JPS6382436A - 感光体 - Google Patents
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- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
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- G03G5/043—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure
- G03G5/0433—Photoconductive layers characterised by having two or more layers or characterised by their composite structure all layers being inorganic
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
属菌上9皿里分野
本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
関する。
従米遠街
カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、′トリフェニルアミン化合物、ヒ
ドラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、
オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有
機物質が挙げられる。また、その構成形態としては、こ
れらの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散
させて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と
電荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、′トリフェニルアミン化合物、ヒ
ドラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、
オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有
機物質が挙げられる。また、その構成形態としては、こ
れらの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散
させて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と
電荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があった。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、PA像、転写、
除電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合において
も、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述
した有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能
面での不安定要素が多かった。
にはそれぞれ欠点があった。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、PA像、転写、
除電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合において
も、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述
した有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能
面での不安定要素が多かった。
このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
んで来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。さらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
んで来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。さらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能ざえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用しそいたため発生してい
たこれらの間芯点を解決すべく成されたものである。
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能ざえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用しそいたため発生してい
たこれらの間芯点を解決すべく成されたものである。
即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成される燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコン膜を設けた事を特
徴とする機能分離型感光体に関する。該電荷輸送層は、
可視光もしくは半導体レーザー光付近の波長の光に対し
ては明確なる光導電性は有ざないが、好適な輸送性を有
し、ざらに、帯電能、耐久性、耐候性、耐環境汚染性等
の電子写真感光体性能に優れ、しかも透光性にも優れる
ため、438能分離型感光体としての積層構造を形成す
る場合においても(]めで高い自由度が得られるもので
ある。また、該電荷発生層は、可視光もしくは半導体レ
ーザー光付近の波長の光に対して優れた光導電性を有し
、しかも従来のアモルファスシリコン感光体に比べて極
めて薄い膜厚で、その機能を活かす事ができるものであ
る。
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成される燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコン膜を設けた事を特
徴とする機能分離型感光体に関する。該電荷輸送層は、
可視光もしくは半導体レーザー光付近の波長の光に対し
ては明確なる光導電性は有ざないが、好適な輸送性を有
し、ざらに、帯電能、耐久性、耐候性、耐環境汚染性等
の電子写真感光体性能に優れ、しかも透光性にも優れる
ため、438能分離型感光体としての積層構造を形成す
る場合においても(]めで高い自由度が得られるもので
ある。また、該電荷発生層は、可視光もしくは半導体レ
ーザー光付近の波長の光に対して優れた光導電性を有し
、しかも従来のアモルファスシリコン感光体に比べて極
めて薄い膜厚で、その機能を活かす事ができるものであ
る。
ところでアモルファスカーボン膜自体は、プラズマ有機
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
Be1l)により、1973年発行ののジャーナル・オ
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l of Applied Palym、er
5cience)第17巻の第885頁乃至第892
頁において、あらゆる有機化合物のガスから作製され得
る事が、また、同著者により、1979年のアメリカン
ケミカルソサエティー(American Chem
icalSociety)発行によるプラズマボリマラ
イゼーション(Plasma Polymeriza
tion)の中でもその成膜性が論じられている。
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l of Applied Palym、er
5cience)第17巻の第885頁乃至第892
頁において、あらゆる有機化合物のガスから作製され得
る事が、また、同著者により、1979年のアメリカン
ケミカルソサエティー(American Chem
icalSociety)発行によるプラズマボリマラ
イゼーション(Plasma Polymeriza
tion)の中でもその成膜性が論じられている。
しかしながら従来の方法で作製しt:プラズマ有機重合
膜は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそ
れらの膜は通常のポリエチレン膜の如く1016Ωcm
程度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なく
ともそのような股であるとの認識のもとに用いられてい
た。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識
から、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層
に限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバ
ーコート層としてしか用いられていなかった。
膜は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそ
れらの膜は通常のポリエチレン膜の如く1016Ωcm
程度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なく
ともそのような股であるとの認識のもとに用いられてい
た。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識
から、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層
に限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバ
ーコート層としてしか用いられていなかった。
例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合されたM
4百構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファ
スシリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭
59−38753号公報には、基板上にブロッキング層
及び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから
生成される1013〜10”ΩCmの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せ−しめた感光体が開示されている
。特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とそ
の上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善
するために、接着層として200人〜2μmのダイヤモ
ンド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示され、残留電
荷の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合されたM
4百構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファ
スシリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭
59−38753号公報には、基板上にブロッキング層
及び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから
生成される1013〜10”ΩCmの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せ−しめた感光体が開示されている
。特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とそ
の上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善
するために、接着層として200人〜2μmのダイヤモ
ンド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示され、残留電
荷の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−St
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−St
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
また、例えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水累
モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成き
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水累
モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成き
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
特開昭60−249115号公報には、0.05〜5μ
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オニバーコー
ド層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−3iの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
ド層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−3iの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンバ(P。
、E、5pear)及びレコンバ(P。
G、LeComber)により1976年発行のフィロ
ソフィカル・マガジン(Philosophical
Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性制御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
357号公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57 17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−1744.50号公報、等に、炭素
原子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示され
ているが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭
素原子により調整する事を目的としたものであり、また
、アモルファスシリコン自体の厚い膜を必要としている
。
ソフィカル・マガジン(Philosophical
Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性制御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
357号公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57 17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−1744.50号公報、等に、炭素
原子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示され
ているが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭
素原子により調整する事を目的としたものであり、また
、アモルファスシリコン自体の厚い膜を必要としている
。
が解決しようとする間県
以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が酸素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化
或は弗素化アモルファスシリコン膜との積層においては
電荷輸送性を有し、容易に好適な電子写真特性を示し始
める事を見出した。その理論的解釈には本発明者におい
ても不明確な点が多く詳細に互り言及はできないが、酸
素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素化アモルフ
ァスカーボン膜中に捕捉されている比較的不安定なエネ
ルギー状態の電子、例えばπ電子、不対電子、残存フリ
ーラジカル等が形成するバンド構造が、燐原子及び硼素
原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化或は弗
素化アモルファスシリコン、模か形成するバンド構造と
電導帯もしくは荷電子帯において近似したエネルギー準
位を有するため、燐原子及び硼二原子のうち少なくとも
一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリ
コン膜中で発生したキャリアが容易に酸素原子とハロゲ
ン原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜
中へ注入され、ざらに、このキャリアは前述の比較的不
安定なエネルギー状態の電子の作用により酸素原子とハ
ロゲン原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボ
ン膜中を好適に走行し得るためと推定される。
