JPS6379362A - 半導体搭載用基板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

（産業上の利用分野） 本発明は、各種の半導体素子、チップ素子等を搭載する
半導体搭載用基板であって、そのスルーホールに挿入さ
れ、当該半導体搭載用基板の出力端子或いは入力端子と
して使用される導体ピンを有した半導体搭載用基板に関
するものである。 （従来の技術） 一般に、各種の半導体素子、チップ素子等を搭載すると
ともに、出力端子あるいは入力端子として使用される導
体ピンを有する半導体搭載用基板としては、第１図に示
すようなピングリットアレイ型の半導体搭載用基板が開
発されている。 この種の半導体搭載用基板は、その搭ａ部に半導体素子
を搭載してマザーボード等と呼ばれる他の基板に接続さ
れて、半導体素子の実装に使用されるものである。そし
て、この種のピングリッドアレイ型の半導体搭載用基板
は、半導体素子にワイヤーボンディングされる導体部（
３３）と、この導体部（３３）と導通ずる複斂のスルー
ホール（３２）を備えており、スルーホール（３２）の
全部または一部に導体ピンが嵌合されている。これによ
り、このピングリットアレイ型の半導体搭載用基板は、
マザーボート等の他の基板に実装された場合に、上記半
導体素子をワイヤーボンディングのワイヤー、導体部（
］３）、スルーホール（３２）及びこれに嵌合されてい
る導体ピンを通して、マザーボート等に形成されている
導体回路あるいは電子部品と電気的に接続するのである
。 従って、この種の半導体搭載用、ｌ＆坂において使用さ
れる導体ピンにあっては、外部出力端子として実装時の
高い信頼性か必要であり、半導体ｐＳＪｉｌ用基板のス
ルーホール（コ２）との十分な接合強度を必要とし、か
つスルーホール（３２）と当該導体ピンとの嵌合部は電
気的にも確実に接合されていなければならない。また、
この種の導体ピンとスルーホール（３２）との接合をハ
ンダ（３４）によって行なう場合かあり、この場合には
ハンダ（３４）がこの種の導体ピンとスルーホール（３
２）との接合部内に十分浸透していることが必要となる
。 このような必要」−１第１６図及び第１７図に示すよう
に、基板（３１）に形成したスルーホール（コ２）内に
嵌合される頭８１１（４１）と、この頭部（４１）に近
接され゛Ｃスルーホール（３２）の内径より大きい外径
を有した鍔部（４２）からなる導体ピン（４０）を備え
るとともに、スルーホール（３２）に嵌合した導体ピン
（４０）側から溶融ハンダ内に浸漬して構成した半導体
搭載用基板が従来より知られている。 しかしながら、この第ｔａ［：４及び第１７図に示した
半導体Ｖ？佐出用基板あっては、その導体ピン（４０）
の略円形の鍔部（４２）により、半導体搭載用基板に形
成されているスルーホール（コ２）の導体ピン（４０）
側か密閉に近い状態になってしまうこともあった。従っ
て、このような状態になった場合には、導体ピン（４０
）側より当該半導体搭載用基板を溶融ハンダ内に侵情し
たとき、ハンダ浸漬前に導体ピン（４０）側に塗布した
フラックス中の溶剤かガス化してガス溜りを生じ、この
ガス溜りによってハンダ（３４）かスルーホール（３２
）内に十分浸透することかできず、導体ピン（４０）と
スルーホール（３２）との電気的接合を完全に行なうこ
とか困難となり、また接合強度ｉ二の問題もあったので
ある。 これを解決するために、溶融ハンダに対する浸漬時間を
長くすることも考えられるが、このように浸漬時間を長
くすると、毛導体Ｉ５載用基版自体かダメージを受ける
