JPS6382450A - 感光体 - Google Patents
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/043—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure
- G03G5/0433—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure all layers being inorganic
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08285—Carbon-based
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
関する。
従米挟術
カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散さ
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散さ
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があった。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多かった。
にはそれぞれ欠点があった。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多かった。
このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
九で来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。さらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
九で来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。さらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
ところでアモルファスカーボン膜自体は、プラズマ有機
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
Be1l)により、1973年発行ののジャーナル・オ
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l of Applied P。
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l of Applied P。
lymer 5cience)第17巻の第885頁
乃至第892頁において、あらゆる有機化合物のガスか
ら作製され得る事が、また、同著者により、1979年
のアメリカンケミカルソサエティ (America
n ChemicalSociety)発行によるプ
ラズマボリマライゼーション(Plasma Pol
ymerization)の中でもその成膜性が論じら
れている。
乃至第892頁において、あらゆる有機化合物のガスか
ら作製され得る事が、また、同著者により、1979年
のアメリカンケミカルソサエティ (America
n ChemicalSociety)発行によるプ
ラズマボリマライゼーション(Plasma Pol
ymerization)の中でもその成膜性が論じら
れている。
しかしながら従来の方法で作製したプラズマ有機重合膜
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如<1016Ωcm程
度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なくと
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如<1016Ωcm程
度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なくと
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合された網
目溝道を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜10I5ΩCmの窩抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン店内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示されている。
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合された網
目溝道を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜10I5ΩCmの窩抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン店内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示されている。
特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とその
上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善す
るために、接着層として200A〜2μmのダイヤモン
ド状炭素膜を中間に設けた感光体か開示され、残留電荷
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善す
るために、接着層として200A〜2μmのダイヤモン
ド状炭素膜を中間に設けた感光体か開示され、残留電荷
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−Si
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−Si
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
また、例えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水素
モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成さ
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水素
モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成さ
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
特開昭60−249115号公報には、0.05〜5μ
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オーバーコー
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−siの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−siの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンパ(P。
、E、5pear)及びレコンパ(P。
G、LeComber)により1976年発行のフィロ
ソフィカル・マガジン(Philosophical
Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性制御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
357号公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57−17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−174450号公報、等に、炭素原
子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示されて
いるが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭素
原子により調整する事を目的としたものであり、また、
アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としている。
ソフィカル・マガジン(Philosophical
Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性制御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
357号公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57−17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−174450号公報、等に、炭素原
子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示されて
いるが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭素
原子により調整する事を目的としたものであり、また、
アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としている。
発註が解2しようとする問題、Φ
以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が酸素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に窒素
原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリ
コン膜との積層においては電荷輸送性を有し、容易に好
適な電子写真特性を示し始める事を見出した。その理論
的解釈には本発明者においても不明確な点が多く詳細に
亙り言及はできないが、酸素原子とハロゲン原子とを含
有してなる水素化アモルファスカーボン膜中に捕捉され
ている比較的不安定なエネルギー状態の電子、例えばπ
電子、不対電子、残存フリーラジカル等が形成するバン
ド構造が、燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を
含有すると共に窒素原子を含有してなる水素化或は弗素
化アモルファスシリコン膜が形成するバンド構造と電導
帯もしくは荷電子帯において近似したエネルギー準位を
有するため、燐原子及び−素原子のうち少なくとも一方
を含有すると共に窒素原子を含有してなる水素化或は弗
素化アモルファスシリコン膜中で発生したキャリアが容
易に酸素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素化ア
モルファスカーボン膜中へ注入され、さらに、このキャ
リアは前述の比較的不安定なエネルギー状態の電子の作
用により酸素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素
化アモルファスカーボン膜中を好適に走行し得るためと
推定される。
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が酸素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に窒素
原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリ
コン膜との積層においては電荷輸送性を有し、容易に好
適な電子写真特性を示し始める事を見出した。その理論
的解釈には本発明者においても不明確な点が多く詳細に
亙り言及はできないが、酸素原子とハロゲン原子とを含
有してなる水素化アモルファスカーボン膜中に捕捉され
ている比較的不安定なエネルギー状態の電子、例えばπ
電子、不対電子、残存フリーラジカル等が形成するバン
ド構造が、燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を
含有すると共に窒素原子を含有してなる水素化或は弗素
化アモルファスシリコン膜が形成するバンド構造と電導
帯もしくは荷電子帯において近似したエネルギー準位を
有するため、燐原子及び−素原子のうち少なくとも一方
を含有すると共に窒素原子を含有してなる水素化或は弗
素化アモルファスシリコン膜中で発生したキャリアが容
易に酸素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素化ア
モルファスカーボン膜中へ注入され、さらに、このキャ
リアは前述の比較的不安定なエネルギー状態の電子の作
用により酸素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素
化アモルファスカーボン膜中を好適に走行し得るためと
推定される。
本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如さ・本質的問題点
を全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異な
る、有機プラズマ重合膜、特に酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷
輸送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち
少なくとも一方を含有すると共に窒素原子を含有してな
る水素化或は弗素化アモルファスシリコンの薄膜を電荷
発生層として使用した感光体を提供する事を目的とする
。
ファスシリコン感光体の持つ前述の如さ・本質的問題点
を全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異な
る、有機プラズマ重合膜、特に酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷
輸送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち
少なくとも一方を含有すると共に窒素原子を含有してな
る水素化或は弗素化アモルファスシリコンの薄膜を電荷
発生層として使用した感光体を提供する事を目的とする
。
w点を 2するための C
即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成きれる少なくとも酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有すると共に窒素原子を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコン膜であることを特
徴とする感光体に関する(以下、本発明による電荷輸送
層をa−C膜及び電荷発生層をa−3i膜と称する)。
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成きれる少なくとも酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有すると共に窒素原子を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコン膜であることを特
徴とする感光体に関する(以下、本発明による電荷輸送
層をa−C膜及び電荷発生層をa−3i膜と称する)。
本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能ざえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成きれたものである。
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能ざえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成きれたものである。
即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成される燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に
窒素原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファス
シリコン膜を設けた事を特徴とする機能分離型感光体に
関する。該電荷輸送層は、可視光もしくは半導体レーザ
ー光付近の波長の光に対しては明確なる光導電性は有さ
ないが、好適な輸送性を有し、ざらに、帯電能、耐久性
、耐候性、耐環境汚染性等の電子写真感光体性能に優れ
、しかも透光性にも優れるため、機能分離型感光体とし
ての積層構造を形成する場合においても極めて高い自由
度が得られるものである。また、該電荷発生層は、可視
光もしくは半導体レーザー光付近の波長の光に対して優
れた光導電性を有し、しかも従来のアモルファスシリコ
ン感光体に比べて極めて薄い膜厚で、その機能を活かす
事ができるものである。
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成される燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に
窒素原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファス
シリコン膜を設けた事を特徴とする機能分離型感光体に
関する。該電荷輸送層は、可視光もしくは半導体レーザ
ー光付近の波長の光に対しては明確なる光導電性は有さ
ないが、好適な輸送性を有し、ざらに、帯電能、耐久性
