JPS6380454A - 真空処理室装置 - Google Patents

真空処理室装置

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Publication number
JPS6380454A
JPS6380454A JP22409786A JP22409786A JPS6380454A JP S6380454 A JPS6380454 A JP S6380454A JP 22409786 A JP22409786 A JP 22409786A JP 22409786 A JP22409786 A JP 22409786A JP S6380454 A JPS6380454 A JP S6380454A
Authority
JP
Japan
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moving body
processing chamber
holder
axis
moved
Prior art date
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Pending
Application number
JP22409786A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Tatemichi
潤一 立道
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、イオン照射装置等を用いてイオン注入やエ
ツチング、薄膜形成等を行なう場合に用いる真空処理室
装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来からイオン照射装置を用いてイオンビームをウェハ
等の材料に照射することにより各種の処理が行われてい
る。この処理の例としては、イオン注入やIVD(イオ
ンペーパーデポジシラン)法による薄膜形成、イオンボ
ンバード洗浄などがある。
このような各種の処理は、いずれも真空中で行う必要が
あり、またイオンビームの均一照射のために、材料に対
してイオンビームのスキャンの必要がある。
このスキャンの方法として、イオンビームの照射角度を
変える静電スキャンと、材料側を移動させるメカニカル
スキャンとが採用されている。メカニカルスキャンの機
構としては、材料ホルダを回転および進退させる構造の
ものが一般的である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、前記静電スキャンは、大面積の材料に対して照
射する場合に、材料に対する照射角度が大きく変動する
ため、均一な照射が行なえないという問題がある。
また、前記回転並進形式のメカニカルスキャンの場合、
円周uL跡と直線軌跡の組合せとなるため、均一照射を
行なうためには回転と並進の速度バランス等を図るにつ
き、複雑な制御が必要になるという問題点がある。
均一照射と制御の簡易のためには、直交する2方向のメ
カニカルスキャン、いわゆるXYメカニカルスキャンが
望ましい、しかし、一般の大気中で使用されるX−Yテ
ーブルは、下段の可動テーブルに上段の可動テーブルを
移動させるモータが取付けてあり、真空の処理室に使用
する場合、そのモータが真空中に置かれることになる。
現在のところ、超高真空中でモータをドライブさせる技
術は確立されておらず、またイオンビーム等による処理
には超高真空を必要とする。そのため、−般のX−Yテ
ーブルをこの種の真空処理室に用いることができない。
この発明の目的は、大面積の材料であっても、均一なイ
オンビーム等の照射を行なえ、かつ制御が簡単な真空処
理室装置を提供することである。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明の真空処理室装置は、真空引きされる処理室と
、この処理室内に一定方向に進退自在に設置した第1移
動体と、前記処理室内に設けられて前記処理室外の第1
駆動源に連結され前記第1移動体を進退させる第1送り
ねじ機構と、前記第1移動体にこの第1移動体の進退方
向と直交する方向に進退自在に設置され材料ホルダを有
する第2移動体と、前記第1移動体に設けられて前記第
1移動体を進退させる第2送りねじ機構と、前記第1送
りねじ機構のねじ軸と平行に設けられて前記真空室外の
第2駆動源で回転駆動されるスプライン軸と、前記第1
移動体に設けられて前記スプライン軸から回転伝達され
る回転部材を有しこの回転部材の回転を前記第2送りね
じ機構のねじ軸に伝達する回転伝達機構とを備えたもの
である。
〔作用〕
この発明の構成によると、材料ホルダを有し第1移動体
にその進退方向と直交方向に移動自在に設けた第2移動
体を、第1移動体の駆動用の送りねじ機構と平行なスプ
ライン軸を介して駆動するようにしており、そのため両
移動体の駆動源を処理室の外部に設置しながら、材料ホ
ルダの直交する2方向の移動が行なえる。そのため、処
理室が超高真空であっても、通常の駆動源を用いていわ
ゆるX−Yメカニカルスキャンが行なえる。このように
、直交する2方向のX−Yメカニカルスキャンを行なう
ので、従来の回転並進型のメカニカルスキャンに比べて
簡単な制御でイオンビーム等の均一照射が行なえる。ま
た、X−Yメカニカルスキャンを行なうので、静電スキ
ャンの場合と異なり、材料が大面積の場合であっても、
材料に対する照射方向が常に変わらず、均一照射が行な
える。
〔実施例〕
この発明の一実施例を第1図ないし第5図に基づいて説
明する。処理室lはその下方に設けた材料交換用の予備
室2と開口3で連通しており、各々別の吸引装置(図示
