することができる。
5.5 比較器30の入力電圧の微調整 上で説明した如く、第1図のスイツチ16
の出力VR2を変更した時、その変更幅がコ
ンデンサ20と18との容量比で定まる割合
の変更幅で比較器30の入力端の電圧を変更
する。そこでスイツチ16の出力VR2の変
更幅の最小は電圧発生回路10の最小電圧幅
となる。この関係から、電圧発生回路10の
最小電圧幅よりさらに小さい変動幅の電圧を
比較器30の入力端に発生できる。この点か
ら、電圧発生回路の発生電圧の種類を増加さ
せたのと同様の効果を生じる。
以下第8図と第9図を用いて図のシーケン
ス番号に従い具体的に動作を説明する。
6 シーケンスNo.0 第7図の端子142より制御回路32へデイ
ジタル変換を要求するための第8図に示すスタ
ートパルスが入力される。このスタートパルス
がANDゲート144を介してシフトレジスタ
146へ入力される。ORゲート150の出力
によりANDゲート144が動作状態となるの
はシフトレジスタ146の出力が総て“0”の
ときである。シフトレジスタ146の出力の少
なくとも1つから“1”が出力されている場合
はデイジタル変換中であることを示し、AND
ゲート144が不動作となるのでスタートパル
スはシフトレジスタに入力されない。またスタ
ートパルスが長いパルスであつても一端シフト
レジスタへ入力されるとアンドゲート144が
不動作となり、ANDゲートの出力は所定の長
さで停止するので誤動作をまねくことがない。
7 シーケンスNo.1 シフトレジスタ146の出力SQ0が“1”
となりレジスタ170の保持値は“10000”と
なる。従つてスイツチ14に入力されるデイジ
タルデータA4〜A2は“100”となる。この
ため、第2図のスイツチ76,70,58を介
して電圧発生回路10の接続点N4の電圧が電
圧VR1として現われる。一方スイツチ回路1
6に入力されるデイジタルデータA1,A0は
“00”であり、第3図のANDゲート96、
MOSトランジスタ104が動作することによ
り接続点N1の電圧が電圧VR2として現われ
る。
信号φ1で、上で説明した方法で、入力電圧
VINがコンデンサ18へ入力され、比較器3
0の閾値との差電圧がコンデンサ18に保持さ
れる。
次に信号φ2により電圧VR1がトランジス
タTR2を介してコンデンサ18へ入力され、
入力電圧VINと接続点N4の電圧とが比較さ
れる。第9図に示す如く、入力電圧VINの大
きさが接続点N5とN6との間にある大きさで
あると仮定する。入力電圧VINは接続点N4
の電圧より大きいので比較器30の出力Xは
“1”となる。
8 シーケンスNo.2 同期信号Φ1の立上りに応じ、比較器30の
出力XがDタイプフリツプフロツプ152へセ
ツトされ、このフリツプフロツプ152のリセ
ツト出力端子より“0”がANDゲート15
4へ入力される。ANDゲート154が不動作
状態であり、信号A4はレジスタ170にセツ
トされた状態のままで保持される。これにより
デイジタル出力の第5ビツトが決定されたこと
になる。
シーケンスNo.1と同様、信号φ1でトランジ
スタTR1,TR3,TR4が導通することによ
りコンデンサ18に入力電圧VINと閾値電圧
との差電圧が再び保持される。一方制御回路で
はシフトレジスタ146の出力SQ1がレジス
タ170へセツトされることによりレジスタ1
70の出力は“11000”となる。第2図に示す
スイツチ回路のスイツチ76,68,54が導
通することにより、電圧発生回路の接続点N6
の電圧が電圧VR1としてトランジスタTR2
へ印加される。このため、入力VINと接続点
N6の電圧とが比較される。第9図に示す如
く、接続点N6の電圧の方が入力VINより大
きいので比較出力Xは“0”となる。
9 シーケンスNo.3 同期信号Φ1の立上りで、比較器の出力Xが
Dタイプフリツプフロツプ152へセツトさ
れ、出力は“1”となる。このためANDゲ
ート156によりレジスタ170の出力A3は
リセツトされる。信号φ1でトランジスタTR
1,TR3,TR4が導通し、入力電圧VINが
コンデンサ18によりサンプリングされる。一
方シフトレジスタの出力SQ3が“1”となり
レジスタ170の出力A2を“1”にする。こ
の結果、レジスタ170の出力は“10100”と
なる。第2図に示すスイツチ76,70,56
が導通することにより、接続点N5の電圧が電
圧VR1としてトランジスタTR2へ入力され
る。信号φ2によりトランジスタTR2が導通
し、接続点N5の電圧と入力電圧VINとが比
較される。第9図に示す如く、接続点N5の電
圧より入力電圧VINの方が大きいので比較出
力Xは“1”となる。このときの状態は、比較
器30の入力電圧VLが比較器30の閾値電圧
以下であることを示している。
第6図に示した如く、シフトレジスタ146
の出力SQ2の出力によりフリツプフロツプ1
38がセツトされ、信号φ1が停止し、信号φ
2は“1”を続ける。このため、トランジスタ
TR2は導通状態を続け、一方トランジスタ
TR1,TR3,TR4は遮断状態を続ける。
10 シーケンスNo.4 同期信号Φ1の立上りによりDタイプフリツ
プフロツプ152へ比較出力Xがセツトされ、
フリツプフロツプ152の出力は“0”とな
る。この結果レジスタ170の出力A2はその
まま“1”として保持される。このためスイツ
チ回路14へ入力されるデイジタルデータA4
