JPS63853B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS63853B2 JPS63853B2 JP4388482A JP4388482A JPS63853B2 JP S63853 B2 JPS63853 B2 JP S63853B2 JP 4388482 A JP4388482 A JP 4388482A JP 4388482 A JP4388482 A JP 4388482A JP S63853 B2 JPS63853 B2 JP S63853B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- total reflection
- shaped total
- plate
- error signal
- wedge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、光ピツクアツプに係り、特に、楔
状全反射プリズムに板状全反射体をその一端部が
偏光ビームスプリツタからの光ビームの中心に接
するように取り付け、該楔状全反射プリズムと該
板状全反射体からの反射光ビームを、パターン上
分割線が直角である２つの２分割センサが一面体
に形成された光センサに入射させることを特徴と
する光ピツクアツプに関する。従来、光ビデオ・
オーデイオデイスクプレーヤーの光ピツクアツプ
におけるトラツキングエラー信号およびフオーカ
スエラー信号の検出は、第１図に示す方法で行わ
れている。第１図に基づいて光学系について説明
すると、半導体レーザ１からの直線偏光はコリメ
ータレンズ２で平行光にされ、偏光ビームスプリ
ツタ３を直進し、1/4波長板４で円偏光にし、90゜
偏光プリズム５、フオーカスＦおよびトラツキン
グＴ騒動される対物レンズ６を経てデイスク回転
モータ７によつて回転されるデイスク情報面８に
合焦し、その反射光は入射光に対して逆回転の円
偏光となり、対物レンズ６、90゜偏光プリズム５
を経て、1/4波長板４で入射光と直交する直線偏
光となり、偏光ビームスプリツタ３で90゜偏向さ
れ遮光板９を経て４分割センサ１０で受光され
る。そしてトラツキングエラー信号Teは、加算
器AD、減算器SBを介して光スポツト走査方向す
なわちＹ軸によつて２分される４分割センサ１０
の右部（＃１＋＃２）と左部（＃３＋＃４）との
差出力から検出しており、またフオーカスエラー
信号Feは加算器AD、減算器SBを介して下部
（＃１＋＃４）と上部（＃２＋＃３）との差出力
から検出している。
状全反射プリズムに板状全反射体をその一端部が
偏光ビームスプリツタからの光ビームの中心に接
するように取り付け、該楔状全反射プリズムと該
板状全反射体からの反射光ビームを、パターン上
分割線が直角である２つの２分割センサが一面体
に形成された光センサに入射させることを特徴と
する光ピツクアツプに関する。従来、光ビデオ・
オーデイオデイスクプレーヤーの光ピツクアツプ
におけるトラツキングエラー信号およびフオーカ
スエラー信号の検出は、第１図に示す方法で行わ
れている。第１図に基づいて光学系について説明
すると、半導体レーザ１からの直線偏光はコリメ
ータレンズ２で平行光にされ、偏光ビームスプリ
ツタ３を直進し、1/4波長板４で円偏光にし、90゜
偏光プリズム５、フオーカスＦおよびトラツキン
グＴ騒動される対物レンズ６を経てデイスク回転
モータ７によつて回転されるデイスク情報面８に
合焦し、その反射光は入射光に対して逆回転の円
偏光となり、対物レンズ６、90゜偏光プリズム５
を経て、1/4波長板４で入射光と直交する直線偏
光となり、偏光ビームスプリツタ３で90゜偏向さ
れ遮光板９を経て４分割センサ１０で受光され
る。そしてトラツキングエラー信号Teは、加算
器AD、減算器SBを介して光スポツト走査方向す
なわちＹ軸によつて２分される４分割センサ１０
の右部（＃１＋＃２）と左部（＃３＋＃４）との
差出力から検出しており、またフオーカスエラー
信号Feは加算器AD、減算器SBを介して下部
（＃１＋＃４）と上部（＃２＋＃３）との差出力
から検出している。
なお、RFピツト信号は図示していないが、加
算器を介して右部（＃１＋＃２）と左部（＃３＋
＃４）との和出力から検出している。
算器を介して右部（＃１＋＃２）と左部（＃３＋
＃４）との和出力から検出している。
なお、対物レンズ６とデイスク情報面８の位置
関係における４分割センサ１０の受光図形は、第