ことになるばかりか、浸漬時間を長くする割には溶融ハ
ンダの浸透はヒ分には行なえないものである。 そこて、上記の半導体搭載用ノ、（板の）、（板（３１
）と導体ピン（４０）の鍔部（４２）間に、ハンダ（３
４）か侵透し易くなるような間隙を積極ｒ６に形成する
ことか考えられる。このような例としては、第１８図及
び第１９図に示したような半導体搭載用基板かある。こ
の第１８１１及び第１９図に示した半導体搭載用基板に
あっては、鍔部（４２）の半導体搭載用ノ、（板に対向
する面に複数の凸部（４３）を形成することにより、こ
れら各凸部（４３）によって鍔ｆ’１ｌ（４２）か直接
半導体搭載用基板の基板（３１）に接しないようにして
、半導体塔載用基板の基板（３１）と鍔部（４２）間に
間隙を積極的に形成するものである。 ところか、このように形成された各凸部（４コ）は、鍔
ｆｉ　（４２）自体の直径か１〜２＠■程度の大きさで
あることから非常に小さいものてあり、この凸部（４３
）の形成は非常に困難である。また、この凸部（４３）
が小さなものであることから、この凸部（４３）を有す
る導体ピンＣ４０）を半導体搭・邊用基板側に嵌合固定
する際の嵌合圧力を微妙に調ヤしない限り、この押圧力
によって凸ｍ　（４３）が漬れてしまい、所定の間隙を
半導体搭載用基板の基板（３１）と鍔部（４２）間に形
成することかできなくなってしまうことがあった。以り
のことは、第２０図及び：ｆＳ２１図に示した半導体搭
載用基板のような場合にも七えることである。、第２０
図及び第２１図に示した゛Ｆ、４体搭載用基板にあって
は、−ヒ記の各凸部（４３）に代えて長尺凸部（４４）
を形成したものである。 また、溶融ハンダの浸透をより良好に行なうために、第
２２図及び第２３図に示した半導体搭載用基板のように
することも考えられた。これら第２２１′２Ｉ及び第２
３図に示した半導体搭載用基板にあっては、鍔部（４２
）の形状を次のようにしたものである。すなわち、鍔部
（４２）の形状を楕円あるいは長方形等とすることによ
って、この鍔＠（４ｚ）かスルーホール（３２）の内径
より大きい部分と小さい部分とを有するものとしたので
ある。各導体ピン（４０）の鍔部（４２）を以上のよう
に形成することによって、当該導体ピン（４０）を半導
体＃６ｉｔ用基板のＪＡ板（３１）に嵌合固定した場合
に、第２３図に示したような間隙（４５）が形成され、
このような半導体塔載用基板を溶融ハンダ内に浸漬した
場合に、この間隙（４５）から溶融ハンダがスルーホー
ル（３２）内に浸透することを目的としているのである
。 ところか、このようにした半導体搭載用基板にあっても
次のような難点かある。すなわち、この種の導体ピン（
４０）は前述したような非常に小さなものであり、目的
とする間隙（４５）を形成するためには、導体ピン（４
０）側は勿論のこと、半導体搭載用ｊ！板のスルーホー
ル（３２）側のクリアランス等の精度を相当高めなけれ
ばならず、理論上は考えられても実際上は非常に困難な
技術なのである。また、導体ピン（４０）に形成する鍔
部（４２）は、もともと゛ｈ導導体搭載部基板基板（３
Ｉ）にタイする支持強度を高めるためのものであるが、
ｌ−記のような言わば支持面となる部分が少なくなるよ
うな形状とすれば、この鍔ｆｉ　（４２）の目的か達成
できなくなる場合もあったのである。 （発ｉｆが解決しようとするＦｌｉＩ題点）本発明は、
し述した実状に鑑みてなされたもので、その解決しよう
とする問題点は、この種の半導体搭載用基板における導
体ピンの接合部のハンダ浸透性の悪さ及びこれを解決す
ることの困難性であり、これに伴なう半導体搭載用基板