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が酸素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化
或は弗素化アモルファスシリコン膜との積層においては
電荷輸送性を有し、容易に好適な電子写真特性を示し始
める事を見出した。その理論的解釈には本発明者におい
ても不明確な点が多く詳細に互り言及はできないが、酸
素原子とハロゲン原子とを含有してなる水素化アモルフ
ァスカーボン膜中に捕捉されている比較的不安定なエネ
ルギー状態の電子、例えばπ電子、不対電子、残存フリ
ーラジカル等が形成するバンド構造が、燐原子及び硼素
原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化或は弗
素化アモルファスシリコン、模か形成するバンド構造と
電導帯もしくは荷電子帯において近似したエネルギー準
位を有するため、燐原子及び硼二原子のうち少なくとも
一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリ
コン膜中で発生したキャリアが容易に酸素原子とハロゲ
ン原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜
中へ注入され、ざらに、このキャリアは前述の比較的不
安定なエネルギー状態の電子の作用により酸素原子とハ
ロゲン原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボ
ン膜中を好適に走行し得るためと推定される。
本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特に酸素原子とハロゲン原子と
を含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷輸
送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち少
なくとも一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルフ
ァスシリコンの薄膜を電荷発生層として使用した感光体
を提供する事を目的とする。
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特に酸素原子とハロゲン原子と
を含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷輸
送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち少
なくとも一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルフ
ァスシリコンの薄膜を電荷発生層として使用した感光体
を提供する事を目的とする。
1号題点を解決するための・−段
即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルファ
スシリコン膜であることを特徴とする感光体に関する(
以下、本発明による電荷輸送層をa−C膜及び電荷発生
層をa−Si膜と称する)。
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有してなる水素化或は弗素化アモルファ
スシリコン膜であることを特徴とする感光体に関する(
以下、本発明による電荷輸送層をa−C膜及び電荷発生
層をa−Si膜と称する)。
本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能きえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能きえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じ(グロー放電により生成きれる燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水
素化或は弗景化アモルファスシリコン膜を設けた事を特
徴とする機能分離型感光体に関する。該電荷輸送層は、
可視光もしくは半導体レーザー光付近の波長の光に対し
ては明確なる光導電性は有さないが、好適な輸送性を有
し、ざらに、帯電能、耐久性、耐候性、耐環境汚染性等
の電子写真感光体性能にぼれ、しかも透光性にも優れる
ため、機能分離型感光体としての積層構造を形成する場
合においても極めて高い自由度が得られるものである。
成される少なくとも酸素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じ(グロー放電により生成きれる燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してなる水
素化或は弗景化アモルファスシリコン膜を設けた事を特
徴とする機能分離型感光体に関する。該電荷輸送層は、
可視光もしくは半導体レーザー光付近の波長の光に対し
ては明確なる光導電性は有さないが、好適な輸送性を有
し、ざらに、帯電能、耐久性、耐候性、耐環境汚染性等
の電子写真感光体性能にぼれ、しかも透光性にも優れる
ため、機能分離型感光体としての積層構造を形成する場
合においても極めて高い自由度が得られるものである。
また、該電荷発生層は、可視光もしくは半導体レーザー
光付近の波長の光に対して優れた光導電性を有し、しか
も従来のアモルファスシリコン感光体に比べて極めて薄
い膜厚で、その機能を活かす事ができるものである。
光付近の波長の光に対して優れた光導電性を有し、しか
も従来のアモルファスシリコン感光体に比べて極めて薄
い膜厚で、その機能を活かす事ができるものである。
本発明においては、a −C膜を形成するために有機化
合物ガス、特に炭化水嚢ガスが用いられる。
合物ガス、特に炭化水嚢ガスが用いられる。
該炭化水素における相状態は常温常圧において必ずしも
気相である必要しよなく、加熱或は渥圧等により溶融、
蒸発、昇華等を経て気化しうるちのであれば、液相でも
固相でも使用可能である。
気相である必要しよなく、加熱或は渥圧等により溶融、
蒸発、昇華等を経て気化しうるちのであれば、液相でも
固相でも使用可能である。
使用可能な炭化水素には種類が多いが、飽和炭化水素と
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デ
カン、ウンテ゛カン、トチ°カン、トリデカン、テトラ
デカン、ペンタデカン、ヘキサデカン、ヘプタデカン、
オクタデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコサ
ン、トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコサ
ン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノナ
コサン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペンタト
リアコンタン、等のノルマルパラフィン並びに、イソブ
タン、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン、ネ
オヘキサン、2.3−ジメチルブタン、2−メチルヘキ
サン、3−エチルペンタン、2.2−ジメチルペンタン
、2.4−ジメチルペンタン、3.3−ジメチルペンタ
ン、トリブタン、2−メヂルJ\ブタン、3−メチルへ
ブタン、2.2−ジメチルヘキサン、2+2+5−ジメ
チルへキサシ、2.2.3−)ジメチルペンタン、2,
2.4−トリメチルペンタン、2.3゜3−トリメチル
ペンタン、2.3.4−トリメチルペンタン、イソナノ
ン、等のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭化
水素としては、例えば、エチレン、プロピレン、イソブ
チレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、2−
ペンテン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−
ブテン、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、テト
ラメチルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、1−
ノネン、1−デセン、等のオレフィン、並びに、アレン
、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキサジ
エン、シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並びに
、オシメン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリエン
、等のトリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタジイ
ン、1゜3−ペンタジイン、2.4−へキサジイン、メ
チルアセチレン、l−ブチン、2−ブチン、1−ペンチ
ン、1−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクテン、1−
ノニン、1−デシン、等が用いられる。
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デ
カン、ウンテ゛カン、トチ°カン、トリデカン、テトラ
デカン、ペンタデカン、ヘキサデカン、ヘプタデカン、
オクタデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコサ
ン、トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコサ
ン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノナ
コサン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペンタト
リアコンタン、等のノルマルパラフィン並びに、イソブ
タン、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン、ネ
オヘキサン、2.3−ジメチルブタン、2−メチルヘキ
サン、3−エチルペンタン、2.2−ジメチルペンタン
、2.4−ジメチルペンタン、3.3−ジメチルペンタ
ン、トリブタン、2−メヂルJ\ブタン、3−メチルへ
ブタン、2.2−ジメチルヘキサン、2+2+5−ジメ
チルへキサシ、2.2.3−)ジメチルペンタン、2,
2.4−トリメチルペンタン、2.3゜3−トリメチル
ペンタン、2.3.4−トリメチルペンタン、イソナノ
ン、等のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭化
水素としては、例えば、エチレン、プロピレン、イソブ
チレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、2−
ペンテン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−
ブテン、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、テト
ラメチルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、1−
ノネン、1−デセン、等のオレフィン、並びに、アレン
、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキサジ
エン、シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並びに
、オシメン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリエン
、等のトリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタジイ
ン、1゜3−ペンタジイン、2.4−へキサジイン、メ
チルアセチレン、l−ブチン、2−ブチン、1−ペンチ
ン、1−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクテン、1−
ノニン、1−デシン、等が用いられる。
脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ピサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルブ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメリテン、プソイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スヂレン、ビフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、メチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ピサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルブ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメリテン、プソイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スヂレン、ビフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、メチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
さらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
本発明におけるa −C膜中に含よれる水素原子の里は
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を高くする
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を高くする
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0μm1特に7乃至20μmが適当であり、5μmより
薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度を得る
事ができない。また、50LLmより厚いと、生産性の
面で好ましくない。
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0μm1特に7乃至20μmが適当であり、5μmより
薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度を得る
事ができない。また、50LLmより厚いと、生産性の
面で好ましくない。
このa−C膜は、高透光性、高暗抵抗を有するとともに
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
本発明における原料気体からa −C膜を形成する過程
としては、原料気体が、直流、低周波、高周波、或はマ
・イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラ
ズマ状態を経て形成される方法が最も好ましいが、その
他にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等に
より生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、
真空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される
中性粒子から形成されてもよいし、ざらには、これらの
組み合わせにより形成きれてもよい。
としては、原料気体が、直流、低周波、高周波、或はマ
・イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラ
ズマ状態を経て形成される方法が最も好ましいが、その
他にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等に
より生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、
真空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される
中性粒子から形成されてもよいし、ざらには、これらの
組み合わせにより形成きれてもよい。
本発明においては炭化水素の他に、a −CP、中に少
なくとも酸素原子を添加するために酸素化合物が使用さ
れる。該酸素化合物における相状態は常温常圧において
必ずしも気相である必要はなく、加熱或は減圧等により
溶融、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液
相でも固相でも使用可能である。酸素化合物としては、
例えば、酸素、オゾン、水蒸気、−酸化炭素、二酸化炭
素、亜酸化炭素、等の無機化合物、水酸基(−OH)
、アルデヒド基(−COH) 、アシル基(RC〇−1
−CRo)、ケトン基(>Co)、エーテル結合(−〇
−)、エステル結合(−COO−)、酸素を含む複素環
、等の官能基或は結合を有する有機化合物、等が用いら
れる。水酸基を有する有機化合物としては、例えば、メ
タノール、エタノール、プロパツール、ブタノール、フ
リルアルコール、フルオロエタノール、フルオロブタノ
ール、フェノール、シクロヘキサノール、ベンジルアル
コール、フルフリルアルコール、等が用いられる。アル
デヒド基を有する有機化合物としては、例えば、ホルム
アルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオアルデヒド、
ブチルアルデヒド、グリオキサール、アクロレイン、ベ
ンズアルデヒド、フルフラール、等が用いられる。アシ
ル基を有する有機化合物としては、例えば、ギ酸、酢酸
