JPS6363917A - 光学式変位検出器 - Google Patents

光学式変位検出器

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JPS6363917A
JPS6363917A JP20855586A JP20855586A JPS6363917A JP S6363917 A JPS6363917 A JP S6363917A JP 20855586 A JP20855586 A JP 20855586A JP 20855586 A JP20855586 A JP 20855586A JP S6363917 A JPS6363917 A JP S6363917A
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Soji Ichikawa
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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、光学式変位検出器に係り、特に、二つの部材
の相対位置を、光学的な格子の形成されたメインスケー
ルと対応する光学的な格子を形成したインデックススケ
ールとの相対変位によって止する光電変換信号の変化か
ら検出ザる光学式変位検出器の改良に関するものである
【従来の技術】
工作機械や測定機などの分野において、第8図に示す如
く、相対移動する部材の一方に第1の格子16を設けた
メインスケール14を固定し、他方の部材に、第2の格
子20を設けたインデックススケール18、例えば光源
10及びコリメータレンズ12から構成される照明手段
及び例えば受光索子22から構成される光重変換手段を
有−dるスライダを固定して、第1の格子16と第2の
格子20との相対移動によって生ずる光間変化を光電変
換し、19られた信号を付属する計数回路で補間及びパ
ルス化して計数することにより変位量を測定する光学式
変位検出器dが昔及している。 このような測定Hfaにおいては、例えばインデックス
スケール18に設けられた第2の格子22は、第8図に
示した如く、位相0” 、90’ 、180°、270
°の区分けが施されてJ3す、プリアンプ24A、24
Br差初増幅することによって、メインスケール14の
Xh向への変位にス4応して、はぼAs1nθ、ACO
3θで近似できる2相の検出信号が得られるようにされ
ている。 このような測定装置においては、加工技術の高度化と共
に、測定分解能をより細分化することが要求されており
、メインスケール14の第1の格子16の格子ピッチP
が小さくなりつつある。従来、格子ピッチPは20μl
程度であったが、最近は10μm以下の仕様が要求され
ている。 高分解能化に有利な検出器として、メインスケールの第
1の格子のピッチPに対して、得られる検出信号のピッ
チtがP/2などPを細分化したものである、いわゆる
光学的分割を行う検出器が提案されている。 本出願人は先に、メインスケール上の第1の格子のピッ
チP1インデックススケール上の第2の格子のピッチP
/(2n)(nは2以上の整数)のときに、検出信号と
してピッチP/(2n)の信号がi5)られる検出器を
提案している。 この場合、第1の格子は光透過又は反射部と遮光部とは
略1:1の設定であったが、第1の格子はピッチPの基
本波成分の他にピッチP/nの高調波成分を有しており
、この高調波成分の影像と第2の格子との重なり合いに
よって検出信号が得られたものと推定される。これは、
波長をλとしたとき格子門限が主に(P/n ) ’ 
/λの手堅数倍の所で良好な信号が得られていることか
らも裏付けられている。 例えば第1の格子としてピッチがPで光透過又は反射部
と遮光部とが正確に1:1である格子F1(X)4f想
定し、これをフーリエ解析すると、定数を除いて次式の
ようになる。 Fl (x )−1/2 +Q、5sin  (2πx /P) +0.2sin  (3・2πx /P)+0.1si
n  (5−2πx/P)十・・・ 従って、Fl(x)には、1本波の他に3次、5次など
の高調波が合まれていることがわかる。 同様に第1の格子として光透過又は反射部と遮光部とが
5ニアと仮定してフーリエ解析すると、更に2次、4次