自体の信頼性の欠如である。 そして、本発明の目的とするところは、導体ピンの基板
に対する接合部のハンダ浸透性を筒中な構成によって向
ヒさせて、導体ピンの基板に対する接合強度を十分なも
のとすることにより、信頼性に優れた半導体搭載用基板
を提供することにある。 （問題点を解決するための手段） 以−にの問題点を解決するために未発１１か採った手段
は、実施例に対応する各図を参照して説ＩＪ＋すると、 導体材料からなる導体ピン（１０）を、基板（コりに形
成したスルーホールに、導体ピン（１０）の頭部（１１
）にて挿入して形成した゛ｉ導体搭載用）、ｔｉ板にお
いて、 導体ピン（］　ｌ　）を、その中間部にスルーホールよ
りも大きな鍔部（１２）を形成したものとするとともに
、 導体ピン（１０）の鍔部（１２）のｙＡ部（１１）側の
面にとのｆ＄Ｆｔ！＆（１２）の中心部から当該鍔部（
１２）の外周部にまで延在する凹部（２１）を形成した
ことを特徴とする半導体搭載用基板（３０） である。 （９，明の作用） 本発明が以上のような手段を採ることによって、本発明
に係る半導体搭載用基板（３０）について以丁のような
作用がある。 まず、当該半導体搭載用基板（３０）に使用されている
導体ピン（１０）にあっては、そのＪｌ　ｆｔ！Ｉ　（
１１）を半導体搭載用基板（３０）のスルーホール（３
２）内に嵌合することによって、第２図及び第３図に示
すように接合されるか、この場合鍔部（１２）の凹部（
２１）以外の部分か半導体搭載用基板（］（１）の基板
（３１）またはこれに形成されている導体部（３３）に
当接する。 この鍔部（１２）のノ、（板（３１）側に当接している
部分は、十分な広さを有しているため、接合蒔の抑圧力
によって変形するようなことは全くないのである。 また、この導体ピン（１０）にあっては、鍔部（１２）
の凹部（２Ｉ）以外の部分か半導体ＭＳ佐川用板（３０
）の基板（３１）またはこれに形成されている導体部（
３３）に５接する結果、鍔部（１２）の基板（３Ｉ）側
に形成した凹部（２１）によって、第２図及び第３図に
示したように間隙（２１ａ）か形成される。この間隙（
２１ａ）は、半導体搭載用基板（コ０）の基板（３１）
に形成したスルーホール（３２）内と外部とを連通させ
るから、この導体ピン（ｉｏ）を嵌合固定した半導体搭
載用基板（３０）にあっては、各導体ピン（１０）を嵌
合固定した後に溶融ハンダ槽内に浸漬すれば、溶融ハン
ダはＬ記の間隙（２１，ａ）を通って基板（３１）のス
ルーホール（３２）内に部分に浸透し得るのである。 また、凹部（２Ｉ）と、この凹部（Ｚｌ）に連続する凹
所（２２）を有した導体ピン（１０）を使用した゛ｈ導
体搭載用基板（３０）にあっては、これら凹Ｍ（ｚ＋、
）及び凹所（２２）によって、第２図及び第４図に示す
ように、互いにｉ！ｌ統する間隙（２１ａ）及び間隙（
２２ａ）か形成されることになり、これらの間隙（２１
，ａ）及び間隙（２２ａ）によってノ＾板（３１）のス
ルーホール（３２）と外部とが確実に連通するのである
。従って、これらの間隙（２１ａ）及び間隙（２２ａ）
を通して、溶融ハンダは基板（３１）のスルーホール（
３２）内に十分に浸透し得るのである。 従って、このような導体ピン（ｌＯ）を使用した本発明
に係る半導体塔載用人（板（３０）にあっては、その各
導体ピン（１０）かその頭部（１１）にて基板（３１）
のスルーホール（コ２）に対してしっかりと挿入固定さ
れるとともに、その鍔部（］２）か基板（３１）に接触
することによって各導体ピン（１０）に形成されている
各鍔部（１２）にてノ＾扱（３１）にしっかりと支持さ