、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、バルミチン酸、ステア
リン酸、オレイン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、
安息香酸、トルイル酸、サリチル酸、ケイヒ酸、ナフト
エ酸、フタル酸、フラン酸、等が用いられる。ケトン基
を有する有機化合物としては、例えば、アセトン、エチ
ルメチルケトン、メチルプロピルケトン、ブチルメチル
ケトン、ビナコロン、ジエチルケトン、メチルビニルケ
トン、メジデルオキシド、メチルへブテノン、シクロブ
クノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、アセト
フェノン、プロピオフェノン、ブヂロフエノン、バレロ
フエノン、ジベンジルケトン、アセトナフトン、アセト
チェノン、アセトフロン、等が用いられる。ニーデル結
合を有する有機化合物としては、例えば、メチルエーテ
ル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ブチルエーテ
ル、アミルエーテル、エチルメチルエーテル、メチルプ
ロピルエーテル、メチルアミルエーテル、メチルアミル
エーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブチルエー
テル、エチルアミルエーテル、ビニルエーテル、フリル
エーテル、メチルビニルエーテル、メチルフリルエーテ
ル、エチルビニルエーテル、エチルフリルエーテル、ア
ニソール、フエネトール、フェニルエーテル、ベンジル
エーテル、フェニルベンジルエーテル、ナフチルエーテ
ル、酸化エチレン、酸化プロピレン、酸化トリメチレン
、テトラヒドロフラン、テトラヒドロビラン、ジオキサ
ン、等が用いられる。エステル結合を有する有機化合物
としては、例えば、ギ酸メヂル、ギ酸エチル、ギ酸プロ
ピル、ギ酌ブチル、ギ酸アミル、酢酸メチル、酢酸エチ
ル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、プロピオ
ン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロピ
ル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸アミル、酪酸メ
チル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、rn酸
アミル、吉草酸メチル、吉草酸エチル、吉草酸プロピル
、吉草酸ブチル、吉草酸アミル、安息香酸メチル、安息
香酸エチル、ケイ皮酸メヂル、ケイ皮酸エチル、ケイ皮
酸プロピル、サリチル酸メチル、サリチル酸アミル、サ
リチル酸プロピル、サリチル酸ブチル、サリチル酸アミ
ル、アントラニル酸メチル、アントラニル酸エチル、ア
ントラニル酸ブチル、アントラニル酸アミル、フタル酸
メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、等が用いら
れる。酸素を含む複素環化合物としては、フラン、オキ
サゾール、フラザン、ビラン、オキサジン、モルホリン
、ベンゾフラン、パンジオキサゾール、クロメン、クロ
マン、ジベンゾフラン、キザンテン、フェノキサジン、
オキソラン、ジオキソラン、λキサチオラン、オキサジ
アジン、ベンゾイソオキサゾール、等が用いられる。
なくとも酸素原子を添加するために酸素化合物が使用さ
れる。該酸素化合物における相状態は常温常圧において
必ずしも気相である必要はなく、加熱或は減圧等により
溶融、蒸発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液
相でも固相でも使用可能である。酸素化合物としては、
例えば、酸素、オゾン、水蒸気、−酸化炭素、二酸化炭
素、亜酸化炭素、等の無機化合物、水酸基(−OH)
、アルデヒド基(−COH) 、アシル基(RC〇−1
−CRo)、ケトン基(>Co)、エーテル結合(−〇
−)、エステル結合(−COO−)、酸素を含む複素環
、等の官能基或は結合を有する有機化合物、等が用いら
れる。水酸基を有する有機化合物としては、例えば、メ
タノール、エタノール、プロパツール、ブタノール、フ
リルアルコール、フルオロエタノール、フルオロブタノ
ール、フェノール、シクロヘキサノール、ベンジルアル
コール、フルフリルアルコール、等が用いられる。アル
デヒド基を有する有機化合物としては、例えば、ホルム
アルデヒド、アセトアルデヒド、プロピオアルデヒド、
ブチルアルデヒド、グリオキサール、アクロレイン、ベ
ンズアルデヒド、フルフラール、等が用いられる。アシ
ル基を有する有機化合物としては、例えば、ギ酸、酢酸
、プロピオン酸、酪酸、吉草酸、バルミチン酸、ステア
リン酸、オレイン酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、
安息香酸、トルイル酸、サリチル酸、ケイヒ酸、ナフト
エ酸、フタル酸、フラン酸、等が用いられる。ケトン基
を有する有機化合物としては、例えば、アセトン、エチ
ルメチルケトン、メチルプロピルケトン、ブチルメチル
ケトン、ビナコロン、ジエチルケトン、メチルビニルケ
トン、メジデルオキシド、メチルへブテノン、シクロブ
クノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、アセト
フェノン、プロピオフェノン、ブヂロフエノン、バレロ
フエノン、ジベンジルケトン、アセトナフトン、アセト
チェノン、アセトフロン、等が用いられる。ニーデル結
合を有する有機化合物としては、例えば、メチルエーテ
ル、エチルエーテル、プロピルエーテル、ブチルエーテ
ル、アミルエーテル、エチルメチルエーテル、メチルプ
ロピルエーテル、メチルアミルエーテル、メチルアミル
エーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブチルエー
テル、エチルアミルエーテル、ビニルエーテル、フリル
エーテル、メチルビニルエーテル、メチルフリルエーテ
ル、エチルビニルエーテル、エチルフリルエーテル、ア
ニソール、フエネトール、フェニルエーテル、ベンジル
エーテル、フェニルベンジルエーテル、ナフチルエーテ
ル、酸化エチレン、酸化プロピレン、酸化トリメチレン
、テトラヒドロフラン、テトラヒドロビラン、ジオキサ
ン、等が用いられる。エステル結合を有する有機化合物
としては、例えば、ギ酸メヂル、ギ酸エチル、ギ酸プロ
ピル、ギ酌ブチル、ギ酸アミル、酢酸メチル、酢酸エチ
ル、酢酸プロピル、酢酸ブチル、酢酸アミル、プロピオ
ン酸メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸プロピ
ル、プロピオン酸ブチル、プロピオン酸アミル、酪酸メ
チル、酪酸エチル、酪酸プロピル、酪酸ブチル、rn酸
アミル、吉草酸メチル、吉草酸エチル、吉草酸プロピル
、吉草酸ブチル、吉草酸アミル、安息香酸メチル、安息
香酸エチル、ケイ皮酸メヂル、ケイ皮酸エチル、ケイ皮
酸プロピル、サリチル酸メチル、サリチル酸アミル、サ
リチル酸プロピル、サリチル酸ブチル、サリチル酸アミ
ル、アントラニル酸メチル、アントラニル酸エチル、ア
ントラニル酸ブチル、アントラニル酸アミル、フタル酸
メチル、フタル酸エチル、フタル酸ブチル、等が用いら
れる。酸素を含む複素環化合物としては、フラン、オキ
サゾール、フラザン、ビラン、オキサジン、モルホリン
、ベンゾフラン、パンジオキサゾール、クロメン、クロ
マン、ジベンゾフラン、キザンテン、フェノキサジン、
オキソラン、ジオキソラン、λキサチオラン、オキサジ
アジン、ベンゾイソオキサゾール、等が用いられる。
本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、金溝成原子に対して7.0原子%以下である
。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、例
えばオージェ分析により知る事ができる。酸素原子の量
が7.0原子%より高い場合には、少量の添加では好適
な輸送性を保証していた酸素原子が、逆に膜の低抵抗化
を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。また、酸素
源ガスの一部のもの、例えば、酸素ガス、オゾンガス、
−酸化炭素ガス等においては、エツチング効果が強く現
れ、その流量を増やす事により酸素原子の膜中への添加
量を増加させようとすると、成膜速度が低下し、ある程
度の膜厚が必要とされる電荷輸送層の成膜においては不
都合となる。従って、本発明における酸素原子添加量の
範囲は重要である。
子の量は、金溝成原子に対して7.0原子%以下である
。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、例
えばオージェ分析により知る事ができる。酸素原子の量
が7.0原子%より高い場合には、少量の添加では好適
な輸送性を保証していた酸素原子が、逆に膜の低抵抗化
を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。また、酸素
源ガスの一部のもの、例えば、酸素ガス、オゾンガス、
−酸化炭素ガス等においては、エツチング効果が強く現
れ、その流量を増やす事により酸素原子の膜中への添加
量を増加させようとすると、成膜速度が低下し、ある程
度の膜厚が必要とされる電荷輸送層の成膜においては不
都合となる。従って、本発明における酸素原子添加量の
範囲は重要である。
本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の酸素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。酸素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa −C膜中への酸素原子の添加量を高く
することが可能であり、逆に酸素化合物の導入量を減少
させれば、本発明によるa −C膜中への酸素原子の添
加量を低くすることが可能である。
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の酸素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。酸素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa −C膜中への酸素原子の添加量を高く
することが可能であり、逆に酸素化合物の導入量を減少
させれば、本発明によるa −C膜中への酸素原子の添
加量を低くすることが可能である。
本発明においては炭化水素の他に、a −C1f4中に
少なくともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合
物が使用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、
塩素原子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン
化合物における相状態は常温常圧において必ずしも気オ
目である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発
、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固相
でも使用可能である。ハロゲン化合物としては、例えば
、弗素、塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化
臭素、弗化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化
水素、臭化沃素、沃化水嚢、等の無機化合物、ハロゲン
化アルキル、ハロゲン化アリール、ハロゲ化スチレン、
ハロゲン化ポリメチレン、へロホルム、等の有機化合物
が用いられる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、
フッ化メチル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル
、フッ化エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチ
ル、フッ化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨ
ウ化プロピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル
、ヨウ化ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミ
ル、ヨウ化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭
化ヘキシル、ヨウ化ヘキシル、フッ化へブチル、塩化へ
ブチル、臭化へブチル、ヨウ化ヘプチル、フッ化オクチ
ル、塩化オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フ
ッ化ノニル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、
フッ化デシル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル
、等が用いられる。ハロゲン化アリールとしては、例え
ば、フルオルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼ
ン、ヨードベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン
、りaルナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられ
る。ハロゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチ
レン、ブロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチ
レン、等が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとして
は、例えば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メヂ
レン、塩化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、
塩化トリメチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチ
レン、ジ塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、
ジシランガス、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ
塩化ヘキサン、ジ臭化ヘキサン、ショウ化ヘキサン、ジ
塩化へブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ
塩化オクタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ
塩化ノナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デ
カン、等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、
フルオロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨード
ホルム、等が用いられる。
少なくともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合
物が使用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、
塩素原子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン
化合物における相状態は常温常圧において必ずしも気オ
目である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発
、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固相
でも使用可能である。ハロゲン化合物としては、例えば
、弗素、塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化
臭素、弗化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化
水素、臭化沃素、沃化水嚢、等の無機化合物、ハロゲン
化アルキル、ハロゲン化アリール、ハロゲ化スチレン、
ハロゲン化ポリメチレン、へロホルム、等の有機化合物
が用いられる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、
フッ化メチル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル
、フッ化エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチ
ル、フッ化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨ
ウ化プロピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル
、ヨウ化ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミ
ル、ヨウ化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭
化ヘキシル、ヨウ化ヘキシル、フッ化へブチル、塩化へ
ブチル、臭化へブチル、ヨウ化ヘプチル、フッ化オクチ
ル、塩化オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フ
ッ化ノニル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、
