JPS6397226A - 超微粒子の製造装置 - Google Patents

超微粒子の製造装置

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JPS6397226A
JPS6397226A JP24126086A JP24126086A JPS6397226A JP S6397226 A JPS6397226 A JP S6397226A JP 24126086 A JP24126086 A JP 24126086A JP 24126086 A JP24126086 A JP 24126086A JP S6397226 A JPS6397226 A JP S6397226A
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JP
Japan
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evaporation source
ultrafine particles
vacuum chamber
exhaust
particles
Prior art date
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Pending
Application number
JP24126086A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyokazu Nakada
清和 仲田
Moriaki Ono
守章 小野
Shigechika Kosuge
小菅 茂義
Itaru Watanabe
渡邊 之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Publication date
Application filed by NKK Corp, Nippon Kokan Ltd filed Critical NKK Corp
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Publication of JPS6397226A publication Critical patent/JPS6397226A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J19/00Chemical, physical or physico-chemical processes in general; Their relevant apparatus
    • B01J19/08Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor
    • B01J19/12Processes employing the direct application of electric or wave energy, or particle radiation; Apparatus therefor employing electromagnetic waves
    • B01J19/121Coherent waves, e.g. laser beams

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は粉末成形体、機能性薄膜あるいは基材表面のコ
ーティング等に用いられる金属又はセラミックス等の超
微粒子を製造する超微粒子の製造装置に関する。
〔従来の技術〕
一般に金属又はセラミックス等の粉末のうち、粒径が1
μm以下の固体粒子を超微粒子と呼ぶが、比表面積(容
積に対する表面積の割合)が大きいため、一般の微粒子
には認められない特異な性質を有する。即ち、超微粒子
は化学的活性が強いばかりてなく、熱的、電気的、磁気
的。
光学的にも興味深い性質を示し、触媒、電子素子、磁気
素子、生物医学機能素子への応用が考えられている。
従来の超微粒子の製造方法としζは、ガス中蒸発法、化
学気相法、アークプラズマ法などがある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ト記のような従来の超微粒子の製造方法においては、高
融点金属、セラミックスの超微粒子の製造が困難であり
、また生成粒子の凝集か起こり易いため、粒径が大きく
なり、かつ粒度分布が比較的大きく、ニス1〜高である