せず)で真空引きされる。
処理室1の後壁にはファラデーカップ4が設けてあり、
ファラデーカップ4に向けてイオンビーム5を照射する
イオン照射装置(図示せず)が、処理室1の前壁に設け
である。
処理室1内に立設した2本のYガイド軸6に第1移動体
7がポールブツシュ(図示せず)を介して上下(Y方向
)に進退自在に設置しである。材料ホルダ8を有する第
2移動体9は、第1移動体7にYガイド軸6と直交して
設けたXガイド軸lOに、ボールブツシュ(図示せず)
を介して進退自在に設置しである。Yガイド軸6は上下
端を固定板11に固定しである。Xガイド軸lOは支持
部材12.13で第1移動体7に取付けられている。
材t)ホルダ8は、ウェハ等の材料14を前面に保持す
るものである。第2移動体9には予備室2の開口3を閉
じるゲート弁15が、材料ホルダ8の上方に位置して設
けである。
第1移動体7は、ボールねし式の第1送りねじ機構16
のねじ軸16aにボールねじのナツト部16bで螺合し
ており、ねじ軸16aは処理室1の上fila上の第1
駆動源17と連結されている。
ねじ軸16aは前記固定板11に上下端が支軸されてい
る。第1駆動諒17は、ブレーキ付ステッピングモータ
等からなる。
第2移動体9は、ボールねじ式の第2送りねじ機構18
のねじ軸18aにボールねじのナンド部18bで蝮合し
、ねじ軸18aはスプライン軸19から回転伝達機構2
0を介して回転伝達される。
ねじ軸18aは支持部材13と歯車支持部材21とで両
端が支持され、一端に傘歯車22が取付けられている。
スプライン軸19は、上下端が固定板11に回転自在に
支持されて第1送りねじ機構16のねじ軸16aと平行
に設けられ、処理室1の土壁1a上の第2駆動R23と
連結されている。
第2駆動源23は、直流サーボモータ等からなる。
スプライン軸19は、第1移動体7に回転自在に支持さ
れた回転部材24とでボールスプラインを形成しており
、回転部材24に前記傘歯車22と噛合う傘歯車24a
が一体に形成しである。これら傘歯車22,24aと回
転部材24とで回転伝達機構20が構成される。
第2図はスプライン軸19の断面と回転部材24を示す
0回転部材24は、スプライン軸19の突条19aの両
面に接する球体25が保持してあり、スプライン軸19
に軸方向移動自在に係合する。
第3図は、第1送りねじ機構16のねじ軸16aとスプ
ライン軸19の真空シールおよび連結構造を示す、ねじ
軸16aが処理室1の上壁1aを貫通する部分は、フッ
素樹脂コーティングを行なった2つの0リング27を有
するシール装置28が設けである。スプライン軸19は
高速回転するため、その貫通部には磁性流体を用いたシ
ール装面29を用いている。ねじ軸16とスプライン軸
19は、各々第1駆動源17および第2駆動源23の出
力軸に対し、2つのカップリング30a、30b。
31a、31bを処理室1の内外で用いて連結している
。各カップリング30a、30b、31a。
31bはセンタずれが生じても連結可能なものである。
このように連結したのは次の理由による。
すなわち、機械加工の問題において、処理室1に直接に
一対のガイド軸6とねじ軸16aとスプライン軸19と
の4本の軸中心を精度を出して取付けるのは難しい、そ
のため、上下一対の固定板11(第1図)に各軸6.1
6a、19の軸中心ピンチを精度良く出して支持してお
き、処理室lの内外2箇所でカンプリング30a、30
b、31a。
31bにより各駆動源17.23と連結している。
第4図は、材料ホルダ8と第2移動体9との連結部構造
を示す、材料ホルダ8は第2移動体9の位置決めピン3
2に成人する孔33と一対のポルト挿通孔(図示せず)
を有し、位置決めピン32の両側で固定ねじ34(第1
図)により第2移動体9に固定される。
この構成の動作を説明する。第1駆動源17でねじ軸1
6aを回転駆動すると、これに螺合している第1移動体
7がYガイド軸6に沿って上下動(Y方向)する、第2
移動源23でスプライン軸19を回転駆動すると、傘歯
車24m、22を介してねじ軸18aが回転し、第2移
動体9が横方向(X方向)に移動する。スプライン軸1
9を用いているため、第1移動体7の上下位置にかかわ
らず、ねじ軸18aへの回転伝達が行なえる。そのため
、材料ホルダ8を2台の駆動#17.23によりX、Y
2方向に自由に移動させることができる。第1図におけ
る1点鎖線は、材料ホルダ8の通常動作のストローク端
を示す、このように、材料ホルダ8をX、Y方向に移動
させながら、すなわちX−Yメカニカルスキャンを行い
ながら、イオン照射装置により材料ホルダ8の材料14
にイオンビーム5を照射し、前述の従来技術で延べたよ
うな各種の処理を行なう。
材料14の交換を行なうときは、材料ホルダ8が予備室
2に入るまで第1駆動源17により第1移動体7を下降
させ、ゲート弁15で開口3を閉じる(第5図)、この
状態で予備室2の取出口(図示せず)を開いて材料交換
を行なう。
このように、イオン照射により材料14の処理を行なう
が、第1移動体7の駆動用の第1送りねじ機構16と平
行なスプライン軸19で第2移動体9に駆動伝達するよ
うにしたため、第1移動体7と第2移動体9の駆動源1
7.23を共に処理室1の外部に設置することができる
。そのため、処理室1が超高真空室であっても、駆動s
17゜23に通常のモータ等を用いてX−Yメカニカル
スキャンが行なえる。このように、直交する2方向のX
−Yメカニカルスキャンを行なうので、従来の回転並進
型のメカニカルスキャンに比べて、簡単な制御でイオン
ビーム5の均一照射が行なえる。また、X−Yメカニカ
ルスキャンを行なうので、静電スキャンでは不可能な大
面積の材料14の場合であっても、材料14に対するイ