、耐候性、耐環境汚染性等の電子写真感光体性能に優れ
、しかも透光性にも優れるため、機能分離型感光体とし
ての積層構造を形成する場合においても極めて高い自由
度が得られるものである。また、該電荷発生層は、可視
光もしくは半導体レーザー光付近の波長の光に対して優
れた光導電性を有し、しかも従来のアモルファスシリコ
ン感光体に比べて極めて薄い膜厚で、その機能を活かす
事ができるものである。
本発明においては、a −C膜を形成するために有機化
合物ガス、特に炭化水素ガスが用いられる。
合物ガス、特に炭化水素ガスが用いられる。
該炭化水素における相状態は常温常圧において必ずしも
気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸
発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固
相でも使用可能である。
気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸
発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固
相でも使用可能である。
使用可能な炭化水素には種類が多いが、飽和炭化水素と
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、テ
゛カン、ウンテ°カン、トチ゛カン、トリテ゛カン、テ
トラコサン、ベンタテ゛カン、ヘキサデカン、ヘキサデ
カン、オクタデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエ
イコサン、トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペン
タコサン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン
、ノナコサン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペ
ンタトリアコンタン、等のノルマルパラフィン並びに、
イソブタン、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサ
ン、ネオヘキサン、2.3−ジメチルブタン、2−メチ
ルヘキサン、3−エチルペンタン、2,2−ジメチルペ
ンタン、2.4−ジメチルペンタン、3.3−ジメチル
ペンタン、トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチ
ルヘプタン、2.2−ジメチルヘキサン、2,2.5−
ジメチルヘキサン、2.2.3−トリメチルペンタン、
2,2.4−トリメチルペンタン、2,3゜3−トリメ
チルペンタン、2.3.4−トリメチルペンタン、イソ
ナノン、等のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和
炭化水素としては、例えば、エチレン、プロピレン、イ
ソブチレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、
2−ペンテン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−
1−ブテン、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、
テトラメチルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、
1−ノネン、1−デセン、等のオレフィン、並びに、ア
レン、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキ
サジエン、シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並
びに、オシメン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリ
エン、等のトリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタ
ジイン、1゜3−ペンタジイン、2.4−へキサジイン
、メチルアセチレン、1−ブチン、2−ブチン、1−ペ
ンチン、1−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクチン、
1−ノニン、1−デシン、等が用いられる。
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、テ
゛カン、ウンテ°カン、トチ゛カン、トリテ゛カン、テ
トラコサン、ベンタテ゛カン、ヘキサデカン、ヘキサデ
カン、オクタデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエ
イコサン、トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペン
タコサン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン
、ノナコサン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペ
ンタトリアコンタン、等のノルマルパラフィン並びに、
イソブタン、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサ
ン、ネオヘキサン、2.3−ジメチルブタン、2−メチ
ルヘキサン、3−エチルペンタン、2,2−ジメチルペ
ンタン、2.4−ジメチルペンタン、3.3−ジメチル
ペンタン、トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチ
ルヘプタン、2.2−ジメチルヘキサン、2,2.5−
ジメチルヘキサン、2.2.3−トリメチルペンタン、
2,2.4−トリメチルペンタン、2,3゜3−トリメ
チルペンタン、2.3.4−トリメチルペンタン、イソ
ナノン、等のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和
炭化水素としては、例えば、エチレン、プロピレン、イ
ソブチレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、
2−ペンテン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−
1−ブテン、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、
テトラメチルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、
1−ノネン、1−デセン、等のオレフィン、並びに、ア
レン、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキ
サジエン、シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並
びに、オシメン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリ
エン、等のトリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタ
ジイン、1゜3−ペンタジイン、2.4−へキサジイン
、メチルアセチレン、1−ブチン、2−ブチン、1−ペ
ンチン、1−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクチン、
1−ノニン、1−デシン、等が用いられる。
脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ピサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルブ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメンテン、プソイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スチレン、ビフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ピサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルブ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメンテン、プソイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スチレン、ビフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
ざらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
本発明におけるa’−C膜中に含まれる水素原子の量は
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を窩くする
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を窩くする
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0 u m %特に7乃至20μmが適当であり、5μ
mより薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度
を得る事ができない。また、50umより厚いと、生産
性の面で好ましくない。
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0 u m %特に7乃至20μmが適当であり、5μ
mより薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度
を得る事ができない。また、50umより厚いと、生産
性の面で好ましくない。
このa−C膜は、窩透光性、高暗抵抗を有するとともに
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
本発明における原料気体からa”−C膜を形成する過程
としては、原料気体が、直流、低周波、窩周波、或はマ
イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラズ
マ状態を経て形成される方法が最も好ましいか、その他
にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等によ
り生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、真
空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される中
性粒子から形成されてもよいし、さらには、これらの組
み合わせにより形成されてもよい。
としては、原料気体が、直流、低周波、窩周波、或はマ
イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラズ
マ状態を経て形成される方法が最も好ましいか、その他
にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等によ
り生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、真
空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される中
性粒子から形成されてもよいし、さらには、これらの組
み合わせにより形成されてもよい。
本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くとも酸素原子を添加するために酸素化合物が使用きれ
る。該酸素化合物における相状態は常温常圧において必
ずしも気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶
融、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相
でも固相でも使用可能である。酸素化合物としては、例
えば、酸素、オゾン、水蒸気、−酸化炭素、二酸化炭素
、亜酸化炭素、等の無機化合物、水酸基(−OH) 、
アルデヒド基(−COH) 、アシル基(RCO−、−
CRO) 、ケトン基(>Co)、エーテル結合(−〇
−)、エステル結合(−Coo−) 、酸素を含む複素
環、等の官能基或は結合を有する有機化合物、等が用い
られる。水酸基を有する有機化合物としては、例えば、
メタノール、エタノール、プロパツール、ブタノール、
フリルアルコール、フルオロエタノール、フルオロブタ
ノール、フェノール、シクロヘキサノール、ベンジルア
ルコール、フルフリルアルコール、等が用いられる。ア
ルデヒド基を有する有機化合物としては、例えば、ホル
ムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオアルデヒド
、ブチルアルデヒド、グリオキサール、アクロレイン、
ベンズアルデヒド、フルフラール、等が用いられる。ア
シル基を有する有機化合物としては、例えば、ギ酸、酢
酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、バルミチン酸、ステ
アリン酸、オレイン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸
、安息香酸、トルイル酸、サリチル酸、ケイヒ酸、ナフ
トエ酸、フタル酸、フラン酸、等が用いられる。ケトン
基を有する有機化合物としては、例えば、アセトン、エ
チルメチルケトン、メチルプロピルケトン、ブチルメチ
ルケトン、ビナコロン、ジエチルケトン、メチルビニル
ケトン、メシチルオキシド、メチルへブテノン、シクロ
ブタノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、アセ
トフェノン、プロピオフェノン、ブチミツエノン、バレ
aフェノン、ジベンジルケトン、アセトナフトン、アセ
トチェノン、アセトフロン、等が用いられる。エーテル
結合を有する有機化合物としては、例えば、メチルエー
テル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ブチルエー
テル、アミルエーテル、エチルメチルエーテル、メチル
プロピルエーテル、メチルブチルエーテル、メチルアミ
ルエーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブチルエ
ーテル、エチルアミルエーテル、ビニルエーテル、アリ
ルエーテル、メチルビニルエーテル、メチルアリルエー
テル、エチルビニルエーテル、エチルフリルエーテル、
アニソール、フエネトール、フェニルエーテル、ベンジ
ルエーテル、フェニルベンジルエーテル、ナフチルエー
テル、酸化エチレン、酸化プロピレン、酸化トリメチレ
ン、テトラヒドロフラン、テトラヒドロビラン、ジオキ
サン、等が用いられる。エステル結合を有する有機化合
物とじては、例えば、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プ
ロピル、ギ酸ブチル、ギ酸アミル、酢酸メチル、酢酸エ
チル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、プロピ
オン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロ
ピル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸アミル、酪酸
メチル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、酪酸
アミル、吉草酸メチル、吉草酸エチル、吉草酸プロピル
、吉草酸ブチル、吉草酸アミル、安息香酸メチル、安息
香酸エチル、ケイ皮酸メチル、ケイ皮酸エチル、ケイ皮
酸プロピル、サリチル酸メチル、サリチル酸エチル、サ
リチル酸プロピル、サリチル酸ブチル、サリチル酸アミ
ル、アントラニル酸メチル、アントラニル酸エチル、ア
ントラニル酸ブチル、フントラニル酸アミル、フタル酸
メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、等が用いら
れる。酸素を含む複素環化合物としては、フラン、オキ
サゾール、フラザン、ビラン、オキサジン、モルホリン
、ベンゾフラン、バンゾオキサゾール、クロメン、クロ
マン、ジベンゾフラン、キサンチン、フエノキサジン、
オキソラン、ジオキソラン、オキサチオラン、オキサジ
アジン、ベンゾイソオキサゾール、等が用いられる。
くとも酸素原子を添加するために酸素化合物が使用きれ
る。該酸素化合物における相状態は常温常圧において必
ずしも気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶
融、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相
でも固相でも使用可能である。酸素化合物としては、例
えば、酸素、オゾン、水蒸気、−酸化炭素、二酸化炭素
、亜酸化炭素、等の無機化合物、水酸基(−OH) 、
アルデヒド基(−COH) 、アシル基(RCO−、−
CRO) 、ケトン基(>Co)、エーテル結合(−〇
−)、エステル結合(−Coo−) 、酸素を含む複素
環、等の官能基或は結合を有する有機化合物、等が用い
られる。水酸基を有する有機化合物としては、例えば、
メタノール、エタノール、プロパツール、ブタノール、
フリルアルコール、フルオロエタノール、フルオロブタ
ノール、フェノール、シクロヘキサノール、ベンジルア
ルコール、フルフリルアルコール、等が用いられる。ア