れているから、ノｘ板（３１）のスルーホール（コ２）
に対する各導体ピン（同）電気的接合が完全に行なわれ
ており、！′Ｊ該半導体搭載用）、（板（３８）は信頼
性の高いものとなっているのである。 また、このｔ導体搭載用ノＳ板００　）が、その各導体
ピン（１０）をノ、（板（３１）に対してハンダ付けし
たものである場合には、当該ハンダか各導体ピン（ｌＯ
）に形成した凹部（２１）、または凹部（２１）及び凹
所（２２）を通して基板（３１）のスルーホール（３２
）内に十分に浸透することになるから、当該半導体搭載
用基板（］０）は、その各導体ピン（１０）がその頭部
（１１）にて基板（コ１）のスルーホール（３Ｚ）に対
してしっかりとｌ／７１着されるたものとなっているの
である。このように、各導体ピン（１０）かノ、（板（
１１）にしっかりと支持されているから、Ｊ、ｌｉ板（
３１）のスルーホール（コ２）に対する各導体ピン（１
０）電気的接合はより完全に行なわれており、当該半導
体搭載用ノ１（板（３０）は信頼性の高いものとなって
いるのである。 （実施例） 以下に本発明を、図面に示した実施例に従ってＪＴ細に
説明する。 第１図には、導体ピン（ｌＯ）を有した本発明に係るピ
ングリッドアレイ型の半導体搭載用基板（３０）の一実
施例を示す斜視図が示しである。この半導体搭載用基板
（３０）にあっては、基板（３１）に形成したスルーホ
ール（３２）に、導体ピン（ｌＯ）の頭部（１１）（こ
れは金属導線の−・部にスルーホール（３２）の直径よ
り太い突出部（ｌｌａ）を形成したものである）か嵌入
固定されている。これにより、この導体ピン（ｉｎ）と
スルーホール（コ２）の電気的接合は、゛ト導体搭載用
基板（３０）を導体ピン（ｌＯ）側より溶融ハンダ槽内
に浸漬することによって、容易に行なわれている。 すなわち、この半導体ＰＳ載用人（板（：１ｌｌ）は、
第２１Ａと、第３１：χ１または第４１Ａに示したよう
に、・９体ピン（１０）をノ、（板（コ１）に形成され
たスルーホール（ｊ２）に挿入した後に、この゛Ｖ：導
体＃？Ｓ載川基用（３０）を導体ピン（１０）側より溶
融ハンダに浸漬して、このハンダをスルーホール（コ２
）内に充填させることにより、導体ピン（１０）とスル
ーホール（コ２）とを−体接合して形成したものである
。これにより、当該寥導体塔載１１　）、を板（３０）
にあっては、導体ピン（１０）に形成した凹部（２１）
、または凹部（２Ｉ）及び凹＋Ｗ（２２）によりて、導
体ピン（１，０）と基板（３１）のスルーホール（３２
）との間に一定の間隙（２１，ａ）　、または間隙（２
１ａ）とこれに連続する間隙（２２ａ）を設けることか
でき、これらの間隙により導体ピン（１０）側より半導
体搭載用基板（３０）を溶融ハンダに浸漬した場合、第
３１：３／Ｉまたは第４図の矢印（↑）方向へ、フラッ
クス中の溶剤のガス化によるガスか容易にスルーホール
（コ２）、Ｌ、部に抜けることができ、また溶融ハンダ
も容易に均一にスルーホール（３２）内に充填されるの
である。 換言すれば、各導体ピン（１０）にあっては、第３図ま
はた第４　ｆ５ｉ１に示したように、鍔！ｔ（１，２）
の基板（３１）と対向する面に、鍔部（１２）の中心よ
り該鍔部（１２）の円周に向かった溝状の構造を持った
凹部（２１）か形成されており、また特に第４１′間に
示した場合には、１記鍔部（１２）に形成した凹部（２
１）の他にこの凹部（２１）に対応した溝状の凹所（２
２）か頭部（１１）に形成されている。従って、この半
導体搭載用基板（３０）を導体ピン（１０）側より溶融
ハンダ槽内に浸漬すると、導体ピン（１０）の鍔部（１