フッ化デシル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル
、等が用いられる。ハロゲン化アリールとしては、例え
ば、フルオルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼ
ン、ヨードベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン
、りaルナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられ
る。ハロゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチ
レン、ブロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチ
レン、等が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとして
は、例えば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メヂ
レン、塩化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、
塩化トリメチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチ
レン、ジ塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、
ジシランガス、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ
塩化ヘキサン、ジ臭化ヘキサン、ショウ化ヘキサン、ジ
塩化へブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ
塩化オクタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ
塩化ノナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デ
カン、等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、
フルオロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨード
ホルム、等が用いられる。
本発明において化学的修飾物質として含有きれるハロゲ
ン原子のifよ、全構成原子に対して0゜1乃至25原
子%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の
量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る
事ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い
場合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証きれず、感
度低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また
、経時的感度安定性も保証されなくなる。ハロゲン原子
の量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好
適な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロ
ゲン原子が、逆に、帯電能の低下、ざらには経時後の暗
抵抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷
保持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証され
なくなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従
って、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要
である。
ン原子のifよ、全構成原子に対して0゜1乃至25原
子%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の
量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る
事ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い
場合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証きれず、感
度低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また
、経時的感度安定性も保証されなくなる。ハロゲン原子
の量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好
適な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロ
ゲン原子が、逆に、帯電能の低下、ざらには経時後の暗
抵抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷
保持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証され
なくなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従
って、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要
である。
本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増パすることにより制
御することが可能である。
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増パすることにより制
御することが可能である。
ハロゲン化合物の導入量を増大させれば、本発明による
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少させれ
ば、本発明によるa −C膜中へのハロゲン原子の添加
量を低くすることが可能である。
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少させれ
ば、本発明によるa −C膜中へのハロゲン原子の添加
量を低くすることが可能である。
本発明においては、ast膜を形成するためにシランガ
ス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられる
。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を膜
中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィンガ
ス或はジボランガスが用いられる。
ス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられる
。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を膜
中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィンガ
ス或はジボランガスが用いられる。
本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が20000原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、t】性制部効果を
保証していた;前原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗
化を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、
本発明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲は重要
である。
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が20000原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、t】性制部効果を
保証していた;前原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗
化を招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、
本発明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲は重要
である。
本発明におけるa−Si膜中に含まれる水素原子或は弗
素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面から
必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリコ
ン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35原
子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オージ
ェ分析等を用いる事により知る事ができる。
素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面から
必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリコ
ン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35原
子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オージ
ェ分析等を用いる事により知る事ができる。
本発明における電荷発生層としてのa−3i膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−Si膜は電荷発生能に富み、
ざらに、本発明の最も特徴とするところのa−C膜との
積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリアを
注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能である。
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−Si膜は電荷発生能に富み、
ざらに、本発明の最も特徴とするところのa−C膜との
積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリアを
注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能である。
本発明における原料気体からa−Si膜を形成する過程
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は硼素原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応
室への前述のホスフィンガス或はジボランガスの導入量
を増減することにより制睡することが可能である。ホス
フィンガス或はジボランガスの導入量を増大させれば、
本発明によるa−Si膜中への燐原子或は硼素原子の添
加量を高くすることが可能であり、逆にホスフィンガス
或はジボランガスの導入量を減少きせれば、本発明によ
るa−Si膜中への燐原子或は硼素原子の添加量を低く
することが可能である。
或は硼素原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応
室への前述のホスフィンガス或はジボランガスの導入量
を増減することにより制睡することが可能である。ホス
フィンガス或はジボランガスの導入量を増大させれば、
本発明によるa−Si膜中への燐原子或は硼素原子の添
加量を高くすることが可能であり、逆にホスフィンガス
或はジボランガスの導入量を減少きせれば、本発明によ
るa−Si膜中への燐原子或は硼素原子の添加量を低く
することが可能である。
本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の植層溝成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の植層溝成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を1煩次積層してな
る構成を示したものである。第2図は、別の一形態とし
て、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送
層(2)を順次VI層してなる構成を示したものである
。第3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に
、電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(
2)を順次積層してなる構成を示したものである。
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を1煩次積層してな
る構成を示したものである。第2図は、別の一形態とし
て、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送
層(2)を順次VI層してなる構成を示したものである
。第3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に
、電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(
2)を順次積層してなる構成を示したものである。
感光体表面を、例えばコロナ帯電器等により正帯電した
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2)中
を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発生
層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感光体
表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で発生
した正孔が導電性基板側の電荷輸送層(2)中を導電性
基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生層(
3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された静電
潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯電し
た後、画像露光して使用する場合においては、電子と正
孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解すれば
よい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光が電
荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電荷輸
送層は透光性に優れることから、好適な潜体形成を行な
うことが可能である。
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2)中
を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発生
層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感光体
表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で発生
した正孔が導電性基板側の電荷輸送層(2)中を導電性
基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生層(
3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された静電
潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯電し
た後、画像露光して使用する場合においては、電子と正
孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解すれば
よい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光が電
荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電荷輸
送層は透光性に優れることから、好適な潜体形成を行な
うことが可能である。
第4図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護層(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−3i膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着によ4感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもざらなる一形
態と成りうる。
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護層(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−3i膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着によ4感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもざらなる一形