ルデヒド基を有する有機化合物としては、例えば、ホル
ムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオアルデヒド
、ブチルアルデヒド、グリオキサール、アクロレイン、
ベンズアルデヒド、フルフラール、等が用いられる。ア
シル基を有する有機化合物としては、例えば、ギ酸、酢
酸、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、バルミチン酸、ステ
アリン酸、オレイン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸
、安息香酸、トルイル酸、サリチル酸、ケイヒ酸、ナフ
トエ酸、フタル酸、フラン酸、等が用いられる。ケトン
基を有する有機化合物としては、例えば、アセトン、エ
チルメチルケトン、メチルプロピルケトン、ブチルメチ
ルケトン、ビナコロン、ジエチルケトン、メチルビニル
ケトン、メシチルオキシド、メチルへブテノン、シクロ
ブタノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、アセ
トフェノン、プロピオフェノン、ブチミツエノン、バレ
aフェノン、ジベンジルケトン、アセトナフトン、アセ
トチェノン、アセトフロン、等が用いられる。エーテル
結合を有する有機化合物としては、例えば、メチルエー
テル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ブチルエー
テル、アミルエーテル、エチルメチルエーテル、メチル
プロピルエーテル、メチルブチルエーテル、メチルアミ
ルエーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブチルエ
ーテル、エチルアミルエーテル、ビニルエーテル、アリ
ルエーテル、メチルビニルエーテル、メチルアリルエー
テル、エチルビニルエーテル、エチルフリルエーテル、
アニソール、フエネトール、フェニルエーテル、ベンジ
ルエーテル、フェニルベンジルエーテル、ナフチルエー
テル、酸化エチレン、酸化プロピレン、酸化トリメチレ
ン、テトラヒドロフラン、テトラヒドロビラン、ジオキ
サン、等が用いられる。エステル結合を有する有機化合
物とじては、例えば、ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸プ
ロピル、ギ酸ブチル、ギ酸アミル、酢酸メチル、酢酸エ
チル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、プロピ
オン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロ
ピル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸アミル、酪酸
メチル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、酪酸
アミル、吉草酸メチル、吉草酸エチル、吉草酸プロピル
、吉草酸ブチル、吉草酸アミル、安息香酸メチル、安息
香酸エチル、ケイ皮酸メチル、ケイ皮酸エチル、ケイ皮
酸プロピル、サリチル酸メチル、サリチル酸エチル、サ
リチル酸プロピル、サリチル酸ブチル、サリチル酸アミ
ル、アントラニル酸メチル、アントラニル酸エチル、ア
ントラニル酸ブチル、フントラニル酸アミル、フタル酸
メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、等が用いら
れる。酸素を含む複素環化合物としては、フラン、オキ
サゾール、フラザン、ビラン、オキサジン、モルホリン
、ベンゾフラン、バンゾオキサゾール、クロメン、クロ
マン、ジベンゾフラン、キサンチン、フエノキサジン、
オキソラン、ジオキソラン、オキサチオラン、オキサジ
アジン、ベンゾイソオキサゾール、等が用いられる。
本発明において化学的修飾物質として含有きれる酸素原
子の量は、全構成原子に対して7.0原子%以下である
。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、例
えばオージェ分析により知る事ができる。酸素原子の量
が7.0原子%より高い場合には、少量の添加では好適
な輸送性を保証していた酸素原子が、逆に膜の低抵抗化
を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。また、酸素
源ガスの一部のもの、例えば、酸素ガス、オゾンガス、
−酸化炭素ガス等においては、エツチング効果が強く現
れ、その流量を増やす事により酸素原子の膜中への添加
量を増加させようとすると、成膜速度が低下し、ある程
度の膜厚が必要とされる電荷輸送層の成膜においては不
都合となる。従って、本発明における酸素原子添加量の
範囲は重要である。
子の量は、全構成原子に対して7.0原子%以下である
。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、例
えばオージェ分析により知る事ができる。酸素原子の量
が7.0原子%より高い場合には、少量の添加では好適
な輸送性を保証していた酸素原子が、逆に膜の低抵抗化
を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。また、酸素
源ガスの一部のもの、例えば、酸素ガス、オゾンガス、
−酸化炭素ガス等においては、エツチング効果が強く現
れ、その流量を増やす事により酸素原子の膜中への添加
量を増加させようとすると、成膜速度が低下し、ある程
度の膜厚が必要とされる電荷輸送層の成膜においては不
都合となる。従って、本発明における酸素原子添加量の
範囲は重要である。
本発明において化学的修飾物質とじて含有きれる酸素原
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の酸素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。酸素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa −C膜中への酸素原子の添加量を高く
することが可能であり、逆に酸素化合物の導入量を減少
させれば、本発明によるa −C膜中への酸素原子の添
加量を低くすることが可能である。
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の酸素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。酸素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa −C膜中への酸素原子の添加量を高く
することが可能であり、逆に酸素化合物の導入量を減少
させれば、本発明によるa −C膜中への酸素原子の添
加量を低くすることが可能である。
本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
(ともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合物が
使用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、塩素
原子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン化合
物における相状態は常温常圧において必ずしも気相であ
る必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇華
等を経て気化しうるものであれば、液相でも固相でも使
用可能である。ハロゲン化合物としては、例えば、弗素
、塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化臭素、
弗化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化水素、
臭化沃素、沃化水素、等の無機化合物、ハロゲン化アル
キル、ハロゲン化アリール、へ〇ゲ化スチレン、ハロゲ
ン化ポリメチレン、へロホルム、等の有機化合物が用い
られる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、フッ化
メチル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル、フッ
化エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチル、フ
ッ化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨウ化プ
ロピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル、ヨウ
化ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミル、ヨ
ウ化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭化ヘキ
シル、ヨウ化ヘキシル、フッ化へブチル、塩化へブチル
、臭化へブチル、ヨウ化へブチル、フッ化オクチル、塩
化オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フッ化ノ
ニル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、フッ化
デシル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル、等が
用いられる。ハロゲン化アリールとしては、例えば、フ
ルオルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼン、ヨ
ードベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン、クロ
ルナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられる。ハ
ロゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチレン、
ブロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチレン、
等が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとしては、例
えば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メチレン、
塩化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、塩化ト
リメチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチレン、
ジ塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、ジ塩化
ペンタン、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ塩化
ヘキサン、ジ臭化ベキサン、ショウ化ヘキサン、ジ塩化
へブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ塩化
オクタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ塩化
ノナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デカン
、等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、フル
オロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨードホル
ム、等が用いられる。
(ともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合物が
使用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、塩素
原子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン化合
物における相状態は常温常圧において必ずしも気相であ
る必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇華
等を経て気化しうるものであれば、液相でも固相でも使
用可能である。ハロゲン化合物としては、例えば、弗素
、塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化臭素、
弗化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化水素、
臭化沃素、沃化水素、等の無機化合物、ハロゲン化アル
キル、ハロゲン化アリール、へ〇ゲ化スチレン、ハロゲ
ン化ポリメチレン、へロホルム、等の有機化合物が用い
られる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、フッ化
メチル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル、フッ
化エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチル、フ
ッ化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨウ化プ
ロピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル、ヨウ
化ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミル、ヨ
ウ化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭化ヘキ
シル、ヨウ化ヘキシル、フッ化へブチル、塩化へブチル
、臭化へブチル、ヨウ化へブチル、フッ化オクチル、塩
化オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フッ化ノ
ニル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、フッ化
デシル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル、等が
用いられる。ハロゲン化アリールとしては、例えば、フ
ルオルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼン、ヨ
ードベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン、クロ
ルナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられる。ハ
ロゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチレン、
ブロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチレン、
等が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとしては、例
えば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メチレン、
塩化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、塩化ト
リメチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチレン、
ジ塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、ジ塩化
ペンタン、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ塩化
ヘキサン、ジ臭化ベキサン、ショウ化ヘキサン、ジ塩化
へブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ塩化
オクタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ塩化
ノナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デカン
、等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、フル
オロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨードホル
ム、等が用いられる。
本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、全構成原子に対して0゜1乃至25原子
%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の量
は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る事
ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い場
合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証されず、感度
低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また、
経時的感度安定性も保証きれなくなる。ハロゲン原子の
量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好適
