JPS6376047A - Mode switching circuit for microprocessor - Google Patents

Mode switching circuit for microprocessor

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JPS6376047A
JPS6376047A JP61222443A JP22244386A JPS6376047A JP S6376047 A JPS6376047 A JP S6376047A JP 61222443 A JP61222443 A JP 61222443A JP 22244386 A JP22244386 A JP 22244386A JP S6376047 A JPS6376047 A JP S6376047A
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microprocessor
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reset signal
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Noriyuki Matsui
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31701Arrangements for setting the Unit Under Test [UUT] in a test mode

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Abstract

PURPOSE:To prevent a package from being expanded by switching a mode in accordance with the length of a reset signal inputted from a reset terminal of a microprocessor (MPU). CONSTITUTION:At the time of inputting a reset signal, an overflow signal B is outputted through a reset pulse generating circuit 21 and an n-bit timer circuit 22 with a clear function and a signal C synchronized with the length of a reset signal inputted from the reset terminal of the MPU is outputted by a flip flop (FF) circuit 23a in a synchronizing shift register 23. If the reset signal inputted from the reset terminal of the MPU is a reset signal having the length decayed over a set period, an FF circuit 25 outputs a setting signal to switch a normal mode to a test mode and outputs an MPU operation start signal to start test mode operation. Consequently, the package including the MPU can be prevented from being expanded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 木発明け、マイクロプロセッサ番でテスト回路及びテス
トモード切替回路が内蔵され九マイクロプロセッサのモ
ード切替回路におりて、モード切替こ のための端子数の増加&解決するため、マイクロプロセ
ッサに入力されるリセット信号の長短によって、端子の
増加なくマイクロプロセッサのモード切替が行なえるよ
うにしたものである。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Invented on Thursday, the microprocessor number has a built-in test circuit and a test mode switching circuit. Therefore, the mode of the microprocessor can be switched without increasing the number of terminals by changing the length of the reset signal input to the microprocessor.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、マイクロプロセッサのモード切替回路に関す
るもので、特にマイクロプロセッサにテスト回路及び、
テストモード切替回路が内蔵されて偽るマイクロプロセ
ッサのモード切替回路に関するものである。
The present invention relates to a mode switching circuit for a microprocessor, and in particular, a test circuit and a test circuit for the microprocessor.
This invention relates to a mode switching circuit for a microprocessor that has a built-in test mode switching circuit.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第4図は従来のマイクロプロセッサのモード切替回路の
構成を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing the configuration of a mode switching circuit of a conventional microprocessor.

第4図において、41けテスト回路、42はテストモー
ド切替専用回路、431−jマイクロプロセッサ、44
けテストモード切替信号入力端子をそれぞれ示している
In FIG. 4, 41 test circuits, 42 a test mode switching dedicated circuit, 431-j microprocessor, 44
The test mode switching signal input terminals are shown respectively.

従来のマイクロプロセッサのモード切替回路は、!4図
のテストモード切替専用回路を用−た例にド切替専用回
路42を接続することにより、通常動作からテスト動作
へのモード切替を行なうものであった。
The mode switching circuit of a conventional microprocessor is! By connecting the mode switching circuit 42 to the example using the test mode switching circuit shown in FIG. 4, mode switching from normal operation to test operation is performed.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、従来のマイクロプロセッサのモード切替
回路は、マイクロプロセッサに新たにテストモード切替
専用端子を増設するため、その分端子数が増加すること
になり、マイクロプロセッサを含むパッケージが増大す
るという欠点があった。
However, conventional mode switching circuits for microprocessors have the disadvantage that the number of terminals increases because a new terminal dedicated to test mode switching is added to the microprocessor, and the package containing the microprocessor increases accordingly. Ta.

従って本発明は、かかる問題点を改善したマイクロプロ
セッサのモード切替回路を提供することを目的とするも
のである。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a mode switching circuit for a microprocessor that has improved the above-mentioned problems.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

第1図は本発明の原理構成図である。 FIG. 1 is a diagram showing the basic configuration of the present invention.

