JPH0519770B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光デイスクに情報を記録再生する光情
報記録再生装置に係り、特に光デイスクの汚れを
検出出来るようにした光情報記録再生装置に関す
るものである。

従来の技術 光デイスクに情報を記録する光情報記録再生装
置は、レーザ光の高収束性とトラツクの狭ピツチ
とによつて磁気デイスクの10倍以上の高記録密度
が得られる。

特に、追記型光デイスクや磁気光学光デイスク
は再生専用のビデオデイスクやコンパクトデイス
クと異なつて情報の記録再生、さらには書き換え
が可能な点で注目される。第３図は従来の光情報
記録再生装置の構成図を示すものであり、１は情
報を記録する光デイスクである。２はモータで光
デイスク１を回転させる。３は光ヘツドで、光デ
イスク１にレーザ光を収束して信号を記録し、記
録された情報を収束レーザ光の反射光の変化とし
て読み出す。４は光ヘツド３のレーザドライブ部
とフオーカス誤差信号１００、トラツキング誤差
信号１０１と再生信号１０２を検出するヘツドア
ンプ部からなるレーザドライブ・ヘツドアンプ回
路である。５は光ヘツド３のアクチユエータを駆
動して収束レーザ光を光デイスク１の案内トラツ
クにフオーカスさせるフオーカス制御回路であ
る。６は光ヘツド３のアクチユエータを駆動して
収束レーザ光を光デイスク１の案内トラツクに追
従させるトツキング制御回路である。７は入力デ
ータ１０３をデイジタル変調し、再生信号１０２
を復調し、出力データ１０５を出力するデータ変
調・復調回路である。８は装置のシステム制御を
行なう制御用CPUである。

以上のように構成された従来の光情報記録再生
装置においては、定速で回転する光デイスク１の
案内トラツクに光ヘツド３から出射されるレーザ
光を集光し、トラツクを追従させる。光ヘツド３
で検出されたフオーカス誤差信号１００とトラツ
キング誤差信号１０１はそれぞれフオーカス制御
回路５、トラツキング制御回路６に入力され光ヘ
ツド３のアクチユエータを駆動することによつて
フオーカス制御とトラツキング制御をかけて案内
トラツクにフオーカスしたレーザ光を照射する。

データの記録は、入力データ１０３をデータ変
調復調回路７で変調し、記録可能な強度のレーザ
光を変調データ１０４で変調して光デイスク１に
照射しておこなう。

データの再生は、記録されないレベルの微弱な
レーザ光を光デイスク１に照射し、収束レーザ光
の反射光量を受光した再生信号１０２をデータ変
調復調回路７で復調し、出力データ１０５を出力
する。

通常、再生パワーは1mWぐらい、記録パワー
は５−10mWである。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、光デイス
ク１が1800rpmぐらいで高速回転しているため長
時間連続使用したとき、電気的に絶縁物である樹
脂やガラスを基材とする光デイスク１は帯電し
て、その表面に空気中の塵埃を吸着する。吸着さ
れた塵埃はレーザ光を吸収したり、散乱して数10
％もの減衰を生じる。このため案内トラツクに蒸
着された光感応性部材の記録層で記録レーザパワ
ーは、例えば５−10mW必要なものが３−6mW
と大幅に不足してしまい、信号記録が良好に行な
えない。

このことは、再生信号の振幅の減少とそれに伴
うビツトエラー率の悪化、さらには記録ピツトが
飽和点まで記録されていないため環境変化で記録
ピツトが劣化して寿命が短かくなるといつた問題
点を有していた。

問題点を解決するための手段 本発明はレーザ光源からのレーザビームを光デ
イスクに集光する光学手段と、前記集光されたレ
ーザビームを光デイスクの案内トラツクにフオー
カスする第１のフオーカス手段と、集光されたレ
ーザビームを光デイスク基材の表面にフオーカス
する第２のフオーカス手段と、光デイスク基材の
表面に集光されたレーザビームの反射光の強度を
検出する反射光強度検出手段を備えた光情報記録
再生装置である。

作 用 本発明は前記した構成により、光デイスク基材
の表面に光ヘツドからのレーザ光をフオーカスし
て光デイスク基材の表面からの反射光の強度を測
定し、その出力レベルで光デイスクの表面の汚れ
を検出して基準値以下の反射光の強度の場合、光
デイスクへの信号記録を防止する。

実施例 第１図は本発明の実施例における光情報記録再
生装置の構成図を示すものである。第１図におい
て、１から５、７から８および１００から１０５
は第３図の同一の番号と同じものである。９は光
デイスク１の案内トラツクの記録層に光ヘツド３
のレーザビームを集光するための第１のフオーカ
ス制御回路、１０は光デイスク１の基材表面に光
ヘツド３のレーザビームを集光するための第２の
フオーカス制御回路、１１は第２のフオーカス制
御回路１０によつて光デイスク１の基材表面にレ
ーザビームを集光したときの反射光の強度を検出
するための反射光強度検出回路である。