態と成りうる。
第5図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
をj@次積層してなる構成を示したものである。即ち第
2図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図
の形態では、導電性基板との接合面がa−Si膜である
事から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保する
ために中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図
の構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注
入阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるた
め、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の
前処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整
合性を調整する目的から、中面層を設けることもざらな
る一形態と成りうる。
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
をj@次積層してなる構成を示したものである。即ち第
2図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図
の形態では、導電性基板との接合面がa−Si膜である
事から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保する
ために中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図
の構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注
入阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるた
め、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の
前処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整
合性を調整する目的から、中面層を設けることもざらな
る一形態と成りうる。
第6図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次Vt層してなる構成を示した
ものである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を
設けた形態に相当する。
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次Vt層してなる構成を示した
ものである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を
設けた形態に相当する。
中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa −C膜を用いてもよい。但し、用
いる材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料であ
る場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以
下に留める必要がある。
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa −C膜を用いてもよい。但し、用
いる材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料であ
る場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以
下に留める必要がある。
本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷電征を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積させる、所謂プラズマ重合反応
から生成きれる事が好ましい。
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷電征を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積させる、所謂プラズマ重合反応
から生成きれる事が好ましい。
第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示し、図中
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを富封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)は常温において液相または固相状態にある原料化合物
を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化のた
め第1乃至第3温調器(722)〜(724)により与
熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節弁
(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(7
28)〜(730)に接続されている。これらのガスは
混合器(731)で混合された後、主管(732)を介
して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は、
常温において液相または固相状態にあった原料化合物が
気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置さ
れた配管加熱器(734) により、与熱可能とされて
いる。反応室内には接地電極(735)と電力印加電極
(736)が対向して設置され、各々の電極は電極加熱
器(737)により与熱可能とされている。電力印加電
極(736)には、高周波電力用整合器(738)を介
して高周波電源(739)、低周波電力用整合器(74
0)を介して低周波電源(741)、ローパスフィルタ
(742)を介して直流電源(743)が接続されてお
り、接続選択スイッチ(744)により周波数の異なる
電力が印加可能とされている。反応室(733)内の圧
力は圧力制御弁(745)により調整可能であり、反応
室(733)内の減圧は、排気系選択弁(746)を介
して、拡散ポンプ(74?) 、油回転ポンプ(748
) 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニカルブ
ースターポンプ(750)、油回転ポンプ(748)に
より行なわれる。排ガスについては、ざらに適当な除外
装置(753)により安全無害化した後、大気中に排気
きれる。これら排気系配管についても、常温において液
相または固相状態にあった原f:↓化合物が気化したガ
スが、途中で凝結しないように、適宜配置された配管加
熱器(734)により、与熱可能とされている。反応室
(733)も同様の理由から反応室加28器(751)
により与熱可能とされ、内部に配された電極上に導電性
基板(752)が設置きれる。第7図において導電性基
板(752)は接地電極(735)に固定して配されて
いるが、電力印加電fl(736)に固定して配きれて
もよく、ざらに双方に配きれてもよい。
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを富封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)は常温において液相または固相状態にある原料化合物
を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化のた
め第1乃至第3温調器(722)〜(724)により与
熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節弁
(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(7
28)〜(730)に接続されている。これらのガスは
混合器(731)で混合された後、主管(732)を介
して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は、
常温において液相または固相状態にあった原料化合物が
気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置さ
れた配管加熱器(734) により、与熱可能とされて
いる。反応室内には接地電極(735)と電力印加電極
(736)が対向して設置され、各々の電極は電極加熱
器(737)により与熱可能とされている。電力印加電
極(736)には、高周波電力用整合器(738)を介
して高周波電源(739)、低周波電力用整合器(74
0)を介して低周波電源(741)、ローパスフィルタ
(742)を介して直流電源(743)が接続されてお
り、接続選択スイッチ(744)により周波数の異なる
電力が印加可能とされている。反応室(733)内の圧
力は圧力制御弁(745)により調整可能であり、反応
室(733)内の減圧は、排気系選択弁(746)を介
して、拡散ポンプ(74?) 、油回転ポンプ(748
) 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニカルブ
ースターポンプ(750)、油回転ポンプ(748)に
より行なわれる。排ガスについては、ざらに適当な除外
装置(753)により安全無害化した後、大気中に排気
きれる。これら排気系配管についても、常温において液
相または固相状態にあった原f:↓化合物が気化したガ
スが、途中で凝結しないように、適宜配置された配管加
熱器(734)により、与熱可能とされている。反応室
(733)も同様の理由から反応室加28器(751)
により与熱可能とされ、内部に配された電極上に導電性
基板(752)が設置きれる。第7図において導電性基
板(752)は接地電極(735)に固定して配されて
いるが、電力印加電fl(736)に固定して配きれて
もよく、ざらに双方に配きれてもよい。
第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電i (735)を
兼ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側
には電極加熱器(837)が配されている。導電性基板
(852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極
(836)が配され、外側にば電イΣ加黙器(837)
が配されている。導電性基板(852)は、外部より駆
動モータ(854)を用いて自転可能となっている。
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電i (735)を
兼ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側
には電極加熱器(837)が配されている。導電性基板
(852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極
(836)が配され、外側にば電イΣ加黙器(837)
が配されている。導電性基板(852)は、外部より駆
動モータ(854)を用いて自転可能となっている。
感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
o−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配され
た導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板に
は、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得るた
めに、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷発
生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電荷
発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を用
いてもよい。次いで、第4乃至第6タンク及び第1乃至
第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御器
を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調節
弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量が
安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周波
電源を選択し、電力印加電極仮に高周波電力を投入する
。両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に固
相の膜が形成される。a−Si膜或はa−C膜は、原料
ガスを代える事により任意に形成可能である。放電を一
旦停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開
すれば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放
電を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異
なる組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能で
ある。
o−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配され
た導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板に
は、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得るた
めに、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷発
生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電荷
発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を用
いてもよい。次いで、第4乃至第6タンク及び第1乃至
第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御器
を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調節
弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量が
安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周波
電源を選択し、電力印加電極仮に高周波電力を投入する
。両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に固
相の膜が形成される。a−Si膜或はa−C膜は、原料
ガスを代える事により任意に形成可能である。放電を一
旦停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開
すれば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放
電を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異
なる組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能で
ある。
反応時間により膜厚を制御し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要ときれる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要ときれる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。
去施然1
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りアセチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス
、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/am2の下で第1、第2、第3、及
び第4流量制御器(713,714,715、及び71
6)内へ流入させた。そして各流旦制御:w器の目盛を
調整して、水素ガスの流量を180secm1アセチレ
ンガスの流量を40secm、酸素ガスの流量を4sc
crr+、及び四弗化炭素ガスの流量が10105eと
なるように設定して、途中混合器(731)を介して、
主管(732)より反応室(733)内へ流入した。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
2.0Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、導電性基板(752)としては、樅50
X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め
250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した
状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続し