な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロゲ
ン原子が、逆に、帯電能の低下、さらには経時後の暗抵
抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷保
持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証されな
くなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従っ
て、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要で
ある。
ン原子の量は、全構成原子に対して0゜1乃至25原子
%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の量
は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る事
ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い場
合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証されず、感度
低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また、
経時的感度安定性も保証きれなくなる。ハロゲン原子の
量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好適
な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロゲ
ン原子が、逆に、帯電能の低下、さらには経時後の暗抵
抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷保
持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証されな
くなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従っ
て、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要で
ある。
本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増減することにより制
陣することが可能である。
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増減することにより制
陣することが可能である。
ハロゲン化合物の導入量を増大させれば、本発明による
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少させれ
ば、本発明によるa CffQ中へのハロゲン原子の
添加量を低くすることが可能である。
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少させれ
ば、本発明によるa CffQ中へのハロゲン原子の
添加量を低くすることが可能である。
本発明においては、a−Si膜を形成するためにシラン
ガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられ
る。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を
膜中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィン
ガス或はジボランガス等が用いられる。さらに、化学的
修飾物質として窒素原子を膜中に含有せしめるための原
料ガスとして、窒素ガス、アンモニアガス、旺酸化窒素
ガス、或は、二酸化窒素ガス、等の窒素化合物ガスが用
いられる。
ガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられ
る。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を
膜中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィン
ガス或はジボランガス等が用いられる。さらに、化学的
修飾物質として窒素原子を膜中に含有せしめるための原
料ガスとして、窒素ガス、アンモニアガス、旺酸化窒素
ガス、或は、二酸化窒素ガス、等の窒素化合物ガスが用
いられる。
本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が20000原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、極性制御効果を保
証していた燐原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗化を
招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、本発
明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲は重要であ
る。
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が20000原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、極性制御効果を保
証していた燐原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗化を
招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、本発
明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲は重要であ
る。
本発明において化学的修飾物質として含有される窒素原
子の量は、全構成原子に対して0.001乃至3原子%
である。ここで窒素原子の膜中含有量は、元素分析の常
法、例えばオージェ分析或はIMA分析により知る事が
できる。窒素原子の膜中含有量が0.001原子%より
低い場合には、a−5i膜の電気抵抗値が低くなる事か
らa−3i膜にコロナ帯電等による電界がかかりにくく
なり、光励起キャリアが必ずしも効率よ<a−C膜中に
注入されなくなり感度の低下を招く。また、帯電能も低
下する。窒素原子の膜中含有量が3原子%より高い場合
には、a−3i膜の電気抵抗値が高くなりすぎ、光励起
キャリアの発生効率の低下及びキャリアの易勤速度の低
下により、感度低下を招く。従って、本発明における窒
素原子添加量の範囲は重要である。
子の量は、全構成原子に対して0.001乃至3原子%
である。ここで窒素原子の膜中含有量は、元素分析の常
法、例えばオージェ分析或はIMA分析により知る事が
できる。窒素原子の膜中含有量が0.001原子%より
低い場合には、a−5i膜の電気抵抗値が低くなる事か
らa−3i膜にコロナ帯電等による電界がかかりにくく
なり、光励起キャリアが必ずしも効率よ<a−C膜中に
注入されなくなり感度の低下を招く。また、帯電能も低
下する。窒素原子の膜中含有量が3原子%より高い場合
には、a−3i膜の電気抵抗値が高くなりすぎ、光励起
キャリアの発生効率の低下及びキャリアの易勤速度の低
下により、感度低下を招く。従って、本発明における窒
素原子添加量の範囲は重要である。
本発明におけるa−3iv7.中に含まれる水素原子或
は弗素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面
から必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシ
リコン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至3
5原子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の
膜中含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オ
ージェ分析等を用いる事により知る事ができる。
は弗素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面
から必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシ
リコン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至3
5原子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の
膜中含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オ
ージェ分析等を用いる事により知る事ができる。
本発明における電荷発生層としてのa−Si膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−3i膜は電荷発生能に富み、
ざらに、本発明の最も特徴とするところのa−C膜との
積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリアを
注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能である。
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−3i膜は電荷発生能に富み、
ざらに、本発明の最も特徴とするところのa−C膜との
積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリアを
注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能である。
本発明における原料気体からa−Si膜を形成する過程
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
本発明において化学的修飾物質として含有される窒素原
子、燐原子、或は、硼素原子の量は、主に、プラズマ反
応を行なう反応室への前述の窒素′化合物ガス、ホスフ
ィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増減すること
により制御することが可能である。窒素化合物ガス、ホ
スフィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増大させ
れば、本発明によるa 5iFJ中への窒素原子、燐
原子、或は、硼素原子の添加量を高くすることが可能で
あり、逆に窒素化合物ガス、ボスフィンガス、或は、ジ
ボランガスの導入量を減少させれば、本発明によるa−
Si膜中への窒素原子、燐原子、或は、硼素原子の添加
量を低くすることが可能である。
子、燐原子、或は、硼素原子の量は、主に、プラズマ反
応を行なう反応室への前述の窒素′化合物ガス、ホスフ
ィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増減すること
により制御することが可能である。窒素化合物ガス、ホ
スフィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増大させ
れば、本発明によるa 5iFJ中への窒素原子、燐
原子、或は、硼素原子の添加量を高くすることが可能で
あり、逆に窒素化合物ガス、ボスフィンガス、或は、ジ
ボランガスの導入量を減少させれば、本発明によるa−
Si膜中への窒素原子、燐原子、或は、硼素原子の添加
量を低くすることが可能である。
本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を順次vi層してな
る構成を示したものである。第2図は、別の一形態とし
て、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送
層(2)を順次積層してなる構成を示したものである。
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を順次vi層してな
る構成を示したものである。第2図は、別の一形態とし
て、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送
層(2)を順次積層してなる構成を示したものである。
第3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に、
電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2
)を順次積層してなる構成を示したものである。
電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2
)を順次積層してなる構成を示したものである。
感光体表面を、例えばコロナ帯電器等により正帯電した
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2)中
を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発生
層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感光体
表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で発生
した正孔が導電性基板側の電荷輸送N(2)中を導電性
基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生層(
3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された静電
潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯電し
た後、画像露光して使用する場合においては、電子と正
孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解すれば
よい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光が電
荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電荷輸
送層は透光性に擾れることがら、好適な潜像形成を行な
うことが可能である。
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2)中
を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発生
層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感光体
表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で発生
した正孔が導電性基板側の電荷輸送N(2)中を導電性
基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生層(
3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された静電
潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯電し
た後、画像露光して使用する場合においては、電子と正
孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解すれば
よい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光が電
荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電荷輸
送層は透光性に擾れることがら、好適な潜像形成を行な
うことが可能である。
第4図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護N(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−Sil
lfiで有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定
性を確保するために表面保護層を設けることが好ましい
。第2図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優
れたa−CEJ、であるため表面保護層を設けなくても
よいが、例えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを
防止するような、複写機内の各種エレメントに対する整
合性を調整する目的から、表面保護層を設けることもざ
らなる一形態と成りうる。
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護N(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−Sil
lfiで有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定
性を確保するために表面保護層を設けることが好ましい
。第2図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優
れたa−CEJ、であるため表面保護層を設けなくても
よいが、例えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを
防止するような、複写機内の各種エレメントに対する整
合性を調整する目的から、表面保護層を設けることもざ
らなる一形態と成りうる。