２図に示すようなものになる。第２図において、
Ａは対物レンズ６とデイスク情報面８が近すぎる
場合、Ｃは反対に遠すぎる場合、Ｂは合焦状態を
示すものである。
関係における４分割センサ１０の受光図形は、第
２図に示すようなものになる。第２図において、
Ａは対物レンズ６とデイスク情報面８が近すぎる
場合、Ｃは反対に遠すぎる場合、Ｂは合焦状態を
示すものである。
この従来技術において、RFピツト信号はデイ
スク情報面８からの全反射光量の半分しか利用で
きず、そのため光検出系でＳ／Ｎを良くする際の
障害となるという問題点がある。ちなみに、シヨ
ツトノイズを考慮に入れると、Ｓ／Ｎは3dB低下
する。
スク情報面８からの全反射光量の半分しか利用で
きず、そのため光検出系でＳ／Ｎを良くする際の
障害となるという問題点がある。ちなみに、シヨ
ツトノイズを考慮に入れると、Ｓ／Ｎは3dB低下
する。
デイスク情報面８からの全反射光量を有効に利
用するため、４分割センサを各々２分した２分割
センサを別々に分離し配置して、フオーカスエラ
ー信号およびトラツキングエラー信号を検出する
方法もあるが、光ピツクアツプ作成上工程が多く
なり、製造上不利となるという問題点があつた。
用するため、４分割センサを各々２分した２分割
センサを別々に分離し配置して、フオーカスエラ
ー信号およびトラツキングエラー信号を検出する
方法もあるが、光ピツクアツプ作成上工程が多く
なり、製造上不利となるという問題点があつた。
この発明は、このような従来技術の問題点に着
目してなされたもので、楔状全反射プリズムと板
状全反射体とによつて、トラツキングエラー信号
検出用光ビームとフオーカスエラー信号検出用光
ビームとに分離し、楔状全反射プリズムと板状全
反射体からの反射光ビームを、パターン上分割線
が直角である２つの２分割センサが一面体に形成
された光センサに入射させることによつて、上記
問題点を解決することを目的としている。
目してなされたもので、楔状全反射プリズムと板
状全反射体とによつて、トラツキングエラー信号
検出用光ビームとフオーカスエラー信号検出用光
ビームとに分離し、楔状全反射プリズムと板状全
反射体からの反射光ビームを、パターン上分割線
が直角である２つの２分割センサが一面体に形成
された光センサに入射させることによつて、上記
問題点を解決することを目的としている。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第３図は、この発明の一実施例を示す光学系の
斜視図である。
斜視図である。
まず構成を説明すると、２０は楔状全反射プリ
ズム、２１は板状全反射体、２２は光センサであ
る。
ズム、２１は板状全反射体、２２は光センサであ
る。
楔状全反射プリズム２０は、第４図に示すよう
に偏光ビームスプリツタ３からの光ビームに対し
て一定角度θをもつて傾斜しており、その高さ
H1は、偏光ビームスプリツタ３からの光ビーム
を全部受光できるように定められている。そして
楔状全反射プリズム２０は、傾斜受光面の上半分
で偏光ビームスプリツタ３からの光ビームの上半
分すなわちトラツキングエラー信号検出用光ビー
ムを反射する。
に偏光ビームスプリツタ３からの光ビームに対し
て一定角度θをもつて傾斜しており、その高さ
H1は、偏光ビームスプリツタ３からの光ビーム
を全部受光できるように定められている。そして
楔状全反射プリズム２０は、傾斜受光面の上半分
で偏光ビームスプリツタ３からの光ビームの上半
分すなわちトラツキングエラー信号検出用光ビー
ムを反射する。
板状全反射体２１は、第４図に示すようにその
一端部が偏光ビームスプリツタ３からの光ビーム
の中心に接するように楔状全反射プリズム２０の
傾斜受光面の下半分に取り付けられており、その
高さH2は、偏光ビームスプリツタ３からの光ビ
ームの下半分を全部受光できるように定められて
いる。板状全反射体２１は、偏光ビームスプリツ
タ３からの光ビームの下半分すなわちフオーカス
エラー信号検出用光ビームを反射する。楔状全反
射プリズム２０および板状全反射体２１からの反
射光ビーム形状は、楔状全反射プリズム２０およ
び板状全反射体２１の入射、反射方向について短
軸となる惰円ビームとなり、トラツキングエラー
信号、フオーカスエラー信号およびRFピツト信
号検出について検出感度を大きくすることができ
る。第５図に示すように、偏光ビームスプリツタ
３と楔状全反射プリズム２０、板状全反射体２１
の間に収束レンズ２３を配置した場合には、偏光