〜A2は“101”に固定され、電圧VR1は接
続点N5の電圧に固定される。さらにレジスタ
170の出力A1,A0は“10”となる。従つ
てスイツチ回路16の出力VR2は接続点N1
の電圧から接続点N3の電圧に変更される。こ
のため、比較器30の入力電圧VLが接続点N
1〜N7の各点間の電圧差の半分の電圧だけ上
昇する。この結果入力電圧VINが接続点N5
とN6の中点の電圧と比較されているのと同様
の作用となる。この状態では入力電圧VINよ
り接続点N5とN6の中点電圧が大きくなり、
比較器30の入力電圧VLが閾値電圧VS1より
大きくなる。このため、比較結果Xは“0”と
なる。
11 シーケンスNo.5 同期信号Φ1の立上りでDタイプフリツプフ
ロツプに比較結果Xがセツトされ、Dタイプフ
リツプフロツプの出力は“1”となる。この
ためレジスタ170の出力A1がリセツトさ
れ、“0”となる。またシフトレジスタ146
の出力SQ4がレジスタ170へセツトされる
のでレジスタ出力A1,A0は“01”となる。
第3図のMOSトランジスタ10が導通し、ス
イツチ回路16の出力VR2は接続点N2の電
圧に下げられる。このため、比較器30の入力
端電圧VLはシーケンスNo.4のときの値に対し
(接続点N3とN2間電圧)の4分の1だけ下
げられる。従つて入力端電圧VLは接続点N5
より1/4×(N5とN6間電圧だけ高い電圧が電
圧VR1として印加されたときの比較器入力電
圧VLと同じになり、入力電圧VINは接続点N
5より接続点N5とN6間の電圧の4分の1だ
け高い電圧と比較されることになる。この状態
での比較器30の出力Xは“1”となる。
12 シーケンスNo.6 同期信号Φ1の立上りに応じ、比較器30の
出力XがDタイプフリツプフロツプ152へセ
ツトされ、出力として“0”が出力される。
シフトレジスタ146の出力SQ5が生じても
ANDゲート162は不動作であり、レジスタ
170の出力A0はリセツトされず、そのまま
保持される。出力端148よりデイジタル変換
が完了したことを示す信号が出力される。この
ときレジスタ170に保持されていたデータが
デイジタル変換された値であり、このケースで
はその値は“10101”である。
以上説明した如く本実施例によれば電圧発生回
路は従来の3ビツト精度の抵抗数からなる直列回
路を有しているにもかかわらず、5ビツト精度の
デイジタル変換が可能である。すなわち従来の方
式では5ビツト精度のデイジタル変換を行なうの
に32個の抵抗が必要であつた。ところが本実施例
では8個の抵抗でそれを可能とした。このように
本発明によれば電圧発生回路の抵抗数を非常に少
なくすることが可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例であるアナログデイ
ジタル変換器のブロツク図、第2図は第1図のス
イツチ回路14の詳細図、第3図は第1図のスイ
ツチ回路16の詳細図、第4図は第1図の制御回
路を構成する同期信号の発生回路を示す回路図、
第5図は第4図の動作波形を示す波形図、第6図
は第1図の制御回路を構成する信号φ1,φ2の
発生回路を示す回路図、第7図は第1図の制御回
路の主要部の回路図、第8図は第1図の制御回路
の波形図、第9図は第1図に示すアナログデイジ
タル変換器の動作図、第10図は第1図の比較動
作を示す動作説明図である。 10……電圧発生回路、14……スイツチ回
路、16……スイツチ回路、32……制御回路、
30……比較回路、146……シフトレジスタ、
170……レジスタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 直列接続された多数の抵抗からなる直列回路
    を有し、該直列回路に所定電圧を加えることによ
    り、上記抵抗で分圧された分圧電圧を発生する電
    圧発生回路10と;スイツチ回路を制御するため
    に上位制御データと下位制御データとを有する制
    御データを出力する制御回路32と;上位制御デ
    ータに基づき上記分圧電圧の内の一つを選択する
    第一のスイツチ回路14と;デイジタル変換され
    るべきアナログ電圧と上記第一のスイツチ回路1
    4により選択された上記分圧電圧とが選択的にそ
    の一端に加えられる第一のコンデンサ18と;該
    コンデンサの他端に接続された比較回路30とを
    有し、上記制御回路32は上記アナログ電圧と上
    記第一のスイツチ回路14により選択された上記
    分圧電圧との比較結果を上記比較回路30から受
    けることにより上記制御データを上位ビツトより
    順に決定していくものにおいて、上記下位制御デ
    ータに応じて上記分圧電圧の内の一つを選択する
    第二のスイツチ回路16と;上記第二のスイツチ
    回路16により選択された分圧電圧をその一端に
    受け、他端が上記第一のコンデンサ18の他端に
    接続される第二のコンデンサとを設けたことを特
    徴とするアナログデイジタル変換器。
JP15364481A 1981-09-30 1981-09-30 アナログデイジタル変換器 Granted JPS5856525A (ja)

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