第5図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。即ち第2
図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図の
形態では、導電性基板との接合面がa−3i膜である事
から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保するた
めに中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図の
構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注入
阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるため
、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の前
処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整合
性を調整する目的から、中間層を設けることもざらなる
一形態と成りうる。
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。即ち第2
図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図の
形態では、導電性基板との接合面がa−3i膜である事
から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保するた
めに中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図の
構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注入
阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるため
、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の前
処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整合
性を調整する目的から、中間層を設けることもざらなる
一形態と成りうる。
第6図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次積層してなる構成を示したも
のである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を設
けた形態に相当する。
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次積層してなる構成を示したも
のである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を設
けた形態に相当する。
中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−C膜を用いてもよい。但し、用い
る材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料である
場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以下
に留める必要がある。
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−C膜を用いてもよい。但し、用い
る材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料である
場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以下
に留める必要がある。
本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性徨あるいは荷電拝を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積させる、所謂プラズマ重合反応
から生成される事が好ましい。
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性徨あるいは荷電拝を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積させる、所謂プラズマ重合反応
から生成される事が好ましい。
第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示し、図中
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)tf常温において液相または固相状態にある原料化合
物を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化の
ため第1乃至第3温調器(722)〜(724)により
与熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節
弁(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(
728)〜(730)に接続きれている。これらのガス
は混合器(731)で混合された後、主管(732)を
介して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は
、常温において液相または固相状態にあった原料化合物
が気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置
された配管力ri熱器(734)により、与熱可能とさ
れている。反応室内には接地電極(735)と電力印加
電極(736)が対向して設置され、各々の電極は電極
加熱器(737)により与熱可能とされている。電力印
加電極(736)に己よ、高周波電力用整合器(738
)を介して高周波電源(739)、低周波電力用整合器
(740)を介して低周波電源(741Lローパスフイ
ルタ(742)を介して直流電源(743)が接続され
ており、接続選択スイッチ(744)により周波数の異
なる電力が印加可能とされている。反応室(733)内
の圧力は圧力制御弁(74,5)により調整可能であり
、反応室(733)内の減圧は、排気系選択弁(746
)を介して、拡散ポンプ(747) 、油回転ポンプ(
748) 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニ
カルブースターポンプ(750)、油回転ポンプ(74
8)により行なわれる。排ガスについては、さらに適当
な除外装置(753)により安全無害化した後、大気中
に排気される。これら排気系配管についても、常温にお
いて液相または固相状態にあった原料化合物が気化した
ガスが、途中で凝結しないように、適宜配置された配管
加熱器(734)により、与熱可能とされている。反応
室(733)も同様の理由から反応室加熱器(751)
により与熱可能とされ、内部に配きれた電極上に導電性
基板(752)が設置される。第7図において導電性基
板(752)は接地電極(735)に固定して配されて
いるが、電力印加型11(736)に固定して配されて
もよく、ざらに双方に配されてもよい。
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)tf常温において液相または固相状態にある原料化合
物を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化の
ため第1乃至第3温調器(722)〜(724)により
与熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節
弁(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(
728)〜(730)に接続きれている。これらのガス
は混合器(731)で混合された後、主管(732)を
介して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は
、常温において液相または固相状態にあった原料化合物
が気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置
された配管力ri熱器(734)により、与熱可能とさ
れている。反応室内には接地電極(735)と電力印加
電極(736)が対向して設置され、各々の電極は電極
加熱器(737)により与熱可能とされている。電力印
加電極(736)に己よ、高周波電力用整合器(738
)を介して高周波電源(739)、低周波電力用整合器
(740)を介して低周波電源(741Lローパスフイ
ルタ(742)を介して直流電源(743)が接続され
ており、接続選択スイッチ(744)により周波数の異
なる電力が印加可能とされている。反応室(733)内
の圧力は圧力制御弁(74,5)により調整可能であり
、反応室(733)内の減圧は、排気系選択弁(746
)を介して、拡散ポンプ(747) 、油回転ポンプ(
748) 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニ
カルブースターポンプ(750)、油回転ポンプ(74
8)により行なわれる。排ガスについては、さらに適当
な除外装置(753)により安全無害化した後、大気中
に排気される。これら排気系配管についても、常温にお
いて液相または固相状態にあった原料化合物が気化した
ガスが、途中で凝結しないように、適宜配置された配管
加熱器(734)により、与熱可能とされている。反応
室(733)も同様の理由から反応室加熱器(751)
により与熱可能とされ、内部に配きれた電極上に導電性
基板(752)が設置される。第7図において導電性基
板(752)は接地電極(735)に固定して配されて
いるが、電力印加型11(736)に固定して配されて
もよく、ざらに双方に配されてもよい。
第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7面における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側に
は電極加熱器(837)が配されている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には電極加熱器(837)が配
されている。導電性基板(852)は、外部より駆動モ
ータ(854)を用いて自転可能となっている。
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7面における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側に
は電極加熱器(837)が配されている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には電極加熱器(837)が配
されている。導電性基板(852)は、外部より駆動モ
ータ(854)を用いて自転可能となっている。
感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
o−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの説、着を行なう。同
時に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配さ
れた導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板
には、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得る
ために、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷
発生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電
荷発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を
用いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1乃
至第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御
器を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調
節弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量
が安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周
波電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入する
。両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に固
相の膜が形成される。a−3i膜或はa−C膜は、原料
ガスを代える事により任意に形成可能である。放電を一
旦停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開
すれば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放
電を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異
なる組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能で
ある。
o−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの説、着を行なう。同
時に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配さ
れた導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板
には、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得る
ために、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷
発生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電
荷発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を
用いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1乃
至第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御
器を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調
節弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量
が安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周
波電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入する
。両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に固
相の膜が形成される。a−3i膜或はa−C膜は、原料
ガスを代える事により任意に形成可能である。放電を一
旦停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開
すれば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放
電を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異
なる組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能で
ある。
反応時間により膜厚を制御し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート暦が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空
。
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート暦が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空
。
を破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本
発明による感光体を得る。
発明による感光体を得る。
以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。
X旋勿1
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りアセチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス
、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/am2の下で第11.第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入させた。そして各流量制郊器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を180secm1アセチレン
ガスの流量を405 CCrn−、酸素ガスの流量を4