ビームスプリツタ３からの光ビームを収束レンズ
２３で収束できるので、楔状全反射プリズム２
０、板状全反射体２１および光センサ２２の検出
系が小型になり、特に光ビデオデイスクプレーヤ
ー用としては有利である。
一端部が偏光ビームスプリツタ３からの光ビーム
の中心に接するように楔状全反射プリズム２０の
傾斜受光面の下半分に取り付けられており、その
高さH2は、偏光ビームスプリツタ３からの光ビ
ームの下半分を全部受光できるように定められて
いる。板状全反射体２１は、偏光ビームスプリツ
タ３からの光ビームの下半分すなわちフオーカス
エラー信号検出用光ビームを反射する。楔状全反
射プリズム２０および板状全反射体２１からの反
射光ビーム形状は、楔状全反射プリズム２０およ
び板状全反射体２１の入射、反射方向について短
軸となる惰円ビームとなり、トラツキングエラー
信号、フオーカスエラー信号およびRFピツト信
号検出について検出感度を大きくすることができ
る。第５図に示すように、偏光ビームスプリツタ
３と楔状全反射プリズム２０、板状全反射体２１
の間に収束レンズ２３を配置した場合には、偏光
ビームスプリツタ３からの光ビームを収束レンズ
２３で収束できるので、楔状全反射プリズム２
０、板状全反射体２１および光センサ２２の検出
系が小型になり、特に光ビデオデイスクプレーヤ
ー用としては有利である。
光センサ２２は、楔状全反射プリズム２０の傾
斜受光面の上部に、偏光ビームスプリツタ３から
の光ビームに対して2θの角度をもつて取り付けら
れている。そして光センサ２２は、第６図に示す
ように板状全反射体２１からの反射光ビームを受
光するトラツキングエラー信号検出用受光部２２
１と、楔状全反射プリズム２０からの反射光ビー
ムを受光するフオーカスエラー信号検出用受光部
２２２とから構成されている。そして、トラツキ
ングエラー信号検出用受光部２２１とフオーカス
エラー信号検出用受光部２２２は、同一平面上に
形成されている。トラツキングエラー信号検出用
受光部２２１は、２分割センサで、分割線によつ
て＃Ａと＃Ｂに分割されている。フオーカスエラ
ー信号検出用受光部２２２は、２分割センサで、
分割線によつて＃Ｃと＃Ｄに分割されている。そ
して両分割線はお互に直角になつている。
斜受光面の上部に、偏光ビームスプリツタ３から
の光ビームに対して2θの角度をもつて取り付けら
れている。そして光センサ２２は、第６図に示す
ように板状全反射体２１からの反射光ビームを受
光するトラツキングエラー信号検出用受光部２２
１と、楔状全反射プリズム２０からの反射光ビー
ムを受光するフオーカスエラー信号検出用受光部
２２２とから構成されている。そして、トラツキ
ングエラー信号検出用受光部２２１とフオーカス
エラー信号検出用受光部２２２は、同一平面上に
形成されている。トラツキングエラー信号検出用
受光部２２１は、２分割センサで、分割線によつ
て＃Ａと＃Ｂに分割されている。フオーカスエラ
ー信号検出用受光部２２２は、２分割センサで、
分割線によつて＃Ｃと＃Ｄに分割されている。そ
して両分割線はお互に直角になつている。
このように光センサ２２を、パターン上分割線
が直角である２つの２分割センサ２２１、２２２
を同一平面上に配置して形成することにより、光
ピツクアツプ作成上工程が多くならず、光ピツク
アツプを作成しやすい。
が直角である２つの２分割センサ２２１、２２２
を同一平面上に配置して形成することにより、光
ピツクアツプ作成上工程が多くならず、光ピツク
アツプを作成しやすい。
次に、トラツキングエラー信号Te、フオーカ
スエラー信号FeおよびRFピツト信号Ｐの検出に
ついて、第７図に基づいて説明する。板状全反射
体２１からの反射光ビームを、トラツキングエラ
ー信号検出用受光部２２１において光電変換し、
＃Ａおよび＃Ｂにおいて得られた電気信号を減算
器SB1に加え、減算器SB1の出力（＃Ａ−＃Ｂ）
からトラツキングエラー信号Teを検出している。
スエラー信号FeおよびRFピツト信号Ｐの検出に
ついて、第７図に基づいて説明する。板状全反射
体２１からの反射光ビームを、トラツキングエラ
ー信号検出用受光部２２１において光電変換し、
＃Ａおよび＃Ｂにおいて得られた電気信号を減算
器SB1に加え、減算器SB1の出力（＃Ａ−＃Ｂ）
からトラツキングエラー信号Teを検出している。
楔状全反射プリズム２０からの反射光ビーム
を、フオーカスエラー信号検出用受光部２２２に
おいて光電変換し、＃Ｃおよび＃Ｄにおいて得ら