などの高調波も含まれることが導出される。 一般に第1の格子は、光透過又は反射部と遮光部との比
1:1を目標にして製作されるが、製造技術的にばらつ
きが生じて1:1にはならないため、全ての次数の高調
波成分が含まれていると考えられ、上記検出3はこれら
の高調波成分を利用したものである。 (発明が解決しようとげる問題点] しかしながら、この検出器は照明光を良好な平行光線と
するための、高精度で焦点距離の長いコリメータレンズ
が必要である。従って検出器が大型化するという問題点
がある。 更に光学的分割の増大と共にインデックススケール上の
第2の格子のビツヂを細分化する必要がある。インデッ
クススケールはメインスケールとは異なり、故■もあれ
ば充分であるため木質的な障害ではないが、ピッチの細
分化に伴い歩留りが悪化するという問題点は残る。
【発明の目的】
本発明もよ、前記従来の問題点を解消するべくなされた
もので、2枚の格子で光学的多分割を行うことができ、
しかも、高精度なコリメータレンズを用いる必要がなく
、インデックススケールの製作も容易な光学式検出器を
提供することを目的とする。 [問題点を解決するための手段] 本発明は、光学式変位検出器において、拡散光源と、該
拡散光源からの間隔がUである位置に配置された、格子
ピッチPの第1の格子が形成されたメインスケールと、
Q=P/m  (mは2以上の整数)としたとき、前記
第1の格子からの間隔が■である位nにPli!置され
た、格子ピッチqα(U+v ) Q/ <2u )の
第2の格子が形成されたインデックススケールと、1n
記両スケールが相対移動したときの、拡散光源による第
1の格子の影像と第2の格子との正なり合いによる元旦
変化を光電変換してピッチQ/2の検出信号を生成する
受光索子とを含むことにより、前記目的を達成したもの
である。 又、本発明の実IM態様は、前記拡散光源を点光源とし
たものである。 又、本発明の実1iA態様は、更に、前記点光源をレー
ザダイオードとしたものである。 又、本発明の他の実施態様は、前記点光源を、レーデダ
イオードの発光部前面に発散角抑制用のレンズを配置し
て構成したものである。 又、本発明の他の実施態様は、前記拡散光源を、第1の
格子の格子幅方向に配向された線光源としたちのである
。 又、本弁明の実施!!!様は、前記間隔Vを、光学系の
光の感度スペクトルの平均値での波長をλとして、更に
この系の倍率Mを M電(U +V ) /U で定義したとき、 v>(n−1/2)MQ2/λ (nは1以上の整数)としたものである。
【作用】
まず、本発明の検出原理を簡略に説明する。 第1図に示す如く、格子ピッチPの第1の格子16の前
に、間隔Uを隔てて拡散光源(例えば点光源)30を配
dする。ここで第1の格子16は、m次(a+は2以上
の整数)の高調波成分を有すると仮定すると、第1の格
子の代わりにピッチQ(但しQ=P/i )で表わされ
る格子があると考えてよい。ずろと、第1の格子16か
ら間隔■を隔てた影像面Sには、直感的にはピッチQの
格子の拡大された影が形成される。実際には回折の効果
により影の光量分布はりやVの値によって様々に変化す
る。 簡単のため、ピッチQの格子の光の撮幅透過率f(x)
を次式で表し、p rinciples of  Op
tiCs、6tj+ edition  (MAX  
BORN  &  EMI L  WOL F 、 P
ergaa+on P ress、 1980)の第3
83頁にあるフレネル回折の理論を用いて、間隔Vの影
像面Sでの影像分布g (x)を計算した結果を以下に
示J0 f(x  )  −1+CO3(2πx /Q) ・・
・・・・ (1)ここで、拡散光源30の発光スペクト
ル及び受光索子の波長感度を考直した、この光学系にお
ける光のスペクトルの平均値における波長をλとおき、
nを自然数(1以上の整数)として、この系の第1格子
の倍率M@M−<u +V ) /u r定義する。 まず間隔Vが、次の(2)式で表されるvl(n)とほ
ぼ等しいときには、比例定数を除いて、次の(3)式に
示す関係が成立する。 V場v 1 (n ) −(n−0,5)MO’ /λ ・・・・・・(2)(
+(X)三g1(x) =4+cos[4πux/((u+v)Q)]・・・・