同図におりて、1はクロック信号とリセット信号を入力
とする計数手段であって、2は肢計数手段C11の出力
信号と、紋リセット信号を入力とするテストモード信号
発生手段である。
In the figure, numeral 1 is a counting means which receives a clock signal and a reset signal as input, and 2 is a test mode signal generating means which receives an output signal of the limb counting means C11 and a print reset signal as input.

一般にマイクロプロセッサ等におりでは、内部レジスタ
、カウンタ等を初期クリアするためのリセット信号が用
いられている。このリセット信号は上記の目的のために
、初期状襲におりて一定の長ざを有する信号としてマイ
クロプロセッサに入力される。
Generally, in microprocessors and the like, a reset signal is used to initially clear internal registers, counters, etc. This reset signal is initially input to the microprocessor as a signal having a constant length for the above purpose.

本発明はこの点に着目し、テスト時には上記のりセット
信号を初期クリアのために定められた所定のリセット信
号の長ざと異なる長さの信号として、マイクロプロセッ
サに入力することにより入力端子数を増加せずにテスト
モード或t、qFi、通常モードの切替を行なわせるも
のである。
The present invention focuses on this point, and increases the number of input terminals by inputting the above-mentioned reset signal to the microprocessor as a signal with a length different from the length of the predetermined reset signal determined for initial clearing during testing. This allows switching between test mode, t, qFi, and normal mode without having to do so.

すなわち、本発明によるマイクロプロセッサのモード切
替回路は、マイクロプロセッサのリセット端子から入力
されるリセット信号の長さを計数する計数手段lと、該
計数手段1が予じめ定められたリセット信号の長さを超
える長さを検出した時に、テストモード信号を発生させ
るテストモード信号発生手段2とから構成されてbる。
That is, the mode switching circuit for a microprocessor according to the present invention includes a counting means 1 for counting the length of a reset signal inputted from a reset terminal of the microprocessor, and a counting means 1 for counting the length of a reset signal inputted from a reset terminal of the microprocessor. and a test mode signal generating means 2 for generating a test mode signal when a length exceeding the length is detected.

〔作用〕[Effect]

本発明は以上の如く構成されるものであり、本発明によ
るマイクロプロセッサのモード切替回路は、リセット膚
信号がマイクロプロセッサの入力端子から入力されると
、計数手段1はこのリセット信号の長さを計数し、マイ
クロプロセッサの内部回路の初期クリアを行なうのに要
する時間を超える長さであることが該計数手段lによっ
て検出されたときに、テストモード信号売主手段2によ
り、テストモード信号が発生する。
The present invention is constructed as described above, and in the microprocessor mode switching circuit according to the present invention, when a reset signal is input from the input terminal of the microprocessor, the counting means 1 calculates the length of this reset signal. A test mode signal is generated by the test mode signal seller means 2 when the counting means l detects that the time exceeds the time required to perform the initial clearing of the internal circuits of the microprocessor. .

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の1実施例を第2図、第3図を参照しつつ
詳細に説明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 2 and 3.

第2図は本発明の1実施例を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing one embodiment of the present invention.

第3図は本発明の1実施例の動作タイミングを説明する
タイムチャートである。
FIG. 3 is a time chart explaining the operation timing of one embodiment of the present invention.

尚第2図において、第1図と同一符号は同一対象物を示
す。
In FIG. 2, the same reference numerals as in FIG. 1 indicate the same objects.

同図にシbて、21はカウンタクリアパルス発生00路
、22けクリア付nビットタイマ回路、23は同期用シ
フトレジスタ、24はインバータ、25けフリツプフロ
ツプ回路をそれぞれ示す。
In the figure, 21 indicates a counter clear pulse generation 00 path, a 22-digit clear n-bit timer circuit, 23 a synchronizing shift register, 24 an inverter, and a 25-digit flip-flop circuit.

ル また、クリア付のピットタイマ回路22け、この実施例
では、所定の長さのリセット信号に対して長い時間でオ
ーバー70−信号を出力するようなピット数nに設定さ
れている。
Further, in this embodiment, the pit timer circuit 22 with a clear function is set to the number n of pits such that an over-70 signal is output for a long time in response to a reset signal of a predetermined length.

以下、H3図1a)の動作タイムチャートを用りて、通
常モードの場合の動作を説明する。
The operation in the normal mode will be described below using the operation time chart of FIG. 1a).