secms及び四弗化炭素ガスの流量が10105eと
なるように設定して、途中混合器(731)を介して、
主管(732)より反応室(733)内へ流入した。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
2.0Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、導電性基板(752)としては、H50
×横50X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め
250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した
状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続し
ておいた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極
(736)に200Wattの電力を周波数13.56
MHzの下で印加して約3時間プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜
を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加
を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に
排気した。
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りアセチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス
、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/am2の下で第11.第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入させた。そして各流量制郊器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を180secm1アセチレン
ガスの流量を405 CCrn−、酸素ガスの流量を4
secms及び四弗化炭素ガスの流量が10105eと
なるように設定して、途中混合器(731)を介して、
主管(732)より反応室(733)内へ流入した。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
2.0Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、導電性基板(752)としては、H50
×横50X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め
250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した
状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続し
ておいた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極
(736)に200Wattの電力を周波数13.56
MHzの下で印加して約3時間プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜
を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加
を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に
排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して2.0原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.1原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して2.0原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.1原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第5調節弁(711)、及び第6FI節弁(712)を
解放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タン
ク(705)から窒素ガス、及び第6タンク(706)
からシランガスを、出力圧IKg/am2の下で第1、
第5、及び第6流量制御II器(713,717、及び
718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710
)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで10
ppmに希釈されたホスフィンガスを、出力圧1゜5K
g/cm2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入
させた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量
を200secm、窒素ガスの流量を3secm、シラ
ンガスの流量を200secm、水素ガスで1100p
pに希釈されたホスフィンガスの流量を10105eに
設定し、反応室(733)内に流入きせた。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.9T
orrとなるように圧力調節弁(745)を?A整した
。一方、a −C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、寓周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に35Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生きせた。この放
電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得た
。
第5調節弁(711)、及び第6FI節弁(712)を
解放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タン
ク(705)から窒素ガス、及び第6タンク(706)
からシランガスを、出力圧IKg/am2の下で第1、
第5、及び第6流量制御II器(713,717、及び
718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710
)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで10
ppmに希釈されたホスフィンガスを、出力圧1゜5K
g/cm2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入
させた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量
を200secm、窒素ガスの流量を3secm、シラ
ンガスの流量を200secm、水素ガスで1100p
pに希釈されたホスフィンガスの流量を10105eに
設定し、反応室(733)内に流入きせた。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.9T
orrとなるように圧力調節弁(745)を?A整した
。一方、a −C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、寓周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に35Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生きせた。この放
電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得た
。
得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、燐原子は12原子ppm、
窒素原子は0.3原子%であった。
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、燐原子は12原子ppm、
窒素原子は0.3原子%であった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一720V (+960V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は47V/μm(63V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一720V (+960V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は47V/μm(63V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約24秒(約34
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は2.9ルツク
ス・秒(10,1ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約24秒(約34
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は2.9ルツク
ス・秒(10,1ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
として優れた性能を有するものである事が理解される。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
実光倒旦
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10””To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りエチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス及
び第4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各々出力
圧1゜0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を60SCCm、エチレンガスの流量
を60secm、酸素ガスの流量を4secm、及び四
塩化炭素ガスの流量が20secmとなるように設定し
て、途中混合器(731)を介して、主管(732)よ
り反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定し
た後に、反応室(733)内の圧力が2.○Torrと
なるように圧力調節弁(745)を調整した。
装置(733)の内部を10””To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りエチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス及
び第4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各々出力
圧1゜0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を60SCCm、エチレンガスの流量
を60secm、酸素ガスの流量を4secm、及び四
塩化炭素ガスの流量が20secmとなるように設定し
て、途中混合器(731)を介して、主管(732)よ
り反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定し
た後に、反応室(733)内の圧力が2.○Torrと
なるように圧力調節弁(745)を調整した。
一方、導電性基板(752)としては、樅50X横50
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め230℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(736
)に200 W allの電力を周波数13.56MH
zの下で印加して約3時開平プラズマ重合反応を行ない
、導電性基板(752)上に厚ざ15μmのa −C膜
を。
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め230℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(736
)に200 W allの電力を周波数13.56MH
zの下で印加して約3時開平プラズマ重合反応を行ない
、導電性基板(752)上に厚ざ15μmのa −C膜
を。
電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を
停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排
気した。
停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排
気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して42原子%、また、オージ
ェ分析より含有きれるハロゲン原子、即ち、塩素原子の
量は全構成原子に対して4.9原子%、さらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して42原子%、また、オージ
ェ分析より含有きれるハロゲン原子、即ち、塩素原子の
量は全構成原子に対して4.9原子%、さらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第5調節弁(711L及び第6調節弁(712)を解放
し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク(
705)から窒素ガス、及び第6タンク(706)から
シランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、第5
、及び第6流量制御器(713,717、及び718)
内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710)を解放
し、第4タンク(704)より水素ガスで1100pp
に希釈されたジボランガスを、出力圧1゜5Kg/am
2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入させた。
第5調節弁(711L及び第6調節弁(712)を解放
し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク(
705)から窒素ガス、及び第6タンク(706)から
シランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、第5
、及び第6流量制御器(713,717、及び718)
内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710)を解放
し、第4タンク(704)より水素ガスで1100pp
に希釈されたジボランガスを、出力圧1゜5Kg/am
2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入させた。
各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量を200
secm、窒素ガスの流量を0.01secm、シラン
ガスの流量を10○5 CCms水素ガスで1100p
pに希釈きれたジボランガスの流量を10105eとな
るように設定し、反応室(733)内に流入させた。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
0.8Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、a−C膜が形成されている導電性基板(
752)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧
力が安定した状態で、高周波電源(739)より周波数
13.56MHzの下で電力印加電極(736)に35
Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させた。こ
の放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を
得た。
secm、窒素ガスの流量を0.01secm、シラン
ガスの流量を10○5 CCms水素ガスで1100p
pに希釈きれたジボランガスの流量を10105eとな
るように設定し、反応室(733)内に流入させた。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
0.8Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、a−C膜が形成されている導電性基板(
752)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧
力が安定した状態で、高周波電源(739)より周波数
13.56MHzの下で電力印加電極(736)に35
Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させた。こ
の放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を
