JPS6371930A - 光情報記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ディスクに情報を記録再生する光情報記録再
生装置に係り、特に光ディスクの汚れを検出出来るよう
にした光情報記録再生装置に関するものである。

従来の技術 光ディスクに情報を記録する光情報記録再生装置は、レ
ーザ光の高収束性とトラックの狭ピッチとによって磁気
ディスクの１０倍以上の高記録密度が得られる。

特に、追記型光ディスクや磁気光学光ディスクは再生専
用のビデオディスクやコンパクトディスクと異なって情
報の記録再生、さらには書き換えが可能な点で注目され
る。第３図は従来の光情報記録再生装置の構成図を示す
ものであり、１は情報を記録する光ディスクである。２
はモータで光ディスク１を回転させる。３は光ヘッドで
、光ディスク１にレーザ光を収束して信号を記録し、記
録された情報を収束レーザ光の反射光の変化として読み
出す。４は光ヘッド３のレーザドライブ部とフォーカス
誤差信号１００、トラッキング誤差信号１０１と再生信
号１０２を検出するヘッドアンプ部からなるレーザドラ
イブ・ヘッドアンプ回路である。５は光ヘッド３のアク
チュエータを駆動して収束レーザ光を光ディスク１の案
内トラックにフォーカスさせるフォーカス制御回路であ
る。

６は光ヘッド３のアクチュエータを駆動して収束レーザ
光を光ディスク１の案内トラックに追従させるトラッキ
ング制御回路である。７は人力データ１０３をディジタ
ル変調し、再生信号１０２を復調し、出力データ１０５
を出力するデータ変調・復調回路である。８は装置のシ
ステム制御を行なう制御用ＣＰＵである。

以上のように構成された従来の光情報記録再生装置にお
いては、定速で回転する光ディスク１の案内トラックに
光ヘッド３から出射されるレーザ光を集光し、トラック
を追従させる。光ヘッド３で検出されたフォーカス誤差
信号１００とトラッキング誤差信号１０１はそれぞれフ
ォーカス制御回路５、トラッキング制御回路６に人力さ
れ光ヘッド３のアクチュエータを駆動することによって
フォーカス制御とトラッキング制御をかけて案内トラッ
クにフォーカスしたレーザ光を照射する。

データの記録は、人力データ１０３をデータ変調復調回
路７で変調し、記録可能な強度のレーザ光を変調データ
１０４で変調して光ディスク１に照射しておこなう。

データの再生は、記録されないレベルの微弱なレーザ光
を光ディスク１に照射し、収束レーザ光の反射光量を受
光した再生信号１０２をデータ変調復調口！！８７で復
調し、出力データ１０５を出力する。

通常、再生パワーは１ｍＷぐらい、記録パワーは５　１
０ｍＷである。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、光ディスク１が１
８００ｒｐｍぐらいで高速回転しているため長時間連続
使用したとき、電気的に絶縁物である樹脂やガラスを基
材とする光ディスク１は帯電して、その表面に空気中の
塵埃を吸着する。吸着された塵埃はレーザ光を吸収した
り、散乱して数１０％もの減衰を生じる。　このため案
内トラックに蒸着された光感応性部材の記録層で記録レ
ーザパワーは、例えば５−５−１Ｏ必要なものが３−６
ｍＷと大幅に不足してしまい、信号記録が良好に行なえ
ない。

このことは、再生信号の振幅の減少とそれに伴うビット
エラー率の悪化、さらには記録ビットが飽和点まで記録
されていないため環境変化で記録ビットが劣化して寿命
が短かくなるといった問題点を有していた。

問題点を解決するための手段 本発明はレーザ光源からのレーザビームを光ディスクに
集光する光学手段と、前記集光されたレーザビームを光
ディスクの案内トラックにフォーカスする第１のフォー
カス手段と、集光されたレーザビームを光ディスク基材
の表面にフォーカスする第２のフォーカス手段と、光デ
ィスク基材の表面に集光されたレーザビームの反射光の
強度を検出する反射光強度検出手段を備えた光情報記録
再生装置である。

作用 本発明は前記した構成により、光ディスク基材の表面に
光ヘッドからのレーザ光をフォーカスして光ディスク基
材の表面からの反射光の強度を測定し、その出力レベル
で光ディスクの表面の汚れを検出して基準値以下の反射
光の強度の場合、光ディスクへの信号記録を防止する。

実施例 第１図は本発明の実施例における光情報記録再生装置の
構成図を示すものである。第１図において、１から５．
７から８および１００から１０５は第３図の同一の番号
と同じものである。９は光ディスク１の案内トラックの
記録層に光ヘッド３のレーザビームを集光するための第
１のフォーカス制御回路、１０は光ディスク１の基材表
面に光ヘッド３のレーザビームを集光するための第２の
フォーカス制御回路、１１は第２のフォーカス制御回路
１０によって光ディスク１の基材表面にレーザビームを
集光したときの反射光の強度を検出するための反射光強
度検出回路である。

