JPH05771B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光デイスクに情報を記録再生する光情
報記録再生装置に係り、特に光デイスクの汚れを
検出出来るようにした光情報記録再生装置に関す
るものである。

従来の技術 光デイスクに情報を記録する光情報記録再生装
置は、レーザ光の高収束性とトラツクの狭ピツチ
とによつて磁気デイスクの10倍以上の高記録密度
が得られる。

特に、追記型光デイスクや磁気光学光デイスク
は再生専用のビデオデイスクやコンパクトデイス
クと異なつて情報の記録再生、さらには書き換え
が可能な点で注目される。第６図は従来の光情報
記録再生装置の構成図を示すものであり、１は情
報を記録する光デイスクである。２はモータで光
デイスク１を回転させる。３は光ヘツドで、光デ
イスク１にレーザ光を収束して信号を記録し、記
録された情報を収束レーザ光の反射光の変化とし
て読み出す。４は光ヘツド３のレーザドライブ部
とフオーカス互差信号１００、トラツキング誤差
信号１０１と再生信号１０２を検出するヘツドア
ンプ部からなるレーザドライブ・ヘツドアンプ回
路である。５は光ヘツド３のアクチユエータを駆
動して収束レーザ光を光デイスク１の案内トラツ
クにフオーカスさせるフオーカス制御回路であ
る。６は光ヘツド３のアクチユエータを駆動して
収束レーザ光を光デイスク１の案内トラツクに追
従させるトラツキング制御回路である。７は入力
データ１０３をデイジタル変調し、再生信号１０
２を復調し、出力データ１０５を出力するデータ
変調・復調回路である。８は装置のシステム制御
を行なう制御用CPUである。

以上のように構成された従来の光情報記録再生
装置においては、定速で回転する光デイスク１の
案内トラツクに光ヘツド３から出射されるレーザ
光を集光し、トラツクを追従さす。光ヘツド３で
検出されたフオーカス誤差信号１００とトラツキ
ング誤差信号１０１はそれぞれフオーカス制御回
路５、トラツキング制御回路６に入力され光ヘツ
ド３のアクチユエータを駆動することによつてフ
オーカス制御とトラツキング制御をかけて案内ト
ラツクにフオーカスしたレーザ光を照射する。

データの記録は、入力データ１０３をデータ変
調復調回路７で変調し、記録可能な強のレーザ光
を変調データ１０４で変調して光デイスク１に照
射しておこなう。

データの再生は、記録されないレベルの微弱な
レーザ光を光デイスク１に照射し、収束レーザ光
の反射光量を受光した再生信号１０２をデータ変
調復調回路７で復調し、出力データ１０５を出力
する。

通常、再生パワーは1mWぐらい、記録パワー
は５−10mWである。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、光デイス
ク１が1800rpmぐらいで高速回転しているため長
時間連続使用したとき、電気的に絶縁物である樹
脂やガラスを基材とする光デイスク１は帯電し
て、その表面に空気中の塵埃を吸着する。吸着さ
れた塵埃はレーザ光を吸収したり、散乱して数10
％もの減衰を生じる。このため案内トラツクに蒸
着された光感応性部材の記録層で記録レーザパワ
ーは、例えば５−10mW必要なものが３−6mW
と大幅に不足してしまい、信号記録が良好に行な
えない。

このことは、再生信号の振幅の減少とそれに伴
うピツトエラー率の悪化、さらには記録ピツトが
飽和点まで記録されていないため環境変化で記録
ピツトが劣化して寿命が短かくなるといつた問題
点を有していた。

問題点を解決するための手段 本発明はレーザ光源からのレーザビームを光デ
イスクに集光する光学手段と、前記集光されたレ
ーザビームを光デイスクの案内トラツクに集光す
るサーボ手段と、情報を変調して記録する記録手
段と、前記集光されたレーザビームの反射光を受
光して信号を再生する再生手段と、前記再生手段
の出力から所定周波数のテスト信号を検出するテ
スト信号検出手段とを備えた光情報記録再生装置
である。

作 用 本発明は前記した構成により、特定のトラツク
に少なくとも２つの周波数のテスト信号を記録し
た光デイスクから前記テスト信号検出手段によつ
て複数の周波数成分の振幅差を検出し、該振幅差
によつて光デイスクの表面の汚れを検出して基準
値以上の振幅差の場合、光デイスクへの信号記録
を防止する。

実施例 第１図は本発明の実施例における光情報記録再
生装置の構成図を示すものである。第１図におい
て、１から８および100から105は第６図の同一の
番号と同じものである。９は光デイスクの所定の
トラツクに記録されたテスト信号の周波数による
再生振幅の振幅値の差を検出するテスト信号検出
回路である。

以上のように構成された本実施例の光情報記録
再生装置について、以下その動作を説明する。

光デイスク１がモータ２に装着されると、制御
用CPU８はフオーカス制御回路５に指令を出力
して光ヘツド３のレーザビームを光デイスク１の
案内トラツクの記録層に集光せしめる。次に、ト
ラツキング制御回路６を起動し、光ヘツド３のア
ドレスを読みとり、リニアモータ（図示していな
い）を移送してテスト信号の記録されたテストト
ラツクを検索する。テストトラツクのテスト信号
再生信号１０６はテスト信号検出回路９に入力さ
れる。テスト信号再生信号１０６はテスト信号検
出回路９で２つの周波数の信号に分解されその振
幅の差が基準電圧と比較される。テスト信号は、
光デイスク１の基材表面の汚れや装置のバラツキ
による振幅の変動を受けないようにするるため少
なくとも２つの周波数の信号が用いられる。