得た。
得られたa−Si膜につき、金x中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して25原子%、硼素原子は1o原子ppm
、窒素原子は0.001原子%であった。
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して25原子%、硼素原子は1o原子ppm
、窒素原子は0.001原子%であった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一610V(+600V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は40■/μm (39V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一610V(+600V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は40■/μm (39V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約15秒(約17
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰きせたとこる必要ときれた光量は1.5ルツク
ス・秒(1,4ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約15秒(約17
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰きせたとこる必要ときれた光量は1.5ルツク
ス・秒(1,4ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
として優れた性能を有するものである事が理解される。
また、この感光体に対して常用のカーシランプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
実施例旦
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,
709、及び710)を解放し、第1タンク(701)
より水素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/ c m 2の下で第1、第3、及び第
4流量制御器(713,715、及び716)内へ流入
させた。
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,
709、及び710)を解放し、第1タンク(701)
より水素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/ c m 2の下で第1、第3、及び第
4流量制御器(713,715、及び716)内へ流入
させた。
同時に、第1容器(719)よりスチレンガスを第1温
調器(722)温度35℃のもとで第7流量制祁器(7
28)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を6Osccmsスヂレンガス
の流量を303CCm。
調器(722)温度35℃のもとで第7流量制祁器(7
28)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を6Osccmsスヂレンガス
の流量を303CCm。
酸素ガスの流量を8secm、及び四弗化炭素ガスの流
量が30secmとなるように設定して、途中混合器(
731)を介して、主管(732)より反応室(733
)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室(
733)内の圧力が2゜0Torrとなるように圧力調
節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(752
)としては、樅50X横50X厚3mmのアルミニウム
基板を用いて、予め180℃に加熱しておき、ガス流量
及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッチ(7
44)により接続しておいた低周波電源(741)を投
入し、電力印加電極(736)に200Wattの電力
を周波数120KHzの下で印加して約45分間プラズ
マ重合反応を行ない、導電性基板(752)上に厚さ1
5μmのa−C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完
了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(7
33)内を充分に排気した。
量が30secmとなるように設定して、途中混合器(
731)を介して、主管(732)より反応室(733
)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室(
733)内の圧力が2゜0Torrとなるように圧力調
節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(752
)としては、樅50X横50X厚3mmのアルミニウム
基板を用いて、予め180℃に加熱しておき、ガス流量
及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッチ(7
44)により接続しておいた低周波電源(741)を投
入し、電力印加電極(736)に200Wattの電力
を周波数120KHzの下で印加して約45分間プラズ
マ重合反応を行ない、導電性基板(752)上に厚さ1
5μmのa−C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完
了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(7
33)内を充分に排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の1?!3量に対して48原子%、また、
オージェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素
原子の量は全構成原子に対して6.1原子%、ざらに、
酸素原子の量は全構成原子に対して2.3原子%であっ
た。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の1?!3量に対して48原子%、また、
オージェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素
原子の量は全構成原子に対して6.1原子%、ざらに、
酸素原子の量は全構成原子に対して2.3原子%であっ
た。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク
(705)からアンモニアガス、及び第6タンク(70
6)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第
1、第5、及び第6流量制御器(713,717、及び
718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710
)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで11
00ppに希釈されたジポランガスを、出力圧1.5K
g/am2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入
させた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量
を200secm、アンモニアガスの流量を2sccm
1シランガスの流量を101005e、水素ガスで11
00ppに希釈されたジボランガスの流量を10105
eに設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の
流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.
9Torrとなるように圧力調筋弁(745)を調整し
た。一方、a−C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、240℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に45Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚ざ0.3μmの電荷発生層を得た
。
第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク
(705)からアンモニアガス、及び第6タンク(70
6)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第
1、第5、及び第6流量制御器(713,717、及び
718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710
)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで11
00ppに希釈されたジポランガスを、出力圧1.5K
g/am2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入
させた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量
を200secm、アンモニアガスの流量を2sccm
1シランガスの流量を101005e、水素ガスで11
00ppに希釈されたジボランガスの流量を10105
eに設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の
流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.
9Torrとなるように圧力調筋弁(745)を調整し
た。一方、a−C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、240℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に45Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚ざ0.3μmの電荷発生層を得た
。
得られたa−Siffにつき、金属中ONH分析(板場
製作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及び
IMA分析を行なったところ、含有される水素原子は全
構成原子に対して21原子%、硼素原子は11原子P
pms窒素原子は0.3原子%であった。
製作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及び
IMA分析を行なったところ、含有される水素原子は全
構成原子に対して21原子%、硼素原子は11原子P
pms窒素原子は0.3原子%であった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時のトリ定値を括弧内に示すが、最
高帯電電位は一790V (+860V)で有り、即ち
、全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当
りの帯電能は52■/μm(56V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれ
た。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時のトリ定値を括弧内に示すが、最
高帯電電位は一790V (+860V)で有り、即ち
、全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当
りの帯電能は52■/μm(56V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれ
た。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで陪′ft衰するのに要した時間は約19秒(約
21秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有
する事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電し
た後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位
にまで明減衰させたところ必要とされた光量は2.4ル
ツクス・秒(1,5ルツクス・秒)であり、このことか
ら充分な光感度性能を有する事が理解きれた。
位にまで陪′ft衰するのに要した時間は約19秒(約
21秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有
する事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電し
た後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位
にまで明減衰させたところ必要とされた光量は2.4ル
ツクス・秒(1,5ルツクス・秒)であり、このことか
ら充分な光感度性能を有する事が理解きれた。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
として優れた性能を有するものである事が理解される。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画偉が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画偉が得られた
。
X旅遡丘
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電R輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電R輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程;
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りブタジェンガス、第3タンク(703)より二酸化炭
素ガス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガス
を各々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第
3、及び第4流量制御器(713,714,715、及
び716)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛
を:A整して、水素ガスの流量を60sccm、ブタジ
ェンガスの流量を60secm、二酸化炭素ガスの流量
を12secm、及び四弗化炭素ガスの流量が160s
ecmとなるように設定して、途中混合器(731)を
介して、主管(732)より反応室(733)内へ流入
した。
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りブタジェンガス、第3タンク(703)より二酸化炭
素ガス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガス
を各々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第
3、及び第4流量制御器(713,714,715、及
び716)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛
を:A整して、水素ガスの流量を60sccm、ブタジ
ェンガスの流量を60secm、二酸化炭素ガスの流量
を12secm、及び四弗化炭素ガスの流量が160s
ecmとなるように設定して、途中混合器(731)を
介して、主管(732)より反応室(733)内へ流入
した。
各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.6Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、樅5
0X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に130Wattの電力を周波数1385
6MHzの下で印加して約1時間半プラズマ重合反応を
行ない、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa−
C膜を電荷輸送層として形成した。
が1.6Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、樅5
0X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に130Wattの電力を周波数1385
6MHzの下で印加して約1時間半プラズマ重合反応を
行ない、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa−
C膜を電荷輸送層として形成した。
成膜完了後は、電力G】加を停止し、調節弁を閉じ、反
応室(733)内を充分に排気した。
応室(733)内を充分に排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して21.O原子%、さらに、酸素
原子の量は全構成原子に対して2.0原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して21.O原子%、さらに、酸素