２）に形成した溝状の凹部（２１）、または導体鍔部（
１２）と頭部（１１）の表面に形成した溝状の凹部（２
１）と凹所（２２）を通じてハンダ（３４）かスルーホ
ール（３２）内に侵透し、このハンダ（３４）がスルー
ホール（３Ｚ）内に充填される。このようにして、当該
゛ト導体搭載用基板（３０）にあっては、その導体ピン
（１０）とスルーホール（３２）とは、電気的に完全に
接合されているのである。また、これらの作業は非常に
短時間になされろため、半導体ＮＳ載川用ｌ、Ｉｉ版（
３０）はハンダ（３４）の浸漬時の熱によるダメージを
受けず、確実にハンダ（］４）かスルーホール（３２）
内に充填されたものとなっているのである。 なお、ｍ１図に示した本実施例では、半導体搭載用基板
（コ０）の四隅の導体ピン（１０）か、頭部（ＩＩ）近
傍に設けられる鍔部（１２）の下方に、さらに別の鍔部
（１２）を有しており、この別の鍔部（１２〕により、
半導体鼎載用ノふ板（３０）を導体ピン（ｌＯ）の支持
部（■３）を使用してマザーボート等に固定した際、当
該゛に導体搭載用ノ、（板（３０）はマザーボート等の
しに浮いた状１！となり、半導体搭載用基板（３０）は
その放熱性を向上させるようになっている。この別の鍔
部（１２）を有する導体ピン（１０）を第１１図に示し
た。この下側の鍔部（１２）の形状には、マザーボ−ト
側の実装用スルーホールの内径より大きい略円形状のも
のであるか、この鍔部（１２）のマザーボートと対向す
る表面に鍔部（１２）の中心より鍔部（１２）の円周に
向った溝状の凹部（２１）を形成すれば、ハンダ付は実
装時に発生するピン接続部のブローホール等のハンダ付
は不良を抑えることかできるものである。 次に、本発明に係る半導体搭載用基板（３０）に使用さ
れている導体ピン（１０）につい”Ｃ，第５図〜第１Ｏ
図を参照して説明する。この導体ピン（１０）は、基板
（３１）に形成されたスルーホール（３２）に挿入され
る頭部（１１）と、この頭部（１１）の下側に位置する
鍔部（１２）と、この鍔部（Ｉ２）のざらにド側に位置
する支持部（１：Ｊ）とからなワているものである。 そして、この導体ピン（１０）の鍔部（Ｉ２）の頭部（
１１）側の面には、この鍔部（１２）の中心部から′ｌ
／Ｉ該鍔部（１２）の外周部にまで延在する凹部（２１
）か形成されている。 この凹部（ｚｌ）は、鍔部（１２）に形成された７？わ
は溝てあり、鍔部（（２）の中心部より外周部（円周部
）に向ってＩＪ！続した構造であればその形状について
は特に限定されない。また、凹部（２１）を構成してい
る溝の深さについては、フラフクス、あるいはハンダの
浸透に充分なものてあれば特に限定されないか、具体的
な深さとしては５０〜ＩＯ口μｍ程度のものであること
か最も望ましい。なお、この凹Ｆｆｆｉ（２１）の数に
ついては種／／考えられるか、製造上の容易性及び鍔部
（１２）自体の支持強度を考慮すると図面に示したよう
な二個所程度が最も適しているものである。 この導体ピン（１０）がその鍔部（１２）に凹部（２１
）をイ！することによって、この導体ピン（１０）を半
導体搭成用基板（１０）を構成する基板（コ１）のスル
ーホール（３２）に嵌合または挿入して接合したとき、
第２（Ａ及び第３図に示すように、この導体ピン（１０
）の鍔部（１２）とノ＾板０１）または導体部（３３）
との間に間隙（２１ａ）か形成され、この間隙（２１ａ
）を通してハンダ（３４）がスルーホール（コ２）内に
浸透するのである。 なお、第８（聞〜第１０図には、鍔部（１２）側に形成
した凹部（２Ｉ）の他に、これに連続しｙＡ部（Ｉｆ）
に形成された凹所（２２）を４１する導体ピン（１０）