もし、光デイスク１の基材表面が汚れていれ
ば、基材表面に照射された光ヘツド３のレーザビ
ームは汚れで拡散されて集光レーザビームのビー
ム径が集光レンズの回折限界より太くなる。この
ためテスト信号の再生振幅が周波数特性を持つた
め前記２周波数の振幅差が基準値以上となつて、
汚れ検出信号１０７が出力される。汚れ検出信号
１０７は制御用CPU８で読み取られ、汚れが検
出されるとこの光デイスクへの変調データ１０４
の記録を禁止し、このことをエラー信号１０８と
してホスト側に通知する。

汚れ検出信号１０７がデイセーブル状態なら
ば、制御用CPU８は以降のデータ記録を実行す
る。これ等のデータ記録、データ再生は第６図で
詳述したのとおなじであるので省略する。

第２図ａとｂはそれぞれ光デイスク１の基材の
汚れの有無による再生信号１０６の周波数特性で
ある。

光デイスク１の基材表面の汚れは、タバコのヤ
ニ、指紋などの油膜状の汚れと綿ボコリ、チリな
どのゴミ状の汚れの混合したものてある。これら
の汚れは、レーザビームの空間的コヒーレンシイ
を乱してレーザビームの集光性を悪くする。この
結果、再生信号の周波数特性は汚れのある場合、
第２図ａのように高い周波数ほど大きく劣化す
る。

第３図ａとｂはテスト信号の実施例の波形図
で、ａはセクタ単位で周波数1と2の信号を記録
したテスト信号の波形で、ｂはセクタ内に周波数
1と２とのバースト状信号を同じ周期Ｔで繰り返
し記録したテスト信号の波形図である。テスト信
号は、凹凸のピツトで予め記録されるか、光情報
記録再生装置で記録される。

第３図ａでは、セクタのエンベロープ信号をそ
れぞれ検出して、その振幅値を測定し、差をとつ
て基準値と比較することで基材の汚れを知る。

第４図は、テスト信号検出回路９のブロツク図
であつて、第３図ｂに示すテスト信号に適用され
る。

第５図は、第４図のテスト信号検出回路９の各
部の信号波形図で、ａはフイルタ出力１０９、ｂ
は検波出力１１０である。

テストトラツクのテスト信号再生信号１０６か
らバンドパスフイルタBPF１０で２つの周波数
成分が抽出される。BPF１０のフイルタ出力１
０９はエンベロープ検波回路１１でそのエンベロ
ープが検波される。エンベロープ検波回路１１の
検波出力１１０は周波数1と2の繰り返し時間２
Ｔの逆数を周期とする正弦波状の信号となり、ピ
ーク値検出回路１２でＰ−Ｐ値１１１が検出さ
れ、比較回路１３で基準値１１２と比較される。
Ｐ−Ｐ値１１１が基準値１１２より大きいとき、
汚れ検出信号１０７が出力される。

周波数1と2の信号は、共に同じ光ヘツドで差
動再生されるため、装置のバラツキ、光デイスク
の基材表面の汚れの影響を受けない。

テスト信号の周波数の1を汚れの影響を余り受
けないデータ変調記録信号の最低周波数に、2を
汚れに敏感なデータ変調記録信号の最高周波数に
選ぶことによつて、データの信号再生系を共用で
き、しかも感度よく光デイスクの基材の汚れを検
出できる。

以上のように本実施例によれば、複数の周波数
のテスト信号を再生し、周波数間の振幅差を検出
することによつて、ポリカーボネートやPMMA
などの樹脂あるいはガラスなどの電気的に絶縁体
である、いわゆる誘電体の基材からなる光デイス
クに、回転によつて空気と基材と表面の摩擦で帯
電した電荷が空気中に浮遊する塵埃を吸着した汚
れを検出し、記録レーザパワー不足によるスラブ
ルを防止することができる。

発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、光デイ
スクの基材の表面に付いた塵埃などによる汚れを
検出することができ、その実用的効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１実施例の光情報記録再生装
置の構成図、第２図は同実施例の光デイスク基材
表面の汚れによる再生信号の周波数特性図、第３
図はテスト信号の信号波形図、第４図はテスト信
号検出回路のブロツク図、第５図は第４図の各部
の信号波形図、第６図は従来の光情報記録再生装
置の構成図である。 １…光デイスク、２…モータ、３…光ヘツド、
４…レーザドライブ・ヘツドアンプ回路、５…フ
オーカス制御回路、６…トラツキング制御回路、
７…データ変調・復調回路、８…制御用CPU、
９…テスト信号検出回路、１０…BPF、１１…
エンベロープ検出回路、１２…ピーク値検出回
路、１３…比較回路、１０６…テスト信号再生信
号。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 案内トラツクを形成した光デイスクに情報を
   記録再生する光情報記録再生装置において、レー
   ザ光源からのレーザビームを前記光デイスクに集
   光する光学手段と、前記集光されたレーザビーム
   を前記案内トラツクに集光するサーボ手段と、情
   報を変調して記録する記録手段と、前記集光され
   たレーザビームの反射光を受光して信号を再生す
   る再生手段と、前記再生手段の出力から所定周波
   数の信号を検出するテスト信号検出手段とを有
   し、特定のトラツクに少なくとも２つの周波数の
   テスト信号を記録した光デイスクから前記テスト
   信号検出手段によつて前記少なくとも２つの周波
   数成分の振幅差を検出し、該振幅差とあらかじめ
   設定された基準値とを比較することによつて光デ
   イスクの表面の汚れを検出することを特徴とする
   光情報記録再生装置。 ２ 少なくとも２つの周波数は、記録手段の記録
   信号の最高周波数と最低周波数とを含むことを特
   徴とする特許請求の範囲第１項記載の光情報記録
   再生装置。