という問題点があった。更に、[1的物72を11んだ
通すノな蒸発源材料が必要なため、製造可能な物質が限
定されると共に装置、生成条(’lの影響が人きく、均
質な超微粒子が得られないという問題点があった。
本発明はかかる問題点を解決するためになされたもので
、高融点金属、セラミックス等の均質な超微粒子の製造
が容易で、しか1)町・なf;i径の超微粒子を能率的
に製造することができる超微粒子の製造装置を得ること
を口的占する。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明に係る超微粒子の製造′〃置G、1、金属又はセ
ラミックス等からなる蒸発源と、?”と発源を回転揺動
させる蒸発源保持手段と、蒸発源と蒸発源保持手段とを
内部に配設し、レーザビー1、を透過させて蒸発源に照
射さゼるビーム透過窓を備え、内部を反応雰囲気に調整
できる真空槽と、真空槽の内部を蒸発源の一4二方に設
LJた排気ポートを介して真空引きする排気手段と、真
空槽の排気系の途中に設けられ、蒸発Iルマにl/−リ
゛ビームを照射して製造された超微粒子を回収する超微
粒子回収手段とを具備するように+14成したものであ
る。
〔作 用〕
本発明においては、レーザビー11をビーム透過窓を通
して真空槽内に導光し、金属又はセラミックス等からな
る蒸発源に照射すると蒸発源はレーザビームを吸収し、
蒸発する。真空槽内の真空あるいは反応雰囲気下で蒸発
した蒸気は急冷され、凝固して超微粒子となる。この超
微粒子を真空槽の排気系の途中に設LJられた超微粒子
回収手段で捕捉して回収する。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例を示す概略構成図、第2図
は超微粒子回収装置を示す概略構成図である。
図において、(1)は金属又はセラミックス等からなる
蒸発源、(2)は蒸発源(1)を保持して回転揺動さゼ
る蒸発源保持装置、(3)は内部を反応雰囲気に調整で
きる真空槽で、内部には茎発5(1)と蒸発源保持装置
(2)が配設されている。(4)は真空槽(3)の側部
に設けられたビーム透過窓、(4a)は真空槽(3)に
設けられた透過窓保護用ガス送入口で、ビーム透過窓(
4)の近傍に位置している。
(5)はビーム透過窓(4)の前方に配設されたレンズ
の集光系である。(6)は真空槽(3)に設けられた排
気ポートで、蒸発′ti、(1)の上方に位置している
。(7)は排気ポート(6)に接続された排気管、(8
)は真空槽(3)の内部を真空引きする排気装置で、排
気管(7)の下流側に設けられている。(9)は超微粒
子を回収する超微粒子回収装置で、(ル気管(7)の排
気ポーh(6)に接続され−Cいる上流側と排気装置(
8)が設けられている一1曾%”l側との間に位置して
排気管(7)f:設りられている。
(10)は超微粒子回収装置(9)の補集部、(11)
は超微粒子回収装置(9)の回収部で、補集部(10)
の排気側に接続されている。
(lla)は回収部(11)に内蔵されている超微粒子
回収用フィルタである。
次に、本発明の超微粒子の製造装置の動作を説明する。
まず、発振器(図示省略)から出射されたレーザビーム
(12)を集光レンズ(5)によって集光し、ビーム透
過窓(4)を通して真空槽(3)内に導光し、真空槽(
3)内に配設された蒸発源保持装置(2)に保持された
金属又はセラミックス等の蒸発源(1)に照射する。ご
のとき、真空槽(3)の内部は排気装置(8)によって
真空引きされ、真空度が10”’Torrに設定されて
いるか、或いは真空引き後に反応ガスが導入されである
圧力の雰囲気下に設定されている。そうすると、蒸発源
(1)は、レーザビーム(12)を吸収し、蒸発する。
真空中或いは雰囲気ガス中に蒸発した蒸気は急冷され、
凝固して超微粒子となる。この場合、レーザのエネルギ
ーは、はとんど蒸発源の蒸発に消費され、真空槽内の加
熱は起こらず、また他の製造方法の様に真空槽内(反応
ガス)を特に加熱することもないため、凝固するまでの
時間が短い。
従って、粒子同士の衝突による凝集も起こらない。この
超微粒子は排気ポート(6)を通って排気管(7)内を
流れ、排気管(7)の途中に設けられた超微粒子回収装
置(9)の回収部(11)で捕捉回収され、超微fI“
!了が製造される。なお、超微粒子の製造中、ビーJ、
、’f;過窓(4)の近傍の透過窓保工W用ガス送入1
−.I(4a)から真空槽(3)の内部に向LJて不活