か示しである。この凹所（２２）は頭部（１１）に形成
された言わば溝であり、この凹所（２２）は鍔部（１２
）よりこの頭部（１１）の先端部に至って連続していな
ければならないものである。 この導体ピン（１０）かその鍔部（１２）に凹部（２１
）を有するとともに、この凹部（２１）に連続する凹所
（２２）をその頭部（１１）に有することによって、こ
の導体ピン（１０）を、半導体搭・成用基板（３０）を
構成する基＆（３１）のスルーホール（３２）に嵌合ま
たは挿入して接合したとき、第２図及び第４１；１に示
すように、この導体ピン（ｌＯ）の鍔部（１２）の凹部
（２１）及び頭部（１，１）の凹所（２２）によっ゛Ｃ
１鍔部（１２）とノ＾板（３１）間に間隙（２１ａ）か
、また頭部（＋、　］、　）か挿入されるスルーホール
（３２）内に上記の間隙（２１ａ）と互いに連続する間
隙（２２ａ）かそれぞれ形成されるのである。この間隙
（２１ａ）及び間隙（２２ａ）を通してハンダ（３４）
がスルーホール（３２）内に侵透するのである。 また、Ｌ記の導体ピン（１０）の頭部（１１）にあって
は第５１ＸＩ及び第８図に示したように、こ才りを扁シ
形状に形成することにより、スルーホール（３２）の内
径よりも当該頭部（ＩＩ）の外径を大きくする突出部（
Ｉｌａ）を形成して実施してもよい。各頭部（１１）の
スルーホール（３２）に対する挿入固定を確実に行なう
ためである。 次に、第１２図〜第１５図を参照して、Ｆ記の導体ピン
（１０）の製造方法について説明する。 第１２図は、６１続した金属導線の所定聞隔藻れたニー
個所を、金属・４線の゛ト径方向の突起を少なくとも一
方かイ１する二つのチャ・・ｌりにより挟持して、この
二つのチャックを金属導線の軸芯方向に相対的に移動さ
せることにより、挾持した部分を抑圧変形させて、鍔部
（１２）とこの鍔部（１２）の表面に凹部（２１）を形
成する工程を示している。すなわち、この工程にあって
は、連続した均一な径の金属導線の所定の間隔を持った
２カ所をチャウキングして、この所定の間隔を圧縮する
方向に金属導線を変形させることにより、鍔部（Ｉ２）
を形成するのである。この工程の場合、鍔部（１２）を
形成させると同時に、鍔部（１２）の一方を押す面の金
型に凹部（２１）に対応する突起を設けて、この突起に
より鍔部（１２）に凹部（２１）を形成するのである。 このように、導体ピン（１０）の鍔部（１２）に凹部（
２１）を形成させる工程にあっては、この凹部（２１）
の形成を鍔部（１２）の形成と同時にできるので、鍔部
（１２）形成工程と凹部（２１）形成工程を２工程に別
ける必要がないものである。 第１３［−４は、鍔１　（１２）の凹部（２１）側にて
突出する金属導線を、゛ト導体塔成用基板（３ｏ）のス
ルーホール（３２）に挿入されるに必要な長さに切断し
て頭部（＋１）を形成する「程を示したものである。す
なわち、゛ｒ：導体搭佐川成用（３ｏ）のスルーホール
（３２）に挿入される部分である頭部（１１）になる金
属導線を、スルーホール（３２）への挿入に必要な長さ
に切断し°（頭部（１１）を形成するのである。そして
、この工程において、切断された金属導線の先端を円錐
状の凹部を持った金型でたたくことにより。 形成された頭部（１１）にデーバーを形成するのである
。この頭部（ｎ）の切断長さは、これか挿入される基板
（］ｔｌの板厚により決り、板厚と同等がそれ以下であ
ることかｃｌましい。なお１頭ｆｉ（ＩＩ）の先端に形
成されたテーパーは、導体ピン（１ｏ）を）、ｔｉ板（
３１）に形成されたスルーホール（３２）に挿入する場
合の面取り部になるものであるから、その先端径か小さ
