JPS6384862A - 玉摺機用センサ - Google Patents

玉摺機用センサ

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Publication number
JPS6384862A
JPS6384862A JP22950886A JP22950886A JPS6384862A JP S6384862 A JPS6384862 A JP S6384862A JP 22950886 A JP22950886 A JP 22950886A JP 22950886 A JP22950886 A JP 22950886A JP S6384862 A JPS6384862 A JP S6384862A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
capacitance sensor
sensor
measured
plate thickness
Prior art date
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Pending
Application number
JP22950886A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Yamamoto
宏 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Optical Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Optical Co Ltd filed Critical Tokyo Optical Co Ltd
Priority to JP22950886A priority Critical patent/JPS6384862A/ja
Publication of JPS6384862A publication Critical patent/JPS6384862A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B9/00Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
    • B24B9/02Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
    • B24B9/06Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B9/08Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass
    • B24B9/14Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of optical work, e.g. lenses, prisms

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産  −の   ′ 本発明は、眼鏡フレームに眼鏡レンズの端部が嵌合保持
され得るように、眼鏡レンズを切削加工する玉摺機に用
いられる玉摺機用センサに関するものである。
」Lへ11 近時、熟練を要しないで、顧客へ迅速なサービスを行な
えるように、省力化と操作性の向上を図った自動玉摺機
が開発され、実用に供されようとしている。
この自動玉摺機は、例えば特開昭60−71156号公
報に記載されているように、斜面形成砥石に眼鏡レンズ
(以下レンズという)の縁面を接触させた状態に保ち、
砥石の軸線と平行な軸線の回りにレンズを回転させると
共に、その軸線に対するレンズの回転角の関数として当
該軸線と平行にレンズを移動させ、砥石とレンズの接触
点が所定の軌跡(眼鏡フレームの軌跡)を描くようにし
て、レンズの端部に斜面を形成するものである。
そして、レンズの前面及び後面のある領域に各々対応さ
せてレンズについて予め行った検出゛操作によって得た
2つの標点軌跡と1群の定められた軌跡との比較にもと
づいて、前記2つの標点軌跡の中間に存する1つの軌跡
を選択し、その軌跡に沿ってレンズを切削加工すること
ができる。
が  しよ と る 特開昭60−71156号公報に開示されている自動玉
摺機によれば、粗削加工済のレンズあるいは未加工レン
ズのいずれについても斜面形成用軌跡を求めることがで
きるが、レンズの板厚データを直接測定していないので
、各種レンズを想定して、多数の切削軌跡を予めメモリ
に記憶しておく必要がある。このため記憶容量が限られ
ているシステムには不利である。また、標点軌跡を求め
るために、ポテンションメータを用いると、デジタルデ
ータに変換するA/D変換器がなくてはならない。
立Jしガ旦」! この発明は、上述した従来の自動玉摺機の問題点を解決
するため、レンズの板厚を直接測定する玉摺機用センサ
を提供することを目的とする。
、Jを  するための 本発明の玉摺機用センサは、第1キャパシタンスセンサ
と第2キャパシタンスセンサから構成されている。第1
図を参照すると、第1キャパシタンスセンサ3は、一対
のプローブ31.32からなる。このプローブ31.3
2は、レンズ1の板厚を測定するためにレンズ1を挟ん
でレンズ1の被測定面にて対向して設けられる。
このプローブ31.32は、それぞれ絶縁体37.38
で被覆された電極33.34とリード線35.36とを
有している。