・・〈3) 前記(2)式は、 v!v1(n) =u  (n −0,5)Q2 /(λu −(n−0,5)Q2) と等価である。但し、Q 1 (x )は■が変化して
bあまり変化しないので、(2)式は厳密なものではな
い。 一方、間隔Vが、次の(4)式で表されるv2(n)に
ほぼ等しいとぎには、比例定数を除いて、次の(5)式
の関係が成立する。 VαV 2 (n ) −n MQ2 /λ   ・・・・・・〈4)0(x)
三(12(x ) z1+ cos[2xu x / ((u +v ) 
P) ]・・・・・・(5) (2)式及び(3)式から、間隔りがV 1 (n )
近傍の影像面Sには、格子ピッチqが(U +V )P
/(2u)の第2の格子を配置することによって検出信
号を得ることができることがわかる。この影像は、直観
的な影像に対して格子ピッチが1/2であり、第1の格
子16がQ即ちP/iだけ変位すると、検出信号は2ピ
ッチ分変化するという大きな特徴がある。 一方、(4)式及び(5)式からは、間隔VがV2(ロ
)近傍の影像面Sには、格子ピッチqが(u +v )
 Q/uの第2の格子を配置Liすることにより、検出
信号を得ることができろことがわかる。 この影像は直観的な影Qに対応りるので、第1の格子1
6のQlらP/mの変位によって、検出13号も1ピッ
チ分変化ザる。 なお、第1の格子の高調波成分に対応して影像面Sには
様々なピッチの波形が存在するが、第2の格子はその内
特定の成分をフィルタリングすると化えてもよい。 これまでは、拡散光源30、特に点光源として、発光部
が小さく且つ出力の大ぎなものがなかったこと、又、格
子ピッチPが大きい場合には必要性が少なかったことな
どによって、本発明に係るような検出器が深く検討され
たことはなかった、。 ところが、点光源として理想的であるレーザダイオード
のコストダウン及び格子ピッチPの微小化に伴う問題点
の克服の必要性などの技術的背景の変化によって、本願
の発明者が検討した結果、l’lθ出(3)式及び(5
)式を尋出し、前記のような検出器の実用性を確認した
ものである。 本発明は、このような研究結果に料づいてなされた6の
で、第1の格子の格子ピッチをP1第2の格子の格子ピ
ッチqを(u 十v ) Q/ (2u )(Uは拡散
光源と第1の格子の間隔、■は第1の格子と第2の格子
の間隔、Q=P/m)とし、前記第1の格子が形成され
たメインスケールを、拡散光源で照明して、第1格子の
高調波成分の影像と第2格子との重なり合いによる光量
変化を光電変換してビツヂQ/2の検出信号を生成する
ようにしている。従って、高精度で焦点距離の長いコリ
メータレンズを用いる必要がなく、しかも、インデック
ススケールの加工が容易となる。
【実施例】
以下図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する
。 本発明の第1実施例は、−次の′rS調波成分を用いる
前出(2)式及び(3)式の関係を用いたもので、第2
図に示す如く、コリメータレンズを介さずメインスケー
ル14を照明するレーザダイオード32と、該レーザダ
イオード32からの間隔がUである位置に配置された、
格子ピッチPの高調波成分を含む第1の格子16が形成
されたメインスケール14と、前記第1の格子16から
の間隔がVである位買に配dされた、格子ピッチqの第
2の格子20が形成されたインデックススケール18と
、前記両スケール14.18が相対移(す1したときの
、レーザダイオード32による第1の格子16の影像と
第2の格子20との重なり合いによる光量変化を光電変
換する、位相がそれぞれ0”、90°トサit t: 
211AI(7)受光索子22A、22Bと、該受光索
子22A、22Bの出力をそれぞれ増幅するプリアンプ
24A、24Bとから構成されている。 ここで第1の格子16はm次の高″JJ波成分を持つと
仮定し、第2図ではピッチQ=P/mの格子で第1の格
子を表現している。第1の格子としては、例えば光透過
部と遮光部とが略1:1の格子などが用いられる。 前記レーザダイオード32としては、発光部のプイズが
数μ揚角程度、波圧λが約0.78μ−のレーザダイオ
ードく例えば日立製作所のトIL−7801E等)を用
いることができる。 前記第1の格子16と第2の格子20の間隔V及びIY
I記第2の格子20の格子ピッチqは、次式の関係を満