れた電気信号を減算器SB2に加え、減算器SB2の
出力（＃Ｃ−＃Ｄ）からフオーカスエラー信号
Feを検出している。
を、フオーカスエラー信号検出用受光部２２２に
おいて光電変換し、＃Ｃおよび＃Ｄにおいて得ら
れた電気信号を減算器SB2に加え、減算器SB2の
出力（＃Ｃ−＃Ｄ）からフオーカスエラー信号
Feを検出している。
RFピツト信号Ｐは、＃Ａおよび＃Ｂの電気信
号を加算器AD1に加え、＃Ｃおよび＃Ｄの電気信
号を加算器AD2に加え、加算器AD1の出力（＃Ａ
＋＃Ｂ）および加算器AD2の出力（＃Ｃ＋＃Ｄ）
を加算器AD3に加えて、加算器AD3の出力（＃Ａ
＋＃Ｂ＋＃Ｃ＋＃Ｄ）から検出している。
号を加算器AD1に加え、＃Ｃおよび＃Ｄの電気信
号を加算器AD2に加え、加算器AD1の出力（＃Ａ
＋＃Ｂ）および加算器AD2の出力（＃Ｃ＋＃Ｄ）
を加算器AD3に加えて、加算器AD3の出力（＃Ａ
＋＃Ｂ＋＃Ｃ＋＃Ｄ）から検出している。
以上説明してきたように、この発明は、楔状全
反射プリズムに板状全反射体をその一端部が偏光
ビームスプリツタからの光ビームの中心に接する
ように取り付け、該楔状全反射プリズムと該板状
全反射体からの反射光ビームを、パターン上分割
線が直角である２つの２分割センサが一面体に形
成された光センサに入射させることによつて、ト
ラツキングエラー信号、フオーカスエラー信号お
よびRFピツト信号を感度良く検出でき、検出系
をコンパクトに構成でき、光ピツクアツプ作成上
の工程が多くならず、光ピツクアツプを作成しや
すいという効果が得られる。
反射プリズムに板状全反射体をその一端部が偏光
ビームスプリツタからの光ビームの中心に接する
ように取り付け、該楔状全反射プリズムと該板状
全反射体からの反射光ビームを、パターン上分割
線が直角である２つの２分割センサが一面体に形
成された光センサに入射させることによつて、ト
ラツキングエラー信号、フオーカスエラー信号お
よびRFピツト信号を感度良く検出でき、検出系
をコンパクトに構成でき、光ピツクアツプ作成上
の工程が多くならず、光ピツクアツプを作成しや
すいという効果が得られる。
第１図は光ピツクアツプの光学系の斜視図およ
び従来の４分割センサの信号処理系を示す図、第
２図は対物レンズとデイスク情報面の位置関係に
おける４分割センサの受光図形を示す図、第３図
はこの発明の一実施例を示す光学系の斜視図、第
４図は第３図の矢印方向から見た図、第５図は第
４図に収束レンズを配置した図、第６図は光セン
サの構成およびパターンを示す図、第７図はトラ
ツキングエラー信号、フオーカスエラー信号およ
びRFピツト信号の検出を説明する図である。 １…半導体レーザ、２…コリメータレンズ、３
…偏光ビームスプリツタ、４…1/4派長板、５…
90゜偏向プリズム、６…対物レンズ、７…デイス
ク回転モータ、８…デイスク情報面、９…遮光
板、１０…４分割センサ、２０…楔状全反射プリ
ズム、２１…板状全反射体、２２…光センサ、２
３…収束レンズ。
び従来の４分割センサの信号処理系を示す図、第
２図は対物レンズとデイスク情報面の位置関係に
おける４分割センサの受光図形を示す図、第３図
はこの発明の一実施例を示す光学系の斜視図、第
４図は第３図の矢印方向から見た図、第５図は第
４図に収束レンズを配置した図、第６図は光セン
サの構成およびパターンを示す図、第７図はトラ
ツキングエラー信号、フオーカスエラー信号およ
びRFピツト信号の検出を説明する図である。 １…半導体レーザ、２…コリメータレンズ、３
…偏光ビームスプリツタ、４…1/4派長板、５…
90゜偏向プリズム、６…対物レンズ、７…デイス
ク回転モータ、８…デイスク情報面、９…遮光
板、１０…４分割センサ、２０…楔状全反射プリ
ズム、２１…板状全反射体、２２…光センサ、２
３…収束レンズ。
Claims (1)
- １ 楔状全反射プリズムに板状全反射体をその一
端部が偏光ビームスプリツタからの光ビームの中
心に接するように取り付け、該楔状全反射プリズ
ムと該板状全反射体からの反射光ビームを、パタ
ーン上分割線が直角である２つの２分割センサが
一面体に形成された光センサに入射させることを