カウンタクリアパルス発生回路21け複数のインバータ
とナンド素子により構成されており、該カウンタクリア
パルス発生回路21によりF3図人に示−を如<ハイレ
ベルから一旦クーレベルとなり、クリア付nビットタイ
マ回路22に入力され期クリアすなわちゼロクリアされ
る。
The counter clear pulse generating circuit 21 is composed of a plurality of inverters and NAND elements, and the counter clear pulse generating circuit 21 once changes from high level to low level as shown in Figure F3, and the n-bit timer circuit 22 with clear is input and the period is cleared, that is, it is cleared to zero.

次りでクリア付nビットタイマ回路22すなわちn段の
7リツプ70ダブ回路22a〜22nがクロック信号を
カウントアツプし、リセット信号がクリア付nビットタ
イマ回路22に入力されてからnクコツクカウントされ
た時点で、オーバー7a−信号が出力される− (第3
図B)。リセット信号はクロック信号と共に同期用シフ
トレジスタ23にも入力され、計量期用シフトレジスタ
23内のフリツプフロツプ回路23a  により、クロ
ック信号と同期化されたリセット信号が出力これるt(
第3図C)。マイクロプロセッサのリセット信号入力端
子から入力され走リセット信号9が、上記クリア付nビ
ットタイマ回路22によって設定され九時開(オーバー
フ−−)に達しな偽うちに、クロック信号によって同期
化きれたリセット信号が立下がるような長さのリセット
信号であると、フリ、ラフコツ1回路25aセットされ
ず、通常モードを示す信号C第3図E)が出力される。
Next, the n-bit timer circuit 22 with clear, that is, the n-stage 7-lip 70 dub circuits 22a to 22n, counts up the clock signal, and after the reset signal is input to the n-bit timer circuit 22 with clear, it is counted up by n times. At the point in time, the over 7a signal is output (third
Figure B). The reset signal is also input to the synchronization shift register 23 together with the clock signal, and the flip-flop circuit 23a in the measurement period shift register 23 outputs a reset signal synchronized with the clock signal.
Figure 3C). The running reset signal 9 inputted from the reset signal input terminal of the microprocessor is set by the n-bit timer circuit 22 with clear, and the reset is synchronized by the clock signal before reaching 9 o'clock open (overflow). If the length of the reset signal is such that the signal falls, the first circuit 25a will not be set and the signal C (E) in FIG. 3 indicating the normal mode will be output.

また同期用シフトレジスタ23内の7リツプ70ツブ回
路23bにより%第3図Cの信号を1クロック分遅らせ
て(第3図D)インバータ24で始信号が出力され、通
常動作が開始される。
Further, the 7-rip, 70-tub circuit 23b in the synchronizing shift register 23 delays the signal shown in FIG. 3C by one clock (FIG. 3D), and outputs a start signal from the inverter 24, thereby starting normal operation.

次に第3図rbl動作タイムチャートを用すてテストモ
ードへの切替動作について説明する。
Next, the switching operation to the test mode will be explained using the rbl operation time chart in FIG.

前述と同様に、リセット信号が入力されると、リセット
パルス発生回路21及びり17ア付nピットタイマ回路
22を介してオーバーフロー信号(信号B)が出力され
、マイクロプロセッサのリセット端子から入力されるリ
セット信号の長さに同期した信号Cが、同期用シフトレ
ジスタ23内の7リツプ70ツブ回路23aにより出力
される。
Similarly to the above, when a reset signal is input, an overflow signal (signal B) is outputted via the reset pulse generation circuit 21 and the n-pit timer circuit 22, and is inputted from the reset terminal of the microprocessor. A signal C synchronized with the length of the reset signal is outputted by the 7-lip, 70-tub circuit 23a in the synchronizing shift register 23.