くしかも当該テーパーの傾斜はなだらかな方がよい。 ｆｆ！ＪｌＪ図は、以ヒのように形成した頭部（ＩＩ）
をその半径方向から押圧して扁モにすることによって、
当該頭部（ＩＩ）に突出部を形成する工程を示している
。すなわち、この工程にあっては、導体ピン（１０）に
おけるｆＡ部（ｌ

【）の大径部分の径か、これを挿入す
る基板（３１）のスルーホール（３２）の内径より大き
くなるように突出部を設ける工程である。また、この工
程においＣ１型の一部に１−述した凹所（２２）に対応
する突起部を設けておくことによって、当該頭部（１１
）の長さ方向に連続した溝である凹所（２２）を形成す
ることかできるのである。 第１５図は、頭部（１１）とは反対側にある金属導線を
所定の寸法に切断する工程を示したちのである。すなわ
ち、この工程にあっては、鍔ｆｆｉ　（１２）に対して
頭部（ロ）と反対側の金属導線を切断する工程を示して
いる。この切断により導体ピン（１０）の外部接続端子
の長さを規定するのである。その後に、切断された導体
ピン（１０）の端部をバレル研磨することにより、切断
部等のパリを取り、端部の面取りをするのである。 このような導体ピン（ｌＯ）の一連の加工後、その表面
仕りげを施し、必要に応じて表面に金属メッキを形成さ
せれば、導体ピン（＋、　ｔｌ　）か完成するのである
。 （発Ｉｌｌの効果） 以１７．に説〔」シたように、未発［５＋に係る半導体
搭載用基板（３０）によれば、Ｌ記実施例に例示した如
く、その】、（板（３１）のスルーホール（３２）に挿
入した導体ピン（１０）か、金属導線の中間部に鍔部（
１２）を形成し、１板付部（１２）の表面に鍔部（１２
）の中心より該鍔部（１２）の円周に向かった溝状の構
造を持った凹部（２１ンを形成したものであるから、こ
の凹部（２１）１．：よッテ、　”（ａＪ導体ピン（１
０）をノ１（板（：ｌＩ）ノスルーホール（３２）に挿
入して接合する場合に基板（コ１）との間に間隙（２１
ａ）を形成し、この間１隙（２１ａ）によってハンタ（
３４）のスルーホール（３２）内への浸透をより一層高
めることかてきて、当該半導体搭載用基板（３０）を導
体ピン（■０）の接合強度が高く電気的接続を確実なも
のとすることかできるのである。 換言すれば、以」−のような構成を右する導体ピン（１
０）を、導体部（］３）を有する基板（３１）に形成さ
れたスルーホール（３２）に嵌入固着した本発明に係る
半導体搭載用ノＳ板（３０）においては、鍔部（］２）
によって各導体ピン（１０）が半導体搭載用基板（３０
）にしっかり支持されると同時に、鍔部（１２）表面に
形成されている溝状の凹部（２１）により、ノ、（板（
３１）と鍔部（１２）の間に一定の間隙（２１ａ）を設
けることができるのである。これにより、当該半導体＋
Ｆ？ａ用基板（３０）を導体ピン（１０）側より溶融ハ
ンダ槽内に浸漬した時、この一定の間隙（２１ａ）を通
して容易にハンダかスルーホール（３２）内に浸透し、
この溶融ハンダは短時間にスルーホール（コ２）内に充
填されるのである。特に凹部（２１）の他に凹所（２２
）を有する４体ピン（１０）を使用した半導体搭載用ノ
、（板（コ０）にあてって、この効果か高い。 従って、このような導体ピン（１０）を使用すれば、溶
融ハンタ侵情時に、当該ハンダかスルーホール（３２）
内に短時間で揚がり、半導体搭載用ノ、（板（３０）の
溶融ハンダ浸漬面によるダメージも少なく、スルーホー
ル（３２）内にフラックスの残渣も残らない信頼性の高
い接合状態のピングリ・ントアレイ型の゛ト導体＃１Ｓ
