JPS6376430A - プラズマ化学気相成長装置 - Google Patents
プラズマ化学気相成長装置Info
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- JPS6376430A JPS6376430A JP61219794A JP21979486A JPS6376430A JP S6376430 A JPS6376430 A JP S6376430A JP 61219794 A JP61219794 A JP 61219794A JP 21979486 A JP21979486 A JP 21979486A JP S6376430 A JPS6376430 A JP S6376430A
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- alumina
- plasma
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Links
- 239000000126 substance Substances 0.000 title abstract 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 7
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 7
- PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N Boron nitride Chemical compound N#B PZNSFCLAULLKQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052582 BN Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 8
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 8
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 abstract description 8
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 6
- 239000012528 membrane Substances 0.000 abstract description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 5
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 4
- 239000000843 powder Substances 0.000 abstract description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 abstract description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 abstract description 3
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 abstract description 2
- UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N borane Chemical compound B UORVGPXVDQYIDP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 3
- 229910010277 boron hydride Inorganic materials 0.000 abstract 3
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 abstract 3
- XJKVPKYVPCWHFO-UHFFFAOYSA-N silicon;hydrate Chemical compound O.[Si] XJKVPKYVPCWHFO-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 abstract 1
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001639 boron compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 2
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はプラズマ化学気相成長(プラズマC■D)装置
、さらに特定すれば、X線マスクのメンブレン成膜に適
するプラズマCVD装置に関する。
、さらに特定すれば、X線マスクのメンブレン成膜に適
するプラズマCVD装置に関する。
平行平板型プラズマCVD装置は、成膜すべき物体を載
せるサセプタ、および、これに対向して配置するプラズ
マ発生用電極がアルミニウムまたはステンレス鋼などの
金属で作られている。
せるサセプタ、および、これに対向して配置するプラズ
マ発生用電極がアルミニウムまたはステンレス鋼などの
金属で作られている。
このようなプラズマCVD装置を使用して、シリコンウ
ェハに非晶質の水素化:窒化ほう素または水素化:窒化
炭化ほう素の薄膜を成膜して、X線マスクのメンブレン
を形成するが、これらのほう素化合物は金属に対する密
着性が不足するばかりでなく、熱膨張係数が6.0X1
0−h程度である。
ェハに非晶質の水素化:窒化ほう素または水素化:窒化
炭化ほう素の薄膜を成膜して、X線マスクのメンブレン
を形成するが、これらのほう素化合物は金属に対する密
着性が不足するばかりでなく、熱膨張係数が6.0X1
0−h程度である。
これに対して、アルミニウムは、熱膨張係数が2.4X
10−’、ステンレス鋼SUSは1.9X10−’であ
って、1桁も違うので、金属で作られた電極およびサセ
プタの露出面に沈着した非晶質の水素化;窒化ほう素ま
たは水素化:窒化炭化ほう素の薄膜は剥離し易く、微細
末となってメンブレンに付着する欠点があった。
10−’、ステンレス鋼SUSは1.9X10−’であ
って、1桁も違うので、金属で作られた電極およびサセ
プタの露出面に沈着した非晶質の水素化;窒化ほう素ま
たは水素化:窒化炭化ほう素の薄膜は剥離し易く、微細
末となってメンブレンに付着する欠点があった。
上記問題点は、非晶質の水素化:窒化ほう素または水素
化:窒化炭化ほう素の薄膜を形成するのに適するプラズ
マCVD装置であって、金属で作られたサセプタおよび
電極をアルミナで被覆したことを特徴とするプラズマC
VD装置によって解決することができる。