この時上記マイクロプロセッサのリセット端子から入力
された11セット信号が、設定された時間(オーバーフ
ロー)を超えて立下がるような長さのリセット信号であ
ると、フリ、1クロック回路25はセット信号を出力し
C第3図(blの波形E)テストモードへと切替わシ、
以下前述と同様の手順でマイクロブロセ、すの動作開始
信号(第3図(blの波形F)が出力され、テストモー
ド動作が開始される。
At this time, if the 11 set signal inputted from the reset terminal of the microprocessor is a reset signal of such a length that it falls beyond the set time (overflow), the 1 clock circuit 25 pretends that the set signal is Output C Figure 3 (waveform E of bl) and switch to test mode.
Thereafter, in the same procedure as described above, an operation start signal (waveform F in FIG. 3 (bl)) of the microprocessor is outputted, and the test mode operation is started.

また、本実施例においては、計数手段としてカウンタ(
タイマ)回路を用いた例を説明したが、計数手段として
1シ嘗ツトマルチバイプレータを用−ることも可能であ
る。
In addition, in this embodiment, a counter (
Although an example using a timer circuit has been described, it is also possible to use a one-shot multivibrator as the counting means.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明は以上説明し六ように、マイクロプロセッサのモ
ード切替回路がマイクロプロセッサのリセット端子から
入力されるリセット信号の長短により、モードが切替わ
るよう構成されている。
As described above, the present invention is configured such that the mode switching circuit of the microprocessor switches the mode depending on the length of the reset signal input from the reset terminal of the microprocessor.

このため、端子の増加によるパッケージの増大を行なわ
ずして、マイクロプロセッサのモード切替を行なうこと
が可能となる@
Therefore, it is possible to switch modes of the microprocessor without increasing the package size due to an increase in the number of terminals.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の原理構成図、 第2図は本発明の1実施例を示(図、 第3図は本発明の1実施例の動作タイミング図であり (atは通常モードの場合の動作タイミングチャートを
示し fblはテストモードの場合の動作タイミングチャート
を示す。 第4図は従来のマイクロプロセッサのモード切替回路の
構成を示す図である。 図において、 1・・・計数手段、2・・・テストモード信号発生手段
、21・・・カウンタクリアパルス発生手段、22・・
・クリア付nビットタイ!回路、23・・・同期用シフ
トレジスタ、41・・・テスト回路、42・・・テスト
モード切替専用回路、43・・・マイクロプロセッサ、
44・・・テストモード切替信号入力端子。 ゛  、4−〕 −7/′ ヘ −に 43.マイ70アロ亡ツザ 従来のマイ70700ゼヴ゛リ−の七−ド乞広窄1円路
才にきdコ浄 4 菌
Fig. 1 is a diagram showing the principle configuration of the present invention, Fig. 2 shows an embodiment of the present invention, and Fig. 3 is an operation timing diagram of an embodiment of the present invention (at is the normal mode In the figure, 1... counting means, 2... ...Test mode signal generation means, 21...Counter clear pulse generation means, 22...
・N-bit tie with clear! Circuit, 23... Synchronization shift register, 41... Test circuit, 42... Test mode switching dedicated circuit, 43... Microprocessor,
44...Test mode switching signal input terminal.゛ , 4-] -7/' He - 43. My 70 Aro's death My 70 700 Zevry's 7-door beggar widening 1 circular road d-co purification 4 bacteria

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] マイクロプロセッサのモード切替回路において、上記マ
イクロプロセッサは、予じめ定められた長さのリセット
信号をリセット端子に入力することにより、内部回路の
初期クリアを行なう機能を備え、テスト時には、前記リ
セット信号の長さを上記予じめ定められたリセット信号
の長さとは異なる長さの信号として上記リセット端子に
入力し、上記モード切替回路は該リセット信号の長さを
計数する計数手段(1)と、該計数手段(1)が、上記
予じめ定められたリセット信号の長さと異なる長さを検
出した時にテストモード信号を発生する、テストモード
信号発生手段(2)とから構成されることを特徴とする
マイクロプロセッサのモード切替回路。
In the mode switching circuit of the microprocessor, the microprocessor has a function of initially clearing the internal circuit by inputting a reset signal of a predetermined length to the reset terminal, and during testing, the microprocessor is inputted to the reset terminal as a signal having a length different from the predetermined length of the reset signal, and the mode switching circuit includes a counting means (1) for counting the length of the reset signal. , the counting means (1) is comprised of a test mode signal generating means (2) that generates a test mode signal when a length different from the predetermined length of the reset signal is detected. Features a microprocessor mode switching circuit.
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