性ガスが吹き込まれ、ビーJ1.. i、8過窓(4)
に超微′!−)子がイ」着しないようにしている。
本発明では蒸発源(1)をレーザビーム(I2)の照射
により蒸発させるために蒸発源(1)が高融点材料、絶
縁材料等の金属、化合物であっても、充分に蒸発するか
ら、蒸発源(1)の材質が限定されるということはない
。特にセラミ2クスはC02レーザの吸収率が非常に良
好であるため高能率で蒸発させることができる。また、
製造される超微粒子は、真空槽(3)内が真空雰囲気下
或いはArの不活性ガス雰囲気下のときには蒸発源(1
)と同組成のものが製造され、真空槽(3)内が02ガ
ス、窒素ガス等の反応ガス雰囲気下のときには、蒸発源
の蒸気上反応ガス上の反応によりこれらの化合物の超微
粒子が製造される。更に、レーザビーム(12)を蒸発
源(1)に照射中、蒸発源保持装置(2)によって蒸発
源(1)を回転揺動させているから、蒸発源(1)は、
長時間のレーザビーム(12)の照射に酎え、蒸発源交
換の回数が減少し、能率的であり、かつ均質な超微粒子
の製造が可能となる。なお、予めヒータにより蒸発源を
加熱しておけば、蒸発源の活性化が促進されると共にレ
ーザビームの急激を照射による蒸発源の破損も防止でき
る。
第3図は超微粒子回収装置の変形例を示す概略構成図で
ある。この変形例は、超微粒子回収装置の回収部を複数
にして連続補集を可能にしたものである。図において(
10)は、1つの補集部、(11,)は第1バルブ(1
3,)を介して補集部(10)に接続された第1回収部
、(II2)は第2バルブ四3□)を介し゛C補望部(
10)に接続された第2回収部、(113)は第3バル
ブ(13いを介して補集部(10)に接続された第3回
収部である。これら第1乃至第3回収部(11,)、 
 (112)、  (113)の排気側は、排気装置(
8)に接続されている。
(14)は補集部(10)の上流側に設LJられた開閉
バルブである。
この超微粒子回収装置(9)の連続補集について説明す
ると、まず超微粒子の製造装置が稼動している状態で、
開閉バルブ(14)と共に第1バルブ(13+)を開け
、第2ハルゾ(13□)及び第3バルブ(133)を閉
した状態にする。
そうすると、真空槽(3)から排気管(7)へと流れた
超微粒子は、補修部(10)を通過して第1回収部(1
1,)に流れ込み、第1回収部(11,)に内蔵されて
いるフィルタ(lla)によって回収される。第1回収
部(11,)のフィルタ(lla)に超微粒子が捕捉さ
れ11詰まりを起こしそうになると、第1バルブ(13
,)を閉し、第2バルブ(13□)を開けて第2回収部
(11□)で超微粒子を回収する。そして、第2回収部
(112)のフィルタ(lla)か詰まれば、第2バル
ブ(13゜)を閉じて第3バルブ(133)を開けて第
3回収部(IL)で超微粒子を回収する。このように複
数個のフィルタ(llii)を使用することによって連
続補集を可能とする。そして、第1乃至第3回収部(1
11)〜(113)のフィルタ(I I a)の全22
−:回収が終了すれば、レーザビーム(12)の蒸発源
(1)への照射を停止すると共に開閉バルブ(14)を
閉じ、第1乃至第3バルブ(13,)〜(13□)を開
いてAr等の不活性ガスを逆に第1乃至第3回収部(1
,1,)〜(113)の下流側から圧送する。そうする
と、第1乃至第3回収部(11,)〜(113)のフィ
ルターに捕捉された超微粒子は補集部(10)の底部に
集められる。このとき、フィルり(lla)の目詰りは
、はとんど解消されるが、目詰りが解消されないときに
はフィルタ(Ila)を交換する。
補集部(]C0の底部に集められた超微粒子は補集部(
10)の底部を取り外して外部に取り出す。安定化処理
が必要な場合は、補集部(]C0の底部をAr雰囲気に
密閉したままとりはずし、徐酸化処理後、大気中に取り
出すことも可能である。従って、製造された超微粒子を
真空槽(3)内の真空をリークすることなく外部に取り
出すことができ、しかもこのとき、フィルタ(lla)
の目詰も防止できるから、生産効率の向上が図れる。
なお、回収部(11)の個数は収集量に応して個数を決
定する。
以下、この実施例の超微粒子の製造装置により超微粒子
を製造した具体例を説明する。
〔具体例1〕 蒸発源(1)として、Δ7!20.焼結体(純度99、
99%)を使用し、真空槽(3)の内部をI X 10
−’Torrまで真空引きした後に、A7!203焼結