以上のように構成された本実施例の光情報記録再生装置
について、以下その動作を説明する。

光ディスク１がモータ２に装着されると、制御用ＣＰＬ
！８は第２のフォーカス制御回路１０に指令１０６を出
力して光ヘッド３のレーザビームを光ディスク１の基材
表面に集光せしめる。光ディースフ１の基材表面に照射
されたレーザビームは、光ディスク１の基材表面で反射
されて光ヘッド３に返ってきてレーザドライブ・ヘッド
アンプ回路４で増幅され、反射光信号１０７として反射
光強度検出回路１１に人力される。反射光信号１０７は
、反射光強度検出回路１１でその強度が基準電圧と比較
される。

もし、光ディスク１の基材表面が汚れていれば基材表面
に照射された光ヘッド３のレーザビームは汚れで吸収さ
れたり、散乱されて反射光量が低下し、汚れ検出信号１
０８がイネーブルｕＦｌとなる。汚れ検出信号１０８は
制御用ＣＰＵ８で読み取られ、イネーブル収態が検出さ
れるとこの光ディスクへの変調データ１０４の記録を禁
止し、このことをエラー信号１０９としてホスト側に通
知する。

汚れ検出信号１０８がディセーフル状態ならば、制御用
ＣＰＵ８は以降のデータ記録を実行するために第２のフ
ォーカス制御回路１ｏの指令１０６をオフし、次に第１
のフォーカス制御回路９を指令１１０で起動する。第１
のフォーカス制御回路９は、光ヘッド３のレーザビーム
を光ディスク１の案内トラックの記録層に集光せしめ、
光ディスク１へのデータの記録あるいは、光ディスク１
からのデータの再生を可能にする。これ等のデータ記録
、データ再生は第３図で詳述したのとおなしであるので
省略する。

第２図は光ディスク１の基材の汚れの有無による反射光
の強度分布を示す図である。第２図において、１２は光
ディスク基材、１３は記録層であって、（Ａ）は光ディ
スク１の基材の汚れのない場合、（Ｂ）は基材の汚れの
ある場合を示す。第２図（Ｂ）において、反射光はその
強度分布のピーク値の低下と反射方向の広がりが大きい
ことがわかる。レーザビームは汚れのある基材表面に集
光しているため、反射光の汚れの有無による差異は数倍
と十分大きく、確実に識別可能となる。しかし、第１の
フォーカス制御回路９を作動させて案内トラックに集光
させたときの反射光量の汚れによる差異は、高々数１０
％と識別に余裕が少なく信頼性が劣る。

以上のように本実施例によれば、光ディスクの基材表面
に光ヘッドのレーザビームを集光するフォーカス制御回
路１ｏと基材表面からの反射光の強度を検出する反射光
強度検出回路１１を設けることにより、ポリカーボネー
トやＰ　Ｍ　Ｍ　Ａなとの樹脂あるいはガラスなどの電
気的に絶縁体である、いわゆる誘電体の基材からなる光
ディスクに、回転によって空気と基材の表面の摩擦で帯
電した電荷が空気中に浮遊する塵埃を吸着した汚れを検
出し、記録レーザパワー不足によるトラブルを防止する
ことができる。

また、基材の帯電は空気と基材との摩擦で生じるから周
速度のより速いディスク外周部で塵埃の吸着量が多くな
るため、上記の基材表面での反射光量の検出はディスク
外周部で行なうのがよい。

発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、光ディＥ５Ｑ出す
ることができ、その実用的効果は大きい。

乙、、お、）□１２よぉ 第１図は本発明の実施例の光情報記録再生装置の構成図
、第２図は同実施例の光ディスク基材表面からの反射光
強度分布を示す図、第３図は従来の光情報記録再生装置
の構成図である。

１・・・光ディスク、２・・・モータ、３・・・光ヘッ
ド、４・・・レーザドライブ・ヘッドアンプ回路、５・
・・フォーカス制御回路、６・・・トラッキング制御回
路、７・・・データ変調・復調回路、　８・・・制御用
ＣＰＵ、９・・・第１のフォーカス制御回路、１０・・
・＠２のフォーカス制御回路、１１・・・反射光強度検
出回路、１０７・・・反射光信号、１０８・・・汚れ検
出信号。

代理人の氏名　弁理士　中尾敏男はか】８第１図

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）案内トラックを形成した光ディスクに情報を記録
   再生する光情報記録再生装置において、レーザ光源から
   のレーザビームを前記光ディスクに集光する光学手段と
   、前記集光されたレーザビームを前記案内トラックに集
   光する第１のフォーカス手段と、前記集光されたレーザ
   ビームを前記光ディスク基材の表面に集光する第２のフ
   ォーカス手段と、前記光ディスク基材の表面に集光され
   たレーザビームの反射光の強度を検出する反射光強度検
   出手段とを有し、前記反射光強度検出手段の出力レベル
   で光ディスクの表面の汚れを検出することを特徴とする
   光情報記録再生装置。
2. （２）第２のフォーカス手段は光ディスクが交換された
   とき起動され、前記反射光強度検出手段の出力レベルで
   光ディスクの表面の汚れを検出するようにしたことを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載の光情報記録再生装
   置。
3. （３）第２のフォーカス手段は光ディスクの最外周部で
   起動され、前記反射光強度検出手段の出力レベルで光デ
   ィスクの表面の汚れを検出するようにしたことを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載の光情報記録再生装置。
4. （４）反射光強度検出手段はその出力レベルの低下で光
   ディスクへの記録を禁止することを特徴とする特許請求
   の範囲第１項記載の光情報記録再生装置。