ておいた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極
(736)に200Wattの電力を周波数13゜56
MHzの下で印加して約3時間プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa −C
膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印
加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分
に排気した。
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りアセチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス
、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/am2の下で第1、第2、第3、及
び第4流量制御器(713,714,715、及び71
6)内へ流入させた。そして各流旦制御:w器の目盛を
調整して、水素ガスの流量を180secm1アセチレ
ンガスの流量を40secm、酸素ガスの流量を4sc
crr+、及び四弗化炭素ガスの流量が10105eと
なるように設定して、途中混合器(731)を介して、
主管(732)より反応室(733)内へ流入した。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
2.0Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、導電性基板(752)としては、樅50
X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め
250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した
状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続し
ておいた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極
(736)に200Wattの電力を周波数13゜56
MHzの下で印加して約3時間プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa −C
膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印
加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分
に排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して2.0原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.1原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して2.0原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.1原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制御器(713、及び718)内へ流入させな。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで1100ppに希釈されたジボラ
ンガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制
御器(716)内へ、流入させた。各流量制都器の目盛
を調整して水素ガスの流量を200scCm、シランガ
スの流量を101005e、水素ガスで1100ppに
希釈されたジボランガスの流量を101005eに設定
し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8Tor
rとなるように圧力調節弁(74,5)を調整した。一
方、a−C膜が形成されている導電性基板(752)は
、250℃に加熱しておぎ、ガス流■及び圧力が安定し
た状態で、高周波電源(739)より周波数13.56
MHzの下で電力印加電極(736)に35Wattの
電力を印加し、グロー放電を発生させな。この放電を5
分間行ない、厚き0゜3μmの電荷発生層を得た。
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制御器(713、及び718)内へ流入させな。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで1100ppに希釈されたジボラ
ンガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制
御器(716)内へ、流入させた。各流量制都器の目盛
を調整して水素ガスの流量を200scCm、シランガ
スの流量を101005e、水素ガスで1100ppに
希釈されたジボランガスの流量を101005eに設定
し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8Tor
rとなるように圧力調節弁(74,5)を調整した。一
方、a−C膜が形成されている導電性基板(752)は
、250℃に加熱しておぎ、ガス流■及び圧力が安定し
た状態で、高周波電源(739)より周波数13.56
MHzの下で電力印加電極(736)に35Wattの
電力を印加し、グロー放電を発生させな。この放電を5
分間行ない、厚き0゜3μmの電荷発生層を得た。
得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(tll
製作所製EMGA−1300) 1.t−ジ工分析、及
びIMA分析を行なったところ、含有される水素原子は
全構成原子に対して15原子%、硼素原子は100原子
ppmであった。
製作所製EMGA−1300) 1.t−ジ工分析、及
びIMA分析を行なったところ、含有される水素原子は
全構成原子に対して15原子%、硼素原子は100原子
ppmであった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一860V (+580V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は56V/am (38V/μm)と棲めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一860V (+580V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は56V/am (38V/μm)と棲めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約29秒(約19
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は9.0ルツク
ス・秒(2,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約29秒(約19
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は9.0ルツク
ス・秒(2,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として侵れた性能を有するものである事が理解きれる。
として侵れた性能を有するものである事が理解きれる。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
X施皿旦
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調面弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りエチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス及
び第4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各々出力
圧1゜0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を60secm、エチレンガスの流量
を60secm、酸素ガスの流量を4secm、及び四
塩化炭素ガスの流量が20secmとなるように設定し
て、途中混合器(731)を介して、主管(732)よ
り反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定し
た後に、反応室(733)内の圧力が2.OTorrと
なるように圧力調節弁(745)を調整した。
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調面弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りエチレンガス、第3タンク(703)より酸素ガス及
び第4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各々出力
圧1゜0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を60secm、エチレンガスの流量
を60secm、酸素ガスの流量を4secm、及び四
塩化炭素ガスの流量が20secmとなるように設定し
て、途中混合器(731)を介して、主管(732)よ
り反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定し
た後に、反応室(733)内の圧力が2.OTorrと
なるように圧力調節弁(745)を調整した。
一方、導電性基板(752)としては、樅50×150
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め230℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(736
)に200Wa11の電力を周波数13.56MHzの
下で印加して約3時開平プラズマ重合反応を行ない、導
電性基板(752)上に厚き15μmのa −C膜を電
荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停
止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気
した。
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め230℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(736
)に200Wa11の電力を周波数13.56MHzの
下で印加して約3時開平プラズマ重合反応を行ない、導
電性基板(752)上に厚き15μmのa −C膜を電
荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停
止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気
した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して42原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、塩素原子の
量は全構成原子に対して4.9原子%、さらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して42原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、塩素原子の
量は全構成原子に対して4.9原子%、さらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制御器(713、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで100 p pmに希釈されたジ
ボランガスを、出力圧1.5Kg/am2の下で第4流
量制御器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の
目盛を調整して水素ガスの流量を200scCm%シラ
ンガスの流量を101005e、水素ガスで1100p
pに希釈されたジボランガスの流量を10105eに設
定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量が
安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8To
rrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一
方、a−C膜が形成されている導電性基板(752)は
、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、高周波電源(739)より周波t!J1.1
3.56MHzの下で電力印加電極(736)に35W
attの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この
放電を5分間行ない、厚ざ063μmの電荷発生層を得
た。
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制御器(713、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで100 p pmに希釈されたジ
ボランガスを、出力圧1.5Kg/am2の下で第4流
量制御器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の
目盛を調整して水素ガスの流量を200scCm%シラ
ンガスの流量を101005e、水素ガスで1100p
pに希釈されたジボランガスの流量を10105eに設
定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量が
安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8To
rrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一
方、a−C膜が形成されている導電性基板(752)は
、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、高周波電源(739)より周波t!J1.1
3.56MHzの下で電力印加電極(736)に35W
attの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この
放電を5分間行ない、厚ざ063μmの電荷発生層を得
た。
得られたa−3i膜につぎ、金属中○NH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、@素原子は10原子ppm
であった。
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、@素原子は10原子ppm
であった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一610V(+670V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は4゜77μm (44V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一610V(+670V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は4゜77μm (44V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
。
また、暗中にてVmaxからVmaXの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間tよ約15秒(約1
7秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有す
る事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した
後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位に
まで明減衰きせたとこる必要とされた光量は1.6ルツ
クス・秒(1,5ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解きれた。
位にまで暗減衰するのに要した時間tよ約15秒(約1
7秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有す
る事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した
後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位に
まで明減衰きせたとこる必要とされた光量は1.6ルツ
クス・秒(1,5ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解きれた。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
実施例3
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10=Torr程度の高真空に
した後、第1、第3、及び第4調節弁(707,709
、及び710)を解放し、第1タンク(701)より水
素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及び第4
タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力圧1.