体の蒸発源(1)に、レーザ出力IKW、波長10.6
 p mのC07レーザであるレーザビーム(12)を
蒸発源−Lでのビーム径が約10mmとなるように照射
して、超微粒子を生成した。
レーザビーム(12)を1o分間照射後、回収部(11
)のフィルタ(Ila)にょっ71TJ収された超微粒
子を秤量したところ、19.5 gであった。生成速度
は117.0 B / h rとなり、従来の製造法に
比して著しく大きい。
この具体例の粒度分布を華4図のグラフに示すが、30
±IOnmに約90%存在しており、粒子同士の衝突に
よる凝集も起こっていないことがわかる。
〔具体例2〕 蒸発源(1)としてZrO2を使用し、真空槽(3)の
内部を、L X I O−’Torrまで真空引きした
後に、02ガスを導入して、真空度を0、 I Tor
rに設定した後に、zro2の蒸発源(1)にレーザ出
力]、KW、波長10.6 p mのCO□レーザであ
るレーザビーム(12)と蒸発源上でのビーム径が約1
0mmとなるように照射して超微粒子を生成した。
レーザビーム(12)を10分間照射後、回収部(11
)のフィルタ(Ila)によって回収された超微粒子を
秤量したところ、17.5 gであった。このときの超
微粒子の平均粒径は35nmであった。
〔発明の効果〕
この発明は以北説明したように、レーザ2ビームをビー
ム透過窓を通して真空槽内に導光し、金属又はセラミッ
クス等からなる蒸発源に照射して蒸発させるようにした
ので、蒸発源の蒸気化が容易に図れ、蒸発源の物質が限
定されないという効果がある。
また、レーザビームを蒸発源に照射中、蒸発源を蒸発源
保持装置によって回転揺動させているので、蒸発源は長
時間のレーザビームの照射に耐え、蒸発源の交換回数が
減少して能率的且つ均質な超微粒子が得られるという効
果がある。
更に、蒸発源から発生した蒸気を真空槽内の真空或いは
反応雰囲気下で急冷して凝固させるようにしたので、粒
子同士の衝突による凝集も起こらず、粒径が均一な超微
粒子が得られるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す概略構成図、第2図
は超微粒子回収装置を示す概略構成図、第3図は超微粒
子回収装置の変形例を示す概略構成図、第4図は本発明
と従来例による超微粒子の粒度分布を示すグラフである
。 図において、(1)は蒸発源、(2)は蒸発源保持装置
、(3)は真空槽、(4)はビーム透過窓、(6)は排
気ポート、(7)は排気管、(8)は排気装置、(9)
は超微粒子回収装置、(12)はレーザビームである。 代 理 人 弁理士 佐々木 宗 治 第1図 第2図 第3図 旦 第4図 雑径(nm)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 金属又はセラミックス等からなる蒸発源と、蒸発源を回
    転揺動させる蒸発源保持手段と、蒸発源と蒸発源保持手
    段とを内部に配設し、レーザビームを透過させて蒸発源
    に照射させるビーム透過窓を備え、内部を反応雰囲気に
    調整できる真空槽と、真空槽の内部を蒸発源の上方に設
    けた排気ポートを介して真空引きする排気手段と、真空
    槽の排気系の途中に設けられ、蒸発源にレーザビームを
    照射して製造された超微粒子を回収する超微粒子回収手
    段とを具備してなることを特徴とする超微粒子の製造装
    置。
JP24126086A 1986-10-13 1986-10-13 超微粒子の製造装置 Pending JPS6397226A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0313510A (ja) * 1989-06-12 1991-01-22 Agency Of Ind Science & Technol レーザ光線による微粉末の製造方法
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US7388044B2 (en) 2002-07-15 2008-06-17 Henkel Kommanditgesellschaft Auf Aktien Coatings with enhanced water-barrier and anti-corrosive properties

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