以上のように構成された本実施例の光情報記録
再生装置について、以下その動作を説明する。

光デイスク１がモータ２に装着されると、制御
用CPU８は第２のフオーカス制御１０に指令１
０６を出力して光ヘツド３のレーザビームを光デ
イスク１の基材表面に集光せしめる。光デイスク
１の基材表面に照射されたレーザビームは、光デ
イスク１の基材表面で反射されて光ヘツド３に返
つてきてレーザドライブ・ヘツドアンプ回路４で
増幅され、反射光信号１０７として反射光強度検
出回路１１に入力される。反射光信号１０７は、
反射光強度検出回路１１でその強度が基準電圧と
比較される。

もし、光デイスク１の基材表面が汚れていれば
基材表面に照射された光ヘツド３のレーザビーム
は汚れで吸収されたり、散乱されて反射光量が低
下し、汚れ検出信号１０８がイネーブル状態とな
る。汚れ検出信号１０８は制御用CPU８で読み
取られ、イネーブル状態が検出されるとこの光デ
イスクへの変調データ１０４の記録を禁止し、こ
のことをエラー信号１０９としてホスト側に通知
する。

汚れ検出信号１０８がデイセーブル状態なら
ば、制御用CPU８は以降のデータ記録を実行す
るために第２のフオーカス制御回路１０の指令１
０６をオフし、次に第１のフオーカス制御回路９
を指令１１０で起動する。第１のフオーカス制御
回路９は、光ヘツド３のレーザビームを光デイス
ク１の案内トラツクの記録層に集光せしめ、光デ
イスク１へのデータの記録あるいは、光デイスク
１からのデータの再生を可能にする。これ等のデ
ータ記録、データ再生は第３図で詳述したのとお
なじであるので省略する。

第２図は光デイスク１の基材の汚れの有無によ
る反射光の強度分布を示す図である。第２図にお
いて、１２は光デイスク基材、１３は記録層であ
つて、(A)は光デイスク１の基材の汚れのない場
合、(B)は基材の汚れのある場合を示す。第２図Ｂ
において、反射光はその強度分布のピーク値の低
下と反射方向の広がりが大きいことがわかる。レ
ーザビームは汚れのある基材表面に集光している
ため、反射光の汚れの有無による差異は数倍と十
分大きく、確実に識別可能となる。しかし、第１
のフオーカス制御回路９を作動させて案内トラツ
クに集光させたときの反射光量の汚れによる差異
は、高々数10％と識別に余裕が少なく信頼性が劣
る。

以上のように本実施例によれば、光デイスクの
基材表面に光ヘツドのレーザビームを集光するフ
オーカス制御回路１０と基材表面からの反射光の
強度を検出する反射光強度検出回路１１を設ける
ことにより、ポリカーボネートやPMMAなどの
樹脂あるいはガラスなどの電気的に絶縁体であ
る、いわゆる誘電体の基材からなる光デイスク
に、回転によつて空気と基材の表面の摩擦で帯電
した電荷が空気中に浮遊する塵埃を吸着した汚れ
を検出し、記録レーザパワー不足によるトラブル
を防止することができる。

また、基材の帯電は空気と基材との摩擦で生じ
るから周速度のより速いデイスク外周部で塵埃の
吸着量が多くなるため、上記の基材表面での反射
光量の検出はデイスク外周部で行なうのがよい。

発明の効果 以上説明したように、本発明によれば、光デイ
スクの基材の表面に付いた塵埃などによる汚れを
検出することができ、その実用的効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例の光情報記録再生装置
の構成図、第２図は同実施例の光デイスク基材表
面からの反射光強度分布を示す図、第３図は従来
の光情報記録再生装置の構成図である。 １……光デイスク、２……モータ、３……光ヘ
ツド、４……レーザドライブ・ヘツドアンプ回
路、５……フオーカス制御回路、６……トラツキ
ング制御回路、７……データ変調・復調回路、８
……制御用CPU、９……第１のフオーカス制御
回路、１０……第２のフオーカス制御回路、１１
……反射光強度検出回路、１０７……反射光信
号、１０８……汚れ検出信号。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 基材と記録層を有する光デイスクに情報を記
   録再生する光情報記録再生装置において、レーザ
   光源からのレーザビームを前記光デイスクに集光
   する光学手段と、前記集光されたレーザビームを
   前記記録層に集光する第１のフオーカス手段と、
   前記集光されたレーザビームを前記光デイスク基
   材の表面に集光する第２のフオーカス手段と、前
   記第２のフオーカス手段により前記光デイスク基
   材の表面に集光されたレーザビームの反射光の強
   度を検出する反射光強度検出手段とを有し、前記
   反射光強度検出手段の出力レベルで光デイスクの
   表面の汚れを検出することを特徴とする光情報記
   録再生装置。 ２ 第２のフオーカス手段は光デイスクが交換さ
   れたとき起動され、前記反射光強度検出手段の出
   力レベルで光デイスク基材の表面の汚れを検出す
   るようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載の光情報記録再生装置。 ３ 第２のフオーカス手段は光デイスクの最外周
   部で起動され、前記反射光強度検出手段の出力レ
   ベルで光デイスクの表面の汚れを検出するように
   したことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
   の光情報記録再生装置。 ４ 反射光強度検出手段はその出力レベルの低下
   で光デイスクへの記録を禁止することを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項記載の光情報記録再生装
   置。