原子の量は全構成原子に対して2.0原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク
(705)から窒素ガス、及び第6タンク(706)か
らシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、第
5、及び第6流旦制祁器(713,717、及び718
)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710)を解
放し、第4タンク(704)より水素ガスでl100p
pに希釈されたジボランガスを、出力圧1゜5Kg/c
m2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入させた
。各流量制御器の目盛をFJEJ整して水素ガスの流量
を200secm、窒素ガスの流量を10105e、シ
ランガスの流量を100sCCm %水素ガスで110
0ppに希釈されたジボランガスの流量を1105CC
に設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流
量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8
Torrとなるように圧力調筋弁(745)を調整した
。一方、a −C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に40Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得た
。
第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第5タンク
(705)から窒素ガス、及び第6タンク(706)か
らシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、第
5、及び第6流旦制祁器(713,717、及び718
)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710)を解
放し、第4タンク(704)より水素ガスでl100p
pに希釈されたジボランガスを、出力圧1゜5Kg/c
m2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入させた
。各流量制御器の目盛をFJEJ整して水素ガスの流量
を200secm、窒素ガスの流量を10105e、シ
ランガスの流量を100sCCm %水素ガスで110
0ppに希釈されたジボランガスの流量を1105CC
に設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流
量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8
Torrとなるように圧力調筋弁(745)を調整した
。一方、a −C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に40Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得た
。
得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して24原子%、硼素原子は10原子ppm
、窒素原子は1.0原子%であった。
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して24原子%、硼素原子は10原子ppm
、窒素原子は1.0原子%であった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一400V (+460V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は26■/μm (30V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一400V (+460V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は26■/μm (30V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約7秒(約6秒)
であり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が
理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白
色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明
減衰させたとこる必要とされた光量は8.8ルツクス・
秒(5゜2ルツクス・秒)であり、このことから充分な
光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約7秒(約6秒)
であり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が
理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白
色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明
減衰させたとこる必要とされた光量は8.8ルツクス・
秒(5゜2ルツクス・秒)であり、このことから充分な
光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
として優れた性能を有するものである事が理解される。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
衷施倒互
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジインガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制罪器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を180sCcm、ブタジインガスの
流量を40secm−酸素ガスの流量を4secm、及
び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設
定して、途中混合器(731)を介して、主管(732
)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、導電性基板(752)としては、!50×横50×厚
3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め
接続還択スイッチ(744)により接続しておいた低周
波電源(741)を投入し、電力印加電極(736)に
200Wattの電力を周波数600KHzの下で印加
して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基板
(752)上に厚さ15μmのa−C膜を電荷輸送層と
して形成した。成膜完了役は、電力印加を停止し、調節
弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジインガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制罪器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を180sCcm、ブタジインガスの
流量を40secm−酸素ガスの流量を4secm、及
び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設
定して、途中混合器(731)を介して、主管(732
)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、導電性基板(752)としては、!50×横50×厚
3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め
接続還択スイッチ(744)により接続しておいた低周
波電源(741)を投入し、電力印加電極(736)に
200Wattの電力を周波数600KHzの下で印加
して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基板
(752)上に厚さ15μmのa−C膜を電荷輸送層と
して形成した。成膜完了役は、電力印加を停止し、調節
弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有きれる水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して40原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して4.1原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.8原子%であった。
析を行なったところ、含有きれる水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して40原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して4.1原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.8原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第3調節弁(709)、第5調箇弁(711)、及び第
6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)か
ら水素ガス、第3タンク(703)から四弗化シランガ
ス、第5タンク(705)から窒素ガス、及び第6タン
ク(706)からシランガスを、出力圧IKg/am2
の下で第1、第3、第5、及び第6流量制御器(713
,715,717、及び718)内へ流入させた。同時
に、第4調筋弁(710)を解放し、第4タンク(70
4)より水素ガスで1100ppに希釈されたジボラン
ガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制御
器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の目盛を
調整して水素ガスの流量を200secms四弗化シラ
ンガスの流量を50secm、窒素ガスの流量をlsc
cm1シランガスの流量を50secm、水素ガスで1
100ppに希釈されたジボランガスの流量を1010
05eとなるように設定し、反応室(733)内に流入
させた。各々の流量が安定した後に、反応室(733)
内の圧力が0.9TOrrとなるように圧力調筋弁(7
45)を調整した。一方、a −C膜が形成されている
導電性基板(752)は、250℃に加熱しておき、ガ
ス流量及び圧力が安定した状態で、高周波電源(739
)より周波数13.56MHzの下で電力印加電極(7
36)に35Wattの電力を印加し、グロー放電を発
生させた。この放電を5分間行ない、厚ざ0.3μmの
電荷発生層を得た。
第3調節弁(709)、第5調箇弁(711)、及び第
6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)か
ら水素ガス、第3タンク(703)から四弗化シランガ
ス、第5タンク(705)から窒素ガス、及び第6タン
ク(706)からシランガスを、出力圧IKg/am2
の下で第1、第3、第5、及び第6流量制御器(713
,715,717、及び718)内へ流入させた。同時
に、第4調筋弁(710)を解放し、第4タンク(70
4)より水素ガスで1100ppに希釈されたジボラン
ガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制御
器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の目盛を
調整して水素ガスの流量を200secms四弗化シラ
ンガスの流量を50secm、窒素ガスの流量をlsc
cm1シランガスの流量を50secm、水素ガスで1
100ppに希釈されたジボランガスの流量を1010
05eとなるように設定し、反応室(733)内に流入
させた。各々の流量が安定した後に、反応室(733)
内の圧力が0.9TOrrとなるように圧力調筋弁(7
45)を調整した。一方、a −C膜が形成されている
導電性基板(752)は、250℃に加熱しておき、ガ
ス流量及び圧力が安定した状態で、高周波電源(739
)より周波数13.56MHzの下で電力印加電極(7
36)に35Wattの電力を印加し、グロー放電を発
生させた。この放電を5分間行ない、厚ざ0.3μmの
電荷発生層を得た。
得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は95原子ppm
、弗素原子は5原子%、窒素原子は0.1原子%であっ
た。
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は95原子ppm
、弗素原子は5原子%、窒素原子は0.1原子%であっ
た。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一760V (+730V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は49■/μm(48V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一760V (+730V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は49■/μm(48V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約16秒(約15
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は4.1ルツク
ス・秒(3,3ルツクス・秒)であり、このことがら充
分な光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約16秒(約15
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は4.1ルツク
ス・秒(3,3ルツクス・秒)であり、このことがら充
分な光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 、第1図 第2図 第4図 第6図 手続補正書 昭和62年10月21日
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 、第1図 第2図 第4図 第6図 手続補正書 昭和62年10月21日
Claims (1)
- 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層は少なくとも酸素原子とハロゲン
原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜で
あり、かつ、該電荷発生層は窒素原子を含有すると共に
燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してな
る水素化アモルファスシリコン膜或は窒素原子を含有す
ると共に燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含
有してなる弗素化アモルファスシリコン膜であることを
特徴とする感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22942286A JPS6382450A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | 感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22942286A JPS6382450A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | 感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6382450A true JPS6382450A (ja) | 1988-04-13 |
Family
ID=16891977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22942286A Pending JPS6382450A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | 感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6382450A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006263709A (ja) * | 2005-02-23 | 2006-10-05 | Asahi Sunac Corp | 塗装用エアスプレイ装置 |
-
1986
- 1986-09-26 JP JP22942286A patent/JPS6382450A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006263709A (ja) * | 2005-02-23 | 2006-10-05 | Asahi Sunac Corp | 塗装用エアスプレイ装置 |
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