特徴とする光ピツクアツプ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4388482A JPS58161150A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4388482A JPS58161150A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 光ピツクアツプ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58161150A JPS58161150A (ja) | 1983-09-24 |
| JPS63853B2 true JPS63853B2 (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=12676128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4388482A Granted JPS58161150A (ja) | 1982-03-19 | 1982-03-19 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58161150A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0362850U (ja) * | 1989-10-19 | 1991-06-19 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6038740A (ja) * | 1983-08-10 | 1985-02-28 | Canon Inc | 光熱磁気記録体用光ヘツド |
| JPS60193141A (ja) * | 1984-03-14 | 1985-10-01 | Mitsubishi Electric Corp | 光学的焦点ずれ検出装置 |
-
1982
- 1982-03-19 JP JP4388482A patent/JPS58161150A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0362850U (ja) * | 1989-10-19 | 1991-06-19 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58161150A (ja) | 1983-09-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3548259B2 (ja) | 光磁気ヘッド装置 | |
| JPH08249718A (ja) | 多重フォーカシング可能な光ピックアップ装置 | |
| JPH0582658B2 (ja) | ||
| JPH02230517A (ja) | 光ヘッド | |
| JPS63853B2 (ja) | ||
| US6785209B2 (en) | Optical pickup for improving properties of a reproduction signal | |
| JPS598145A (ja) | 光学式ピツクアツプ | |
| JPS6356819A (ja) | 光ヘツド装置 | |
| JP3123500B2 (ja) | 光ディスク装置 | |
| JPS62277635A (ja) | 光ヘツド装置 | |
| JPH0795371B2 (ja) | 光学ヘツド | |
| JPH04372728A (ja) | 光学式ピックアップ | |
| JPS62277640A (ja) | 光ヘツド装置 | |
| JPH0237609B2 (ja) | ||
| JPS59140645A (ja) | 光学的記録再生装置 | |
| JPS6334104Y2 (ja) | ||
| JP2827186B2 (ja) | 光ディスクの反り検出方法および光ピックアップ | |
| JPH0827962B2 (ja) | 光ピックアップ | |
| JPS59113531A (ja) | 光学的デイスク再生装置 | |
| JPS5845629A (ja) | 焦点誤差信号検出機能を備えた集光装置 | |
| JP3642972B2 (ja) | 光ピックアップの焦点誤差検出装置、及び光ピックアップの焦点誤差検出方法 | |
| JPS60113333A (ja) | 光ピツクアツプ装置 | |
| JPH11161988A (ja) | 光学ピックアップ装置 | |
| KR0129954B1 (ko) | 광픽업 | |
| KR100711345B1 (ko) | 더블 레이어 수광소자 및 이를 이용한 광픽업장치 |