第1図と第2図を参照すると、第2キャパシタンスセン
サ4は固定電極41と可動電極42とを有する。この第
2キャパシタンスセンサ4は前記被測定面と基準面の距
離を測定するためのものである。
作」L 第1キャパシタンスセンサ3のプローブ31.32によ
り、レンズ1の板厚を測定し、第2キャパシタンスセン
サ4により被測定面と基準面の距離を測定することがで
きる。
支1に 以下、この発明を図示の一実施例により説明する。
この発明の一実施例が第1図のブロック図で示されてい
るように、レンズ1のチャッキング機構2、第1キャパ
シタンスセンサ3、第2キャパシタンスセンサ4、キャ
パシタンスセンサ駆動装@5、像型センサ6、(ρ、θ
)センサ7及び制御装置8が設けられている。
レンズ1のチャッキング機構2は、支持体2aと支持体
2bを有する。この支持体2a12bは駆動源2Cによ
り回転可能である。また支持体2a、2bは軸方向に移
動可能である。
第1キャパシタンスセンサ3は、レンズ1の前面1aと
後面1bに当接するためのプローブ31.32を有して
いる。プローブ31.32はそれぞれ円形の電極33.
34とリード線35.36を有し、電極33.34とリ
ード線35.36は絶縁体37.38でそれぞれ被覆さ
れている。プローブ31.32のレンズ当接部分はそれ
ぞれ凸(球)面形状になっている。
絶縁体37.38の誘電率をεC1電極33.34から
プローブ31.32の凸面までの絶縁体37.38の平
均の厚さをdc1電極33.34の面積をA、レンズ1
の誘電率を89、レンズ1の最小板厚をdQとして、絶
縁体37.38が、 εC/dC>  εQ/di、、(1)なる関係を有す
るものとすれば、両電極33.34間のキャパシタンス
値CΔ2は CΔ2− (εCA/2dc)  εQ /dQ εcA/2dc+εQ A/d Q テεQA/dQ =K・1/dQ、、、、、(2> となる。
レンズ1の被測定部の板厚dはd、≧−d9であるから
(2)式の一般式は CΔZ−K・1/d 、、、、、(3)とおくことがで
きる。
上述したように、絶縁体37.38で電極33.34と
リード線35.36をそれぞれ被覆することにより、例
えばレンズ1が粗削加工されたあと、レンズ1に水滴が
残っていても、第1キャパシタンスセンサ3と第2キャ
パシタンスセンサ4は水滴に影響をうけずキャパシタン
スセンサとして機能するようになっている。
レンズ1はきわめて複雑な曲面(度数カーブ)を有して
いるため、プローブ31.32とレンズ1の前面1aあ
るいは後面1bに多少の間隙があっても、対向する電極
33.34によって挾まれた部分のレンズ1の平均板厚
が測定できるように、絶縁体37.38の誘電率及びプ
ローブ31.32の凸面形状を設定する。
また、プ0−731.32は、好ましくはレンズ1の度
数カーブに沿うように、回転可能に取りつける構造にす
るとよい。
キャパシタンスセンサ駆動装置5は、像型センサ6ある
いは制御装W18のコマンド信号により、第1キャパシ
タンスセンサ3と連動して第2キャパシタンスセンサ4
を、チャッキング機構2の軸方向(第1図水平方向)と
その直交方向(第1図垂直方向)に変位させることがで
きる。
第1キャパシタンスセンサ3及び第2キャパシタンスセ
ンサ4は、図示しないが、プローブ31.32がレンズ
1の前面1a及び後面1bに当接する方向にばね等によ
り偏倚する構造にする。
第2キャパシタンスセンサ4は、プローブ32が、基準
面からどれだけ変位したかを測定するものであり、レン
ズ1の被測定面と所定の基準面(図示せず)の距離を測
定する。
第2キャパシタンスセンサ4は、第2図に示すように固
定電極41と可動電極42からなる。そのキャパシタン
ス値CZRは CZ’* −εA*/d*、、、、、(4)となる。
但しε:電極間充填物の誘電率、 八R:電極面積、 dR:電極間距離 第1図に示すように、第1キヤパシータンスセンサ3と
第2キャパシタンスセンサ4との間にはスイッチ9が接
続されている。このスイッチ9は、第3図において後述
するように、制御装置8のコマンド信号により、各測定
モードに応じて切換えられる。
像型センサ6及び(ρ、θ)センサ7は眼鏡フレームの
座標データを発生するもので、従来の自動玉摺機に設け
られている周知のものおよび/または眼鏡フレームから
得られる座標データを用いることができる。なお、ρは
レンズの幾何学中心から被測定点までの距離を示し、θ
は基準経線と被測定点を通る経線との間の角度を示して
いる。
制御装置8は、(ρ、θ)センサ7とキャパシタンスセ
ンサ駆動装置5を結合するI10インターフェース81
、マイクロプロセッサ(第1図ではMPU)82、測定
プロセスを制御する制御用メモリ(第1図ではROM)
83及び測定データを記憶するランダムアクセスメモリ
(以下メモリという。第1図ではRAM>84から構成
される。
第3図は、測定データの処理回路の一例を示す回路図で
あり、このデータ処理回路は、積分回路91、シュミッ
トトリガ回路92及びカウンタ93を有している。この
カウンタ93は制御装置8に接続されている。
積分回路91は、演算増幅器を有し、その非反転端子に
基準電圧VRが供給され、反転端子と出力端子との間に
は第1キャパシタンスセンサ3のキャパシタンス値CΔ
z1第2キャパシタンスセンサ4のキャパシタンス値C
ZR1校正用キャパシタC+ 、C2がスイッチ9を介
して並列接続されている。
積分回路91の出力はシュミットトリガ回路92に供給
され、シュミットトリガ回路92の出力はカウンタ93