足りるようにされている。 V ” (n−0,5)MQ’ /λ・・・・・・(6
)q = (u +v ) Q/ <2u )  −・
・・・・(7)ここで、nは、1以上の整数である。し
かしく6)式の条件はそれほど厳密なものでなく、実験
の結果でもあまり厳密に維持される必要はないことがわ
かっている。 具体的には、111=2、U、Vを共に約51に設定し
、第1の格子の格子ピッチPを16μll1(Q−8u
1M)とした場合、第2の格子20の格子ピッチqは、
(7)式の関係からQと同じく8μmでよい。 一方、位相のずれた信号を得るためにa差δを以て区分
された第2の格子20の偏差δについては、位相差とし
て90°±10°を得るためには、格子ピッチqが8μ
mであるため、偏差6は(2±0.2)μn1でよい。 なJ5、バーニヤ方式を抹用した場合には、第2の格子
20は格子ピッチqを前出(7)式と異なる値にして、
受光索子22A、22Bを位相が90°異なる位置に配
置すればよい。 又、メインスケール14が変位する場合の間隔U、Vの
a初によって生ずる第2の格子20のピッチqと影像の
ピッチとのずれによる影響は、受光索子22A、22B
のX方向の幅を小さくげろことで回避できる。 この実施例の構成では、メインスケール14の第1の格
子16がX方向にQ即ら171mだけ変位しても、得ら
れる影像は2ピツチ変化ザる。従って、プリアンプ24
A、24Bからは、ピッチt=Q/2 <この場合はピ
ッチ4μm)の2相の検出信号が得られる。即ち、光学
的4分割が行われる。 前記第1実施例においては、レーザダイオード32をそ
のまま点光源として使用していたが、点光源の種類はこ
れに限定されず、例えば第3図に示す第2実施例のよう
に、レーザダイオード32の発光部の前面に、直径が5
00μm程度の発散角抑制用の半球レンズ34を設けた
ものを使用することも可能である。この場合には、レー
ザダイオード32からの照明光の発散角が抑制されて、
受光効率が改善されるが、前出(7)式におけるりの値
は実際の間隔より4も大きめに換算する必要がある。更
に、点光源として、レーザダイオードと発光ダイオード
との中間的形態にある高出力発光ダイオードなどを使用
することもできる。 なお、同じ格子を用いてu =3mrs、 V −6+
lll程度に設定した場合は、光学系の倍率M=3であ
り、検出信号のピッチは8/3μmとなる。 次に本発明の第3実施例を詳細に説明する。 この第3実施例もよ、第4図に示す如く、拡散光源とし
て、第1の格子16の格子幅方向に配向された、例えば
スリット状発光ダイオードからなる線光源40を用いた
ものである。他の点については、受光索子22A、22
B、22C,22Dが位相0”、180°、90°、2
70”で区分けされて4個設けられている点を除き、前
記第1実施例と同様であるので説明を省略する。 光源として一般の発光ダイオードを用いた場合、点光源
とするために発光部を中に小さくすると発光出力が減少
して、プリアンプの増幅度を大きくしなければならずS
N比が悪化する。そのためこの第3実施例では、点光源
ではなく線光源として用いている。 前記線光源40としては、出願人が既に提案している、
第5図および第6図に示すような、発光部42がスリッ
ト状の発光ダイオードを用いることができる。この発光
ダイオードは、例えばN型Qa ASのり板44に、幅
Wが約50μ国、長さしが約400μ−のスリット状に
P型Ga Asを拡散形成し、下面には電極膜46を、
上面には絶縁膜48を介して電極膜46を熱着したもの
となっている。50はリード線である。このような発光
ダイオードはスリット状に発光するため、全体として出
力は減少せず、線光源として好適である。 このようにして、発光ダイオードのスリット状発光部4
2の良手方向をメインスケール14の第1の格子16の
格子幅方向に配向することで、格子幅方向には線光源で
あっても、格子のX方向には点光源となり、実質的に点
光源として作用する。 この場合、線光源の前面に発散角抑制用のシリンドリカ
ルレンズなどを設けてもよい。 なJ5、前記実施例においては、いずれも本発明が透過
型検出器に適応されていたが、本発明の適用範囲はこれ
に限定されず、例えば第7図に示1第4実施例の如く、