４１川ノ＾板（コ０）とすることができるのである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る半導体搭載用基板の斜視図、第２
図は第１１″ＡのＩ−１線に沿って見た部分拡大縦断面
［′Ａてあり、第３［聞及び第４［Ｍは第２ｒＡのＩＩ
−ＩＩ線に沿って見た各導体ピンの状態を示した部分縦
断面図である。 第５図〜０′Ｓ７図は導体ピンを示すものであり、第５
１′Ａはその正面斜視図、第６図は同側面図、第７図は
同乎面１−Ａである。また、第８　［−４〜第１０図は
他の導体ピンを示すものであり、第８１Ｍはその正面側
視図、第９図は同側面［３１、第１Ｏ１″Ａは同モ面図
である。また、第１１図はさらに他の導体ピンを示す正
面斜視図である。 また、第１２［Ａ〜第１５図のそれぞれは導体ピンの製
Φ方法を説ｌ！Ｉするための各工程を示す斜視図である
。 さらに、第１６図〜第２３［ｆＡは従来の半導体搭載用
基板の部分を示すｂのてあり、第１６図、第１８図、第
２０１Ａ及び第２２図はその部分縦断面図、第１７Ｉ４
、第１９［：ｉ、第２１　ｆｆｉ及び第２３図は各々そ
のモ面［：Ａである。 符　　　号　　　の　　　説　　　明 １０・・・導体ピン、ＩＩ・・・頭部、　ｌｌ；１・・
・突出部、１２・・・鍔部、　＋３−・・支持部、２　
］−・・凹部２１　ａ−間隙、２２−・・凹所、２２ａ
・・・間隙、３０・・・半導体搭載用基板、３１−・・
基板、３２・・・スルーホール、コ３・・・導体部、３
４・・・ハンダ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）、導体材料からなる導体ピンを、基板に形成したス
   ルーホールに、前記導体ピンの頭部にて挿入して形成し
   た半導体搭載用基板において、前記導体ピンを、その中
   間部に前記スルーホールよりも大きな鍔部を形成したも
   のとするとともに、 前記導体ピンの鍔部の前記頭部側の面に、この鍔部の中
   心部から当該鍔部の外周部にまで延在する凹部を形成し
   たことを特徴とする半導体搭載用基板。 ２）、前記導体ピンが、前記鍔部に形成した前記凹部に
   連続する凹所を、当該導体ピンの前記頭部に有するもの
   であることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の
   半導体搭載用基板。 ３）、前記導体ピンの頭部を扁平形状に形成して突出部
   を形成するとともに、この頭部の最大径部が前記スルー
   ホールよりも僅かに大きくなるようにしたことを特徴と
   する特許請求の範囲第１項または第２項に記載の半導体
   搭載用基板。 ４）、前記導体ピンが、前記鍔部の他に別の鍔部を有し
   たものであることを特徴とする特許請求の範囲第１項〜
   第３項に記載の半導体搭載用基板。 ５）、前記導体ピンを、前記スルーホールに挿入固定す
   るとき、前記鍔部が前記基板に当接することを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項〜第４項に記載の半導体搭載用
   基板。 ６）、前記スルーホールに挿入された前記導体ピンが当
   該スルーホールにハンダ付けされていることを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項〜第５項に記載の半導体搭載用
   基板。 ７）、前記基板がピングリッドアレイ基板であることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項〜第６項に記載の半導
   体搭載用基板。