に供給されるとともに、入力抵抗Rを介して演算増幅器
の反転端子にフィードバックされる。
積分回路91の出力波形は、第4図(a )に示すよう
に三角波となり、シュミットトリガ回路92の出力波形
は、トリガレベルを適切に選択することによって、三角
波の頂点と底点に対応した矩形波パルスとなる。そのパ
ルス繰返し周期Tは T−Kt CI R,、、、、(5) 但しKI:定数 CI=積分回路のキャパシタンス値゛ R:入力抵抗値 また、パルス繰返し周波数fは、 f −1/T−1/Kz ・Ct ・R、、、、、(6
) であるから、レンズ1の板厚測定モードのときは(3)
、(6)式からそのパルス繰返し周波数fΔZは、 fΔz−1/T−d/に−Kx ・R 、、、、、(7) となる。いま、レンズ1の被測定部の板厚dをΔZとす
ると fΔz  OC:  Δ2.  、  、  、、  
(8)となる。
同様に、所定の基準面とレンズ1の前面1aまでの距離
ZFIについては、パルス繰返し周波数fzRは fzRocZ* 、、、 、、(9) となることがわかる。
従って、カウンタ93の計数値は、レンズ1の被測定部
の板厚ΔZ1基準面とレンズ1の前面1aまでの距離Z
Rにそれぞれ比例する。
ここで、レンズ1はその素材がプラスチックやガラスで
あるので、レンズ1の板厚Δ2の測定にあたっては、材
質による校正が必要となる。このため、例えば当該素材
を電極間に挟持したキャパシタC+ 、C2を積分回路
91に接続しである。
上述したレンズ1の板厚(ΔZ)測定モード、距離(Z
R)測定モード及び校正モードはそれぞれ制御装置8の
コマンド信号によりスイッチ9が切換えられることによ
り設定される。
このようにして、カウンタ93で計数されたデータは、
I10インターフェース81(第1図)を介してメモリ
84に記憶される。
ここで、板厚測定モードと距離測定モードをレンズ1の
回転にともなって交互に制御装置8に読み込むか、また
はレンズ1の1回転を距離測定モードとし、レンズ1の
次の1回転を距離モードとして、それぞれのデータを読
み込むようにしてもよい。
第5因は、距離測定モード(以下zR測定モードという
)と板厚測定モード(以下Δ2測定モードという)を交
互に行う場合のフローチャートを示したものである。
まず、操作が開始されると、第3図のカウンタ93の初
期化が行われ、第3図のスイッチ9はキャパシタCZR
に接続されてZR測定モードに設定される。次いで、第
1図のプローブ32をレンズ1の後面1bに当接したの
ち、プローブ31をレンズ1の前面1aに向けて移動す
る。
この操作は制御装置8のコマンド信号にもとづいて、キ
ャパシタンスセンサ駆動装置5がプローブ31.32を
それぞれ駆動することによって行なわれる。そして、い
まプローブ31がレンズ1の前面1aに当接すると、第
3図のカウンタ93の計数値は一定となるから、その計
数値に対応する基準面とレンズ1の前面1aまでの距離
7尺が所望の一定値かどうかを知ることができる。もし
、距離2尺が一定値にならなければ、一定値になるまで
キャパシタンスセンサ駆動装置5はプローブ31を移動
させる。
かくして、距離ZRが一定値になれば、(ρ、θ)セン
サの出力データとともにデータ(ρ0、θo 、 ZR
o )が第1図のメモリ84に記憶される。
そして、第3図のスイッチ9がキャパシタC+又はC2
に切替られて、レンズ1の板厚ΔZの校正がΔZ測定モ
ードに先だって実行される。Δ2測定モードのときには
、スイッチ9がキャパシタCΔ2 (第3図)に切換わ
るので、データ(ρo1θo1ΔZo)がメモリ84に
入力される。
この最初のデータの入力が終了すると、レンズ1の回転
が開始され、まずZR測定モードにされて、(ρ、θ)
センサ7の出力データとともに、データ(ρ11θi、
Zpi)、i=1.2.3、・・・がメモリ84に記憶
される。
レンズ1の回転速度は通常データ検出速度に比べて遅い
ので、ZR測定モードからΔZ測定モードに切換えられ
ても、実質的には同じ位置(ρi、θi)のデータΔZ
iが得られる。このようにしてデータ(ρ11θ11Δ
Zi)が第1図のメモリ84に記憶される。
ZR測定モードとΔZ測定モードによる測定が終了する
と、レンズ1の回転は停止され、検出操作は終了する。
測定データは、第6図に示されているように、メモリ8
4に記憶される。
次いで、斜面形成カーブの演算は、第7図に示されてい
るフローチャートのように実行される。すなわち、レン
ズ1の板厚Δ2の最大値を有するデータ(ρに1″θに
1ΔZk)とその最小値を有するデータ(ρj1θj1
ΔZj )とにもとづいて、斜面の稜線(ヤゲン)カー
ブが第1図のマイクロプロセッサ82で演算され、その
演算結果はメモリ84に記憶される。従って、レンズ1
の斜面切削加工は、このヤゲンカーブにもとづいて(図
示しない切削装置により)行なうことができる。
上述の説明は、主として未加工レンズのデータ処理につ
いて行ったが、レンズの縁が粗削加工されたレンズにつ
いてもほぼ同様である。しかし、加工レンズの場合は、
flRJ5がレンズ端面からはみ出ないようにして距離
ZRと板厚ΔZの測定が行なわれなければならない。
ところで、この発明は上述した実施例に限定されない。
第1キャパシタンスセンサ3には、更に電極33.34
の周縁に電気力線の端縁効果を減少するためのガード電
極を設けるようにしてもよい。またチャッキング機構の
後面当接部はゴム等の絶縁物で形成されているため、こ
れを眼鏡フレームに相当する領域を充分カバーし得る大