反射型の検出器にも同様に適用することができる。 又第1の格子としては、高調波成分を有している格子で
あればどのような形状のものでもよい。 前記実廠例においては、本発明がいずれも、第2の格子
が区分して2個以上設けられた直線変位検出器に適用さ
れていたが、本発明の適用範囲はこれに限定されず、第
2の格子に区分のないモアレ縞方式の検出器や回転変位
検出器(〇−タリエンコーダ)にも同様に適用すること
ができる。
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、格子2枚の構成
で光学内金分割が達成できる。又、点光源又は線光源を
そのまま拡散光源として用いることができ、昌精度なコ
リメータレンズを用いる必要がない。更に、インデック
ススケールのピッチをメインスケールのピッチより6大
幅に小さくする必要がなく、インデックススケールの製
造も容易である等の優れた効果を右づる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の検出原理を説明するための線図、第
2図は、本発明に係る光学式変位検出器の第1実施例の
構成を説明するための断面図、第3図は、同じく第2実
施例の構成を説明するための要部断面図、第4図は、同
じく第3実施例の構成を説明するための斜視図、第5図
は、前記第3実施例で用いられている線光源の構成を説
明するための正面図、第6図は、第5図のVl −Vl
線に沿う横断面図、第7図は、本発明の第4実施例の構
成を説明するための断面図、第8図は、従来の光学式変
位検出器の一例の構成を示ず斜視図である。 14・・・メインスケール、 16・・・第1の格子、 18・・・インデックススケール、 20・・・第2の格子、 22.22A、22B、22C,22D・・・受光索子
、 P、Q・・・格子ピッチ、 u、V・・・間隔、 30・・・拡散光源、 32・・・レーザダイオード、 34・・・凄÷半球レンズ、 4o・・・線光源。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)拡散光源と、 該拡散光源からの間隔がuである位置に配置された、格
    子ピッチPで高調波成分を含む第1の格子が形成された
    メインスケールと、 Q=P/m(mは2以上の整数)としたとき、前記第1
    の格子からの間隔がvである位置に配置された、格子ピ
    ッチq≒(u+v)Q/(2u)の第2の格子が形成さ
    れたインデックススケールと、 前記両スケールが相対移動したときの、拡散光源による
    第1の格子の影像と第2の格子との重なり合いによる光
    量変化を光電変換してピッチQ/2の検出信号を生成す
    る受光索子と、 を含むことを特徴とする光学式変位検出器。
  2. (2)前記拡散光源が、点光源とされている特許請求の
    範囲第1項記載の光学式変位検出器。
  3. (3)前記点光源が、レーザダイオードとされている特
    許請求の範囲第2項記載の光学式変位検出器。
  4. (4)前記点光源が、レーザダイオードの発光部前面に
    発散角抑制用のレンズを配置したものとされている特許
    請求の範囲第2項記載の光学式変位検出器。
  5. (5)前記拡散光源が、第1の格子の格子幅方向に配向
    された線光源とされている特許請求の範囲第1項記載の
    光学式変位検出器。
  6. (6)前記間隔vが、光学系の光の感度スペクトルの平
    均値での波長をλとして、この系の倍率MをM=(u+
    v)/uで定義したとき、 v≒(n−1/2)MQ^2/λ (nは1以上の整数)とされている特許請求の範囲第1
    項記載の光学式変位検出器。
JP20855586A 1986-08-15 1986-09-04 光学式変位検出器 Granted JPS6363917A (ja)

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US07/082,593 US4912322A (en) 1986-08-15 1987-08-07 Optical type displacement detecting device
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