0Kg/cm2の下で第1、第3、及び第4流量制御器
(713,715、及び716)内へ流入させた。
装置(733)の内部を10=Torr程度の高真空に
した後、第1、第3、及び第4調節弁(707,709
、及び710)を解放し、第1タンク(701)より水
素ガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及び第4
タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力圧1.
0Kg/cm2の下で第1、第3、及び第4流量制御器
(713,715、及び716)内へ流入させた。
同時に、第1容器(719)よりスチレンガスを第1温
調器(722)温度35℃のもとで第7流量制御器(7
28)内へ流入させた。そして各流量制i用益の目盛を
調整して、水素ガスの流量を60secm、スチレンガ
スの流量を30secm。
調器(722)温度35℃のもとで第7流量制御器(7
28)内へ流入させた。そして各流量制i用益の目盛を
調整して、水素ガスの流量を60secm、スチレンガ
スの流量を30secm。
酸素ガスの流量を8secms及び四弗化炭素ガスの流
量が30secmとなるように設定して、途中混合器(
731)を介して、主管(732)より反応室(733
)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室(
733)内の圧力が2゜0Torrとなるように圧力F
A節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(75
2)としては、樅50X横50×厚3mmのアルミニウ
ム基板を用いて、予め180℃に加熱しておき・、ガス
流量及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッチ
(744)により接続しておいた低周波電源(741)
を投入し、電力印加電極(736)に200Wattの
電力を周波数120KHzの下で印加して約45分間プ
ラズマ重合反応を行ない、導電性基板(752)上に厚
き15μmのa −C膜を電荷輸送層として形成した。
量が30secmとなるように設定して、途中混合器(
731)を介して、主管(732)より反応室(733
)内へ流入した。各々の流量が安定した後に、反応室(
733)内の圧力が2゜0Torrとなるように圧力F
A節弁(745)を調整した。一方、導電性基板(75
2)としては、樅50X横50×厚3mmのアルミニウ
ム基板を用いて、予め180℃に加熱しておき・、ガス
流量及び圧力が安定した状態で、予め接続選択スイッチ
(744)により接続しておいた低周波電源(741)
を投入し、電力印加電極(736)に200Wattの
電力を周波数120KHzの下で印加して約45分間プ
ラズマ重合反応を行ない、導電性基板(752)上に厚
き15μmのa −C膜を電荷輸送層として形成した。
成膜完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応
室(733)内を充分に排気した。
室(733)内を充分に排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元毒分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して48原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して6.1原子%、さらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して2.3原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して48原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して6.1原子%、さらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して2.3原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制瀕器(713、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで1100ppに希釈されたホスフ
ィンガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量
制i卸器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の
目盛を調整して水素ガスの流量を2008CCm %シ
ランガスの流量を101005e水素ガスで1100p
pに希釈されたホスフィンガスの流量を10105eに
設定し、反応室(733)内に流入きせた。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制瀕器(713、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで1100ppに希釈されたホスフ
ィンガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量
制i卸器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の
目盛を調整して水素ガスの流量を2008CCm %シ
ランガスの流量を101005e水素ガスで1100p
pに希釈されたホスフィンガスの流量を10105eに
設定し、反応室(733)内に流入きせた。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
一方、a−C膜が形成きれている導電性基板(752)
は、250℃に加熱しておぎ、ガス流量及び圧力が安定
した状態で、高周波電源(739)より周波数13.5
6MHzの下で電力印加電極(736)に40Watt
の電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放電を
5分間行ない、厚き0゜3amの電荷発生層を得た。
は、250℃に加熱しておぎ、ガス流量及び圧力が安定
した状態で、高周波電源(739)より周波数13.5
6MHzの下で電力印加電極(736)に40Watt
の電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放電を
5分間行ない、厚き0゜3amの電荷発生層を得た。
得られたa−3i膜につき、金属中○NH分析(板場製
作所製EMGA−4300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、燐原子は12原子ppmで
あった。
作所製EMGA−4300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、燐原子は12原子ppmで
あった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一530V (+790V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は35V/μm (52V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一530V (+790V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は35V/μm (52V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
また、暗中にてVmaxからVmaXの9Q%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約12秒(約18
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初M帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
て明減衰させたところ必要ときれた光景は1.2ルツク
ス・秒(2,フルックス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約12秒(約18
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初M帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
て明減衰させたところ必要ときれた光景は1.2ルツク
ス・秒(2,フルックス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として擾れた性能を有するものである事が理解される。
として擾れた性能を有するものである事が理解される。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
実施例4
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製しな。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製しな。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7o7
.708.709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジェンガス、第3タンク(703)より二酸化炭素ガ
ス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各
々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を60scQm、ブタジェンガ
スの流量を60secms二酸化炭素ガスの流量を12
secm1及び四弗化炭素ガスの流量が160secm
となるように設定して、途中混合器(731)を介して
、主管(732)より反応室(733)内へ流入した。
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7o7
.708.709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジェンガス、第3タンク(703)より二酸化炭素ガ
ス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各
々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を60scQm、ブタジェンガ
スの流量を60secms二酸化炭素ガスの流量を12
secm1及び四弗化炭素ガスの流量が160secm
となるように設定して、途中混合器(731)を介して
、主管(732)より反応室(733)内へ流入した。
各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.6Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、樅5
0×横50X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に130Wattの電力を周波数13゜5
6MHzの下で印加して約1時間半プラズマ重合反応を
行ない、導電性基板(752)上に厚ざ15μmのa−
C膜を電荷輸送層として形成した。
が1.6Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、樅5
0×横50X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に130Wattの電力を周波数13゜5
6MHzの下で印加して約1時間半プラズマ重合反応を
行ない、導電性基板(752)上に厚ざ15μmのa−
C膜を電荷輸送層として形成した。
成膜完了後は、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応
室(733)内を充分に排気した。
室(733)内を充分に排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージ
ェ分析より含有きれるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して18.0原子%、ざらに、酸素
原子の量は全構成原子に対して2.0原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージ
ェ分析より含有きれるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して18.0原子%、ざらに、酸素
原子の量は全構成原子に対して2.0原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制卯器(713、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(7103を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで1100ppに希釈されたホスフ
ィンガスを、出力圧1−5Kg/cm2の下で第4流量
制御器(716)内へ、流入させた。各流量制#器の目
盛を調整して水素ガスの流量を200SCCm1シラン
ガスの流量を101005e、水素ガスで1100pp
に希釈されたホスフィンガスの流量を101005eに
設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(70
1)から水素ガス、及び第6タンク(706)からシラ
ンガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、及び第6
流量制卯器(713、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(7103を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで1100ppに希釈されたホスフ
ィンガスを、出力圧1−5Kg/cm2の下で第4流量
制御器(716)内へ、流入させた。各流量制#器の目
盛を調整して水素ガスの流量を200SCCm1シラン
ガスの流量を101005e、水素ガスで1100pp
に希釈されたホスフィンガスの流量を101005eに
設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.8T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
一方、a−C1λが形成されている導電性基板(752
)は、200t:に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に55Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚さ0.3μmの電荷発生層を得t
:。
)は、200t:に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に55Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚さ0.3μmの電荷発生層を得t
:。
得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 1.?−ジx分析、及び
IMA分析を行なったどころ、含有される水素原子は全
構成原子に対して20原子96、燐原子は115原子p
pmてあった。
作所製EMGA−1300) 1.?−ジx分析、及び
IMA分析を行なったどころ、含有される水素原子は全
構成原子に対して20原子96、燐原子は115原子p
pmてあった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如と性能が得られた
。ここでは、正帯電時の♂り定値を括弧内に示すが、最