きさの円環形状とし、その中に電極34を埋め込むよう
にすることもできる。
更に、データ処理回路は、積分回路91とシュミットト
リガ回路92の組合わせの代りに、パルス発生回路、例
えばアステーブルマルチバイブレータ(非安定マルチバ
イブレータ)で構成してもよい。
発」し久jじL 本発明によれば、次のような実用上顕著な効果を秦する
(1)眼鏡レンズを挟んでその被測定面に対向して設け
られ、レンズ板厚Δ2を直接測定する第1キャパシタン
スセンサのキャパシタンス値と、基準面から当該被測定
面までの距@Zl?を測定する第2キャパシタンスセン
サのキャパシタンス値にもとづいてレンズの板厚を直接
正確に測定できる。そしてポテンションメータを用いて
標点軌跡を求める従来のものとは異なり、各梗レンズを
想定して多数の切削軌跡を予め準備する必要がない。ま
た、第1キャパシタンスセンサと第2キャパシタンスセ
ンサから得られた測定データを用いて演算して斜面の切
削加工データを求めることができるので、斜面の切削加
工データを予め複数用意しておいて実測データとの比較
によって最も近似する切削加工データを選択する従来の
自動玉摺機に比べて、メモリの記憶容量を小さくするこ
とができるばかりでなく、眼鏡フレームによりフィツト
した切削加工データを得ることができる。
(2)キャパシタンスセンサは、アナログデータを出力
するが、このアナログデータをデジタルデータに変換す
ることはきわめて容易であり、従来のポテンションメー
タを用いてアナログデータを出力してデジタルデータを
変換するのとは異なり高価なA/D変換器を用いること
なく、それを用いた場合と同様かそれ以上の測定精度が
得られる。
(3)レンズ板厚測定及び距離測定のいずれもキャパシ
タンスセンサを用いるために、レンズ板厚測定及び距離
測定においてデータを処理する時データ処理回路を共用
できる・。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部を示すブロック図、第
2図は第1図の実施例の第2キャパシタンスセンサの構
造を示す斜視図、第3図はデータ処理回路図、第4図は
第3図の各部の波形図、第5図は測定プロセスのフロー
チャート、第6図はメモリのデータ格納状態を示す模式
図、第7図は切削加工データを求めるプロセスのフロー
チャートである。 1、、、、、レンズ 2、、、、、チャッキング 3、、、、、第1キャパシタンスセンサ4、、、、、第
2キャパシタンスセンサ5、、、、、キャパシタンスセ
ンサ 駆動装置 8、、、、、制御装置 9、、、、、、スイッチ 31.32.10−ブ 33.34.電極 35.36.リード線 37.38.絶縁体 ご 代理人 弁理士 田辺 徹(1゛ゼ ゝく 第3図 第5図 第6図 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)眼鏡レンズの板厚を測定するために前記眼鏡レン
    ズを挟んで被測定面に対向して設けられ、それぞれ絶縁
    体で被覆された電極とリード線を有する一対のプローブ
    からなる第1キャパシタンスセンサと、 前記被測定面と基準面の距離を測定するた めに、固定電極と可動電極を有する第2キャパシタンス
    センサと、 を備えたことを特徴とする玉摺機用センサ。
JP22950886A 1986-09-30 1986-09-30 玉摺機用センサ Pending JPS6384862A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP22950886A JPS6384862A (ja) 1986-09-30 1986-09-30 玉摺機用センサ

Applications Claiming Priority (1)

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JP22950886A JPS6384862A (ja) 1986-09-30 1986-09-30 玉摺機用センサ

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JPS6384862A true JPS6384862A (ja) 1988-04-15

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ID=16893273

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JP22950886A Pending JPS6384862A (ja) 1986-09-30 1986-09-30 玉摺機用センサ

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JP (1) JPS6384862A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011073114A (ja) * 2009-09-30 2011-04-14 Nidek Co Ltd 眼鏡レンズ加工装置の較正用センサユニット

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011073114A (ja) * 2009-09-30 2011-04-14 Nidek Co Ltd 眼鏡レンズ加工装置の較正用センサユニット

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