化:窒化炭化ほう素の薄膜を形成するのに適するプラズ
マCVD装置であって、金属で作られたサセプタおよび
電極をアルミナで被覆したことを特徴とするプラズマC
VD装置によって解決することができる。
第1図は平行平板型プラズマCVD装置の略断面図であ
る。プラズマ発生用のアルミニウム電極1にアルミニウ
ムサセプタ2が対向しており、この電極に原料ガスを供
給し、高周波電圧を印加して電極内でプラズマ化し、サ
セプタに向けて放出する。サセプタ2は、シリコンウェ
ハ3を載せ、反対側にヒータ4を有する。この電極1お
よびサセプタ2はアルミナ焼結板を接着して外面を被覆
した。
る。プラズマ発生用のアルミニウム電極1にアルミニウ
ムサセプタ2が対向しており、この電極に原料ガスを供
給し、高周波電圧を印加して電極内でプラズマ化し、サ
セプタに向けて放出する。サセプタ2は、シリコンウェ
ハ3を載せ、反対側にヒータ4を有する。この電極1お
よびサセプタ2はアルミナ焼結板を接着して外面を被覆
した。
なおアルミナの被覆は、アルミニウムを蒸着した後に熱
酸化するか、またはアルミニウムをターゲットとし、酸
素・アルゴン混合ガスを使用してスパッタリングして成
膜することもできる。
酸化するか、またはアルミニウムをターゲットとし、酸
素・アルゴン混合ガスを使用してスパッタリングして成
膜することもできる。
この装置を使用して、サセプタにシリコンウェハを載せ
て温度450℃に加熱し、アルゴンで希釈したジボラン
、アンモニアおよびメタンの混合ガスを導入し、高周波
電圧を印加して非晶質の水素化:窒化炭化ほう素の薄膜
をシリコンウェハ上に形成した。このときウェハ以外の
場所、すなわち電極およびサセプタの露出面にもこのほ
う素化合物が沈着するが、これらの熱膨張係数は6.0
×10−1であって、被覆アルミナの6.4X10−’
に近似しているので、操作中における温度の変化があっ
ても、剥離して生成した微粉末がメンブレンに付着する
ことが少ない。なおアルミナは、ぶつ化窒素またはぶつ
化炭素・酸素などによるプラズマクリーニングに対する
耐性も有する利点がある。
て温度450℃に加熱し、アルゴンで希釈したジボラン
、アンモニアおよびメタンの混合ガスを導入し、高周波
電圧を印加して非晶質の水素化:窒化炭化ほう素の薄膜
をシリコンウェハ上に形成した。このときウェハ以外の
場所、すなわち電極およびサセプタの露出面にもこのほ
う素化合物が沈着するが、これらの熱膨張係数は6.0
×10−1であって、被覆アルミナの6.4X10−’
に近似しているので、操作中における温度の変化があっ
ても、剥離して生成した微粉末がメンブレンに付着する
ことが少ない。なおアルミナは、ぶつ化窒素またはぶつ
化炭素・酸素などによるプラズマクリーニングに対する
耐性も有する利点がある。
プラズマCVDによってX線メンブレンを成膜するとき
に微粉末の発生を従来より軽減することができた。
に微粉末の発生を従来より軽減することができた。
第1図はプラズマCVD装置の略断面図である。
l・・・電極、 2・・・サセプタ、 3・・・ウ
ェハ、4・・・ヒータ、 5・・・アルミナ。
ェハ、4・・・ヒータ、 5・・・アルミナ。
Claims (1)
- 1、非晶質の水素化:窒化ほう素または水素化:窒化炭
化ほう素の薄膜を形成するのに適するプラズマ化学気相
成長装置であって、金属で作られたサセプタおよび電極
をアルミナで被覆したことを特徴とするプラズマ化学気
相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61219794A JPS6376430A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | プラズマ化学気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61219794A JPS6376430A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | プラズマ化学気相成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6376430A true JPS6376430A (ja) | 1988-04-06 |
Family
ID=16741129
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61219794A Pending JPS6376430A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | プラズマ化学気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6376430A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0673056A1 (en) * | 1994-03-15 | 1995-09-20 | Applied Materials, Inc. | Plasma processing chamber and method of treating substrates in a plasma processing chamber |
JPH0925586A (ja) * | 1995-07-11 | 1997-01-28 | Anelva Corp | 基板処理装置および基板処理方法 |
-
1986
- 1986-09-19 JP JP61219794A patent/JPS6376430A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0673056A1 (en) * | 1994-03-15 | 1995-09-20 | Applied Materials, Inc. | Plasma processing chamber and method of treating substrates in a plasma processing chamber |
US5680013A (en) * | 1994-03-15 | 1997-10-21 | Applied Materials, Inc. | Ceramic protection for heated metal surfaces of plasma processing chamber exposed to chemically aggressive gaseous environment therein and method of protecting such heated metal surfaces |
JPH0925586A (ja) * | 1995-07-11 | 1997-01-28 | Anelva Corp | 基板処理装置および基板処理方法 |
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