高帯電電位は一230V (+400V)で有り、即ち
、全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当
りの帯電能は15V/μm (26V/μm)と寓く、
このことから充分な帯電性能を有する事が理解された。
電並びに正帯電で用いたところ次の如と性能が得られた
。ここでは、正帯電時の♂り定値を括弧内に示すが、最
高帯電電位は一230V (+400V)で有り、即ち
、全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当
りの帯電能は15V/μm (26V/μm)と寓く、
このことから充分な帯電性能を有する事が理解された。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約5秒(約7秒)
であり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が
理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白
色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明
減衰きせたとこる必要とされた光量は3.0ルツクス・
秒(9,5ルツクス・秒)であり、このことから充分な
光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約5秒(約7秒)
であり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が
理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白
色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明
減衰きせたとこる必要とされた光量は3.0ルツクス・
秒(9,5ルツクス・秒)であり、このことから充分な
光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
としてほれた性能を有するものである事が理解される。
としてほれた性能を有するものである事が理解される。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
実施例5
本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
電荷輸送層形成工程:
第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10=Torr程度の高真空に
した後、第4、第2、第3、及び第4調節弁(707,
708,709、及び710)を解放し、第1タンク(
701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブタ
ジインガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及び
第4タンク(704)より四弗化炭紮ガスを各々出力圧
1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第4
流量制御器(713,714,715、及び716)内
へ流入きせた。そして各流量制御器の巨盛を調整して、
水素ガスの流量を180secm1ブタジインガスの流
量を40secm、酸素ガスの流量を4secms及び
四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設定
して、途中混合器(731)を介して、主管(732)
より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定
した後に、反応室(733)内の圧力が2.0Torr
となるように圧力調節弁(745)を調整した。一方、
導電性基板(752)としては、ttl 50 X横5
0×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180
℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で
、予め接続選択スイッチ(744)により接続しておい
た高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(73
6)に200Wattの電力を周波数IMHzの下で印
加して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基
板(752)上に厚ざ15μmのa−C膜を電荷輸送層
として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、調
節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
装置(733)の内部を10=Torr程度の高真空に
した後、第4、第2、第3、及び第4調節弁(707,
708,709、及び710)を解放し、第1タンク(
701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブタ
ジインガス、第3タンク(703)より酸素ガス、及び
第4タンク(704)より四弗化炭紮ガスを各々出力圧
1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第4
流量制御器(713,714,715、及び716)内
へ流入きせた。そして各流量制御器の巨盛を調整して、
水素ガスの流量を180secm1ブタジインガスの流
量を40secm、酸素ガスの流量を4secms及び
四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設定
して、途中混合器(731)を介して、主管(732)
より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定
した後に、反応室(733)内の圧力が2.0Torr
となるように圧力調節弁(745)を調整した。一方、
導電性基板(752)としては、ttl 50 X横5
0×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180
℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で
、予め接続選択スイッチ(744)により接続しておい
た高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(73
6)に200Wattの電力を周波数IMHzの下で印
加して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基
板(752)上に厚ざ15μmのa−C膜を電荷輸送層
として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、調
節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して4o原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して4.1原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.8原子%であった。
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して4o原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して4.1原子%、ざらに、酸素原
子の量は全構成原子に対して1.8原子%であった。
電荷発生層形成工程:
次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク
(702)から四弗化シランガス、及び第6タンク(7
06)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で
第1、第2、及び第6流量制御器(713,714、及
び718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(71
0)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで1
00 p pmに希釈されたジボランガスを、出力圧1
.5Kg/cm2の下で第4流旦制御器(716)内へ
、流入むせた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガス
の流量を200secms四弗化シランガスの流量を5
0secm、シランガスの流量を50sccmq水毒ガ
スで1100ppに希釈されたジボランガスの流量を1
0105eに設定し、反応室(733)内に流入させた
。各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧
力が0.8Torrとなるように圧力調節弁(745)
を調整した。一方、a−σ膜が形成されている導電性基
板(752)は、230℃に加熱しておき、ガス流量及
び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より周
波数13.56MHzの下で電力印加電極(736)に
35Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させな
。この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生
層を得た。
第2調節弁(708)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク
(702)から四弗化シランガス、及び第6タンク(7
06)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で
第1、第2、及び第6流量制御器(713,714、及
び718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(71
0)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで1
00 p pmに希釈されたジボランガスを、出力圧1
.5Kg/cm2の下で第4流旦制御器(716)内へ
、流入むせた。各流量制御器の目盛を調整して水素ガス
の流量を200secms四弗化シランガスの流量を5
0secm、シランガスの流量を50sccmq水毒ガ
スで1100ppに希釈されたジボランガスの流量を1
0105eに設定し、反応室(733)内に流入させた
。各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧
力が0.8Torrとなるように圧力調節弁(745)
を調整した。一方、a−σ膜が形成されている導電性基
板(752)は、230℃に加熱しておき、ガス流量及
び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より周
波数13.56MHzの下で電力印加電極(736)に
35Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させな
。この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生
層を得た。
得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して24原子%、硼素原子は13原子ppm
、弗素原子は5原子%であった。
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して24原子%、硼素原子は13原子ppm
、弗素原子は5原子%であった。
特性:
得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯M電位は一690V (+690V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は45V/μm(45V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれた
。
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯M電位は一690V (+690V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は45V/μm(45V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれた
。
また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約14秒(約16
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰きせたとこる必要とされた光量は3.5ルツク
ス・秒(3,2ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
位にまで暗減衰するのに要した時間は約14秒(約16
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰きせたとこる必要とされた光量は3.5ルツク
ス・秒(3,2ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。
第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 手続補正書 昭和62年10月z1日
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 手続補正書 昭和62年10月z1日
Claims (1)
- 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層は少なくとも酸素原子とハロゲン
原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜で
あり、かつ、該電荷発生層は燐原子及び硼素原子のうち
少なくとも一方を含有してなる水素化アモルファスシリ
コン膜或は燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を
含有してなる弗素化アモルファスシリコン膜であること
を特徴とする感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22940886A JPS6382436A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | 感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22940886A JPS6382436A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | 感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6382436A true JPS6382436A (ja) | 1988-04-13 |
Family
ID=16891748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22940886A Pending JPS6382436A (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | 感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6382436A (ja) |
-
1986
- 1986-09-26 JP JP22940886A patent/JPS6382436A/ja active Pending
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