オンビーム5の照射方向を常に垂直に保つことができ、
均一照射が行なえる。
また、この実施例では、第2移動体9にゲート弁15を
設け、処理室1の底に予備室2を設けたので、材料ホル
ダ8のYスキャンのための構成をゲート弁15の開閉手
段として兼用できる。そのため、ゲート弁15の開閉駆
動機構を別に設けることが不要であり、構造が簡単とな
る。さらに、この実施例では、第2移動体9に材料ホル
ダ8を吊持するようにしたので、第2移動体9や第1移
動体7!!の機構部分にイオンビーム5が当ることがな
く、これらの機構部分をイオンビーム5の照射によって
tm (1にすることがない。
なお、前記実施例では、第1移動体7および第2移動体
9の移動方向を垂直面内にとったが、水平面内にとり、
上方または下方からイオンビーム5等の照射を行なうよ
うにしてもよい、また、この真空処理室装置は、イオン
ビーム5以外の手段で処理する場合にも通用することが
できる。
〔発明の効果〕
この発明の真空処理室装置は、材料ホルダを有し第1移
動体にその進退方向と直交方向に移動自在に設けた第2
移動体を、第1移動体の駆動用の送りねじ機構と平行な
スプライン軸を介して駆動するようにしており、そのた
め両移動体の駆動源を処理室の外部に設置しながら、材
料ホルダの直交する2方向の移動が行なえる。そのため
、処理室が超高真空であっても、通常の駆動源を用いて
いわゆるX−Yメカニカルスキャンが行なえる。
このように、直交する2方向のX−Yメカニカルスキャ
ンを行なうので、従来の回転並進型のメカニカルスキャ
ンに比べて簡単な制御でイオンビーム等の均一照射が行
なえる。また、X−Yメカニカルスキャンを行なうので
、静電スキャンの場合と異なり、材料が大面積の場合で
あっても、材料に対する照射方向が常に変わらず、均一
照射が行なえるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の縦断正面図、第2図はそ
のスプライン軸部分の断面図、第3図は同じくその処理
室上部の拡大縦断正面図、第4図は同しくその材料ホル
ダ取付部の拡大側面図、第5図は同じくその材料交換動
作の説明図である。 l・・・処理室、2・・・予備室、5・・・イオンビー
ム、6・・・Yガイド軸、7・・・第1移動体、8・・
・材料ホルダ、9・・・第2移動体、10・・・Xガイ
ド軸、14・・・材料、16・・・第1送りねじ機構、
17・・・第1駆動源、18・・・第2送りねじ機構、
19・・・スプライン軸、20・・・回転伝達機構、2
4・・・回転部材特許出頃人  日新電機株式会社 第1図 第3図 第4図     第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 真空引きされる処理室と、この処理室内に一定方向に進
    退自在に設置した第1移動体と、前記処理室内に設けら
    れて前記処理室外の第1駆動源に連結され前記第1移動
    体を進退させる第1送りねじ機構と、前記第1移動体に
    この第1移動体の進退方向と直交する方向に進退自在に
    設置され材料ホルダを有する第2移動体と、前記第1移
    動体に設けられて前記第1移動体を進退させる第2送り
    ねじ機構と、前記第1送りねじ機構のねじ軸と平行に設
    けられて前記真空室外の第2駆動源で回転駆動されるス
    プライン軸と、前記第1移動体に設けられて前記スプラ
    イン軸から回転伝達される回転部材を有しこの回転部材
    の回転を前記第2送りねじ機構のねじ軸に伝達する回転
    伝達機構とを備えた真空処理室装置。
JP22409786A 1986-09-22 1986-09-22 真空処理室装置 Pending JPS6380454A (ja)

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JP22409786A JPS6380454A (ja) 1986-09-22 1986-09-22 真空処理室装置

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JPS6380454A true JPS6380454A (ja) 1988-04-11

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2389958A (en) * 2002-06-21 2003-12-24 Applied Materials Inc Multi directional mechanical scanning in an ion implanter

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2389958A (en) * 2002-06-21 2003-12-24 Applied Materials Inc Multi directional mechanical scanning in an ion implanter
GB2389958B (en) * 2002-06-21 2005-09-07 Applied Materials Inc Multi directional mechanical scanning in an ion implanter
US7105838B2 (en) 2002-06-21 2006-09-12 Applied Materials, Inc. Multi directional mechanical scanning in an ion implanter

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